一种电子元器件的带电老化测试装置

摘要

本发明涉及一种电子元器件的带电老化测试装置，带电老化测试装置的箱体被保温壁分隔为测试仓和数据采集仓。保温壁包括左右设置的一对保温隔板，保温隔板的厚度小于50mm。保温隔板上均设置多个插槽，一对保温隔板上的多个插槽一一对应地相接形成多个第一通孔。电子元器件位于测试仓内，数据采集板通过第一通孔穿过保温隔板后，与电子元器件相连，且数据采集板的后部位于数据采集仓内。保温隔板与数据采集板之间过盈配合。该装置具有两个工作状态，当处于高温测试状态时，测试仓通入高温气体，温度为0～200℃。当处于低温测试状态时，测试仓通入低温气体，温度为‑80～0℃，数据采集仓内干燥气体进入并吹扫，从而使得数据采集仓干燥，不易生成冷凝水。

权利要求

1.一种电子元器件的带电老化测试装置，所述带电老化测试装置包括箱体（500）、位于所述箱体（500）内并且前后设置的测试仓（200）和数据采集仓（300），所述测试仓（200）和数据采集仓（300）之间通过保温壁分隔，所述测试仓（200）供所述电子元器件（410）在其内进行测试；其特征在于，所述带电老化测试装置还包括多个数据采集板（420），所述数据采集板（420）的前部具有用于连接所述电子元器件（410）的接口（421），所述数据采集板（420）的后部集成有数据采集电路；

所述保温壁包括左右对称设置的一对保温隔板（100），所述一对保温隔板（100）的厚度均小于50mm，所述一对保温隔板（100）分别自所述箱体（500）的左右两侧插入箱体（500）内并且相对接；所述一对保温隔板（100）上均自上而下地开设有多个插槽（140），所述一对保温隔板（100）上的多个插槽（140）一一对应地分别与各所述数据采集板（420）的左右两侧部相插接，所述一对保温隔板（100）上相对应的插槽（140）相接形成将所述数据采集板（420）的中部容纳其中的第一通孔，所述数据采集板（420）的前部位于测试仓（200）内，所述数据采集板（420）的后部位于数据采集仓（300）内，其中，所述第一通孔与所述数据采集板（420）之间过盈配合；

所述测试仓（200）的仓壁上设置有用于与热流仪出气端相连的第一进气口（210）、一端与所述第一进气口（210）相连通且另一端与所述测试仓（200）相连通的多个送风通道（220）；

所述数据采集仓（300）的仓壁上设置有用于供干燥气体进入的第二进气口（310）；

所述带电老化测试装置具有高温测试状态和低温测试状态，当所述带电老化测试装置处于高温测试状态时，所述第一进气口（210）的进气为高温气体，所述高温气体的温度为0℃～200℃；当所述带电老化测试装置处于低温测试状态时，所述第一进气口（210）的进气为低温气体，所述低温气体的温度为‑80℃～0℃，且所述第二进气口（310）开启。

2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，所述数据采集仓（300）的左右两侧的仓壁上均设置有所述第二进气口（310），所述第二进气口（310）与所述保温隔板（100）在前后方向的距离为3mm～50mm，且所述第二进气口（310）的出气方向与所述保温隔板（100）的后侧表面所形成夹角的范围为0°～30°。

3.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，所述保温隔板（100）的朝向所述数据采集仓（300）的一侧面设置加热组件，当所述带电老化测试装置处于低温测试状态时，所述加热组件启动。

4.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，所述保温隔板（100）包括：保温板（110）、设置于所述保温板（110）前后两侧的弹性垫片（120）、分别设置于所述前后两侧的弹性垫片（120）的外侧的金属板（130）；所述保温板（110）开设有自上而下设置的多个第一槽，所述弹性垫片（120）开设有自上而下设置的多个第二槽，所述金属板（130）开设有自上而下设置的多个第三槽，所述第一槽与位置相对应的所述第二槽形成所述的插槽（140）；所述第三槽的上下方向上的尺寸大于所述第一槽和所述第二槽；在所述一对保温隔板（100）相对接时，所述一对保温隔板（100）的保温板（110）和弹性垫片（120）相对接并抵紧，所述一对保温隔板（100）的金属板（130）之间有空隙。

5.根据权利要求4所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，所述保温隔板（100）与所述箱体（500）之间可脱离地相插接，且当所述一对保温隔板（100）插入箱体（500）内并且相对接时，每个所述保温隔板（100）与所述箱体（500）之间通过紧扣装置相互锁定。

6.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，每个所述保温隔板（100）与所述箱体（500）相连的部分均设置有密封件。

7.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，所述多个送风通道（220）依次自上而下地均匀地设置于所述测试仓（200）的至少一面仓壁上。

8.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，所述箱体（500）的外侧壁上设置有多个用于搬运所述带电老化测试装置的把手。

9.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，所述数据采集仓（300）内设置风扇（320）。

10.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置，其特征在于，所述测试仓（200）的仓壁和所述数据采集仓（300）的仓壁上均开设有用于维持仓体内气压稳定的出气口（430）。

说明书

一种电子元器件的带电老化测试装置

技术领域

[0001] 本发明涉及一种电子元器件的带电老化测试装置。

背景技术

[0002] 中国半导体、5G行业正在政府政策的大力支持、充足的人才储备、企业的大举投资推动下加速发展。政府早在2015年就将包括半导体在内的若干行业列入其“中国制造2025”
计划中的关键行业并予以大力扶持。尤其是在5G通信技术已主导全球市场的环境下，应用
于通信、半导体等行业的芯片、模块等电子元件显得尤为重要。因此，检测该电子元件的性
能可靠性则为必不可少的步骤。

[0003] 其中，性能测试需要检验产品在极高温或极低温的连续环境下因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。老化测试装置是常见的性能测试设备，待测产品放置于箱体内，经
高、低温通电测试，采集上述待测产品在极限温度情况下的相应性能数据，最终筛选出待测
产品中的不良品。

[0004] 普通的高低温箱如要进行带电测试，需要将数据采集板和待测电子元器件全部放置于测试仓内进行测试，对数据采集板的冲击很大，不仅会影响测试结果，而且极易造成数
据采集板的损坏，增加测试成本。而现有技术中常见的带电老化测试箱功能单一，仅能进行
高温测试，如申请号为CN202021232990.9、CN201810494187.3、CN201911422880.0等专利所
公开的设备，将连接有待测产品的载板设置于测试仓内，而数据采集板设置于测试仓外，通
过将载板和数据采集板分体化（做成两块板），使得数据采集板、待测电子元器件二者处于
不同温度环境，那么高温测试则可正常进行。这虽然解决了高低温环境对数据采集板的冲
击问题，但也仅能在高温的环境下对电子元器件进行带电老化测试。

[0005] 若进行低温带电测试，箱体内测试仓的温度极低，造成隔板表面温度降低，因此隔板的一侧表面易因常温气体液化而出现冷凝水、结霜等问题，最终损坏数据采集板，因此无
法进行低温带电测试。

[0006] 进一步地，受测试要求限制，部分电子元器件和数据采集板之间需直接对接相连，数据采集板必须一体化，无法做成如上述分体化的两块板，即载板（设置于测试仓内，用于
连接待测产品）和数据采集板（设置于测试仓外）。进一步地，受到数据采集板的尺寸限制，
测试仓的隔板厚度也受到限制，无法通过增加隔板厚度来增加保温隔热效果。针对此类电
子元器件的测试要求，亟需一种能够集高低温带电测试于一体的带电老化测试装置。

发明内容

[0007] 为了解决以上技术问题，本发明的目的在于提供一种带电老化测试装置。

[0008] 为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：

[0009] 本申请提供一种电子产品的带电老化测试装置，该带电老化测试装置包括箱体、位于箱体内并且前后设置的测试仓和数据采集仓，测试仓和数据采集仓之间通过保温壁分
隔。其中，测试仓用于供电子元器件在其内进行测试。

[0010] 该带电老化测试装置还包括多个数据采集板，该数据采集板的前部设置有多个用于与电子元器件连接的接口，且该数据采集板的后部集成设置有数据采集电路。

[0011] 保温壁包括左右对称设置的一对保温隔板，保温隔板的厚度小于50mm，该厚度远小于现有技术中高温带电老化测试装置中的保温隔板厚度，以本满足老化测试装置中一体
化的数据采集板上的线路布局要求。一对保温隔板分别自箱体的左右两侧插入箱体内并且
相对接。一对保温隔板上均设开设自上而下设置的多个插槽，且一对保温隔板上的多个插
槽一一对应地与数据采集板的左右两侧部相插接。进一步地，一对保温隔板上的多个插槽
一一对应地相接形成多个第一通孔，且上述数据采集板的中部容纳于该第一通孔内，数据
采集板的前部位于测试仓内，数据采集板的后部位于数据采集仓内，这样，避免了数据采集
板上的数据采集电路受到高低温测试冲击，大大延长了数据采集板的使用寿命。进一步地，
第一通孔与数据采集板之间过盈配合，以使得上述数据采集板与保温隔板之间紧密贴合，
降低测试仓内的气体流失。

[0012] 测试仓的仓壁上设置有用于与热流仪出气端相连的第一进气口、一端与第一进气口相连通且另一端与测试仓相连通的多个送风通道，从而使得测试仓内升温/降温效率加
快，且仓内各区域温度均匀分布。该带电老化测试装置具有高温测试状态和低温测试状态，
当带电老化测试装置处于高温测试状态时，第一进气口的进气为高温气体，高温气体的温
度为0℃～200℃；当带电老化测试装置处于低温测试状态时，第一进气口的进气为低温气
体，低温气体的温度为‑80℃～0℃。

[0013] 数据采集仓的仓壁上设置有用于供干燥气体进入的第二进气口。当带电老化测试装置处于低温测试状态时，第二进气口开启，使得干燥气体进入，对数据采集仓吹扫，从而
使得数据采集仓干燥，不生成冷凝水，并且保证保温隔板的表面无霜。

[0014] 优选地，数据采集仓的左右两侧的仓壁上均设置有第二进气口，第二进气口吹出的干燥空气直接对保温隔板进行吹扫，第二进气口距离保温隔板在前后方向上的距离为3‑
50mm，且该第二进气口的气体流出方向与保温隔板后侧面所形成夹角范围为0°‑30°，进而
更加有效地防止保温隔板的后侧表面凝水、结霜。

[0015] 优选地，保温隔板的朝向数据采集仓的一侧面设置加热组件，当老化测试装置处于低温测试状态时，加热组件启动，以降低保温隔板后侧表面与环境之间的温度差，从而更
加有效地防止保温隔板的后侧表面凝水、结霜。

[0016] 优选地，保温隔板包括：保温板、设置于保温板前后两侧的弹性垫片、分别设置于前后两侧的弹性垫片的外侧的金属板。保温板开设有自上而下设置的多个第一槽，弹性垫
片开设有自上而下设置的多个第二槽，金属板开设有自上而下设置的多个第三槽，第一槽
与位置相对应的第二槽形成上述的插槽。且，第三槽的上下方向上的尺寸大于第一槽和第
二槽。因此，在一对保温隔板相对接时，一对保温隔板的保温板和弹性垫片相对接并抵紧，
且一对保温隔板的金属板之间有空隙。以上三个槽的设置使得数据采集板与保温隔板之间
紧密贴合，无缝隙生成，从而保证数据采集板与保温隔板之间无气体泄露。同时，金属板与
弹性垫片的空隙设置使得相邻保温隔板对接时，测试仓内的气体不会沿着保温隔板相连处
泄露，进一步避免了冷凝水的生成，且保证了保温隔板表面无霜。

[0017] 优选地，每个保温隔板与箱体相连的部分均设置有密封件，以降低保温隔板与箱体之间气体流失。

[0018] 优选地，保温隔板与箱体之间通过紧扣装置相连，当紧扣装置将保温隔板紧锁于箱体上时，弹性垫片受到两侧挤压，从而使得相邻两块保温隔板之间紧密连接，无气体泄
露。

[0019] 优选地，多个送风通道依次自上而下地均匀地设置于测试仓的至少一面仓壁上，以使得测试仓内各行电子元器件的温度同步上升或下降，加快老化测试的检测效率，并使
检测结果更准确。

[0020] 优选地，带电老化测试装置的外侧壁上设置有多个便于搬运该带电老化测试装置的把手。

[0021] 优选地，数据采集仓内设置风扇，当该带电老化测试装置处于低温测试状态时，风扇开启，对数据采集仓内进行吹扫，加快保温隔板后侧面的液体蒸发。

[0022] 优选地，测试仓的仓壁和数据采集仓的仓壁上均开设有用于维持仓体内气压稳定的出气口。

[0023] 本发明的有益效果在于：本带电老化测试装置，不受数据采集板的类型限制，扩宽了可进行测试的电子元器件范围，实现了采用一体化数据采集板对电子元器件进行高温、
低温带电老化测试，扩宽了可进行测试的电子元器件范围；该带电老化测试装置在箱体内
部设置可拆卸的超薄保温隔板，通过其结构设置，使得对电子元器件进行低温老化测试时，
保温隔板后侧表面不会生成冷凝水、不会结霜。同时，通过干燥空气吹扫数据采集仓，可以
降低数据采集仓内湿度，同时加快保温隔板表面的液体蒸发速率，进一步解决保温隔板出
现冷凝水和结霜导致材料受损的问题。另一方面，在保温隔板的后侧面设置加热组件，进一
步降低保温隔板后侧表面与环境的温度差。同时，以上结构使得该带电老化测试装置不受
测试要求限制，降低了测试难度。

[0024] 上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

[0025] 图1为本发明实施例所示的电子元器件的带电老化测试装置的整体结构示意图。

[0026] 图2为本发明实施例所示的电子元器件的带电老化测试装置的整体结构示意图。

[0027] 图3为本发明实施例所示的电子元器件的带电老化测试装置右视图。

[0028] 图4为本发明实施例所示的电子元器件的带电老化测试装置左视图。

[0029] 图5为本发明实施例所示的电子元器件的带电老化测试装置内部结构侧视图。

[0030] 图6为本发明实施例所示的电子元器件的带电老化测试装置的测试仓内部结构示意图。

[0031] 图7为本发明实施例所示的电子元器件的带电老化测试装置的保温隔板剖视图。

[0032] 图8为本发明实施例所示的电子元器件的带电老化测试装置的保温隔板结构示意图。

[0033] 图9为本发明图8所示内容中A部分结构放大示意图。

具体实施方式

[0034] 下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

[0035] 参照图1‑6，本申请提供一种电子元器件的带电老化测试装置，该带电老化测试装置包括箱体500、设置于箱体500内部的保温壁，该箱体500的侧面设置多个便于搬运该带电
老化测试装置的把手。

[0036] 保温壁包括至少一对的保温隔板100，下文中以保温隔板100的数量为2进行说明。该一对保温隔板100自箱体500左右两侧插入，与箱体500之间可脱离地连接。当上述一对保
温隔板100插入箱体500内时，该一对保温隔板100将箱体500分割为前后并列分布的测试仓
200和数据采集仓300。其中，箱体500的左右两侧壁均开设供保温隔板100插入的第二通孔。
其中，保温隔板100的厚度小于50mm，该厚度远小于现有技术中高温带电老化测试装置中的
保温隔板厚度，以满足下面将要描述的数据采集板420上的线路布局要求。

[0037] 带电老化测试装置还包括多个数据采集板420，该数据采集板420的前部设置有接口421，电子元器件410在测试时插入该接口421内，与数据采集板420实现数据传输。数据采
集板420的后部集成有数据采集电路，用于将采集得到的数据进行处理、分析。

[0038] 上述的一对保温隔板100上均设开设多个自上而下设置的多个插槽140，为便于描述，在下文中定义位于左侧的保温隔板100上的插槽140为第一插槽，位于右侧的保温隔板
100上的插槽140为第二插槽，多个第一插槽和多个第二插槽的开设位置一一对应，并且与
上述的数据采集板420的数量相对应。在一对保温隔板100插入箱体500后，相对应的第一插
槽和第二插槽分别与一个数据采集板420的左右两侧部相插接。进一步地，相对应的第一插
槽和第二插槽相接形成第一通孔，且上述数据采集板420的中部容纳于该第一通孔内，从而
使得数据采集板420的前部位于测试仓200内，数据采集板420的后部位于数据采集仓300
内，这样，避免了数据采集板420上的数据采集电路受到高低温测试冲击，大大延长了数据
采集板420的使用寿命。进一步地，第一通孔与数据采集板420之间过盈配合，以使得上述数
据采集板420与保温隔板100之间紧密贴合，降低测试仓200内的气体流失。

[0039] 具体地，测试仓200的仓壁上设置有第一进气口210，该第一进气口210与热流仪的出气端相连，通过热流仪向测试仓200内输送高温或低温气体，以达到测试所需的温度。该
带电老化测试装置具有高温测试状态和低温测试状态，当带电老化测试装置处于高温测试
状态时，第一进气口210的进气为高温气体，高温气体的温度为0℃～200℃；当带电老化测
试装置处于低温测试状态时，第一进气口210的进气为低温气体，低温气体的温度为‑80℃
～0℃。

[0040] 进一步地，测试仓200的仓壁设置有多个送风通道220，该送风通道220的一端与第一进气口210相连通，另一端与测试仓200的仓体相连通。该送风通道220自上而下均匀地排
列于测试仓200的其中一面或多面仓壁上，以将第一进气口210输入的气体送入测试仓200
的不同位置。优选地，该多个送风通道220均匀的排列于左面或右面仓壁上，也可以两面仓
壁均设置送风通道220，以加快送风效率。进一步地，当多排被测的电子元器件410设置于测
试仓200内时，上述多个送风通道220一一对应地设置于每排电子元器件410的上方，以使得
测试仓200内的每个电子元器件410温度一致，且测试仓200内的升温、降温效率也均大大提
高。

[0041] 数据采集仓300设置有第二进气口310，该第二进气口310用于供干燥空气进入数据采集仓300，当带电老化测试装置处于低温测试状态时，第二进气口310开启，以对数据采
集仓300内吹扫，使得数据采集仓300内保持干燥，不生成冷凝水，并且保证保温隔板100的
后侧无霜。

[0042] 进一步地，数据采集仓300的左右两侧的仓壁上均设置有第二进气口310，第二进气口310吹出的干燥空气直接对保温隔板100进行吹扫，第二进气口310与保温隔板100在前
后方向上的距离范围为3mm～50mm，且第二进气口310内进气方向与保温隔板100后侧面的
夹角范围为0°～30°，进而更加有效地防止保温隔板100的后侧表面凝水、结霜。

[0043] 优选地，数据采集仓300内还设置风扇320，以加快数据采集仓300内干燥气体的流速，同时增加保温隔板100表面的液体蒸发速度，进而更加有效地防止保温隔板100的后侧
表面凝水、结霜。

[0044] 优选地，上述测试仓200和数据采集仓300的仓壁上均设置有用于气体流出的出气口430，以使得上述测试仓200和数据采集仓300内气压稳定。进一步地，测试仓200和数据采
集仓300均设置有便于拿取仓内物品的仓门，更进一步地，测试仓200的仓门为保温隔热门。
优选地，测试仓200的仓门上开设观察窗，便于操作人员观察内部情况。进一步地，观察窗的
材质为具有保温效果的透明材质。由于带电老化测试装置的箱体500侧壁结构为现有技术，
因此，本申请对此不做具体限定和描述。

[0045] 参照图7‑9，每块保温隔板100均包括保温板110、设置于保温板110前、后两侧表面的弹性垫片120、设置于两侧弹性垫片120外表面的金属板130。具体地，保温板110开设有自
上而下设置的多个第一槽，弹性垫片120上开设有自上而下依次设置的多个第二槽，金属板
130上开设有自上而下设置的多个第三槽。且，上述第一槽、第二槽、第三槽位置均一一对
应。其中，第一槽和位置相对应的第二槽共同构成了上述插槽140。其中，第三槽在上下方向
上的尺寸大于第一槽和第二槽。为便于描述，定义第三槽的上、下两侧槽壁之间的距离为第
一距离，定义第二槽的上、下两侧槽壁之间的距离为第二距离，定义第三槽的上、下两侧槽
壁之间的距离为第三距离。即，第一距离等于第二距离，且第三距离大于第二距离和第一距
离。第一距离、第二距离均小于第三距离的设置使得弹性垫片120的边缘不被金属板130包
覆，因此弹性垫片120的边缘被展露于仓体环境内。因此，数据采集板420与保温隔板100的
上的插槽140插接时，一对插槽140相接形成的第一通孔与数据采集板420形成过盈配合，避
免引起测试仓200内的高温气体或低温气体流失。

[0046] 优选地，保温隔板100的后侧表面设置加热组件，当低温气体进入测试仓200时，该加热组件启动，增加保温隔板100后侧表面的温度，从而进一步避免保温隔板100后侧表面
出现冷凝水和结霜。可选地，该加热组件为现有技术中任一能实现加热功能的产品、装置、
设备，例如加热丝、加热垫、加热电阻等，本申请不对加热组件做具体限定。

[0047] 优选地，该一对保温隔板100均为竖直设置，且该一对保温隔板100为左右排列。在一对保温隔板100相连处，弹性垫片120、保温板110均朝向背离其本体所在方向延伸，使得
该弹性垫片120的边缘被展露出来。例如，位于左侧的保温隔板100内的弹性垫片120、保温
板110的右侧边缘均朝向右侧延伸，位于右侧的保温隔板100内的弹性垫片120、保温板110
的左侧边缘均朝向左侧延伸。当左、右两块保温隔板100相对接时，左、右两块保温隔板100
内部弹性垫片120的侧边相抵，左、右两块保温隔板100内部的两块保温板110的侧面相抵，
避免引起测试仓200内的高温气体或低温气体流失，从而避免凝水、结霜。

[0048] 优选地，上述弹性垫片120与密封件的材质为硅胶、橡胶等具有弹性的弹性体材料。进一步地，上述保温隔板100内保温板110的材料现有技术中任一热系数小于或等于
0.12的材料，优选地，该保温板110材料为高密度聚氨酯发泡保温板。

[0049] 进一步地，该保温隔板100插入箱体500内时，被展露于箱体500外的一侧面上设置有紧扣装置，该紧扣装置用于将保温隔板100紧锁于箱体500上。同时，当紧扣装置将保温隔
板100与箱体500相互锁定时，将一对保温隔板100均向内挤压，最终在水平方向上向内挤压
弹性垫片120和保温板110，从而使得一对保温隔板100之间紧密连接，以使得测试仓200内
气体无法通过相邻保温隔板100之间缝隙泄露，进一步避免出现因冷气泄露引起的保温隔
板100后侧面温度降低。可选地，该紧扣装置为现有技术中任一能实现收紧功能的结构，如
螺钉、螺栓、执手锁等，本申请不做限制。进一步地，每个保温隔板100与箱体500的连接处设
置密封件，以增加该箱体500的密封性能。

[0050] 优选地，该保温隔板100被展露于箱体500外的一侧面也设置便于保温隔板100抽出的把手，优选地，该把手为隐藏式把手，本申请对该把手的设置方式不做具体限定。进一
步地，该把手为现有技术中任一能实现以上功能的产品，本申请对把手的具体结构也不做
任何限定。

[0051] 本带电老化测试装置的工作过程：

[0052] 当带电老化测试装置处于高温测试状态时，第一进气口210开启，进气为小于等于200℃的高温气体，第二进气口310处于开启或关闭的状态。此时测试仓200内温度升高，同
时数据采集板420采集高温测试状态时的电子元器件410的数据。

[0053] 当带电老化测试装置处于低温测试状态时，第一进气口210开启，进气为大于等于‑80℃的低温气体。同时，第二进气口310打开，干燥气体进入，且风扇320开启，对数据采
集仓300内部吹扫，降低数据采集仓300内的湿度，同时加快保温隔板100后侧表面的液体蒸
发。另一方面，当带电老化测试装置处于低温测试状态时，加热组件开启，对保温隔板100的
后侧表面进行加热，使得保温隔板100后侧表面温度与数据采集仓300内环境温度的差大大
缩小，从而进一步地避免因保温隔板100后侧表面温度降低而形成的冷凝水和结霜。此时，
测试仓200内温度降低，而保温隔板100后侧表面的温度不发生变化，且，保温隔板100后侧
表面无冷凝水、无结霜，数据采集板420采集电子元器件410低温测试状态数据时不易受损、
不易出现故障。

[0054] 综上所述，本实施例中电子元器件的带电老化测试装置，不受数据采集板的类型限制，扩宽了可进行测试的电子元器件范围，实现了采用一体化数据采集板对电子元器件
进行高温、低温带电老化测试，扩宽了可进行测试的电子元器件范围；该带电老化测试装置
在箱体内部设置可拆卸的超薄保温隔板，通过其结构设置，使得对电子元器件进行低温老
化测试时，保温隔板后侧表面不会生成冷凝水、不会结霜。同时，通过干燥空气吹扫数据采
集仓，可以降低数据采集仓内湿度，同时加快保温隔板表面的液体蒸发速率，进一步解决保
温隔板出现冷凝水和结霜导致材料受损的问题。另一方面，在保温隔板的后侧面设置加热
组件，进一步降低保温隔板后侧表面与环境的温度差。同时，以上结构使得该带电老化测试
装置不受测试要求限制，降低了测试难度。

[0055] 需要说明的是，在本申请的方位描述中，以该带电老化测试装置正常使用为参照状态进行描述的。以保温隔板为参照物，定义测试仓所在一侧为“前”，数据采集仓所在一侧
为“后”，是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具
有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

[0056] 以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存
在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

[0057] 以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来
说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护
范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。