基于二氧化铈纳米颗粒的有机/无机杂化光刻胶组合物转让专利
申请号 : CN202010220001.2
文献号 : CN113443985B
文献日 : 2022-09-09
发明人 : 陈金平 , 叶佳 , 李嫕 , 于天君 , 曾毅
申请人 : 中国科学院理化技术研究所
摘要 :
权利要求 :
1.表面修饰的二氧化铈纳米颗粒,其中,所述二氧化铈表面被如下式(I)所示的双羧酸衍生物所修饰:其中,所述R1、R2相同或不同,独立的选自:氢原子、C1‑20烷基、C2‑20烯基、‑CO‑O‑C1‑20烷基、或‑CO‑O‑C2‑20烯基,且R1、R2中至少有一个为‑CO‑O‑C1‑20烷基、或‑CO‑O‑C2‑20烯基。
2.根据权利要求1所述的纳米颗粒,其中,所述式(I)中的羧酸根与二氧化铈表面的铈离子以离子键的形式结合。
3.根据权利要求2所述的纳米颗粒,其中,所述表面修饰的二氧化铈颗粒的直径不超过
30nm。
4.根据权利要求3所述的纳米颗粒,其中,所述表面修饰的二氧化铈颗粒的直径为2‑
20nm。
5.根据权利要求3所述的纳米颗粒,其中,所述表面修饰的二氧化铈颗粒的直径为5‑
10nm。
6.根据权利要求1所述的纳米颗粒,其中,在所述表面修饰的二氧化铈颗粒中,所述二氧化铈的质量含量大于40%。
7.根据权利要求6所述的纳米颗粒,其中,所述二氧化铈的质量含量为45‑80%。
8.根据权利要求1所述的纳米颗粒,其中,所述式(I)所示的双羧酸衍生物中,R1为‑CO‑O‑C1‑20烷基、或‑CO‑O‑C2‑20烯基,R2为C1‑20烷基;或者所述式(I)所示的双羧酸衍生物中,R1为C1‑20烷基、‑CO‑O‑C1‑20烷基、或‑CO‑O‑C2‑20烯基,R2为‑CO‑O‑C1‑20烷基、或‑CO‑O‑C2‑20烯基;或者,所述式(I)所示的双羧酸衍生物中,R1为‑CO‑O‑C1‑20烷基、或‑CO‑O‑C2‑20烯基,R2为‑CO‑O‑C1‑20烷基、或‑CO‑O‑C2‑20烯基。
9.根据权利要求1所述的纳米颗粒,其中,所述式(I)所示的双羧酸衍生物为:2‑(2‑甲基烯丙基)‑2‑(2‑乙氧基羰基烯丙基)丙二酸根,2‑(2‑庚烷基烯丙基)‑2‑(2‑辛烷氧基羰基烯丙基)‑丙二酸根,或2‑(2‑丙基烯丙基)‑2‑(2‑油醇酯基烯丙基)‑丙二酸根。
10.权利要求1‑9任一项所述的纳米颗粒的制备方法,其包括以下步骤:将铈前驱体和式(II)所示的双羧酸衍生物混合,加入碱性沉淀剂,反应得到表面修饰的二氧化铈纳米颗粒;
其中,R1、R2如权利要求1‑9任一项所定义。
11.根据权利要求10所述的制备方法,其中,所述铈前驱体为铈盐。
12.根据权利要求11所述的制备方法,其中,所述铈前驱体为铈的硝酸盐、盐酸盐和硫酸盐。
13.根据权利要求11所述的制备方法,其中,所述铈前驱体为铈盐水溶液。
14.根据权利要求10所述的制备方法,其中,所述碱性沉淀剂为氨水、碳酸氢钠水溶液。
15.根据权利要求14所述的制备方法,其中,所述碱性沉淀剂为质量浓度5%‑28%的氨水、或质量浓度1%‑5%的碳酸氢钠水溶液。
16.根据权利要求10所述的制备方法,其中,反应温度为40‑100℃。
17.根据权利要求16所述的制备方法,其中,反应温度为50‑80℃。
18.根据权利要求10所述的制备方法,其中,所述铈前驱体和式(II)所示的双羧酸衍生物的摩尔比为3:1‑1:5。
19.一种负性光刻胶组合物,其包括权利要求1‑9任一项所述的表面修饰的二氧化铈纳米颗粒。
20.根据权利要求19所述的负性光刻胶组合物,其中,所述组合物包括:权利要求1‑9任一项所述的表面修饰的二氧化铈纳米颗粒、光引发剂以及溶剂。
21.根据权利要求20所述的负性光刻胶组合物,其中,所述负性光刻胶组合物中,所述表面修饰的二氧化铈纳米颗粒的质量占所述负性光刻胶组合物总质量的2 30 wt%,所述光~引发剂占总质量的0.01 3 wt%,其余为溶剂。
~
22.根据权利要求20所述的负性光刻胶组合物,其中,所述光引发剂选自安息香、安息香双甲醚、安息香乙醚、安息香异丙醚、安息香丁醚、二苯基乙酮、α,α‑二甲氧基‑α‑苯基苯乙酮、α,α‑二乙氧基苯乙酮、α‑羟甲基苯酮、α‑羟乙基苯酮、α‑胺基甲基苯酮、α‑胺基乙基苯酮、二苯甲酮、2,4‑二羟基二苯甲酮、米蚩酮、2‑氯硫杂蒽酮、2‑异丙基硫杂蒽酮中的一种或多种。
23.根据权利要求20所述的负性光刻胶组合物,其中,所述溶剂选自乳酸乙酯、醋酸丁酯、丙二醇单甲醚醋酸酯、丙二醇二甲醚、乙二醇单甲醚、环己酮、甲基正戊酮、甲基异戊酮中的一种或多种。
24.一种光刻胶涂层,其包括权利要求19‑23任一项所述的光刻胶组合物。
25.权利要求24所述的光刻胶涂层的制备方法,将权利要求19‑23任一项所述的光刻胶组合物施加在基底上成膜,得到所述光刻胶涂层。
26.根据权利要求25所述的制备方法,其中,所述施加方式为旋涂法。
27.权利要求1‑9任一项所述的纳米颗粒、权利要求19‑23任一项所述的光刻胶组合物或权利要求24所述的光刻胶涂层在光刻中的应用。
说明书 :
基于二氧化铈纳米颗粒的有机/无机杂化光刻胶组合物
技术领域
背景技术
通过将光刻胶涂覆在半导体、导体或绝缘体表面,经曝光、显影后留下的部分对底层起保护作用,然后采用刻蚀剂进行刻蚀就可将所需要的微细图形从掩模版转移到待加工的衬底
上,因此光刻胶是器件微细加工技术中的关键性材料。光刻胶显影后形成的光刻胶图案高
宽比越大,表明抗刻蚀层越厚,越有利于刻蚀过程中的图案转移,但是过大的高宽比通常会导致光刻胶图案倒塌。随着半导体工业的迅速发展,光刻技术要求达到的分辨率越来越高,高分辨条件下,条纹宽度要求低至十几纳米,同样的高宽比值,高度会随着宽度变小而成比例降低,要达到同样的刻蚀深度,对光刻胶材料的抗刻蚀性能就提出了更高的要求。
能,能够更好的满足高分辨光刻图案转移的要求。有机/无机杂化纳米颗粒光刻胶材料通常采用无机金属氧化物为核心,满足高分辨光刻的要求,具有极大的应用前景。现有的有机/无机杂化纳米颗粒光刻胶材料的无机元素种类少,主要以HfO2、ZrO2等贵金属元素为主
(J.Photopolym.Sci.Technol.,2012,25,583‑586),这类金属元素丰度低,价格高,不利于产业化应用。
的影响,常用的有机稳定剂主要有柠檬酸、油酸、六亚甲基四胺和2‑乙基己酸(Critical Reviews in Biotechnology 2018,38(7),1003‑1024.)等含有羧基或胺基的有机物,由于
这些稳定剂没有功能化,无法实现纳米颗粒的光刻胶功能。
发明内容
80%。
其余为溶剂。
颗粒的稳定性。所述二氧化铈纳米颗粒表面修饰的双功能化的双羧酸基团中含有两个不共
轭的双键,它们之间可以发生环化聚合,从而形成溶解度不同的聚合物。
4‑烯基、(Z)‑己‑4‑烯基、(E)‑己‑3‑烯基、(Z)‑己‑3‑烯基、(E)‑己‑2‑烯基、(Z)‑己‑2‑烯基、(E)‑己‑1‑烯基、(Z)‑己‑1‑烯基、异丙烯基、2‑甲基丙‑2‑烯基、1‑甲基丙‑2‑烯基、2‑甲基丙‑1‑烯基、(E)‑1‑甲基丙‑1‑烯基、(Z)‑1‑甲基丙‑1‑烯基、3‑甲基丁‑3‑烯基、2‑甲基丁‑3‑烯基、1‑甲基丁‑3‑烯基、3‑甲基丁‑2‑烯基、(E)‑2‑甲基丁‑2‑烯基、(Z)‑2‑甲基丁‑2‑烯基、(E)‑1‑甲基丁‑2‑烯基、(Z)‑1‑甲基丁‑2‑烯基、(E)‑3‑甲基丁‑1‑烯基、(Z)‑3‑甲基丁‑1‑烯基、(E)‑2‑甲基丁‑1‑烯基、(Z)‑2‑甲基丁‑1‑烯基、(E)‑1‑甲基丁‑1‑烯基、(Z)‑1‑甲基丁‑
1‑烯基、1,1‑二甲基丙‑2‑烯基、1‑乙基丙‑1‑烯基、1‑丙基乙烯基、1‑异丙基乙烯基、己烯基、庚烯基、辛烯基、壬烯基、癸烯基、十二烯基、十四烯基、十六烯基、十八烯基。
附图说明
具体实施方式
1
干,得到无色油状产物2.3g,产率92%。H NMR(400MHz,CDCl3)δ(ppm)5.12(s,1H),4.92(s,
1H),2.82(t,1H),2.41(d,2H),1.74(s,3H),1.46(s,18H)。
1.0eq.)。反应1h后停止,产物用二氯甲烷萃取,水洗两次,饱和食盐水洗涤一次,再用无水硫酸镁干燥,过滤。旋干,得到无色油状物。柱层析分离,淋洗液为石油醚/乙酸乙酯=6:1,
1
旋干得到无色油状产物2.5g,产率88%。H NMR(400MHz,CDCl3)δ(ppm)6.24(s,1H),5.65(s,
1H),4.82(s,1H),4.74(s,1H),4.17(q,2H),2.98(s,2H),2.63(s,2H),1.71(s,3H),1.44(s,
18H),1.29(t,3H)。
干,得到无色油状产物1.2g,产率85%。H NMR(400MHz,DMSO)δ(ppm)5.66(s,1H),5.52(s,
1H),4.75(s,1H),4.63(s,1H),4.01(q,2H),2.76(s,2H),2.44(s,2H),1.58(s,3H),1.13(t,
3H)。
率95%。H NMR(400MHz,CDCl3)δ(ppm)5.11(s,1H),4.91(s,1H),2.85(d,1H),2.40(d,2H),
2.35(t,2H),1.54(m,10H),1.45(s,18),0.96(t,3H)。
1
酯,产率78%。H NMR(400MHz,CDCl3)δ(ppm)5.67(s,1H),5.53(s,1H),4.75(s,1H),4.63(s,
1H),4.01(t,2H),2.76(s,2H),2.44(s,2H),2.02(m,2H),1.46(s,18H),1.20‑1.58(m,22H),
0.95(t,6H)。
二叔丁基酯,产率92%。H NMR(400MHz,CDCl3)δ(ppm)5.63(s,1H),5.52(s,1H),4.74(s,
1H),4.61(s,1H),4.00(t,2H),2.75(s,2H),2.41(s,2H),2.01(m,2H),1.18‑1.55(m,22H),
0.93(t,6H)。
率91%。H NMR(400MHz,CDCl3)δ(ppm)4.90(t,1H),4.81(t,1H),2.85(t,1H),2.40(d,2H),
2.35(t,2H),1.46(s,18H),1.36(m,2H),0.99(t,3H)。
1
油醇酯,产率86%。H NMR(400MHz,CDCl3)δ(ppm)5.69(s,1H),5.55(s,1H),5.36(d,2H),
4.75(s,1H),4.63(s,1H),4.01(t,2H),2.76(s,2H),2.44(s,2H),2.02(m,2H),1.46(s,
18H),1.20‑1.58(m,22H),0.95(t,6H)。
酯,产率90%。H NMR(400MHz,CDCl3)δ(ppm)5.66(s,1H),5.45(s,1H),5.30(d,2H),4.55(s,
1H),4.51(s,1H),4.03(t,2H),2.55(s,2H),2.31(s,2H),2.00(m,2H),1.18‑1.55(m,22H),
0.95(t,6H)。
果显示该纳米颗粒具有良好的热稳定性,满足光刻工艺中的热处理的要求。DLS显示纳米颗粒的流体动力学粒径小于10nm,满足高分辨成像的粒径要求。实施例8、12中制备的二氧化铈纳米颗粒的热稳定性和纳米颗粒的粒径分布与实施例4类似。
光引发剂,用孔径0.22μm的微孔过滤器过滤,得到旋涂液,在经过酸碱处理的硅基底上进行旋涂制膜,在100℃下烘烤3分钟,将制得的薄膜在上海同步辐射光源的软X射线干涉光刻线站(BL08U1B)进行曝光实验(曝光波长13.5nm),曝光图案周期为140nm,得到非常均匀的光
刻胶条纹,见图3。光刻条纹宽度为50nm左右,同时具有良好的分辨率。
获得不同形状的光刻图案,见图4和图5,表现出良好的成像能力。
刻蚀能力:在CHF3/O2气氛中进行等离子刻蚀,检测其刻蚀速率为37nm/min,而商品化的PMMA(950K)刻蚀速率为120nm/min,结果表明有机/无机杂化光刻胶可以大大增加材料的抗刻蚀
性能,相对于商品化的光刻胶,抗刻蚀性能提高了约3倍。
者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明的各实施例技术方案的范围。