硅片方位调准装置及硅片缺陷检测设备转让专利
申请号 : CN202111355514.5
文献号 : CN113793826B
文献日 : 2022-03-08
发明人 : 曹岩 , 牛景豪
申请人 : 西安奕斯伟材料科技有限公司 , 西安奕斯伟硅片技术有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一种用于对硅片的方位进行调准的调准装置,其特征在于,所述调准装置包括:承载驱动单元,所述承载驱动单元用于对所述硅片进行承载;
定位单元,所述定位单元用于当所述硅片承载在所述承载驱动单元上时通过所述硅片的周缘边界确定所述硅片的实际方位;
计算单元,所述计算单元用于计算所述实际方位相对于所述硅片的目标方位的偏移量;
其中,所述承载驱动单元还用于根据所述偏移量驱动被承载的所述硅片从所述实际方位运动至所述目标方位,
其中,所述定位单元包括:
光源,所述光源用于发射部分地被所述硅片遮挡的光束以获得被所述硅片遮挡并且被所述硅片反射的反射光束以及不被所述硅片遮挡并且不被所述硅片反射的原路光束;
光屏,所述光屏设置成被所述反射光束照射以使得所述反射光束在所述光屏上形成与所述硅片的周缘边界相关联的反射光斑,或者设置成被所述原路光束照射以使得所述原路光束在所述光屏上形成与所述硅片的周缘边界相关联的原路光斑;
感测器,所述感测器用于对所述反射光斑进行感应并根据感应到的光斑测算所述周缘边界中的每一点的实际位置,或者用于对所述原路光斑进行感应并根据感应到的光斑测算所述周缘边界中的每一点的实际位置,其中,所述定位单元还包括至少一个球面反射镜,所述至少一个球面反射镜用于对所述反射光束进行反射并且构造成使得所述反射光斑的长度大于所述反射光束在所述硅片所处于的平面中的长度,或者用于对所述原路光束进行反射并且构造成使得所述原路光斑的长度大于所述原路光束在所述硅片所处于的平面中的长度。
2.根据权利要求1所述的调准装置,其特征在于,从所述光源发射的所述光束仅照射所述硅片的周缘上的单个点,并且所述承载驱动单元还用于驱动被承载的所述硅片转动,以使得从所述光源发射的光束能够对所述硅片的周缘上的每个点进行照射。
3.根据权利要求1所述的调准装置,其特征在于,从所述光源发射的所述光束是发散的,使得所述反射光斑的长度大于所述反射光束在所述硅片所处于的平面中的长度,并且使得所述原路光斑的长度大于所述原路光束在所述硅片所处于的平面中的长度。
4.根据权利要求3所述的调准装置,其特征在于,所述定位单元还包括至少一个平面反射镜,所述至少一个平面反射镜用于对所述反射光束进行反射,或者用于对所述原路光束进行反射。
5.根据权利要求1所述的调准装置,其特征在于,所述偏移量包括硅片中心的偏心量和硅片周缘缺口的偏转角。
6.根据权利要求5所述的调准装置,其特征在于,所述承载驱动单元包括:旋转升降平台,所述旋转升降平台用于对所述硅片进行承载并用于驱动承载在所述旋转升降平台上的所述硅片转动以消除所述偏转角,并且所述旋转升降平台能够在升起位置与降下位置之间移动,其中,所述实际方位在所述硅片承载在处于所述升起位置中的所述旋转升降平台上时确定出;
定心平台,所述定心平台用于对所述硅片进行承载并用于驱动承载在所述定心平台上的所述硅片移动以消除所述偏心量;
其中,在所述旋转升降平台从所述升起位置移动至所述降下位置的过程中,承载在所述旋转升降平台上的所述硅片被所述定心平台承载并离开所述旋转升降平台。
7.根据权利要求6所述的调准装置,其特征在于,所述旋转升降平台具有位于中央的用于吸附所述硅片的吸气口和位于径向外侧的用于朝向所述硅片提供气流的供气口。
8.一种用于检测硅片的缺陷的设备,其特征在于,所述设备包括:根据权利要求1至7中任一项所述的调准装置;
检测装置,所述检测装置用于在所述硅片处于所述目标方位的情况下对所述硅片的缺陷进行检测。
说明书 :
硅片方位调准装置及硅片缺陷检测设备
技术领域
背景技术
重要的影响。表面缺陷的来源有很多,包括有在晶棒提拉过程中形成的如晶体原生缺陷、氧
化诱生堆垛层错等,以及在线切割、抛光或清洗等硅片加工过程中引入的划伤,颗粒等,这
些表面缺陷都会影响到硅片的良率。目前,集成电路特征线宽的不断减小要求硅片表面的
缺陷尺寸更小,数目更低,硅片的表面缺陷成为衡量产品质量的一个关键因素。
到待测量的缺陷,需要颗粒检测机能够精确的定位到硅片上每一缺陷点的坐标位置,而缺
陷的尺寸往往为纳米或微米级别,因此要求对硅片有高定位精度。
在直径、缺口大小等由于加工规格和加工误差的限制,导致各公司间、各批次产品以及各个
硅片间的尺寸规格存在差异,这往往导致硅片的定位装置并不能精确确定其位置信息,由
此导致多次定位甚至设备宕机,严重影响产能。
发明内容
位。
位进行确定,并且在确定过程中不会受到硅片直径、缺口大小等因素的影响,由此能够实现
对硅片进行精确定位和调准,并且能够精确检测出表面缺陷的分布。
附图说明
具体实施方式
上述的偏移量D为硅片W相对于目标方位向左移动的距离,但本发明不限于此,比如在硅片W
具有周缘缺口的情况下,上述的偏移量D可以为该周缘缺口的偏转角;
大小等因素的影响,由此能够实现对硅片W进行精确定位和调准,并且能够精确检测出表面
缺陷的分布。
反射的原路光束BO;
右端点与周缘边界WB相关联,或者所述光屏122设置成被所述原路光束BO照射以使得所述
原路光束BO在所述光屏122上形成与所述硅片W的周缘边界WB相关联的原路光斑OS,参见图
2,原路光斑OS的左端点与周缘边界WB相关联;
感应到的光斑测算所述周缘边界WB中的每一点的实际位置,由此确定出硅片W的实际方位。
是困难的,而在本发明的优选实施例中,仍然参见图2,从所述光源121发射的所述光束B可
以仅照射所述硅片W的周缘上的单个点,或者说光束B仅形成在与硅片W垂直的平面中,并且
所述承载驱动单元11还可以用于驱动被承载的所述硅片W转动,如在图2中通过承载驱动单
元11处的箭头示意性地示出的,以使得从所述光源121发射的光束B能够对所述硅片W的周
缘上的每个点进行照射。
长度L2,并且使得所述原路光斑OS的长度L3大于所述原路光束BO在所述硅片W所处于的平
面中的长度L4。这样,通过光斑的放大效应,能够更精确地确定出周缘边界WB中的每一点的
实际位置。
或者说使得定位单元12变得笨重,在本发明的优选实施例中,参见图4,所述定位单元12还
可以包括至少一个平面反射镜124,所述至少一个平面反射镜124用于对所述反射光束BF进
行反射,或者用于对所述原路光束BO进行反射(在图4中未具体示出)。这样,能够实现在较
小的空间中获得较大的放大效应,节约了定位单元12占据的空间。
所述原路光斑OS的长度L5大于所述原路光束BO在所述硅片W所处于的平面中的长度L6,或
者在图5中未具体示出但类似地,所述至少一个球面反射镜125用于对所述反射光束BF进行
反射并且构造成使得所述反射光斑FS的长度大于所述反射光束BF在所述硅片W所处于的平
面中的长度。这样,通过设置所述至少一个球面反射镜125,同样可以实现光斑的放大效应,
并且同样可以实现减小定位单元12占据的空间。可以理解的是,在这种情况下,从光源121
发射的光束B可以是平行的,如在图5中示出的,当然光束B也可以是发散的甚至可以是汇聚
的。可以理解的是,球面反射镜125可以是如图5中示出的凸面镜,也可以是附图中未具体示
出的凹面镜,只要能够实现对光斑产生放大效应即可,比如在凹面镜的情况下,光束先汇聚
于一点后产生发散从而产生放大效应。
量DC和硅片周缘缺口N的偏转角DA。
平台111能够在升起位置与降下位置之间移动,其中,所述实际方位在所述硅片W承载在处
于所述升起位置中的所述旋转升降平台111上时确定出,其中图7中示出了处于升起位置中
的旋转升降平台111;
台111。
111S实现了硅片更稳定的承载,通过供气口111F避免了硅片W在重力的作用下产生变形而
导致方位调准不精确。
置。
盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。