卷绕电芯的质量评估方法、装置、电子设备及存储介质

摘要

本申请公开了一种卷绕电芯的质量评估方法、装置、电子设备及存储介质，能够解决现有技术中卷绕电芯质量评估不太准确的问题。卷绕电芯的质量评估方法包括：在形成卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，标志物贴附于目标极耳上；当确定形成卷绕电芯并将卷绕电芯压成方形时，测量标志物与至少一个所形成的极耳组之间的第二相对位置关系；基于第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量；若第一错位量与第二错位量中任一错位量超过设定阈值，则卷绕电芯的质量评估结果为不合格。

权利要求

1.一种卷绕电芯的质量评估方法，其特征在于，所述方法包括：

在形成所述卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，所述第一相对位置关系用于指示在目标方向上所述目标极耳与所述标志物的相对距离，所述标志物贴附于所述目标极耳上；

当确定形成所述卷绕电芯并将所述卷绕电芯压成方形时，测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，所述第二相对位置关系用于指示在所述目标方向上所述极耳组与所述标志物的相对距离；

基于所述第一相对位置关系与所述第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量；

若所述第一错位量与所述第二错位量中任一错位量超过设定阈值，则确定所述卷绕电芯的质量评估结果为不合格；

所述测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系包括：测量所述目标极耳的第一侧边与所述标志物的第一侧边之间的第一距离，以及所述目标极耳的第二侧边与所述标志物的第二侧边之间的第二距离，获得所述第一相对位置关系；

所述测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系包括：测量所述极耳组的第一侧边与所述标志物的所述第一侧边之间的第三距离，以及所述极耳组的第二侧边与所述标志物的所述第二侧边之间的第四距离，获得所述第二相对位置关系；

若所述标志物沿所述目标极耳的中轴线方向对称，所述中轴线方向与所述目标方向相互垂直，基于所述第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量包括：计算所述第一距离与所述第三距离的差值，获得所述第一错位量；

计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量；

若所述标志物未沿所述目标极耳的中轴线方向对称，基于所述第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量包括：计算所述第一距离与所述第三距离的和，获得所述第一错位量；

计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标极耳为所述至少一个极耳中的首极耳。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述标志物为预先已贴附于所述首极耳的保护胶。

4.一种卷绕电芯的质量评估装置，其特征在于，所述装置包括：

第一测量单元，用于在形成所述卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，所述第一相对位置关系用于指示在目标方向上所述目标极耳与所述标志物的相对距离，所述标志物贴附于所述目标极耳上；

第二测量单元，用于当确定形成所述卷绕电芯并将所述卷绕电芯压成方形时，测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，所述第二相对位置关系用于指示在所述目标方向上所述极耳组与所述标志物的相对距离；

计算单元，用于基于所述第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量；

确定单元，用于当所述第一错位量与所述第二错位量中任一错位量超过设定阈值时，则确定所述卷绕电芯的质量评估结果为不合格；

所述第一测量单元，还用于：测量所述目标极耳的第一侧边与所述标志物的第一侧边之间的第一距离，以及所述目标极耳的第二侧边与所述标志物的第二侧边之间的第二距离，获得所述第一相对位置关系；

所述第二测量单元，还用于：测量所述极耳组的第一侧边与所述标志物的所述第一侧边之间的第三距离，以及所述极耳组的第二侧边与所述标志物的所述第二侧边之间的第四距离，获得所述第二相对位置关系；

若所述标志物沿所述目标极耳的中轴线方向对称，所述中轴线方向与所述目标方向相互垂直，所述计算单元还用于：计算所述第一距离与所述第三距离的差值，获得所述第一错位量；计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量；

若所述标志物未沿所述目标极耳的中轴线方向对称，所述计算单元还用于：计算所述第一距离与所述第三距离的和，获得所述第一错位量；计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量。

5.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括至少一个处理器以及与所述至少一个处理器连接的存储器，所述至少一个处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1‑3任一项所述方法的步骤。

6.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行是实现如权利要求1‑3任一项所述方法的步骤。

说明书

卷绕电芯的质量评估方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

[0001] 本申请涉及锂电池技术领域，具体而言，涉及一种卷绕电芯的质量评估方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

[0002] 现有技术中，在形成卷绕电芯并压成方形电芯后，可以测量极耳组的整体宽度，然后将该整体宽度减去一个标准极耳的宽度，就可以得出极耳组所对应的错位量，并且基于该错位量来确定判断卷绕电芯是否合格。但是整体的错位量符合要求的情况下，极耳组左右两侧的错位量可能不符合要求。因此，基于极耳组的整体错位量来对卷绕电芯的质量进行评估容易出现错误评估的问题。也就是说，现有的质量评估方式可能将不合格的电芯错误的判断为合格电芯。

发明内容

[0003] 本申请实施例提供了一种卷绕电芯的质量评估方法、装置、电子设备及存储介质，能够解决现有技术中对于卷绕电芯的质量评估准确性较差的问题。

[0004] 第一方面，本申请实施例提供了一种卷绕电芯的质量评估方法，所述方法包括：

[0005] 在形成所述卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，所述第一相对位置关系用于指示在目标方向上所述目标极耳与所述标志物的相对距离，所述标志物贴附于所述目标极耳上；

[0006] 当确定形成所述卷绕电芯并将所述卷绕电芯压成方形时，测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，所述第二相对位置关系用于指示在所述目标方向上所述极耳组与所述标志物的相对距离；

[0007] 基于所述第一相对位置关系与所述第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量；

[0008] 若所述第一错位量与所述第二错位量中任一错位量超过设定阈值，则确定所述卷绕电芯的质量评估结果为不合格。

[0009] 本申请实施例中，在形成卷绕电芯之前，可以在目标极耳上贴附标志物，然后测量目标极耳与该标志物之间的第一相对位置关系，即在目标方向上目标极耳与标志物的相对距离；在形成卷绕电芯并将卷绕电芯压成方形后，测量至少一个极耳所形成的极耳组与标志物之间的第二相对位置关系，即在上述目标方向上极耳组与标志物的相对距离。然后便可以根据第一相对位置关系与第二相对位置关系确定出极耳组在第一目标侧的第一错位量以及在第二目标侧的第二错位量。在此基础上，只要上述第一错位量与第二错位量中任一错位量超过设定阈值，那么就可以确定卷绕电芯的质量不合格。该方法中，分别测量目标极耳与标志物，以及极耳组与标志物在目标方向上的相对距离，从而可以间接获取极耳组两侧的实际错位量，并基于极耳组两侧的错位量来对卷绕电芯的质量进行评估，与现有技术中基于极耳组整体的错位量来对卷绕电芯的质量进行评估相比，提高卷绕电芯质量评估的准确性。

[0010] 可选的，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系包括：

[0011] 测量所述目标极耳的第一侧边与所述标志物的第一侧边之间的第一距离，以及所述目标极耳的第二侧边与所述标志物的第二侧边之间的第二距离，获得所述第一相对位置关系。

[0012] 本申请实施例中，可以通过测量目标极耳的第一侧边与标志物的第一侧边之间的第一距离，以及目标极耳的第二侧边与标志物的第二侧边之间的第二距离，从而可以较为简单的获得目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系。

[0013] 可选的，测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系包括：

[0014] 测量所述极耳组的第一侧边与所述标志物的所述第一侧边之间的第三距离，以及所述极耳组的第二侧边与所述标志物的所述第二侧边之间的第四距离，获得所述第二相对位置关系。

[0015] 本申请实施例中，可以通过测量极耳组的第一侧边与标志物的第一侧边之间的第三距离，以及极耳组的第二侧边与标志物的第二侧边之间的第四距离，从而可以较为简单的获得极耳组与标志物之间的第二相对位置关系。

[0016] 可选的，若所述标志物沿所述目标极耳的中轴线方向对称，所述中轴线方向与所述目标方向相互垂直，基于所述第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量包括：

[0017] 计算所述第一距离与所述第三距离的差值，获得所述第一错位量；

[0018] 计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量。

[0019] 本申请实施例中，当目标极耳上所贴附的标志物是沿目标极耳的中轴线方向对称时，通过计算第一距离与第三距离的差值，可以得到极耳组的第一错位量；通过计算第二距离与第四距离的差值，可以得到极耳组的第二错位量。该方法中，根据标志物所贴附的实际位置采用对应的计算策略来获得极耳组两侧的错位量，使得获得的错位量更为准确。

[0020] 若所述标志物未沿所述目标极耳的中轴线方向对称，基于所述第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量包括：

[0021] 计算所述第一距离与所述第三距离的和，获得所述第一错位量；

[0022] 计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量。

[0023] 本申请实施例中，当目标极耳上所贴附的标志物未沿目标极耳的中轴线方向对称时，通过计算第一距离与第三距离的和，可以得到极耳组的第一错位量；通过计算第二距离与第四距离的差值，可以得到极耳组的第二错位量。该方法中，根据标志物所贴附的实际位置采用对应的计算策略来获得极耳组两侧的错位量，使得获得的错位量更为准确。

[0024] 可选的，所述目标极片为阴极极片或阳极极片。

[0025] 本申请实施例中，目标极片为阴极极片或阳极极片，即无论是阴极极片还是阳极极片，均可以采用相同的质量评估方法。

[0026] 可选的，所述目标极耳为所述至少一个极耳中的首极耳。

[0027] 本申请实施例中，目标极耳可以是至少一个极耳中的首极耳，由于首极耳的位置不会发生错位，因此，标志物贴附在首极耳上有利于测量第二相对位置关系。

[0028] 可选的，所述标志物为预先已贴附于所述首极耳的保护胶。

[0029] 本申请实施例中，当目标极耳为首极耳时，且因工艺因素首极耳上通常贴附有保护胶，那么可以直接利用现有的保护胶作为标志物，从而可以省略张贴标志物的步骤。

[0030] 第二方面，本申请实施例提供了一种卷绕电芯的质量评估装置，所述装置包括：

[0031] 第一测量单元，用于在形成所述卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，所述第一相对位置关系用于指示在目标方向上所述目标极耳与所述标志物的相对距离，所述标志物贴附于所述目标极耳上；

[0032] 第二测量单元，用于当确定形成所述卷绕电芯并将所述卷绕电芯压成方形时，测量所述标志物与所述至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，所述第二相对位置关系用于指示在所述目标方向上所述极耳组与所述标志物的相对距离；

[0033] 计算单元，用于基于所述第一相对位置关系与所述第二相对位置关系分别计算出所述极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量；

[0034] 确定单元，用于当所述第一错位量与所述第二错位量中任一错位量超过设定阈值时，则确定所述卷绕电芯的质量评估结果为不合格。

[0035] 可选的，所述第一测量单元具体用于：

[0036] 测量所述目标极耳的第一侧边与所述标志物的第一侧边之间的第一距离，以及所述目标极耳的第二侧边与所述标志物的第二侧边之间的第二距离，获得所述第一相对位置关系。

[0037] 可选的，所述第二测量单元具体用于：

[0038] 测量所述极耳组的第一侧边与所述标志物的所述第一侧边之间的第三距离，以及所述极耳组的第二侧边与所述标志物的所述第二侧边之间的第四距离，获得所述第二相对位置关系。

[0039] 可选的，若所述标志物沿所述目标极耳的中轴线方向对称，所述中轴线方向与所述目标方向相互垂直，所述计算单元具体用于：

[0040] 计算所述第一距离与所述第三距离的差值，获得所述第一错位量；

[0041] 计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量。

[0042] 可选的，若所述标志物未沿所述目标极耳的中轴线方向对称，所述计算单元具体用于：

[0043] 计算所述第一距离与所述第三距离的和，获得所述第一错位量；

[0044] 计算所述第二距离与所述第四距离的差值，获得所述第二错位量。

[0045] 可选的，所述目标极片为阴极极片或阳极极片。

[0046] 可选的，所述目标极耳为所述至少一个极耳中的首极耳。

[0047] 可选的，所述标志物为预先已贴附于所述首极耳的保护胶。

[0048] 第三方面，本申请实施例了提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器，所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序时实现如第一方面任一实施例所述方法的步骤。

[0049] 第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面任一实施例所述方法的步骤。

[0050] 本申请中通过分别测量目标极耳与标志物，以及极耳组与标志物在目标方向上的相对距离，从而可以间接获取极耳组两侧的实际错位量，并基于极耳组两侧的错位量来对卷绕电芯的质量进行评估，与现有技术中基于极耳组整体的错位量来对卷绕电芯的质量进行评估相比，提高卷绕电芯质量评估的准确性。

附图说明

[0051] 图1为本申请实施例提供的一种卷绕电芯的质量评估方法的流程示意图；

[0052] 图2为本申请实施例提供的一种第一相对位置关系的示意图；

[0053] 图3为本申请实施例提供的一种第一相对位置关系的示意图；

[0054] 图4为本申请实施例提供的一种第一相对位置关系的示意图；

[0055] 图5为本申请实施例提供的一种第二相对位置关系的示意图；

[0056] 图6为本申请实施例提供的一种第二相对位置关系的示意图；

[0057] 图7为本申请实施例提供的一种第二相对位置关系的示意图；

[0058] 图8为本申请实施例提供的一种卷绕电芯的质量评估装置的结构示意图；

[0059] 图9为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

[0060] 为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。

[0061] 对于卷绕电芯而言，在进行卷绕操作之前，极片(阴极极片或阳极极片)两侧裸露的铝箔会按照预设尺寸切割为相互间隔排布的至少一个极耳，相邻极耳之间间隔距离为M，M大于0。应理解，考虑到在实际卷绕过程中，已完成卷绕部分的厚度在逐渐增大，进而造成位于外圈的极片相对位于内圈的极片需要更长的卷绕周长，此时就要求相邻极耳之间的间隔M应该是逐渐增大的。因此，理论上在极片厚度均匀的前提下，只要间隔M设置的合理，那么在形成卷绕电芯后，上述至少一个极耳应该是完全对齐的。但是极片的厚度可能存在不均匀，因此，即使预先设置了较为合理的M，最终所形成的极耳组中各个极耳之间仍然可能会出现错位。并且当各个极耳间的错位距离过大，会造成后工序电池的焊接、入壳工序进行困难，严重时会直接造成电池的报废。

[0062] 现有技术中，当需要卷绕电芯的质量进行评估时，往往是基于以下方式：将形成的卷绕电芯压成方形，然后测量极耳组的整体宽度，并利用所测量到的极耳组的整体宽度减去一个标准极耳的宽度，就可以得到极耳组的整体错位量，但是在整体错位量满足要求的情况下，极耳组两侧的错位量可能不符合要求。因此，基于极耳组的整体错位量来对卷绕电芯的质量进行评估容易出现错误评估的问题。也就是说，现有的质量评估方式可能将不合格的电芯误判为合格电芯。

[0063] 鉴于此，本申请实施例提供了一种卷绕电芯的质量评估方法，该方法中通过分别测量目标极耳与标志物，以及极耳组与标志物在目标方向上的相对距离，从而可以间接获取极耳组两侧的实际错位量，并基于极耳组两侧的错位量来对卷绕电芯的质量进行评估，与现有技术中基于极耳组整体的错位量来对卷绕电芯的质量进行评估相比，提高卷绕电芯质量评估的准确性。

[0064] 下面结合附图本申请实施例提供的技术方案进行介绍。请参见图1，本申请实施例提供了一种卷绕电芯的质量评估方法，该方法的流程描述如下：

[0065] 步骤101：在形成卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，第一相对位置关系用于指示在目标方向上目标极耳与标志物的相对距离，标志物贴附于所述目标极耳上。

[0066] 考虑到现有技术中基于极耳组的整体错位量来对卷绕电芯的质量进行评估时，容易出现上述整体错位量符合质量要求，但是实际上极耳组两侧的错位量不符合质量要求的情况，导致质量评估不准确。

[0067] 鉴于此，本申请实施例中，为了提高卷绕电芯质量评估的准确性，可以直接基于极耳组两侧的实际错位量来进行质量评估。在这之前，需要获取到极耳组两侧的实际错位量。例如，可以以间接计算的方式来获取极耳组两侧的实际错位量。

[0068] 作为一种可能的实施方式，在形成卷绕电芯之前，可以在目标极片上至少一个极耳中确定出目标极耳，然后在该目标极耳上贴附标志物，该标志物的形状可以为正方形或者矩形，此处不做特别限制。然后便可以测量目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，该第一相对位置关系指示的是在目标方向上目标极耳与标志物之间的相对距离。应理解，上述目标极片可以是阴极极片或阳极极片，目标极耳可以是至少一个极耳中的首极耳，当然也可以是其他极耳，此处不做特别限制。因工艺原因首极耳上通常预先贴附有保护胶，例如，绿胶，因此，当首极耳被作为目标极耳时，可以直接利用首极耳上预先贴附的保护胶作为标志物，从而可以省略张贴标志物的步骤。

[0069] 具体的，由于在形成卷绕电芯前后，各个极耳之间产生错位主要是在极耳的宽度方向上，因此，目标方向可以是目标极耳的宽度方向。在确定目标方向后，可以以该目标方向为基准，测量目标极耳的第一侧边与标志物的第一侧边之间的第一距离，以及目标极耳的第二侧边与标志物的第二侧边之间的第二距离，从而获得第一相对位置关系。

[0070] 下面根据标志物贴附于目标极耳时所对应的不同位置，来对如何获得第一相对位置关系进行具体说明。应理解，以下的内容中均以目标极片为阴极极片，且目标极耳为首极耳为例进行说明。

[0071] 情况1：标志物沿目标极耳的中轴线方向对称。

[0072] 本申请实施例中，当标志物沿目标极耳的中轴线方向对称时，可以细分为两种为情况1‑1(对应标志物在目标方向的宽度大于目标极耳的宽度)与情况1‑2(对应标志物在目标方向上的宽度小于目标极耳的宽度)，应理解，上述中轴线方向与目标方向之间为相互垂直的关系。下面分别针对情况1‑1和情况1‑2进行详细说明。

[0073] 请参见图2，图2中包括阴极201、至少一个极耳202以及标志物203。针对情况1‑1而言，即标志物203在目标方向上的宽度大于目标极耳202在目标方向上的宽度。此时，目标极耳202的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第一距离(即L1)，目标极耳202的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第二距离(即L2)，从而获得情况1‑1所对应的第一位置关系。

[0074] 请参见图3，图3中包括阴极201、至少一个极耳202以及标志物203。针对情况1‑2而言，即标志物203在目标方向上的宽度小于目标极耳202在目标方向上的宽度。此时，目标极耳202的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第一距离(即L1)，目标极耳202的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第二距离(即L2)，从而获得情况1‑2所对应的第一位置关系。

[0075] 情况2：标志物未沿目标极耳的中轴线方向对称。

[0076] 请参见图4，图4中包括阴极201、至少一个极耳202以及标志物203。针对标志物203未沿目标极耳202的中轴线方向对称的情况而言，标志物203可以偏向于目标极耳202的中轴线左侧，也可以偏向于目标极耳202的中轴线右侧。以标志物203偏向于目标极耳202的中轴线右侧为例，此时，目标极耳202的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第一距离(即L1)，目标极耳202的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第二距离(即L2)，从而获得情况2所对应的第一位置关系。

[0077] 步骤102：当确定形成卷绕电芯并将卷绕电芯压成方形时，测量标志物与至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，第二相对位置关系用于指示在目标方向上极耳组与标志物的相对距离。

[0078] 本申请实施例中，在测量获得第一相对位置关系后，可以对目标极片进行卷绕操作，从而形成卷绕电芯，并将所形成的卷绕电芯压成方形，那么目标极片中的至少一个极耳便形成了一个极耳组，该极耳组中各个极耳之间可能存在错位，此时便可以测量极耳组与标志物之间的相对位置关系，从而结合目标极耳与标志物之间的相对位置关系，来确定出极耳组两侧的错位量。

[0079] 作为一种可能的实施方式，当确定形成卷绕电芯并将该卷绕电芯压成方形时，测量标志物与至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，该第二相对位置关系用于指示在目标方向上极耳组与标志物的相对距离。

[0080] 具体的，目标方向同样为目标极耳的宽度方向，然后以该目标方向为基准，测量极耳组的第一侧边与标志物的第一侧边之间的第三距离，以及极耳组的第二侧边与标志物的第二侧边之间的第四距离，从而获得第二相对位置关系。

[0081] 下面根据标志物贴附于目标极耳时所对应的不同位置，来对如何获得第二相对位置关系进行具体说明。应理解，以下的内容中均以目标极片为阴极极片为例进行说明。

[0082] 请参见图5，为上文中图2所示的情况1‑1对应的第一位置关系下，形成卷绕电芯后所对应的第二位置关系。图5中包括标志物203、电芯主体204、阴极极耳组205(对应目标极片为阴极极片时至少一个极耳在卷绕操作后形成)以及阳极极耳组206(对应目标极片为阳极极片时至少一个极耳在卷绕操作后形成)。以阴极极耳组205为例，阴极极耳组205的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第三距离(即L3)，阴极极耳组205的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第四距离(即L4)。

[0083] 请参见图6，为上文中图3所示情况1‑2所对应的第一位置关系下，形成卷绕电芯后所对应的第二位置关系。图6中包括标志物203、电芯主体204、阴极极耳组205(对应目标极片为阴极极片时至少一个极耳在卷绕操作后形成)以及阳极极耳组206(对应目标极片为阳极极片时至少一个极耳在卷绕操作后形成)。以阴极极耳组205为例，阴极极耳组205的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第三距离(即L3)，阴极极耳组205的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第四距离(即L4)。应理解，标志物203在中轴线方向上长度应大于阴极极耳组205(或阳极极耳组206)在中轴线方向上的长度，这里的中轴线方向为与目标方向相垂直的方向。请参见图7，为上文中图4所示的情况2对应的第一位置关系下，形成卷绕电芯后所对应的第二位置关系。图7中包括标志物203、电芯主体204、阴极极耳组205(目标极片为阴极极片时至少一个极耳在卷绕操作后形成)以及阳极极耳组206(目标极片为阳极极片时至少一个极耳在卷绕操作后形成)。以阴极极耳组205为例，阴极极耳组205的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第三距离(即L3)，阴极极耳组205的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第四距离(即L4)。应理解，标志物203在中轴线方向上长度应大于阴极极耳组205(或阳极极耳组206)在中轴线方向上的长度，这里的中轴线方向为与目标方向相垂直的方向。

[0084] 应理解，本申请实施例中，测量上述第一相对位置关系与第二相对位置关系可以基于传感器进行测量，也可以基于图像进行测量，此处对如何测量上述第一相对位置关系与第二相对位置关系不做特别限制。同时，测量上述第一相对位置关系与第二相对位置关系可以是基于俯视角度，也可以是其他能够较为准确测量第一相对位置关系与第二相对位置关系的角度，此处对测量上述第一相对位置关系与第二相对位置关系时的角度不做特别限制。

[0085] 步骤103：基于第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量。

[0086] 本申请实施例中，在分别确定第一相对位置关系以及第二相对位置关系之后，就可以以第一相对位置关系以及第二相对位置关系确定极耳组两侧的实际错位量，从而对卷绕电芯的质量进行评估。

[0087] 作为一种可能的实施方式，基于第一相对位置关系以及第二相对位置关系分别计算出极耳组在第一目标侧的第一错位量以及极耳组在第二目标侧的第二错位量。应理解，第一目标侧边与第二目标侧边为极耳组在目标方向上的两个侧边。

[0088] 下面针对如何确定极耳组的第一错位量与第二错位量进行具体说明。

[0089] 请参见图2和图5，在形成卷绕电芯之前，目标极耳202的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第一距离(即L1)，目标极耳202的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第二距离(即L2)；在形成卷绕电芯之后，阴极极耳组205的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第三距离(即L3)，阴极极耳组205的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第四距离(即L4)。那么第一距离(L1)与第三距离(L3)的差值，即L1‑L3，则为阴极极耳组205第一目标侧(左侧)的第一错位量；第二距离(L2)与第四距离(L4)的差值，即L2‑L4，则为阴极极耳组205第二目标侧(右侧)的第二错位量。

[0090] 请参见图3和图6，在形成卷绕电芯之前，目标极耳202的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第一距离(即L1)，目标极耳202的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第二距离(即L2)；在形成卷绕电芯之后，阴极极耳组205的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第三距离(即L3)，阴极极耳组205的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第四距离(即L4)。那么第一距离(L1)与第三距离(L3)的差值，即L3‑L1，则为阴极极耳组205第一目标侧(左侧)的第一错位量；第二距离(L2)与第四距离(L4)的差值，即L4‑L2，则为阴极极耳组205第二目标侧(右侧)的第二错位量。

[0091] 请参见图4和图7，在形成卷绕电芯之前，目标极耳202的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第一距离(即L1)，目标极耳202的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第二距离(即L2)；在形成卷绕电芯之后，阴极极耳组205的第一侧边(左侧边缘)与标志物203的第一侧边(左侧边缘)之间的相对距离为第三距离(即L3)，阴极极耳组205的第二侧边(右侧边缘)与标志物203的第二侧边(右侧边缘)之间的相对距离为第四距离(即L4)。那么第一距离(L1)与第三距离(L3)的和，即L1+L3，则为阴极极耳组205第一目标侧(左侧)的第一错位量；第二距离(L2)与第四距离(L4)的差值，即L2‑L4，则为阴极极耳组205第二目标侧(右侧)的第二错位量。

[0092] 步骤104：若第一错位量与第二错位量中任一错位量超过设定阈值，则确定卷绕电芯的质量评估结果为不合格。

[0093] 本申请实施例中，当计算出极耳组两侧的第一错位量与第二错位量之后，便可以基于上述两个错位量对卷绕电芯的质量进行评估。

[0094] 作为一种可能的实施方式，将第一错位量以及第二错位量分别与设定阈值进行比较，若第一错位量与第二错位量中任一错位量超过上述设定阈值，则可以确定卷绕电芯的质量评估结果为不合格。若第一错位量与第二错位量中两个错位量均未超过上述设定阈值，则可以确定卷绕电芯的质量评估结果为合格。

[0095] 请参见图8，本申请实施例提供了一种卷绕电芯的质量评估装置，该装置包括：第一测量单元301，第二测量单元302，计算单元303以及确定单元304。

[0096] 第一测量单元301，用于在形成卷绕电芯之前，测量目标极片上至少一个极耳中目标极耳与标志物之间的第一相对位置关系，第一相对位置关系用于指示在目标方向上目标极耳与标志物的相对距离，标志物贴附于目标极耳上；

[0097] 第二测量单元302，用于当确定形成卷绕电芯并将卷绕电芯压成方形时，测量标志物与至少一个极耳所形成的极耳组之间的第二相对位置关系，第二相对位置关系用于指示在目标方向上极耳组与标志物的相对距离；

[0098] 计算单元303，用于基于第一相对位置关系与第二相对位置关系分别计算出极耳组在第一目标侧的第一错位量，以及第二目标侧的第二错位量；

[0099] 确定单元304，用于当所述第一错位量与所述第二错位量中任一错位量超过设定阈值时，则确定卷绕电芯的质量评估结果为不合格。

[0100] 可选的，第一测量单元301具体用于：

[0101] 测量目标极耳的第一侧边与标志物的第一侧边之间的第一距离，以及目标极耳的第二侧边与标志物的第二侧边之间的第二距离，获得第一相对位置关系。

[0102] 可选的，第二测量单元302具体用于：

[0103] 测量极耳组的第一侧边与标志物的第一侧边之间的第三距离，以及极耳组的第二侧边与标志物的第二侧边之间的第四距离，获得第二相对位置关系。

[0104] 可选的，若标志物沿目标极耳的中轴线方向对称，所述中轴线方向与目标方向相互垂直，计算单元303具体用于：

[0105] 计算第一距离与第三距离的差值，获得第一错位量；

[0106] 计算第二距离与第四距离的差值，获得第二错位量。

[0107] 可选的，若标志物未沿目标极耳的中轴线方向对称，计算单元具体303用于：

[0108] 计算第一距离与第三距离的和，获得第一错位量；

[0109] 计算第二距离与第四距离的差值，获得第二错位量。

[0110] 可选的，目标极片为阴极极片或阳极极片。

[0111] 可选的，目标极耳为至少一个极耳中的首极耳。

[0112] 可选的，标志物为预先已贴附于首极耳的保护胶。

[0113] 请参见图9，基于同一发明构思，本申请实施例还提供一种电子设备，该电子设备包括至少一个处理器401，处理器401用于执行存储器中存储的计算机程序，实现本申请实施例提供的如图1所示的卷绕电芯的质量评估方法的步骤。

[0114] 可选的，处理器401具体可以是中央处理器、特定ASIC，可以是一个或多个用于控制程序执行的集成电路。

[0115] 可选的，该电子设备还可以包括与至少一个处理器401连接的存储器402，存储器402可以包括ROM、RAM和磁盘存储器。存储器402用于存储处理器401运行时所需的数据，即存储有可被至少一个处理器401执行的指令，至少一个处理器401通过执行存储器402存储的指令，执行如图1所示的方法。其中，存储器402的数量为一个或多个。其中，存储器402在图9中一并示出，但需要知道的是存储器402不是必选的功能模块，因此在图9中以虚线示出。

[0116] 其中，第一测量单元301，第二测量单元302，计算单元303以及确定单元304所对应的实体设备均可以是前述的处理器401。该电子设备可以用于执行图1所示的实施例所提供的方法。因此关于该电子设备中各功能模块所能够实现的功能，可参考图1所示的实施例中的相应描述，不多赘述。

[0117] 本申请实施例还提供一种计算机存储介质，其中，计算机存储介质存储有计算机指令，当计算机指令在计算机上运行时，使得计算机执行如图1所述的方法。

[0118] 显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。