一种集成电路输入输出引脚连通性的测试方法

摘要

本发明公开了一种集成电路输入输出引脚连通性的测试方法，搭建测试系统，将被测集成电路中某一个输入输出引脚连接测试系统的电流电压测量模块；分两种情形判断；依据上述步骤的所分情形，对电流和电压进行判断，依据上述步骤的判断结果，判断引脚连通性是否合格。本发明无需大量改动现有集成电路测试系统，能够适用于各种应用场景，通过分步式区分对比法，就可以消除漏报被测集成电路输入输出引脚之间短路的隐患。

权利要求

1.一种集成电路输入输出引脚连通性的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：搭建测试系统，将被测集成电路所有引脚连接测试系统；

步骤S2：测试系统将被测集成电路的所有引脚连接地；设i＝0；

步骤S3：如果i＝N，转步骤S10，否则转步骤S4；

步骤S4：将第i个输入输出引脚连接测试系统的电流电压测量模块；

步骤S5：如果第i个输入输出引脚与电源引脚之间连接有静电保护二极管，则测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电流I，否则转步骤S7；

其中，I大于20微安且小于1毫安，I的方向从测试系统流向被测集成电路；

步骤S6：测试系统的电流电压测量模块判断端口A与地之间的电压V1是否大于0.3伏且小于1伏，如果V1大于0.3伏且小于1伏则转步骤S7，否则转步骤S11；

步骤S7：如果第i个输入输出引脚与地引脚之间连接有静电保护二极管，则测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电流I’，否则转步骤S9；

其中I’大于20微安且小于1毫安，I’的方向从被测集成电路流向测试系统；

步骤S8：测试系统的电流电压测量模块判断端口A与地之间的电压V2是否大于‑1伏且小于‑0.3伏，如果V2大于‑1伏且小于‑0.3伏，则转步骤S9，否则转步骤S11；

步骤S9：将第i个输入输出引脚接地，i＝i+1，转步骤S3；

步骤S10：被测集成电路输入输出引脚连通性测试合格；

步骤S11：被测集成电路输入输出引脚连通性测试不合格。

说明书

一种集成电路输入输出引脚连通性的测试方法

技术领域

[0001] 本发明涉及集成电路技术领域，特指一种集成电路输入输出引脚连通性的测试方法。

背景技术

[0002] 在集成电路领域中，受良率限制，刚生产出来的集成电路有一定比例是失效的。所以，集成电路生产完成后均需要连接测试系统进行测试。当测试合格才能供货。如果被测集成电路的引脚和测试系统之间是断开或被测集成电路的引脚之间在连接测试系统时发生短路，则无法完成被测集成电路的测试。因此，对集成电路进行测试时，首先需要进行的就是对被测集成电路和测试系统之间的连通性进行测试。

[0003] 最早的连通性测试方法是通过肉眼观察被测集成电路和测试系统之间是否正常连接，这种方法不仅耗费人力物力，而且速度慢效率低。

[0004] 目前集成电路输入输出引脚连通性的常规测试方法是：利用输入输出引脚和电源脚或地脚之间连接有静电保护二极管的特性来自动测试连通性。首先将被测集成电路的电源引脚和地引脚接地，然后对各输入输出引脚分别施加20微安至1毫安之间的电流。在此期间，各输入输出引脚可以同时施加电流，也可以依次施加电流。由于测试系统电流电压测量模块数量有限，但被测集成电路的输入输出引脚数量很多，所以往往不能对各输入输出引脚同时施加电流并测量电压，而是需要将电流电压测量模块依次连接各输入输出引脚施加电流并测量该引脚与地之间的电压，而此时其余引脚与电流电压测量模块断开悬空。由于输入输出引脚和电源脚或地脚之间连接有静电保护二极管，因此施加小电流时被测引脚和地之间会存在二极管的导通电压，该电压在0.3伏至1伏之间。如果被测引脚未连接到测试系统，则该引脚和电流电压测量模块断开，电流电压测量模块施加小电流时测量到的电压会大于1伏；如果被测引脚和地之间短路，则电流电压测量模块施加小电流时测量到的电压会小于0.3伏。因此，如果所有输入输出引脚和地之间的电压测量结果均在0.3伏至1伏之间，则判断被测集成电路的输入输出引脚和被测集成电路系统之间的连通性合格，否则判断为不合格。

[0005] 上述这种传统方法可以发现输出引脚和测试系统之间的短路或断路，但不能发现输出引脚之间的短路。其中一种典型情况就是被测集成电路的某个引脚发生弯曲或有焊锡等导电物质沾污，与旁边的另一个引脚接触短路，同时也与测试系统之间正常连通。连通性测试时，由于该引脚和与其短路的引脚均正常连接了测试系统，则会判断为连通性合格，发生连通性不合格事件漏报。也就是说，传统集成电路输入输出引脚连通性的测试方法具有漏报被测集成电路输入输出引脚之间的短路的隐患。

发明内容

[0006] 为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

[0007] 一种集成电路输入输出引脚连通性的测试方法，其步骤包括：

[0008] 步骤S100：搭建测试系统；将被测集成电路所有引脚连接测试系统，测试系统将被测集成电路的所有引脚连接地；

[0009] 步骤S200：将被测集成电路中某一个输入输出引脚连接测试系统的电流电压测量模块；分成两种情形：

[0010] 情形a：如果该输入输出引脚与电源引脚之间连接有静电保护二极管，则测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电流I；执行步骤S300；

[0011] 情形b：如果该输入输出引脚与地引脚之间连接有静电保护二极管，则测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电流I’；执行步骤S400；

[0012] 步骤S300：测试系统的电流电压测量模块判断端口A与地之间的电压V1，如果该电压V1处于预设阈值范围内，执行步骤S400；否则，转步骤S700；

[0013] 步骤S400：测试系统的电流电压测量模块判断端口A与地之间的电压V2，如果该电压V2处于预设阈值范围内，执行步骤S500；否则，转步骤S700；

[0014] 步骤S500：对被测集成电路中另一个输入输出引脚执行上述步骤S200至步骤S400，直至完成所有输入输出引脚的测试；

[0015] 步骤S600：被测集成电路输入输出引脚连通性测试合格；

[0016] 步骤S700：被测集成电路输入输出引脚连通性测试不合格。

[0017] 作为本发明的进一步改进：上述输出电流I的数值范围为：I大于20微安且小于1毫安，且I的方向从测试系统流向被测集成电路。

[0018] 作为本发明的进一步改进：上述输出电流I’的数值范围为：I’大于20微安且小于1毫安，且I’的方向从被测集成电路流向测试系统。

[0019] 作为本发明的进一步改进：上述电压V1的预设阈值范围为：大于0.3伏且小于1伏。

[0020] 作为本发明的进一步改进：上述电压V2的预设阈值范围为：大于‑1伏且小于‑0.3伏。

[0021] 与现有技术相比，本发明的优点在于：

[0022] 本发明的集成电路输入输出引脚连通性的测试方法，原理简单，易实现，无需大量改动现有集成电路测试系统，能够适用于各种应用场景，通过分步式区分对比法，就可以消除漏报被测集成电路输入输出引脚之间短路的隐患。

附图说明

[0023] 图1为本发明方法的流程示意图。

具体实施方式

[0024] 以下将结合说明书附图和具体实施例对本发明做进一步详细说明。

[0025] 如图1所示，本发明的集成电路输入输出引脚连通性的测试方法，其步骤包括：

[0026] 步骤S100：搭建测试系统；将被测集成电路所有引脚连接测试系统，并将测试系统将被测集成电路的所有引脚连接地；

[0027] 步骤S200：将被测集成电路中某一个输入输出引脚连接测试系统的电流电压测量模块；分成两种情形：

[0028] 情形a：如果该输入输出引脚与电源引脚之间连接有静电保护二极管，则测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电流I；执行步骤S300；

[0029] 情形b：如果该输入输出引脚与地引脚之间连接有静电保护二极管，则测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电流I’；执行步骤S400；

[0030] 步骤S300：测试系统的电流电压测量模块判断端口A与地之间的电压V1，如果该电压V1处于预设阈值范围内，执行步骤S400；否则，转步骤S700；

[0031] 步骤S400：测试系统的电流电压测量模块判断端口A与地之间的电压V2，如果该电压V2处于预设阈值范围内，执行步骤S500；否则，转步骤S700；

[0032] 步骤S500：对被测集成电路中另一个输入输出引脚执行上述步骤S200至步骤S400，直至完成所有输入输出引脚的测试；

[0033] 步骤S600：被测集成电路输入输出引脚连通性测试合格；

[0034] 步骤S700：被测集成电路输入输出引脚连通性测试不合格。

[0035] 在具体应用实例中，上述输出电流I的数值范围为：I大于20微安且小于1毫安，且I的方向从测试系统流向被测集成电路。

[0036] 在具体应用实例中，上述输出电流I’的数值范围为：I’大于20微安且小于1毫安，且I’的方向从被测集成电路流向测试系统。

[0037] 在具体应用实例中，上述电压V1的预设阈值范围为：大于0.3伏且小于1伏。

[0038] 在具体应用实例中，上述电压V2的预设阈值范围为：大于‑1伏且小于‑0.3伏。

[0039] 本发明在一个具体应用实例中，它的详细步骤包括：

[0040] 步骤S1：将被测集成电路所有引脚连接测试系统；

[0041] 如，在本实例中，被测集成电路共有N个输入输入引脚；

[0042] 步骤S2：测试系统将被测集成电路的所有引脚连接地，设i＝0；

[0043] 步骤S3：如果i＝N，转步骤S10，否则转步骤S4；

[0044] 步骤S4：将第i个输入输出引脚连接测试系统的电流电压测量模块；

[0045] 步骤S5：如果第i个输入输出引脚与电源引脚之间连接有静电保护二极管，则测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电流I，否则转步骤S7；

[0046] 其中，I大于20微安且小于1毫安，I的方向从测试系统流向被测集成电路；

[0047] 步骤S6：测试系统的电流电压测量模块判断端口A与地之间的电压V1是否大于0.3伏且小于1伏，如果V1大于0.3伏且小于1伏则转步骤S7，否则转步骤S11；

[0048] 步骤S7：如果第i个输入输出引脚与地引脚之间连接有静电保护二极管，则测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电流I’，否则转步骤S9；

[0049] 其中I’大于20微安且小于1毫安，I’的方向从被测集成电路流向测试系统；

[0050] 步骤S8：测试系统的电流电压测量模块判断端口A与地之间的电压V2是否大于‑1伏且小于‑0.3伏，如果V2大于‑1伏且小于‑0.3伏，则转步骤S9，否则转步骤S11；

[0051] 步骤S9：将第i个输入输出引脚接地，i＝i+1，转步骤S3；

[0052] 步骤S10：被测集成电路输入输出引脚连通性测试合格；

[0053] 步骤S11：被测集成电路输入输出引脚连通性测试不合格。

[0054] 以上仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，应视为本发明的保护范围。