一种设备电流检测方法及电子设备转让专利
申请号 : CN202111596288.X
文献号 : CN114002482B
文献日 : 2022-03-18
发明人 : 李晨光 , 陈小平 , 张百川 , 张海东 , 张煌玉 , 李洪浩 , 朱建国
申请人 : 深圳市永联科技股份有限公司
摘要 :
本申请实施例提供一种设备电流检测方法及电子设备，包括：确定第一映射关系，其中，所述第一映射关系用于表征温度与电压采样电路的第一电压的增益的对应关系，所述电压采样电路用于采集第一电阻两端的电压，所述第一电阻串联在电子设备的目标支路或干路上；根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流，其中，所述第二映射关系用于表征不同温度下对应的所述第一采用本申请实施例能够计算出设备不同温度下对应的采样电路的电流。采用本申请实施例，可以以较低成本准确地测量出电子设备的目标支路或干路的电流。
权利要求 :
1.一种设备电流检测方法，其特征在于，包括：确定第一映射关系，其中，所述第一映射关系用于表征温度与电压采样电路的第一电压的增益的对应关系，所述电压采样电路用于采集第一电阻两端的电压，所述第一电阻串联在电子设备的目标支路或干路上；
根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流，其中，所述第二映射关系用于表征温度与对应的所述第一电阻的对应关系；
所述根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流，包括：确定第三映射关系，其中，所述第三映射关系用于表征温度与采样电路输出的零漂的对应关系；
根据所述第一电压、所述第一映射关系、所述第二映射关系、所述第三映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流；
所述确定第一映射关系，包括：
根据所述确定的所述第二映射关系、所述第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述电子设备的目标支路或干路的电流以及对应温度的关系式；
保持所述电压采样电路的第一电压不变，获取不同温度下所述电子设备的支路或干路的实际电流，得出所述第一电压增益随温度变化的第一映射关系；或者，保持第一电阻所在的支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述第一电压增益随温度变化的第一映射关系。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定第三映射关系，包括：保持所述电子设备的目标支路或干路的电流为零；
获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述第一电阻的采样电路输出的零漂随温度变化的第三映射关系。
3.根据权利要求1‑2任一项所述的方法，其特征在于，所述当前温度包括第一温度、第二温度、第三温度，其中，所述第一温度为散热器的温度，所述第二温度为根据所述第一温度和第一预设温差确定的温度，所述第三温度为根据所述第一温度和第二预设温差确定的温度；
所述根据所述第一电压、所述第一映射关系、所述第二映射关系以及所述第三映射关系和当前温度确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流，包括：根据所述第二映射关系确定所述第二温度对应的第一电阻；
根据所述第三映射关系确定所述第三温度对应的所述采样电路的零漂；
根据所述第一映射关系确定所述第三温度对应的所述第一电压的增益；
根据所述第一电压、所述第二温度对应的第一电阻、所述第二温度对应的所述采样电路的零漂、所述第三温度对应的所述第一电压的增益确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流。
4.一种设备电流检测的电子设备，其特征在于，包括处理器、存储器以及分流器，其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述分流器包括第一电阻，所述处理器用于调用计算机程序，以执行如下操作：
确定第一映射关系，其中，所述第一映射关系用于表征温度与电压采样电路的第一电压的增益的对应关系，所述电压采样电路用于采集第一电阻两端的电压，所述第一电阻串联在电子设备的目标支路或干路上；
根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流，其中，所述第二映射关系用于表征温度与对应的所述第一电阻的对应关系；
在所述根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流方面，所述处理器具体用于：确定第三映射关系，其中，所述第三映射关系用于表征温度与采样电路输出的零漂的对应关系；
根据所述第一电压、所述第一映射关系、所述第二映射关系、所述第三映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流；
在所述确定第一映射关系方面，所述处理器具体用于：根据所述确定的所述第二映射关系、所述第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述电子设备的目标支路或干路的电流以及对应温度的关系式；
保持所述电压采样电路的第一电压不变，获取不同温度下所述电子设备的支路或干路的实际电流，得出所述第一电压增益随温度变化的第一映射关系；或者，保持第一电阻所在的支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述第一电压增益随温度变化的第一映射关系。
5.根据权利要求4所述的电子设备，其特征在于，在所述确定第三映射关系方面，所述处理器具体用于：
保持所述电子设备的目标支路或干路的电流为零；
获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述第一电阻的采样电路输出的零漂随温度变化的第三映射关系。
6.根据权利要求4‑5任一项所述的电子设备，其特征在于，在所述确定第一映射关系方面，所述处理器具体用于：
根据所述确定的所述第二映射关系、所述第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述电子设备的目标支路或干路的电流以及对应温度的关系式；
保持所述电压采样电路的第一电压不变，获取不同温度下所述电子设备的目标支路或干路的实际电流，得出所述第一电压增益随温度变化的第一映射关系。
7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1‑3任一项所述的方法。
说明书 :
一种设备电流检测方法及电子设备
技术领域
[0001] 本申请涉及电路领域，尤其涉及一种设备电流检测方法及电子设备。
背景技术
[0002] 随着科学技术的发展，目前在电力电子设备的研发中，通常需要采集支路或干路电流来制定相应的环路补偿与控制策略，使得设备输出电压电流等参数满足用户给定要
求，因此寻求一种精确测量电流的方式尤为重要，为了节约成本，通常不采用互感器、霍尔
传感器等设备测量电流，而是串联分流器（采样电阻），将电流量转为电压量，再根据欧姆定
律，得到采样支路的电流，但分流器的阻值会随着设备的温度的变化而变化，造成采样电路
计算得出的电流值与实际电流值有一定的偏差，目前解决温漂的方式通常是采用硬件整
改，例如串联负温度系数热敏电阻，但是成本较高、实用性较差。
求，因此寻求一种精确测量电流的方式尤为重要，为了节约成本，通常不采用互感器、霍尔
传感器等设备测量电流，而是串联分流器（采样电阻），将电流量转为电压量，再根据欧姆定
律，得到采样支路的电流，但分流器的阻值会随着设备的温度的变化而变化，造成采样电路
计算得出的电流值与实际电流值有一定的偏差，目前解决温漂的方式通常是采用硬件整
改，例如串联负温度系数热敏电阻，但是成本较高、实用性较差。
发明内容
[0003] 本申请实施例公开了一种设备电流检测方法及电子设备，可以以较低成本准确地测量出电子设备的目标支路或干路的电流。
[0004] 第一方面，本申请实施例提供了一种设备电流检测的方法，该方法包括：
[0005] 确定第一映射关系，其中，所述第一映射关系用于表征温度与电压采样电路的第一电压的增益的对应关系，所述电压采样电路用于采集第一电阻两端的电压，所述第一电
阻串联在电子设备的目标支路或干路上；
阻串联在电子设备的目标支路或干路上；
[0006] 根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流，其中，所述第二映射关系用于表征温度与对应的所述
第一电阻的对应关系。
第一电阻的对应关系。
[0007] 在上述方法中，考虑串联的分流器（电阻）会随着设备温度的变化而变化的影响，通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随温度变化的关系式，获得对应温度下采样电路所在
支路的电流，而不是通过在设备中通过硬件整改的方式（例如串联负温度系数热敏电阻）解
决电阻随设备温度的变化而变化的温漂问题，因此通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随
温度变化的关系式，能在不增加硬件设备的情况下，得到电子设备目标支路或干路在对应
温度下的实际电流值，节省了解决温漂问题的成本，提高了电流采样的精确度。
支路的电流，而不是通过在设备中通过硬件整改的方式（例如串联负温度系数热敏电阻）解
决电阻随设备温度的变化而变化的温漂问题，因此通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随
温度变化的关系式，能在不增加硬件设备的情况下，得到电子设备目标支路或干路在对应
温度下的实际电流值，节省了解决温漂问题的成本，提高了电流采样的精确度。
[0008] 在第一方面的一种可选的方案中，所述根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流，包括：
[0009] 确定第三映射关系，其中，所述第三映射关系用于表征温度与采样电路输出的零漂的对应关系；
[0010] 根据所述第一电压、所述第一映射关系、所述第二映射关系、所述第三映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流。
[0011] 需要说明的是，确定第一映射关系，也就是确定电压采样电路的第一电压的增益随温度变化的关系式(即A(T2)随温度变化的关系式)；确定第二映射关系，也就是确定第一
电阻随温度变化的对应电阻值（即R(T1)随温度变化的关系式）；确定第三映射关系，也就是
确定采样电路输出的零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。考虑分流
器在通入电流的情况下做功导致电阻温度升高以及设备其余器件的温度的影响，该设备各
量之间的关系式为：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，确定出第一映射关系、第二映射关
系、第三映射关系以及当前温度下的第一电压之后，得出电子设备的目标支路或干路中的
电流随温度变化的关系式（即i=(VI‑Z(T2))/(R(T1)*A(T2))）。在上述方法中，能确定采样电
阻（第一电阻）所在电子设备的目标支路或干路中的电流随温度变化的关系式，考虑了温度
对电阻的影响，得到对应温度下的采样支路的电流，提高了测量电流的精确度。
电阻随温度变化的对应电阻值（即R(T1)随温度变化的关系式）；确定第三映射关系，也就是
确定采样电路输出的零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。考虑分流
器在通入电流的情况下做功导致电阻温度升高以及设备其余器件的温度的影响，该设备各
量之间的关系式为：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，确定出第一映射关系、第二映射关
系、第三映射关系以及当前温度下的第一电压之后，得出电子设备的目标支路或干路中的
电流随温度变化的关系式（即i=(VI‑Z(T2))/(R(T1)*A(T2))）。在上述方法中，能确定采样电
阻（第一电阻）所在电子设备的目标支路或干路中的电流随温度变化的关系式，考虑了温度
对电阻的影响，得到对应温度下的采样支路的电流，提高了测量电流的精确度。
[0012] 在第一方面又一种可能的方案中，所述确定第三映射关系，包括：
[0013] 保持所述电子设备的目标支路或干路的电流为零；
[0014] 获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述第一电阻的采样电路输出的零漂随温度变化的第三映射关系。
[0015] 需要说明的是，零漂可以理解为输入电压为零，输出电压偏离零值的变化，所以保持第一电阻所在电子设备的目标支路或干路中的电流为零，计算出对应温度下采样电路所
在支路的零漂。根据该设备各量之间的关系式：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，可以理解为：在保
持第一电阻所在支路（也就是电子设备的目标支路或干路）电流为零的情况下，获取不同温
度下所述电压采样电路的所述第一电压值，也即是获取不同温度下的零漂值，得出采样电
路的零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。
在支路的零漂。根据该设备各量之间的关系式：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，可以理解为：在保
持第一电阻所在支路（也就是电子设备的目标支路或干路）电流为零的情况下，获取不同温
度下所述电压采样电路的所述第一电压值，也即是获取不同温度下的零漂值，得出采样电
路的零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。
[0016] 在第一方面又一种可选的方案中，所述确定第一映射关系，包括：
[0017] 根据所述确定的所述第二映射关系、所述第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述电子设备的目标支路或干路的电流以及对应温度的关系式；
[0018] 保持所述电压采样电路的第一电压不变，获取不同温度下所述电子设备的支路或干路的实际电流，得出所述第一电压增益随温度变化的第一映射关系。
[0019] 需要说明的是，确定第一映射关系，也就是确定第一电压的增益A(T2)随温度变化的关系式。该设备各量之间的关系式为：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，需要先确定第
二映射关系（确定第一电阻随温度变化的对应电阻值，即R(T1)随温度变化的关系式）、第三
映射关系（确定采样电路输出的零漂随温度变化的关系式，即Z(T2)随温度变化的关系式），
再在设备的电压采样电路的电压保持不变的情况下，通过测量不同温度下对应的第一电阻
所在支路或管理的实际电流，得出第一映射关系。
二映射关系（确定第一电阻随温度变化的对应电阻值，即R(T1)随温度变化的关系式）、第三
映射关系（确定采样电路输出的零漂随温度变化的关系式，即Z(T2)随温度变化的关系式），
再在设备的电压采样电路的电压保持不变的情况下，通过测量不同温度下对应的第一电阻
所在支路或管理的实际电流，得出第一映射关系。
[0020] 在第一方面又一种可选的方案中，所述当前温度包括第一温度、第二温度、第三温度，其中，所述第一温度为散热器的温度，所述第二温度为根据所述第一温度和第一预设温
差确定的温度，所述第三温度为根据所述第一温度和第二预设温差确定的温度；
差确定的温度，所述第三温度为根据所述第一温度和第二预设温差确定的温度；
[0021] 所述根据所述第一电压、所述第一映射关系、所述第二映射关系以及所述第三映射关系和当前温度确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流，包括：
[0022] 根据所述第二映射关系确定所述第二温度对应的第一电阻；
[0023] 根据所述第三映射关系确定所述第三温度对应的所述采样电路的零漂；
[0024] 根据所述第一映射关系确定所述第三温度对应的所述第一电压的增益；
[0025] 根据所述第一电压、所述第二温度对应的第一电阻、所述第二温度对应的所述采样电路的零漂、所述第三温度对应的所述第一电压的增益确定所述电子设备的所述目标支
路或干路的电流。
路或干路的电流。
[0026] 需要说明的是，第一温度即是散热器的温度T，第二温度是分流器的温度T1，第三温度是电压采样电路的温度T2，也就是说，分流器的温度T1与电压采样电路的温度T2、散热
器的温度T不同。得出的电子设备的目标支路或干路的电流随温度变化的关系式，根据第一
电压、第二温度T1对应的第一电阻、第三温度T2对应的采样电路的零漂、第三温度T2对应的
第一电压的增益确定电子设备的目标支路或干路中分流器的电流随温度变化的关系式，也
即是得出经过分流器电流i随分流器的温度T（1 即第二温度）变化的关系式。
器的温度T不同。得出的电子设备的目标支路或干路的电流随温度变化的关系式，根据第一
电压、第二温度T1对应的第一电阻、第三温度T2对应的采样电路的零漂、第三温度T2对应的
第一电压的增益确定电子设备的目标支路或干路中分流器的电流随温度变化的关系式，也
即是得出经过分流器电流i随分流器的温度T（1 即第二温度）变化的关系式。
[0027] 在第一方面又一种可选的方案中，第二温度为根据所述第一温度和第一预设温差确定的温度，第三温度为根据所述第一温度和第二预设温差确定的温度，所述当前温度还
包括第四温度，在不同的第四温度范围内第一预设温差与第二预设温差的表达式不同，可
以理解为第四温度是设备面板的温度Ten。第一预设温度为分流器的温度与散热器之间的温
度差值∆T1，第二预设温度为电压采样电路与散热器之间的温度差值∆T2，∆T1和∆T2受到
设备面板温度Ten的影响，例如也就是说，设备面板温度第一范围（例如3℃≤Ten≦17℃）内
对应的第一预设温差与第二预设温差与设备面板温度第二范围（例如3℃≤Ten≦17℃）对应
的第一预设温差与第二预设温差不同。
包括第四温度，在不同的第四温度范围内第一预设温差与第二预设温差的表达式不同，可
以理解为第四温度是设备面板的温度Ten。第一预设温度为分流器的温度与散热器之间的温
度差值∆T1，第二预设温度为电压采样电路与散热器之间的温度差值∆T2，∆T1和∆T2受到
设备面板温度Ten的影响，例如也就是说，设备面板温度第一范围（例如3℃≤Ten≦17℃）内
对应的第一预设温差与第二预设温差与设备面板温度第二范围（例如3℃≤Ten≦17℃）对应
的第一预设温差与第二预设温差不同。
[0028] 需要说明的是，散热器和设备表面的温度可以分别由散热器和设备面板的热敏电阻对应的电压得出，设备面板中的热敏电阻的电压VTen随温度Ten变化的关系为线性关系，因
此可以通过处理器测量设备面板的电压VTen得到设备表面的温度Ten，散热器中的热敏电阻
的电压VT随温度T变化的关系为线性关系，因此可以通过处理器测量设备面板的电压VT得到
设备表面的温度T。
此可以通过处理器测量设备面板的电压VTen得到设备表面的温度Ten，散热器中的热敏电阻
的电压VT随温度T变化的关系为线性关系，因此可以通过处理器测量设备面板的电压VT得到
设备表面的温度T。
[0029] 在第一方面又一种可选的方案中，所述第一温度与第二温度的差值受到电流做功、环境温度或者距离因素的影响，与第二温度与第三温度的差值受到距离因素的影响，也
可以受到其余因素的影响，本申请对此不做限定。可以理解为第一温度所表征的是电子设
备的散热器中的温度T，散热器中包括半导体器件（例如mos管），在温度过高时散热器能降
低半导体器件的温度，使其正常工作，散热器中的热敏电阻的电压VT随温度T变化的关系为
线性关系，因此可以通过处理器测量散热器的电压VT得到散热器的温度T。由于在电子设备
中散热器与分流器之间存在物理距离、分流器中通入电流后电流做功导致分流器温度升
高，并且分流器受到设备中其余器件的影响以及环境温度的影响，使得分流器的温度T1与
散热器的温度T存在∆T1的差值，则分流器的温度T1与散热器的温度T之间的关系为：T1=∆
T1+T，也就是说，分流器的温度可以用散热器的温度表示出来，散热器中的热敏电阻的不同
温度能根据不同电压VT与温度T的变化的线性关系得到，无需在分流器中增加硬件设备测
量分流器的温度，而是利用散热器的温度间接表征分流器的温度，节省了测温成本。
可以受到其余因素的影响，本申请对此不做限定。可以理解为第一温度所表征的是电子设
备的散热器中的温度T，散热器中包括半导体器件（例如mos管），在温度过高时散热器能降
低半导体器件的温度，使其正常工作，散热器中的热敏电阻的电压VT随温度T变化的关系为
线性关系，因此可以通过处理器测量散热器的电压VT得到散热器的温度T。由于在电子设备
中散热器与分流器之间存在物理距离、分流器中通入电流后电流做功导致分流器温度升
高，并且分流器受到设备中其余器件的影响以及环境温度的影响，使得分流器的温度T1与
散热器的温度T存在∆T1的差值，则分流器的温度T1与散热器的温度T之间的关系为：T1=∆
T1+T，也就是说，分流器的温度可以用散热器的温度表示出来，散热器中的热敏电阻的不同
温度能根据不同电压VT与温度T的变化的线性关系得到，无需在分流器中增加硬件设备测
量分流器的温度，而是利用散热器的温度间接表征分流器的温度，节省了测温成本。
[0030] 需要说明的是，在电子设备中电压采样电路与分流器之间通常也存在物理距离，也就是说，分流器与散热器之间的物理距离和电压采样电路与散热器之间的物理距离不一
致，因此分流器的温度T1与电压采样电路的温度T2是不同的，所以散热器的温度T和电压采
样电路的温度T2之间的差值∆T2与散热器的温度T和分离器的温度T1之间的差值∆T1不相
同。具体地，电压采样电路的温度T2与散热器温度T之间的关系为：T2=∆T2+T。
致，因此分流器的温度T1与电压采样电路的温度T2是不同的，所以散热器的温度T和电压采
样电路的温度T2之间的差值∆T2与散热器的温度T和分离器的温度T1之间的差值∆T1不相
同。具体地，电压采样电路的温度T2与散热器温度T之间的关系为：T2=∆T2+T。
[0031] 在第一方面又一种可选的方案中，∆T1和∆T2为关于当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数。也就是说，在求解∆T1和∆T2的表达式的过程中，先确定设备面板温度Ten
（例如为Ten1），在电子设备的目标支路或干路的电流i值不同的情况下，分别测量出散热器
温度T值、分流器实测温度T1值以及采样电路实测温度T2值，确定设备面板温度Ten下的不同
电流i值对应的∆T1和∆T2，再改变确定设备面板温度Te（n 例如为Ten2）的值，在电子设备的
目标支路或干路的电流i值不同的情况下，分别测量出散热器温度T值、分流器实测温度T1
值以及采样电路实测温度T2值，改变设备面板温度Ten的值，循环测量，不再赘述。最后采用
多项式函数拟合得到ΔT1与ΔT2为关于当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数。
（例如为Ten1），在电子设备的目标支路或干路的电流i值不同的情况下，分别测量出散热器
温度T值、分流器实测温度T1值以及采样电路实测温度T2值，确定设备面板温度Ten下的不同
电流i值对应的∆T1和∆T2，再改变确定设备面板温度Te（n 例如为Ten2）的值，在电子设备的
目标支路或干路的电流i值不同的情况下，分别测量出散热器温度T值、分流器实测温度T1
值以及采样电路实测温度T2值，改变设备面板温度Ten的值，循环测量，不再赘述。最后采用
多项式函数拟合得到ΔT1与ΔT2为关于当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数。
[0032] 需要说明的是，分流器实测温度T1值可以由分流器上粘贴温度测试线如热电偶来获取分流器实际温度，以及采样电路实测温度T2值也可以由电压采样电路上粘贴温度测试
线如热电偶来获取分流器实际温度。
线如热电偶来获取分流器实际温度。
[0033] 在第一方面又一种可选的方案中，∆T1和∆T2的表达式的自变量的电流I值与电子设备的目标支路或干路的电流i值不相同。具体来说，∆T1和∆T2的表达式的自变量的电流I
值为电子设备的目标支路或干路的电流i值的上一次的计算值（也就是上一次通过公式i=
（VI‑Z(T2)）/(R(T1)*A(T2))求解的计算值）。
值为电子设备的目标支路或干路的电流i值的上一次的计算值（也就是上一次通过公式i=
（VI‑Z(T2)）/(R(T1)*A(T2))求解的计算值）。
[0034] 在第一方面又一种可选的方案中，在系统第一次上电时，分流器、电压采样电路、散热器以及设备面板之间可视为等温状态，也就是说∆T1和∆T2的值等于0，此时散热器的
温度T与分流器的温度T1、电压采样电路的温度T2以及设备面板的温度Ten相等。
温度T与分流器的温度T1、电压采样电路的温度T2以及设备面板的温度Ten相等。
[0035] 在第一方面又一种可选的方案中，散热器中的热敏电阻的电压VT随温度T的线性变化关系的斜率k1与设备表面中的热敏电阻的电压VTen随温度Ten的线性变化关系的斜率k2
可以相同，也可以不相同，本申请在此不做限定。
可以相同，也可以不相同，本申请在此不做限定。
[0036] 第二方面，本申请实施例提出了一种设备电流检测的电子设备，该电子设备包括处理器、存储器以及分流器，其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述分流器包括第一
电阻，所述处理器用于调用计算机程序，以执行如下操作：
电阻，所述处理器用于调用计算机程序，以执行如下操作：
[0037] 确定第一映射关系，其中，所述第一映射关系用于表征温度与电压采样电路的所述第一电压的增益的对应关系，所述电压采样电路用于采集第一电阻两端的电压，所述第
一电阻串联在电子设备的目标支路或干路上；
一电阻串联在电子设备的目标支路或干路上；
[0038] 根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流，其中，所述第二映射关系用于表征温度与对应的所述
第一电阻的对应关系。
第一电阻的对应关系。
[0039] 可以看出，考虑串联的分流器（电阻）会随着设备温度的变化而变化的影响，通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随温度变化的关系式，获得对应温度下采样电路所在支路
的电流，而不是通过在设备中通过硬件整改的方式（例如串联负温度系数热敏电阻）解决电
阻随设备温度的变化而变化的温漂问题，因此通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随温度
变化的关系式，能在不增加硬件设备的情况下，得到电子设备目标支路或干路在对应温度
下的实际电流值，节省了解决温漂问题的成本，提高了电流采样的精确度。
的电流，而不是通过在设备中通过硬件整改的方式（例如串联负温度系数热敏电阻）解决电
阻随设备温度的变化而变化的温漂问题，因此通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随温度
变化的关系式，能在不增加硬件设备的情况下，得到电子设备目标支路或干路在对应温度
下的实际电流值，节省了解决温漂问题的成本，提高了电流采样的精确度。
[0040] 在第二方面的一种可选的方案中，在所述根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流方面，所述处理器具
体用于：
体用于：
[0041] 确定第三映射关系，其中，所述第三映射关系用于表征温度与采样电路输出的零漂的对应关系；
[0042] 根据所述第一电压、所述第一映射关系、所述第二映射关系、所述第三映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流。
[0043] 可以看出，确定第一映射关系，也就是确定电压采样电路的第一电压的增益随温度变化的关系式(即A(T2)随温度变化的关系式)；确定第二映射关系，也就是确定第一电阻
随温度变化的对应电阻值（即R(T1)随温度变化的关系式）；确定第三映射关系，也就是确定
采样电路输出的零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。考虑分流器在
通入电流的情况下做功导致电阻温度升高以及设备其余器件的温度的影响，该设备各量之
间的关系式为：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，确定出第一映射关系、第二映射关系、
第三映射关系以及当前温度下的第一电压之后，得出电子设备的目标支路或干路中的电流
随温度变化的关系式（即i=(VI‑Z(T2))/(R(T1)*A(T2))）。在上述方法中，能确定采样电阻
（第一电阻）所在电子设备的目标支路或干路中的电流随温度变化的关系式，考虑了温度对
电阻的影响，得到对应温度下的采样支路的电流，提高了测量电流的精确度。
随温度变化的对应电阻值（即R(T1)随温度变化的关系式）；确定第三映射关系，也就是确定
采样电路输出的零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。考虑分流器在
通入电流的情况下做功导致电阻温度升高以及设备其余器件的温度的影响，该设备各量之
间的关系式为：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，确定出第一映射关系、第二映射关系、
第三映射关系以及当前温度下的第一电压之后，得出电子设备的目标支路或干路中的电流
随温度变化的关系式（即i=(VI‑Z(T2))/(R(T1)*A(T2))）。在上述方法中，能确定采样电阻
（第一电阻）所在电子设备的目标支路或干路中的电流随温度变化的关系式，考虑了温度对
电阻的影响，得到对应温度下的采样支路的电流，提高了测量电流的精确度。
[0044] 在第二方面的又一种可选的方案中，在所述确定第三映射关系方面，所述处理器具体用于：
[0045] 保持所述电子设备的目标支路或干路的电流为零；
[0046] 获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述第一电阻的采样电路输出的零漂随温度变化的第三映射关系。
[0047] 可以看出，零漂可以理解为输入电压为零，输出电压偏离零值的变化，所以保持第一电阻所在电子设备的目标支路或干路中的电流为零，计算出对应温度下采样电路所在支
路的零漂。根据该设备各量之间的关系式：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，可以理解为：在保持第
一电阻所在支路（也就是电子设备的目标支路或干路）电流为零的情况下，获取不同温度下
所述电压采样电路的所述第一电压，也即是获取不同温度下的零漂，得出采样电路的零漂
随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。
路的零漂。根据该设备各量之间的关系式：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，可以理解为：在保持第
一电阻所在支路（也就是电子设备的目标支路或干路）电流为零的情况下，获取不同温度下
所述电压采样电路的所述第一电压，也即是获取不同温度下的零漂，得出采样电路的零漂
随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。
[0048] 在第二方面的又一种可选的方案中，在所述确定第一映射关系方面，所述处理器具体用于：
[0049] 根据所述确定的所述第二映射关系、所述第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述电子设备的目标支路或干路的电流以及对应温度的关系式；
[0050] 保持所述电压采样电路的第一电压不变，获取不同温度下所述电子设备的目标支路或干路的实际电流，得出所述第一电压增益随温度变化的第一映射关系。
[0051] 可以看出，确定第一映射关系，也就是确定第一电压的增益A(T2)随温度变化的关系式。该设备各量之间的关系式为：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，需要先确定第二映
射关系（确定第一电阻随温度变化的对应电阻值，即R(T1)随温度变化的关系式）、第三映射
关系（确定采样电路输出的零漂随温度变化的关系式，即Z(T2)随温度变化的关系式），再在
设备的电压采样电路的电压保持不变的情况下，通过测量不同温度下对应的第一电阻所在
支路或管理的实际电流，得出第一映射关系。
射关系（确定第一电阻随温度变化的对应电阻值，即R(T1)随温度变化的关系式）、第三映射
关系（确定采样电路输出的零漂随温度变化的关系式，即Z(T2)随温度变化的关系式），再在
设备的电压采样电路的电压保持不变的情况下，通过测量不同温度下对应的第一电阻所在
支路或管理的实际电流，得出第一映射关系。
[0052] 第三方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，该计算机存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，实现本申请实施例第一方面以及第一方面的
任意一种设备电流检测的方法。
任意一种设备电流检测的方法。
[0053] 第四方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当该计算机程序产品在电子设备上运行时，使得该电子设备执行本申请实施例第一方面以及第一方面的任意一种设
备电流检测的方法。
备电流检测的方法。
[0054] 应当理解的是，本申请中对技术特征、技术方案、有益效果或类似语言的描述并不是暗示在任意的单个实施例中可以实现所有的特点和优点。相反，可以理解的是对于特征
或有益效果的描述意味着在至少一个实施例中包括特定的技术特征、技术方案或有益效
果。因此，本说明书中对于技术特征、技术方案或有益效果的描述并不一定是指相同的实施
例。进而，还可以任何适当的方式组合本实施例中所描述的技术特征、技术方案和有益效
果。本领域技术人员将会理解，无需特定实施例的一个或多个特定的技术特征、技术方案或
有益效果即可实现实施例。在其他实施例中，还可在没有体现所有实施例的特定实施例中
识别出额外的技术特征和有益效果。
或有益效果的描述意味着在至少一个实施例中包括特定的技术特征、技术方案或有益效
果。因此，本说明书中对于技术特征、技术方案或有益效果的描述并不一定是指相同的实施
例。进而，还可以任何适当的方式组合本实施例中所描述的技术特征、技术方案和有益效
果。本领域技术人员将会理解，无需特定实施例的一个或多个特定的技术特征、技术方案或
有益效果即可实现实施例。在其他实施例中，还可在没有体现所有实施例的特定实施例中
识别出额外的技术特征和有益效果。
附图说明
[0055] 以下对本申请实施例用到的附图进行介绍。
[0056] 图1是本申请实施例提供的一种电子设备10的结构示意图；
[0057] 图2是本申请实施例提供的又一种电子设备20的结构示意图；
[0058] 图3是本申请实施例提供的一种设备电流检测方法的流程示意图；
[0059] 图4是本申请实施例提供的一种电流检测场景示意图；
[0060] 图5是本申请实施例提供的一种确定第二映射关系的流程图；
[0061] 图6是本申请实施例提供的一种关于零漂的拟合曲线示意图；
[0062] 图7是本申请实施例提供的一种求解电压增益的流程图；
[0063] 图8是本申请实施例提供的又一种设备电流测量的场景示意图；
[0064] 图9为本申请实施例提供的一种可选的求解∆T1与当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数的方法流程图；
[0065] 图10为本申请实施例提供的一种可选的求解∆T2与当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数的方法流程图；
[0066] 图11为本申请实施例提供的一组测量∆T1和∆T2的数据图；
[0067] 图12为本申请实施例提供的一组关于∆T1和∆T2散点图的拟合曲线图；
[0068] 图13是本申请实施例提供的一种确定第三映射关系的流程图；
[0069] 图14是本申请实施例提供的一种温漂Z(T2)的拟合曲线示意图；
[0070] 图15是本申请实施例提供的一种求解电压增益A(T2)的流程图；
[0071] 图16是本申请实施例提供的一种设备电流检测的装置30示意图。
具体实施方式
[0072] 下面将结合附图对本申请实施例中的技术方案进行清楚、详尽地描述。本申请实施例的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释，而非旨在限定本
申请。
申请。
[0073] 如图1所示，图1是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。电子设备10包括处理器101、分流器102以及电压采样电路103。该分流器102包括第一电阻，第一电阻所
在的支路或干路为电子设备的目标支路或干路，在待测支路电流中串联分流器102（第一电
阻），能将待测的电流值转为电压值，并通过处理器101采集电压采样电路103两端的电压，
通过欧姆定律，根据测量的电压采样电路的的第一电压以及第一电阻得出第一电阻所在支
路的电流。随着设备的使用，经过电阻的电流做功导致电阻温度升高以及环境温度或设备
中其余器件温度的影响的原因，第一电阻的阻值会随着温度的变化而变化，若此时仍利用
处理器101获取电压采样电路103两端的电压，再通过欧姆定律得出第一电阻所在支路的电
流，会导致电流值不准确，降低了测量电流的准确度。
在的支路或干路为电子设备的目标支路或干路，在待测支路电流中串联分流器102（第一电
阻），能将待测的电流值转为电压值，并通过处理器101采集电压采样电路103两端的电压，
通过欧姆定律，根据测量的电压采样电路的的第一电压以及第一电阻得出第一电阻所在支
路的电流。随着设备的使用，经过电阻的电流做功导致电阻温度升高以及环境温度或设备
中其余器件温度的影响的原因，第一电阻的阻值会随着温度的变化而变化，若此时仍利用
处理器101获取电压采样电路103两端的电压，再通过欧姆定律得出第一电阻所在支路的电
流，会导致电流值不准确，降低了测量电流的准确度。
[0074] 本申请对电子设备10做出了相关改进，如图2所示，图2是本申请实施例提供的又一种电子设备的结构示意图，该电子设备20包括处理器101、分流器102、电压采样电路103、
散热器201以及设备面板202。在得出采样电路的电流过程中，不再使用固定的第一电阻值、
第一电压值以及采样电路的零漂对电流进行计算，可以理解为不使用公式：V=R*A*i+Z来求
解电流i值，其中，V为第一电压，A为电压采样电流的电压增益，R为第一电阻，Z为采样电路
的零漂，例如可以理解为V、A、R、Z为不随温度变化的固定值。而是考虑设备温度对第一电
阻、第一电压、零漂的影响，确定第一电压的增益随温度变化的关系式（即第一映射关系A
(T2)），确定出第一电阻随温度变化的关系式（即第二映射关系R(T1)），确定采样电路输出的
零漂与温度变化的关系（即第三映射关系Z(T2)），在考虑设备温度变化的情况下，电子设备
各变量之间的关系为：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，根据该关系得出采样电流随温度变化的关
系式：i=（VI‑Z(T2)）/(R(T1)*A(T2))，也就是说，当第一电阻的温度变化时，能确定不同温度
下对应温度的采样电路的电流。需要说明的是，本申请实施例没有通过增加硬件的方式（例
如增加负温度系数热敏电阻）解决第一电阻随温度的变化阻值发生变化的温漂问题，而是
通过软件的方式，通过确定采样电流随温度变化的关系式（即i=（VI‑Z(T2)）/(R(T1)*A
(T2))），求得采样电路的电流随温度变化的关系式，确定出电子设备的目标支路或干路对
应温度下的电流，提高了测量采样电路电流的精确度。
散热器201以及设备面板202。在得出采样电路的电流过程中，不再使用固定的第一电阻值、
第一电压值以及采样电路的零漂对电流进行计算，可以理解为不使用公式：V=R*A*i+Z来求
解电流i值，其中，V为第一电压，A为电压采样电流的电压增益，R为第一电阻，Z为采样电路
的零漂，例如可以理解为V、A、R、Z为不随温度变化的固定值。而是考虑设备温度对第一电
阻、第一电压、零漂的影响，确定第一电压的增益随温度变化的关系式（即第一映射关系A
(T2)），确定出第一电阻随温度变化的关系式（即第二映射关系R(T1)），确定采样电路输出的
零漂与温度变化的关系（即第三映射关系Z(T2)），在考虑设备温度变化的情况下，电子设备
各变量之间的关系为：VI=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，根据该关系得出采样电流随温度变化的关
系式：i=（VI‑Z(T2)）/(R(T1)*A(T2))，也就是说，当第一电阻的温度变化时，能确定不同温度
下对应温度的采样电路的电流。需要说明的是，本申请实施例没有通过增加硬件的方式（例
如增加负温度系数热敏电阻）解决第一电阻随温度的变化阻值发生变化的温漂问题，而是
通过软件的方式，通过确定采样电流随温度变化的关系式（即i=（VI‑Z(T2)）/(R(T1)*A
(T2))），求得采样电路的电流随温度变化的关系式，确定出电子设备的目标支路或干路对
应温度下的电流，提高了测量采样电路电流的精确度。
[0075] 在一些实施例中，处理器101可以为数字信号控制器（Digital Signal Processing，DSP，也可以称为DSP控制器），用于测量采样电路的第一电压，可以相应表示为
VIDSP，该DSP控制器用于采集电压采样电路的第一电压，在本申请实施例中，处理器可以为
DSP控制器，也可以为其余类型的控制器，本身请对此不做限定，在本实施例中，选用处理器
101为DSP控制器的情况进行分析，则采样电路的第一电压可以相应表示为VIDSP，散热器201
的电压可以表示为VTDSP，设备面板202的电压可以表示为VTenDSP。
VIDSP，该DSP控制器用于采集电压采样电路的第一电压，在本申请实施例中，处理器可以为
DSP控制器，也可以为其余类型的控制器，本身请对此不做限定，在本实施例中，选用处理器
101为DSP控制器的情况进行分析，则采样电路的第一电压可以相应表示为VIDSP，散热器201
的电压可以表示为VTDSP，设备面板202的电压可以表示为VTenDSP。
[0076] 【实施例1】
[0077] 请参见图3，图3是本申请实施例提供的一种设备电流检测方法的流程示意图，该方法可以基于图1所示的电子设备10来实现，或者基于其他架构来实现，在考虑设备温度对
第一电阻、第一电压、零漂的影响的情况下，若不考虑分流器102、电压采样电路103、散热器
201之间的温度差值，默认分流器、电压采样电路以及散热器之间处于等温状态，即T1=T2=T，
该方法包括但不限于如下步骤：
第一电阻、第一电压、零漂的影响的情况下，若不考虑分流器102、电压采样电路103、散热器
201之间的温度差值，默认分流器、电压采样电路以及散热器之间处于等温状态，即T1=T2=T，
该方法包括但不限于如下步骤：
[0078] S301:确定第一映射关系。
[0079] 确定第一映射关系，也就是确定采样电路的第一电压的增益与温度的关系式，即确定A(T)与温度变化的关系式，在确定第一映射关系之前，需要先确定第二映射关系以及
第三映射关系，获得所述第一电压增益与第一电压、第一电阻所在支路的电流以及对应温
度的关系式，再保持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的
所述第一电压，得出所述第一电压增益A(T)随温度变化的关系式。
第三映射关系，获得所述第一电压增益与第一电压、第一电阻所在支路的电流以及对应温
度的关系式，再保持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的
所述第一电压，得出所述第一电压增益A(T)随温度变化的关系式。
[0080] 在一些实施例中，通过电压采样电路采集第一电阻两端的电压，其中，电压采样电路的电压为第一电压，可以理解为通过处理器采集电压采样电路的电压（第一电压），电压
采样电路的第一电压与第一电阻两端的实际电压不相等，在本申请实施例中，通过电压采
样电路的第一电压表征第一电阻两端的采样电压。如图4所示，图4是本申请实施例提供的
一种电流检测场景示意图。为测量采样电路中的电流，在采样电路的支路中串联分流器（也
就是串联第一电阻），将该采样电路的电流转换为采样电路的电压，并通过控制器测量该采
样电路的第一电压，这样能将电流的测量（直接测电流成本高）转为电压的测量（成本低），
再根据欧姆定律得到采样电路的电流值，本申请实施例考虑了第一电阻、采样电路电压、以
及采样电路的零漂随设备温度的变化影响，如图4所示，分流器（第一电阻）的阻值不是固定
值R而是随设备温度变化的第一电阻R(T)，采样电路的零漂不是固定值Z而是随设备温度变
化的零漂Z(T)，采样电路的第一电压不是固定的VDSP而是随设备温度变化产生电压增益A
(T)，若考虑设备温度的影响，该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量之间的关系
式可以为：VDSP=R(T)*A(T)*i+Z(T)。也就是说，电压采样电路的第一电压随设备的温度的变
化而变化。
采样电路的第一电压与第一电阻两端的实际电压不相等，在本申请实施例中，通过电压采
样电路的第一电压表征第一电阻两端的采样电压。如图4所示，图4是本申请实施例提供的
一种电流检测场景示意图。为测量采样电路中的电流，在采样电路的支路中串联分流器（也
就是串联第一电阻），将该采样电路的电流转换为采样电路的电压，并通过控制器测量该采
样电路的第一电压，这样能将电流的测量（直接测电流成本高）转为电压的测量（成本低），
再根据欧姆定律得到采样电路的电流值，本申请实施例考虑了第一电阻、采样电路电压、以
及采样电路的零漂随设备温度的变化影响，如图4所示，分流器（第一电阻）的阻值不是固定
值R而是随设备温度变化的第一电阻R(T)，采样电路的零漂不是固定值Z而是随设备温度变
化的零漂Z(T)，采样电路的第一电压不是固定的VDSP而是随设备温度变化产生电压增益A
(T)，若考虑设备温度的影响，该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量之间的关系
式可以为：VDSP=R(T)*A(T)*i+Z(T)。也就是说，电压采样电路的第一电压随设备的温度的变
化而变化。
[0081] 在一些实施例中，确定第二映射关系，该第二映射关系用于表征不同温度下对应的第一电阻。需要说明的是，不同温度下对应的随设备温度变化的第一电阻的阻值通常在
产品手册中能被查阅，或，在不能在产品手册被查阅的情况下，利用万用表等仪器测出电阻
值，也就是说，不同温度下对应的第一电阻可以通过查阅的方式获得，也可以通过测量的方
式获得，本申请对此不做限定。关于不同温度下对应的不同第一电阻，如表1所示，表1是本
申请实施例示出的一组关于分流器测量数据表。举例来说，在25℃下，第一电阻R=4mΩ，在
50℃下，第一电阻R=4.5mΩ，在75℃下，第一电阻R=5mΩ。
产品手册中能被查阅，或，在不能在产品手册被查阅的情况下，利用万用表等仪器测出电阻
值，也就是说，不同温度下对应的第一电阻可以通过查阅的方式获得，也可以通过测量的方
式获得，本申请对此不做限定。关于不同温度下对应的不同第一电阻，如表1所示，表1是本
申请实施例示出的一组关于分流器测量数据表。举例来说，在25℃下，第一电阻R=4mΩ，在
50℃下，第一电阻R=4.5mΩ，在75℃下，第一电阻R=5mΩ。
[0082]
[0083] 在一些实施例中，确定第三映射关系，该第三映射关系用于表征不同温度下对应的采样电路输出的零漂，即Z(T)与温度变化的关系式。需要说明的是，零漂表示输入电压为
零时，输出电压相较于零点的变化值，保持第一电阻所在的支路的电流为零，使得设备的输
入电压为零，当i=0时，根据该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量之间的关系
式：VDSP=R(T)*A(T)*i+Z(T)，采样电路的第一电压VDSP=Z(T)（此时i=0），也就是说，在保持采
样电路的电流为零（空载）的情况下，通过控制器测量不同温度下的第一电压，该第一电压
的值可以等于采样电路的零漂。
零时，输出电压相较于零点的变化值，保持第一电阻所在的支路的电流为零，使得设备的输
入电压为零，当i=0时，根据该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量之间的关系
式：VDSP=R(T)*A(T)*i+Z(T)，采样电路的第一电压VDSP=Z(T)（此时i=0），也就是说，在保持采
样电路的电流为零（空载）的情况下，通过控制器测量不同温度下的第一电压，该第一电压
的值可以等于采样电路的零漂。
[0084] 如图5所示，图5是本申请实施例提供的一种确定第二映射关系的流程图。设置温度测试点T1、T2、T3、T4、…、TN，在空载（采样电路电流为零）状态下启动设备，测量采样电路的
第一电压VDSP的值（此时第一电压的值等于零漂），并记录为Z1、Z2、Z3、…、ZN，绘制横轴为Ti，
纵轴为Zi的数点图（i=1,2,3,4…N），再根据多项式函数拟合散点图得到Z(T)=f(T)的函数
曲线。举例来说，如表2所示，表2为本申请实施例提供的一组关于零漂测量数据表，当温度
为25℃时，零漂Z1=0.1V，当温度为50℃时，零漂Z2=0.12V，当温度为75℃时，零漂Z3=0.15V。
第一电压VDSP的值（此时第一电压的值等于零漂），并记录为Z1、Z2、Z3、…、ZN，绘制横轴为Ti，
纵轴为Zi的数点图（i=1,2,3,4…N），再根据多项式函数拟合散点图得到Z(T)=f(T)的函数
曲线。举例来说，如表2所示，表2为本申请实施例提供的一组关于零漂测量数据表，当温度
为25℃时，零漂Z1=0.1V，当温度为50℃时，零漂Z2=0.12V，当温度为75℃时，零漂Z3=0.15V。
[0085]
[0086] 在一些实施例中，根据在三个不同温度下测出的对应数据得到温度T与零漂Z(T)的拟合曲线，如图6所示，图6是本申请实施例提供的一种关于零漂的拟合曲线示意图。将关
于温度T和零漂Z(T)：（25,0.1），（50，0.12），（75,0.15）的三组数据标注在坐标系上，选用合
适阶数的函数（例如采用二次函数）对其进行拟合，得到第二映射关系，例如，Z(T)与温度T
的关系式可以为公式（1）：
于温度T和零漂Z(T)：（25,0.1），（50，0.12），（75,0.15）的三组数据标注在坐标系上，选用合
适阶数的函数（例如采用二次函数）对其进行拟合，得到第二映射关系，例如，Z(T)与温度T
的关系式可以为公式（1）：
[0087] Z(T)=8*10‑6*T2+0.0002T+0.09（1）
[0088] 需要说明的是，以上通过3组数据对Z(T)拟合求得Z(T)随温度T变化的表达式，也可以基于4组数据（或者更多）求得Z(T)随温度T变化的表达式，可以理解，基于不同的数据
确定的Z(T)随温度T变化的表达式可能不完全相同，但是它们所反映出的Z(T)随温度T变化
的规律大致相同，本申请对此不做限定。
确定的Z(T)随温度T变化的表达式可能不完全相同，但是它们所反映出的Z(T)随温度T变化
的规律大致相同，本申请对此不做限定。
[0089] 在一些实施例中，根据确定的第二映射关系与第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述第一电阻所在支路的电流以及对应温度的关系式，再保持第一
电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述
第一电压增益A(T)随温度变化的关系式。需要说明的是，在分别得出R(T)、Z(T)与温度变化
的关系之后，根据该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量之间的关系式（例如，
VDSP=R(T)*A(T)*i+Z(T)）可以确定出A(T)是一个未知量（而不是两个或其余未知数量），因
此在一些实施例中，可以通过分线性插值法可以解算A(T)。
电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述
第一电压增益A(T)随温度变化的关系式。需要说明的是，在分别得出R(T)、Z(T)与温度变化
的关系之后，根据该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量之间的关系式（例如，
VDSP=R(T)*A(T)*i+Z(T)）可以确定出A(T)是一个未知量（而不是两个或其余未知数量），因
此在一些实施例中，可以通过分线性插值法可以解算A(T)。
[0090] 需要说明的是，在根据确定的第二映射关系与第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述第一电阻所在支路的电流以及对应温度的关系式之后，可以保
持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得
出所述第一电压增益A(T)随温度变化的关系式，也可以保持电压采样电路的第一电压不
变，获取不同温度下的电子设备的目标支路或干路的电流i，得出所述第一电压增益A(T)随
温度变化的关系式，本申请实施例对此不做限定，在本实施例1中，选用保持电子设备的目
标支路或干路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述
第一电压增益A(T)随温度变化的关系式的情况进行分析。
持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得
出所述第一电压增益A(T)随温度变化的关系式，也可以保持电压采样电路的第一电压不
变，获取不同温度下的电子设备的目标支路或干路的电流i，得出所述第一电压增益A(T)随
温度变化的关系式，本申请实施例对此不做限定，在本实施例1中，选用保持电子设备的目
标支路或干路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述
第一电压增益A(T)随温度变化的关系式的情况进行分析。
[0091] 如图7所示，图7是本申请实施例提供的一种求解电压增益的流程图。设置T2温度测试点T（1 此T2表示第一个测试T2温度值）、T（2 此T2表示第二个测试T2温度值）、T3、T4、…、TN，
电流测试点i1、i2、i3、…、iN，配置温度Ti时电流为ii，测量并记录此时的采样电压V（i i=1,2,
3…，N），由于A(T)是一个未知量，可将其表示为A(Ti)=a（i i=1,2,3,4…N），ai=VDSP‑R(Ti)*ii‑
Z(Ti)，此时保持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述
第一电压，得出不同温度下一组关于ai的值，A(T)的表达式根据分线性插值法可以解算A
(T)的表达式可以为：A(T)=(T‑Ti)/((Ti‑1‑Ti) *ai‑1)+(T‑Ti‑1)/((Ti‑Ti‑1) *ai)，(Ti‑1≤T≤
Ti)，(i=1,2,…,N)，将不同温度下ai的值带入A(T)中，可以得出A(T)温度变化的关系式，即
确定第一映射关系。
电流测试点i1、i2、i3、…、iN，配置温度Ti时电流为ii，测量并记录此时的采样电压V（i i=1,2,
3…，N），由于A(T)是一个未知量，可将其表示为A(Ti)=a（i i=1,2,3,4…N），ai=VDSP‑R(Ti)*ii‑
Z(Ti)，此时保持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述
第一电压，得出不同温度下一组关于ai的值，A(T)的表达式根据分线性插值法可以解算A
(T)的表达式可以为：A(T)=(T‑Ti)/((Ti‑1‑Ti) *ai‑1)+(T‑Ti‑1)/((Ti‑Ti‑1) *ai)，(Ti‑1≤T≤
Ti)，(i=1,2,…,N)，将不同温度下ai的值带入A(T)中，可以得出A(T)温度变化的关系式，即
确定第一映射关系。
[0092] 举例来说，如表3所示，表3是本申请实施例提供的一组关于电压增益数据测量表。当保持设备的采样电路电流40A不变时，通过控制器测量得出不同温度下对应的第一电压，
例如温度为25℃时，第一电压V=1.5V，温度为50℃时，V=1.53V，温度为75℃时， V=1.55V，将
利用表1得到的不同温度下的第一电阻的数据和利用表2中的数据得出的关系式(1)：Z(T)=
‑6 2
8*10 *T+0.0002T+0.09带入ai=VDSP‑R(Ti)*ii‑Z（Ti）中，得出当i=40A，V=1.5V，T1=25℃时，
a1=1.24；当i=40A，V=1.53V，T2=50℃时，a2=1.23；当i=40A，V=1.55V，T3=75℃时，a3=1.2V。也
就是说，T1=25℃时，a1=1.24；T2=50℃时，a2=1.23；T3=75℃时，a3=1.2V，再将这三组数据带入
解算A(T)的表达式中：A(T)=(T‑Ti)/(Ti‑1‑Ti) ai‑1+(T‑Ti‑1)/(Ti‑Ti‑1) ai，(Ti‑1≤T≤Ti)，(i
=1,2,…,N)，得到A(T)的分段线性表达式(2)：
例如温度为25℃时，第一电压V=1.5V，温度为50℃时，V=1.53V，温度为75℃时， V=1.55V，将
利用表1得到的不同温度下的第一电阻的数据和利用表2中的数据得出的关系式(1)：Z(T)=
‑6 2
8*10 *T+0.0002T+0.09带入ai=VDSP‑R(Ti)*ii‑Z（Ti）中，得出当i=40A，V=1.5V，T1=25℃时，
a1=1.24；当i=40A，V=1.53V，T2=50℃时，a2=1.23；当i=40A，V=1.55V，T3=75℃时，a3=1.2V。也
就是说，T1=25℃时，a1=1.24；T2=50℃时，a2=1.23；T3=75℃时，a3=1.2V，再将这三组数据带入
解算A(T)的表达式中：A(T)=(T‑Ti)/(Ti‑1‑Ti) ai‑1+(T‑Ti‑1)/(Ti‑Ti‑1) ai，(Ti‑1≤T≤Ti)，(i
=1,2,…,N)，得到A(T)的分段线性表达式(2)：
[0093]
[0094]
[0095] S302:根据第一电压、第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定第一电阻所在支路的电流。
[0096] 根据采样电路的电压增益随温度变化的关系式（第一映射关系）、第一电阻随温度变化的不同阻值（第二映射关系）、采样电路的输出零漂随温度变化的关系式（第三映射关
系）以及对应温度下的第一电压值，求得对应温度下采样电路的电流值，也就是说，根据采
样电路的电流与其余变量的映射关系：i=(VIDSP‑Z(T2))/(R(T1 )*A(T2))，可以求得对应温
度下采样电路的电流值。
系）以及对应温度下的第一电压值，求得对应温度下采样电路的电流值，也就是说，根据采
样电路的电流与其余变量的映射关系：i=(VIDSP‑Z(T2))/(R(T1 )*A(T2))，可以求得对应温
度下采样电路的电流值。
[0097] 举例来说，将利用表1、表2、表3中的数据计算得出的关于第三映射关系Z(T)的公式（1）、关于第一映射关系的公式（2）以及第二映射关系R(T)随温度变化的对应表达式带入
i(T)=(VDSP‑Z(T))/(R(T)*A(T))中，可以得出电流随温度变化的表达式：
i(T)=(VDSP‑Z(T))/(R(T)*A(T))中，可以得出电流随温度变化的表达式：
[0098]
[0099] 也就是说，在温度为25℃到50℃内，将对应温度带入中，能得到对应温度范围内的电子设备的目标支路或干路的电流；在50℃到75℃的温度范
围内，将对应温度带入 中，也可以能得到对应温度下的电流。
围内，将对应温度带入 中，也可以能得到对应温度下的电流。
[0100] 需要说明的是，本实施例分别利用25℃、50℃、75℃温度下测量对应的数据，因此得出的采样电流关于温度变化的关系式也是在25℃到75℃范围内，若实施例的温度测量范
围扩大，例如测量‑40℃、60℃、80℃，则得出的采样电流关于温度变化的关系式在‑40℃到
80℃范围内，也就是说，设备温度的变化范围可以为关于设备温度变化的对应范围，本申请
实施例对设备温度的范围不做限定。
围扩大，例如测量‑40℃、60℃、80℃，则得出的采样电流关于温度变化的关系式在‑40℃到
80℃范围内，也就是说，设备温度的变化范围可以为关于设备温度变化的对应范围，本申请
实施例对设备温度的范围不做限定。
[0101] 【实施例2】
[0102] 请参见图3，图3是本申请实施例提供的一种设备电流检测方法的流程示意图，该方法可以基于图2所示的电子设备20来实现，或者基于其他架构来实现，在考虑设备温度对
第一电阻、第一电压、零漂的影响的情况下，若考虑分流器102、电压采样电路103、散热器
201之间的温度差值，该方法包括但不限于如下步骤：
第一电阻、第一电压、零漂的影响的情况下，若考虑分流器102、电压采样电路103、散热器
201之间的温度差值，该方法包括但不限于如下步骤：
[0103] S301:确定第一映射关系。
[0104] 确定第一映射关系，也就是确定采样电路的第一电压的增益与温度的关系式，即确定A(T2)与温度变化的关系式，在确定第一映射关系之前，需要先确定第二映射关系（R
(T1)）以及第三映射关系（Z(T2）），获得所述第一电压增益A(T2)与第一电压VIDSP、第一电阻
所在支路的电流i以及对应温度的关系式，再保持电压采样电路的电压（第一电压）不变，获
取不同温度下所述电子设备的支路或干路的实际电流，得出所述第一电压增益随温度变化
的第一映射关系。
(T1)）以及第三映射关系（Z(T2）），获得所述第一电压增益A(T2)与第一电压VIDSP、第一电阻
所在支路的电流i以及对应温度的关系式，再保持电压采样电路的电压（第一电压）不变，获
取不同温度下所述电子设备的支路或干路的实际电流，得出所述第一电压增益随温度变化
的第一映射关系。
[0105] 在一些实施例中，通过电压采样电路采集第一电阻两端的电压，其中，电压采样电路的电压为第一电压，可以理解为通过处理器（例如DSP控制器）采集电压采样电路的电压
（第一电压），电压采样电路的第一电压与第一电阻两端的实际电压不相等，在本申请实施
例中，通过电压采样电路的第一电压表征第一电阻两端的采样电压。为测量电子设备目标
支路或干路（采样电路）中的电流i，则在采样电路的目标支路或干路中串联分流器（也就是
串联第一电阻），将该采样电路的电流转换为采样电路的电压，并通过处理器（例如DSP控制
器）测量该采样电路的第一电压（也就是电压采样电路103的电压值），这样能将电流的测量
（直接测电流成本高）转为电压的测量（成本低），再根据欧姆定律得到采样电路的电流值，
本申请实施例考虑了第一电阻、采样电路电压、以及采样电路的零漂随温度的变化影响，也
就是说，在分流器中的电流做功导致电阻温升、设备中的其余器件温度影响、环境温度影响
下，目标支路或干路中串联的分流器的温度会发生变化，此时分流器、电压采样电路以及采
样电路的温漂会随温度的变化而变化，也就是说，分流器（第一电阻）的阻值不是固定值R而
是随温度T1变化的第一电阻R(T1)，采样电路的零漂不是固定值Z而是随温度T2变化的零漂Z
(T2)，采样电路的第一电压不是固定的VIDSP而是随温度T2变化产生电压增益A（T2），若考虑
设备温度变化的影响，该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量之间的关系式为：
VIDSP=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)。也就是说，电压采样电路的第一电压随设备的温度的变化而变
化。
（第一电压），电压采样电路的第一电压与第一电阻两端的实际电压不相等，在本申请实施
例中，通过电压采样电路的第一电压表征第一电阻两端的采样电压。为测量电子设备目标
支路或干路（采样电路）中的电流i，则在采样电路的目标支路或干路中串联分流器（也就是
串联第一电阻），将该采样电路的电流转换为采样电路的电压，并通过处理器（例如DSP控制
器）测量该采样电路的第一电压（也就是电压采样电路103的电压值），这样能将电流的测量
（直接测电流成本高）转为电压的测量（成本低），再根据欧姆定律得到采样电路的电流值，
本申请实施例考虑了第一电阻、采样电路电压、以及采样电路的零漂随温度的变化影响，也
就是说，在分流器中的电流做功导致电阻温升、设备中的其余器件温度影响、环境温度影响
下，目标支路或干路中串联的分流器的温度会发生变化，此时分流器、电压采样电路以及采
样电路的温漂会随温度的变化而变化，也就是说，分流器（第一电阻）的阻值不是固定值R而
是随温度T1变化的第一电阻R(T1)，采样电路的零漂不是固定值Z而是随温度T2变化的零漂Z
(T2)，采样电路的第一电压不是固定的VIDSP而是随温度T2变化产生电压增益A（T2），若考虑
设备温度变化的影响，该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量之间的关系式为：
VIDSP=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)。也就是说，电压采样电路的第一电压随设备的温度的变化而变
化。
[0106] 需要说明的是，在根据确定的第二映射关系与第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述第一电阻所在支路的电流以及对应温度的关系式之后，可以保
持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得
出所述第一电压增益A(T2)随温度变化的关系式，也可以保持电压采样电路的第一电压不
变，获取不同温度下的电子设备的目标支路或干路的电流i，得出所述第一电压增益A(T2)
随温度变化的关系式，本申请实施例对此不做限定，在本实施例2中，选用保持电压采样电
路的第一电压不变，获取不同温度下的电子设备的目标支路或干路的电流i，得出所述第一
电压增益A(T2)随温度变化的关系式的情况进行分析。
持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得
出所述第一电压增益A(T2)随温度变化的关系式，也可以保持电压采样电路的第一电压不
变，获取不同温度下的电子设备的目标支路或干路的电流i，得出所述第一电压增益A(T2)
随温度变化的关系式，本申请实施例对此不做限定，在本实施例2中，选用保持电压采样电
路的第一电压不变，获取不同温度下的电子设备的目标支路或干路的电流i，得出所述第一
电压增益A(T2)随温度变化的关系式的情况进行分析。
[0107] 在一些实施例中，散热器的温度T和设备面板的温度Ten可以由散热器的电压与设备面板的电压得出。如图8所示，图8是本申请实施例提供的又一种设备电流测量的场景示
意图。散热器201中包括热敏电阻R1，设备面板202中包括热敏电阻R2，散热器201中的热敏
电阻R1的电压VT随温度T变化的关系为线性关系，该线性关系的斜率可以为K1，可以用公式
表示为：VT=K1*T，同理，热敏电阻R2的电压VTen随温度Ten变化的关系为线性关系，该线性关
系的斜率可以为K2，可以用公式表示为：VTen=K2*Ten，也就是说，通过处理器101测量散热器
201的电压值VT以及设备面板202的电压值VTen可以获取散热器201的温度VT以及设备面板
202的温度VTen。需要说明的是，热敏电阻R1与热敏电阻R2可以相同也可以不相同，也就是
说，线性关系中的斜率K1与斜率K2可以相同也可以不相同，本申请对此不做限定。
意图。散热器201中包括热敏电阻R1，设备面板202中包括热敏电阻R2，散热器201中的热敏
电阻R1的电压VT随温度T变化的关系为线性关系，该线性关系的斜率可以为K1，可以用公式
表示为：VT=K1*T，同理，热敏电阻R2的电压VTen随温度Ten变化的关系为线性关系，该线性关
系的斜率可以为K2，可以用公式表示为：VTen=K2*Ten，也就是说，通过处理器101测量散热器
201的电压值VT以及设备面板202的电压值VTen可以获取散热器201的温度VT以及设备面板
202的温度VTen。需要说明的是，热敏电阻R1与热敏电阻R2可以相同也可以不相同，也就是
说，线性关系中的斜率K1与斜率K2可以相同也可以不相同，本申请对此不做限定。
[0108] 在一些实施实例中，可以通过散热器的温度间接表示分流器的温度以及电压采样电路的温度。在考虑分流器102、电压采样电路103、散热器201之间存在温度差值的情况下，
若直接测量分流器102的温度T1以及电压采样电路103的温度T2会增加温度测量的设备成
本，可以利用散热器201或设备面板中本身存在热敏电阻的特性，通过测量散热器201的电
压VT得出散热器的温度T（T=VT/K1），再用散热器201的温度T间接表示分流器102的温度T1以
及电压采样电路103的温度T2，也就是说，在不增加测温的硬件设备的情况下，分流器102的
温度T1以及电压采样电路103的温度T2是由散热器201的温度T间接求出的，本申请实施例采
用间接表示的方式求分流器以及电压采样电路的电流。
若直接测量分流器102的温度T1以及电压采样电路103的温度T2会增加温度测量的设备成
本，可以利用散热器201或设备面板中本身存在热敏电阻的特性，通过测量散热器201的电
压VT得出散热器的温度T（T=VT/K1），再用散热器201的温度T间接表示分流器102的温度T1以
及电压采样电路103的温度T2，也就是说，在不增加测温的硬件设备的情况下，分流器102的
温度T1以及电压采样电路103的温度T2是由散热器201的温度T间接求出的，本申请实施例采
用间接表示的方式求分流器以及电压采样电路的电流。
[0109] 具体地，分流器102的温度T1与散热器的温度T之间的差值受到电流做功、环境温度或者距离因素的影响，具体来说，由于在电子设备中散热器与分流器之间存在物理距离、
分流器中通入电流后电流做功导致分流器温度升高，并且分流器受到设备中其余器件的温
度的影响以及环境温度的影响，使得分流器的温度T1与散热器的温度T不相同，存在∆T1的
差值，则分流器的温度T1与散热器的温度T之间的关系为：T1=∆T1+T，也就是说，分流器的温
度可以用散热器的温度表示出来，无需在分流器中增加硬件设备测量分流器的温度，而是
利用散热器的温度间接表征分流器的温度，节省了测温成本。
分流器中通入电流后电流做功导致分流器温度升高，并且分流器受到设备中其余器件的温
度的影响以及环境温度的影响，使得分流器的温度T1与散热器的温度T不相同，存在∆T1的
差值，则分流器的温度T1与散热器的温度T之间的关系为：T1=∆T1+T，也就是说，分流器的温
度可以用散热器的温度表示出来，无需在分流器中增加硬件设备测量分流器的温度，而是
利用散热器的温度间接表征分流器的温度，节省了测温成本。
[0110] 具体地，电压采样电路103与分流器102之间通常也存在物理距离，也就是说，在电子设备中分流器与散热器之间的物理距离和电压采样电路与散热器之间的物理距离不一
致，因此分流器的温度T1与电压采样电路的温度T2是不同的，所以散热器201的温度T和电压
采样电路103的温度T2之间的差值∆T2与散热器201的温度T和分离器的温度T1之间的差值
∆T1不相同。具体地，电压采样电路的温度T2与散热器温度T之间的关系为：T2=∆T2+T，也就
是说，电压采样电路的温度T2与分流器的温度T1不一致，电压采样电路的温度T2也可以用散
热器的温度表示出来，无需在分流器中增加硬件设备测量分流器的温度，而是利用散热器
的温度间接表征电压采样电路的温度，节省了测温成本。
致，因此分流器的温度T1与电压采样电路的温度T2是不同的，所以散热器201的温度T和电压
采样电路103的温度T2之间的差值∆T2与散热器201的温度T和分离器的温度T1之间的差值
∆T1不相同。具体地，电压采样电路的温度T2与散热器温度T之间的关系为：T2=∆T2+T，也就
是说，电压采样电路的温度T2与分流器的温度T1不一致，电压采样电路的温度T2也可以用散
热器的温度表示出来，无需在分流器中增加硬件设备测量分流器的温度，而是利用散热器
的温度间接表征电压采样电路的温度，节省了测温成本。
[0111] 在一些实施例中，∆T1或∆T2为关于电流i和当前面板温度Ten的二元函数。也就是说，在求解∆T1和∆T2的表达式的过程中，不同范围的面板温度Ten对应不同的∆T1和∆T2
的表达式，也就是说，先确定设备面板温度Ten，改变电子设备的目标支路或干路的电流i值，
分别测量出散热器温度T值、分流器实测温度T1值以及采样电路实测温度T2值，确定设备面
板温度Ten下的不同电流i值对应的∆T1和∆T2，再次改变确定设备面板温度Ten的值，在电子
设备的目标支路或干路的电流i值不同的情况下，分别测量出散热器温度T值、分流器实测
温度T1值以及采样电路实测温度T2值，确定设备面板温度Ten下的不同电流i值对应的∆T1和
∆T2。再次改变设备面板温度Ten的值，循环上述过程，不再赘述。最后将得到的测量数据采
用多项式函数拟合得到ΔT1与ΔT2为关于当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数的关系
式。
的表达式，也就是说，先确定设备面板温度Ten，改变电子设备的目标支路或干路的电流i值，
分别测量出散热器温度T值、分流器实测温度T1值以及采样电路实测温度T2值，确定设备面
板温度Ten下的不同电流i值对应的∆T1和∆T2，再次改变确定设备面板温度Ten的值，在电子
设备的目标支路或干路的电流i值不同的情况下，分别测量出散热器温度T值、分流器实测
温度T1值以及采样电路实测温度T2值，确定设备面板温度Ten下的不同电流i值对应的∆T1和
∆T2。再次改变设备面板温度Ten的值，循环上述过程，不再赘述。最后将得到的测量数据采
用多项式函数拟合得到ΔT1与ΔT2为关于当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数的关系
式。
[0112] 需要说明的是，分流器实测温度T1值可以由分流器上粘贴温度测试线如热电偶来获取分流器实际温度，以及采样电路实测温度T2值也可以由电压采样电路上粘贴温度测试
线如热电偶来获取分流器实际温度。
线如热电偶来获取分流器实际温度。
[0113] 在一些实施例中，求解∆T1关于电流i和当前面板温度Ten的二元函数，也就是求解不同设备面板温度范围内的∆T1关于电流i的表达式。如图9所示，图9为本申请实施例提供
的一种可选的求解∆T1与当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数的方法流程图。求解∆
T1的具体步骤为：定义面板温度测试点Ten1、Ten2、Ten3、……、Ten（N Ten1定义通入支路的电流值为i1、i2、i3、……、i（k i1< i2< i3<……< ik）；通过在分流器上粘贴温
度测试线（如热电偶）获取分流器实际温度T1，因此可得到ΔT1=T1‑T，T为附近测温点（也就
是散热器）测量的温度；调整设备面板的温度为Tenm，当m=1时，保持设备面板的温度为Ten1，
也就是说，当m=1时，将设备放入温箱中，调整温箱的温度控制面板温度为Ten1，在支路中分
别通入电流i1、i2、i3、……、ik，计算在面板温度为Ten1的情况下，不同电流下对应的温差Δ
Ten1_i（1 表征面板温度为Ten1时、电流为i1时ΔT1的值）、ΔTen1_i2、ΔTen1_i3、……、ΔTen1_ik；再
将m的数值加1，当m=2时，将设备放入温箱中，调整温箱的温度控制面板温度为Ten2，在支路
中分别通入电流i1、i2、i3、……、ik，记录相应结果，具体过程与设备面板温度为Ten1时一致，
依次类推，不再赘述；也就是说，当m≤N时，调整温箱温度控制面板温度为Tenm，在支路中分
别通入电流i1、i2、…、ik，并计算每一次温度差ΔTenm_i（1 表示设备温度为Tenm，电流为i1时Δ
T1的值）、ΔTenm_i2…ΔTenm_ik，依次类推，不再赘述，绘制横轴为ip，纵轴为ΔTenm_ip的散点图
（p=1，2，..，k），多项式函数拟合散点图得到ΔT1=fm(i),(Ten=Tenm)的函数曲线，例如绘制面
板温度为Ten1时的温差关于电流的散点图，通过多项式函数拟合得到一条曲线ΔT1=f1(i),
(Ten=Ten1)，改变面板温度为Ten2，重复上述步骤，得到第二条曲线ΔT1=f2(i),(Ten=Ten2)（表示
面板温度为Ten2时，ΔT1=f2(i)），改变面板温度为TenN，重复上述步骤，不再赘述，得到第N条曲
线ΔT1=fN(i),(Ten=TenN)；通过上述步骤得出∆T1当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数
的关系式可以为公式（4）：
的一种可选的求解∆T1与当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数的方法流程图。求解∆
T1的具体步骤为：定义面板温度测试点Ten1、Ten2、Ten3、……、Ten（N Ten1
度测试线（如热电偶）获取分流器实际温度T1，因此可得到ΔT1=T1‑T，T为附近测温点（也就
是散热器）测量的温度；调整设备面板的温度为Tenm，当m=1时，保持设备面板的温度为Ten1，
也就是说，当m=1时，将设备放入温箱中，调整温箱的温度控制面板温度为Ten1，在支路中分
别通入电流i1、i2、i3、……、ik，计算在面板温度为Ten1的情况下，不同电流下对应的温差Δ
Ten1_i（1 表征面板温度为Ten1时、电流为i1时ΔT1的值）、ΔTen1_i2、ΔTen1_i3、……、ΔTen1_ik；再
将m的数值加1，当m=2时，将设备放入温箱中，调整温箱的温度控制面板温度为Ten2，在支路
中分别通入电流i1、i2、i3、……、ik，记录相应结果，具体过程与设备面板温度为Ten1时一致，
依次类推，不再赘述；也就是说，当m≤N时，调整温箱温度控制面板温度为Tenm，在支路中分
别通入电流i1、i2、…、ik，并计算每一次温度差ΔTenm_i（1 表示设备温度为Tenm，电流为i1时Δ
T1的值）、ΔTenm_i2…ΔTenm_ik，依次类推，不再赘述，绘制横轴为ip，纵轴为ΔTenm_ip的散点图
（p=1，2，..，k），多项式函数拟合散点图得到ΔT1=fm(i),(Ten=Tenm)的函数曲线，例如绘制面
板温度为Ten1时的温差关于电流的散点图，通过多项式函数拟合得到一条曲线ΔT1=f1(i),
(Ten=Ten1)，改变面板温度为Ten2，重复上述步骤，得到第二条曲线ΔT1=f2(i),(Ten=Ten2)（表示
面板温度为Ten2时，ΔT1=f2(i)），改变面板温度为TenN，重复上述步骤，不再赘述，得到第N条曲
线ΔT1=fN(i),(Ten=TenN)；通过上述步骤得出∆T1当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数
的关系式可以为公式（4）：
[0114]
[0115] 在一些实施例中，求解∆T2关于电流i和当前面板温度Ten的二元函数，也就是求解不同设备面板温度范围内的∆T2关于电流i的表达式。如图10所示，图10为本申请实施例提
供的一种可选的求解∆T2与当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数的方法流程图。求解
∆T2的具体步骤为：定义面板温度测试点Ten1、Ten2、Ten3、……、TenN（Ten1TenN）；定义通入支路的电流值为i1、i2、i3、……、i（k i1< i2< i3<……< ik）；通过在电压采样
电路上粘贴温度测试线（如热电偶）获取电压采样电路实际温度T2，因此可得到ΔT2=T2‑T，T
为附近测温点（也就是散热器）测量的温度；调整设备面板的温度为Tenm，当m=1时，设备面板
的温度为Ten1，也就是说，当m=1时，将设备放入温箱中，调整温箱的温度控制面板温度为
Ten1，在支路中分别通入电流i1、i2、i3、……、ik，计算在面板温度为Ten1的情况下，不同电流
下对应的温差ΔTen1s（1 表征面板温度为Ten1时、电流为i1时ΔT2的值）、ΔTen1_i1、Δ
Ten1_i2、……、ΔTen1_ik；再将m的数值加1，当m=2时，将设备放入温箱中，调整温箱的温度控制
面板温度为Ten2，在支路中分别通入电流i1、i2、i3、……、ik，记录相应结果，具体过程与设备
面板温度为Ten1时一致，依次类推，不再赘述；也就是说，当m≤N时，调整温箱的温度控制面
板温度为Tenm，在支路中分别通入电流i1、i2、…、ik，并计算每一次温度差ΔTenm_i（1 表示设备
温度为Tenm，电流为i1时ΔT2的值）、ΔTenm_i2…ΔTenm_ik，依次类推，不再赘述，绘制横轴为ip，
纵轴为ΔTenm_ip的散点图（p=1，2，...，k），多项式函数拟合散点图得到ΔT2=gm(i),(Ten=Tenm)
的函数曲线，例如绘制面板温度为Ten1时的温差关于电流的散点图，通过多项式函数拟合得
到一条曲线ΔT2=g1(i),(Ten=Ten1)，改变面板温度为Ten2，重复上述步骤，得到第二条曲线ΔT2
=g2(i),(Ten=Ten2)（表示面板温度为Ten2时，ΔT2=g2(i)），改变面板温度为TenN，重复上述步骤，
不再赘述，得到第N条曲线ΔT2=gN(i),(Ten=TenN)；通过上述步骤得出∆T2当前电流i和当前面
板温度Ten的二元函数的关系式可以为公式（5）：
供的一种可选的求解∆T2与当前电流i和当前面板温度Ten的二元函数的方法流程图。求解
∆T2的具体步骤为：定义面板温度测试点Ten1、Ten2、Ten3、……、TenN（Ten1
电路上粘贴温度测试线（如热电偶）获取电压采样电路实际温度T2，因此可得到ΔT2=T2‑T，T
为附近测温点（也就是散热器）测量的温度；调整设备面板的温度为Tenm，当m=1时，设备面板
的温度为Ten1，也就是说，当m=1时，将设备放入温箱中，调整温箱的温度控制面板温度为
Ten1，在支路中分别通入电流i1、i2、i3、……、ik，计算在面板温度为Ten1的情况下，不同电流
下对应的温差ΔTen1s（1 表征面板温度为Ten1时、电流为i1时ΔT2的值）、ΔTen1_i1、Δ
Ten1_i2、……、ΔTen1_ik；再将m的数值加1，当m=2时，将设备放入温箱中，调整温箱的温度控制
面板温度为Ten2，在支路中分别通入电流i1、i2、i3、……、ik，记录相应结果，具体过程与设备
面板温度为Ten1时一致，依次类推，不再赘述；也就是说，当m≤N时，调整温箱的温度控制面
板温度为Tenm，在支路中分别通入电流i1、i2、…、ik，并计算每一次温度差ΔTenm_i（1 表示设备
温度为Tenm，电流为i1时ΔT2的值）、ΔTenm_i2…ΔTenm_ik，依次类推，不再赘述，绘制横轴为ip，
纵轴为ΔTenm_ip的散点图（p=1，2，...，k），多项式函数拟合散点图得到ΔT2=gm(i),(Ten=Tenm)
的函数曲线，例如绘制面板温度为Ten1时的温差关于电流的散点图，通过多项式函数拟合得
到一条曲线ΔT2=g1(i),(Ten=Ten1)，改变面板温度为Ten2，重复上述步骤，得到第二条曲线ΔT2
=g2(i),(Ten=Ten2)（表示面板温度为Ten2时，ΔT2=g2(i)），改变面板温度为TenN，重复上述步骤，
不再赘述，得到第N条曲线ΔT2=gN(i),(Ten=TenN)；通过上述步骤得出∆T2当前电流i和当前面
板温度Ten的二元函数的关系式可以为公式（5）：
[0116]
[0117] 具体来说，如图11所示，图11为本申请实施例提供的一组测量∆T1和∆T2的数据图。在面板温度Ten1=‑40℃的情况下，在电子设备的目标支路或干路中通入不同电流：i1=
10A、i2=100A、i3=240A、i4=300A、i5=400A，当i1=10A时，散热器温度T=‑31.8℃、分流器实测T1
=‑42.3℃、采样电路实测温度T2=‑41.7℃，根据∆T1=T1‑T，∆T2=T2‑T，求得∆T1=10.5℃、∆
T2=9.9℃；当i2=100A时，散热器温度T=‑27.1℃、分流区实测T1=‑35.5℃、采样电路实测温度
T2=‑34.8℃，根据∆T1=T1‑T，∆T2=T2‑T，求得∆T1=8.4℃、∆T2=7.7℃；同理，当i3=240A时，∆
T1=‑0.6℃、∆T2=‑2.2℃；当i4=300A时，∆T1=‑4.8℃、∆T2=‑7.1℃；当i5=400A时，∆T1=‑
15.1℃、∆T2=‑19.2℃，以电流i为横轴，∆T为纵轴，将得到的5组数据根据多项式函数拟合
得到∆T1和∆T2，如图12所示，图12为本申请实施例提供的一组关于∆T1和∆T2散点图的拟
合曲线图。
10A、i2=100A、i3=240A、i4=300A、i5=400A，当i1=10A时，散热器温度T=‑31.8℃、分流器实测T1
=‑42.3℃、采样电路实测温度T2=‑41.7℃，根据∆T1=T1‑T，∆T2=T2‑T，求得∆T1=10.5℃、∆
T2=9.9℃；当i2=100A时，散热器温度T=‑27.1℃、分流区实测T1=‑35.5℃、采样电路实测温度
T2=‑34.8℃，根据∆T1=T1‑T，∆T2=T2‑T，求得∆T1=8.4℃、∆T2=7.7℃；同理，当i3=240A时，∆
T1=‑0.6℃、∆T2=‑2.2℃；当i4=300A时，∆T1=‑4.8℃、∆T2=‑7.1℃；当i5=400A时，∆T1=‑
15.1℃、∆T2=‑19.2℃，以电流i为横轴，∆T为纵轴，将得到的5组数据根据多项式函数拟合
得到∆T1和∆T2，如图12所示，图12为本申请实施例提供的一组关于∆T1和∆T2散点图的拟
合曲线图。
[0118] 在保持设备面板Ten1=‑40℃的情况下，以i（k k=1,2,3,4,5,）为横轴，∆T为纵轴，绘制∆T1和∆T2与电流i的散点图，将关于（ik，∆T1_k）的5组数据：（10,10.5）、（100,8.4）、
（240，‑0.6）、（300，‑4.9），）（400，‑15.1）标注在图中，进行函数拟合得到在保持设备面板
2
Ten1=‑40℃的情况下，∆T1与电流i的关系式：∆T1=‑0.0001194I ‑0.0173203I+10.8822657
（Ten=‑40℃），同理，将关于（ik，∆T2_k）的5组数据：（10,9.9）、（100,7.7）、（240，‑2.2）、
（300，‑7.1），）（400，‑19.2）标注在图中，进行函数拟合得到在保持设备面板Ten1=‑40℃的情
2
况下，∆T2与电流i的关系式：∆T2=‑0.0001491I‑0.0138947I+10.2091548（Ten=‑40℃）。
（240，‑0.6）、（300，‑4.9），）（400，‑15.1）标注在图中，进行函数拟合得到在保持设备面板
2
Ten1=‑40℃的情况下，∆T1与电流i的关系式：∆T1=‑0.0001194I ‑0.0173203I+10.8822657
（Ten=‑40℃），同理，将关于（ik，∆T2_k）的5组数据：（10,9.9）、（100,7.7）、（240，‑2.2）、
（300，‑7.1），）（400，‑19.2）标注在图中，进行函数拟合得到在保持设备面板Ten1=‑40℃的情
2
况下，∆T2与电流i的关系式：∆T2=‑0.0001491I‑0.0138947I+10.2091548（Ten=‑40℃）。
[0119] 需要说明的是，在保持设备面板Ten1=‑40℃的情况下，实际的设备面板温度可能会存在偏差，例如图11中i=10A时，面板温度为‑39.9℃；i=100A时，设备面板温度为‑39.9℃，
该设备面板温度受设备内部器件温度以及环境温度的影响，会存在偏差，但每改变一次设
备面板温度Ten，每一对应Ten只是作为恒温条件，在该恒温条件下改变不同电流值得到对应
∆T，不带入公式计算，因此该范围误差可以忽略不计。
该设备面板温度受设备内部器件温度以及环境温度的影响，会存在偏差，但每改变一次设
备面板温度Ten，每一对应Ten只是作为恒温条件，在该恒温条件下改变不同电流值得到对应
∆T，不带入公式计算，因此该范围误差可以忽略不计。
[0120] 在一些实施例中，每一个设备面板温度Ten对应相应设备面板温度下的∆T1和∆T2的表达式。同理，在保持设备面板Ten2=‑30℃的情况下，同理得到电子设备的目标支路或干
路中通入不同电流i1=10A、i2=100A、i3=240A、i4=300A、i5=400A情况下对应的散热器的温度
T、分流器实测温度T1、采样电路实测温度T2以及温度差∆T1和∆T2的数据，具体过程与在保
持设备面板Ten1=‑40℃的情况下相同，不再赘述。以i（k k=1,2,3,4,5,）为横轴，∆T为纵轴，
绘制∆T1和∆T2与电流i的散点图，将关于（ik，∆T1_k）的5组数据：（10,6.8）、（100,5.5）、
（240，0.6）、（300，‑4.4），）（400，‑15.5）标注在图中，进行函数拟合得到在保持设备面板Ten2
2
=‑30℃的情况下，∆T1与电流i的关系式：∆T1=‑0.0001784I‑0.0173678I+6.2871335（Ten2
=‑30℃），同理，将关于（ik，∆T2_k）的5组数据：（10,6.2）、（100,4.7）、（240，‑1.2）、（300，‑
6.9），）（400，‑20.1）标注在图中，进行函数拟合得到在保持设备面板Ten2=‑30℃的情况下，
2
∆T2与电流i的关系式：∆T2=‑0.0002102I‑0.0204479I+5.6021066（Ten2=‑30℃）。
路中通入不同电流i1=10A、i2=100A、i3=240A、i4=300A、i5=400A情况下对应的散热器的温度
T、分流器实测温度T1、采样电路实测温度T2以及温度差∆T1和∆T2的数据，具体过程与在保
持设备面板Ten1=‑40℃的情况下相同，不再赘述。以i（k k=1,2,3,4,5,）为横轴，∆T为纵轴，
绘制∆T1和∆T2与电流i的散点图，将关于（ik，∆T1_k）的5组数据：（10,6.8）、（100,5.5）、
（240，0.6）、（300，‑4.4），）（400，‑15.5）标注在图中，进行函数拟合得到在保持设备面板Ten2
2
=‑30℃的情况下，∆T1与电流i的关系式：∆T1=‑0.0001784I‑0.0173678I+6.2871335（Ten2
=‑30℃），同理，将关于（ik，∆T2_k）的5组数据：（10,6.2）、（100,4.7）、（240，‑1.2）、（300，‑
6.9），）（400，‑20.1）标注在图中，进行函数拟合得到在保持设备面板Ten2=‑30℃的情况下，
2
∆T2与电流i的关系式：∆T2=‑0.0002102I‑0.0204479I+5.6021066（Ten2=‑30℃）。
[0121] 同理，在保持设备面板Ten3=‑20℃、Ten4=‑10℃、Ten5=0℃、Ten6=10℃、Ten7=20℃、Ten8=30℃、Ten9=40℃、Ten10=50℃的情况下，获得对应设备面板温度下的∆T1和∆T2与电流i的关
系式，需要说明的是，分流器的温度与散热器之间的温度差值∆T1以及电压采样电路与散
热器之间的温度差值∆T2受到设备面板温度Ten的影响，也就是说，不同范围的设备面板温
度Ten对应不同的∆T1和∆T2，例如也就是说设备面板温度为3℃＜Ten≦17℃的范围内的∆
T1和∆T2的表达式与设备面板温度为23℃＜Ten≦37℃的范围内的∆T1和∆T2的表达式不相
同。
系式，需要说明的是，分流器的温度与散热器之间的温度差值∆T1以及电压采样电路与散
热器之间的温度差值∆T2受到设备面板温度Ten的影响，也就是说，不同范围的设备面板温
度Ten对应不同的∆T1和∆T2，例如也就是说设备面板温度为3℃＜Ten≦17℃的范围内的∆
T1和∆T2的表达式与设备面板温度为23℃＜Ten≦37℃的范围内的∆T1和∆T2的表达式不相
同。
[0122] 如表4所示，表4是本申请实施例提供的不同范围的设备面板温度下对应的∆T1和∆T2与电流i的关系式。
[0123]
[0124] 需要说明的是，不同的设备面板温度范围对应不同的∆T1和∆T2的表达式，确定了∆T1和∆T2的表达式之后，根据分流器的温度T1与散热器的温度T之间的关系：T1=∆T1+T，以
及电压采样电路的温度T2与散热器温度T之间的关系：T2=∆T2+T，可以通过散热器的温度T
间接表示出分流器的温度T1和电压采样电路的温度T2，也就是说，根据散热器201和设备面
板202包括热敏电阻的特性，得出：T =VTDSP/K1,Ten=VTenDSP/K2，则T1=∆T1+VTDSP/K1，T2=∆T2+
VTDSP/K1。举例来说，根据公式Ten=VTen/K2将设备面板电压转为设备面板温度，如表1所示，例
如可以查到当7℃＜VTenDSP/K2≤17℃时，得到∆T1=‑0.0001563I2‑0.0112775I+6.8999783，
则分流器的温度T1=∆T1+T=‑0.0001563I2‑0.0112775I+6.8999783+VTDSP/K1，分流器的温度
2
可以使用散热器的温度间接表示，同理查表1得到∆T2=‑0.0001859I ‑0.0083942I+
2
6.5671540，则电压采样电路的温度T2=∆T2+T=‑0.0001859I‑0.0083942I+6.5671540+
VTDSP/K1，电压采样电路的温度也可以使用散热器的温度间接表示。
及电压采样电路的温度T2与散热器温度T之间的关系：T2=∆T2+T，可以通过散热器的温度T
间接表示出分流器的温度T1和电压采样电路的温度T2，也就是说，根据散热器201和设备面
板202包括热敏电阻的特性，得出：T =VTDSP/K1,Ten=VTenDSP/K2，则T1=∆T1+VTDSP/K1，T2=∆T2+
VTDSP/K1。举例来说，根据公式Ten=VTen/K2将设备面板电压转为设备面板温度，如表1所示，例
如可以查到当7℃＜VTenDSP/K2≤17℃时，得到∆T1=‑0.0001563I2‑0.0112775I+6.8999783，
则分流器的温度T1=∆T1+T=‑0.0001563I2‑0.0112775I+6.8999783+VTDSP/K1，分流器的温度
2
可以使用散热器的温度间接表示，同理查表1得到∆T2=‑0.0001859I ‑0.0083942I+
2
6.5671540，则电压采样电路的温度T2=∆T2+T=‑0.0001859I‑0.0083942I+6.5671540+
VTDSP/K1，电压采样电路的温度也可以使用散热器的温度间接表示。
[0125] 在一些实施例中，在考虑分流器102、电压采样电路103、散热器201之间存在温度差的情况下，在系统第一次上电时，分流器、电压采样电路、散热器以及设备面板之间可视
为等温状态，也就是说，∆T1和∆T2的值等于0，此时散热器的温度T与分流器的温度T1、电压
采样电路的温度T2以及设备面板温度Ten相等，也即是T1=T2=T，此时可以不考虑温度差∆T，
散热器的温度T =VT/K1=T1=T2，其数值与分流器与散热器的温度相等。
为等温状态，也就是说，∆T1和∆T2的值等于0，此时散热器的温度T与分流器的温度T1、电压
采样电路的温度T2以及设备面板温度Ten相等，也即是T1=T2=T，此时可以不考虑温度差∆T，
散热器的温度T =VT/K1=T1=T2，其数值与分流器与散热器的温度相等。
[0126] 在一些实施例中，∆T1和∆T2的表达式的自变量的电流I值与电子设备的目标支路或干路的电流i值不相同，也就是说，∆T1和∆T2的表达式的自变量的电流I值为电子设备的
目标支路或干路的电流i值的上一次的计算值（也就是上一次通过公式i=（VIDSP‑Z(T2)）/(R
(T1)*A(T2))求解的计算值）。举例来说，若进行两次连续测试Ten6=10℃和Ten7=20℃，查表1得
2
在设备面板温度Ten7=20℃时，∆T1=‑0.0001848I‑0.0137367I+4.1543143，该计算∆T1的电
流I值为设备面板温度Ten6=10℃时根据计算电流i的公式（i=（VIDSP‑Z(T2)）/(R(T1)*A(T2))）
得出的计算值，也就是说，计算∆T的电流为电流i值的上一次的计算值。
目标支路或干路的电流i值的上一次的计算值（也就是上一次通过公式i=（VIDSP‑Z(T2)）/(R
(T1)*A(T2))求解的计算值）。举例来说，若进行两次连续测试Ten6=10℃和Ten7=20℃，查表1得
2
在设备面板温度Ten7=20℃时，∆T1=‑0.0001848I‑0.0137367I+4.1543143，该计算∆T1的电
流I值为设备面板温度Ten6=10℃时根据计算电流i的公式（i=（VIDSP‑Z(T2)）/(R(T1)*A(T2))）
得出的计算值，也就是说，计算∆T的电流为电流i值的上一次的计算值。
[0127] 在一些实施例中，确定第二映射关系R（T1），该第二映射关系用于表征不同温度下对应的第一电阻。需要说明的是，不同温度下对应的随设备温度变化的第一电阻的阻值通
常在产品手册中能被查阅，或，在不能在产品手册被查阅的情况下，利用万用表等仪器测出
电阻值，也就是说，不同温度下对应的第一电阻可以通过查阅的方式获得，也可以通过测量
的方式获得，本申请对此不做限定。关于不同温度下对应的不同第一电阻，如表5所示，表5
是本申请实施例示出的一组测量数据表。举例来说，在分流器温度T1=‑38.3℃下，第一电阻
的阻值为0.198834mΩ，在T1=50.6℃下，第一电阻的阻值为0.200612mΩ。
常在产品手册中能被查阅，或，在不能在产品手册被查阅的情况下，利用万用表等仪器测出
电阻值，也就是说，不同温度下对应的第一电阻可以通过查阅的方式获得，也可以通过测量
的方式获得，本申请对此不做限定。关于不同温度下对应的不同第一电阻，如表5所示，表5
是本申请实施例示出的一组测量数据表。举例来说，在分流器温度T1=‑38.3℃下，第一电阻
的阻值为0.198834mΩ，在T1=50.6℃下，第一电阻的阻值为0.200612mΩ。
[0128]
[0129] 在一些实施例中，确定第三映射关系（Z(T2)），该第三映射关系用于表征不同温度下对应的采样电路输出的零漂，即Z(T2)与温度变化的关系式。需要说明的是，零漂表示输
入电压为零时，输出电压相较于零点的变化值，保持第一电阻所在的支路的电流为零，使得
设备的输入电压为零，当i=0时，例如根据该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量
之间的关系式：VIDSP=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，采样电路的第一电压VIDSP=Z(T2)（此时i=0），也
就是说，在保持采样电路的电流为零（空载）的情况下，通过控制器测量不同温度下的第一
电压，该第一电压的值可以等于采样电路的零漂。
入电压为零时，输出电压相较于零点的变化值，保持第一电阻所在的支路的电流为零，使得
设备的输入电压为零，当i=0时，例如根据该设备中的电压采样电路的第一电压与其余变量
之间的关系式：VIDSP=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，采样电路的第一电压VIDSP=Z(T2)（此时i=0），也
就是说，在保持采样电路的电流为零（空载）的情况下，通过控制器测量不同温度下的第一
电压，该第一电压的值可以等于采样电路的零漂。
[0130] 如图13所示，图13是本申请实施例提供的一种确定第三映射关系的流程图。设置T2的温度测试点T2_1、T2_2、T2_3、T2_4、…、T2_N，在空载（采样电路电流为零）状态下启动设备，
测量采样电路的第一电压VIDSP的值（此时第一电压的值等于零漂），并记录为Z1、Z2、Z3、…、
ZN，绘制横轴为T2_i，纵轴为Zi的数点图（i=1,2,3,4…N），再根据多项式函数拟合散点图得到
Z(T)=f(T)的函数曲线。
测量采样电路的第一电压VIDSP的值（此时第一电压的值等于零漂），并记录为Z1、Z2、Z3、…、
ZN，绘制横轴为T2_i，纵轴为Zi的数点图（i=1,2,3,4…N），再根据多项式函数拟合散点图得到
Z(T)=f(T)的函数曲线。
[0131] 举例来说，如表6所示，表6为本申请实施例提供的一组关于不同温度下的零漂测量数据表，当电压采样电路温度T2=‑37.8℃时，零漂Z1=0.085V，当T2=40.5℃时，零漂Z9=
0.123V，具体地，如图14，图14是本申请实施例提供的一种温漂Z(T2)的拟合曲线示意图。将
表6中的10组不同温度对应的零漂Z(T2)标注在以T2为横轴、Z(T2)位纵轴的坐标系上，得到
温度T2与零漂Z(T2)的拟合曲线，采用合适阶数（例如为阶数1）对其进行拟合，得到Z(T2)与
温度T2的关系式可以为：Z(T2)=0.0048T2+0.0813（‑40℃≤T2≤50℃）。
0.123V，具体地，如图14，图14是本申请实施例提供的一种温漂Z(T2)的拟合曲线示意图。将
表6中的10组不同温度对应的零漂Z(T2)标注在以T2为横轴、Z(T2)位纵轴的坐标系上，得到
温度T2与零漂Z(T2)的拟合曲线，采用合适阶数（例如为阶数1）对其进行拟合，得到Z(T2)与
温度T2的关系式可以为：Z(T2)=0.0048T2+0.0813（‑40℃≤T2≤50℃）。
[0132]
[0133] 需要说明的是，以上通过10组数据对Z(T2)拟合求得Z(T2)随温度变化的表达式，拟合函数的阶数为1，也可以为其余阶数，本申请对此不做限定。例如也就是说，若Z(T2)的拟
合曲线接近于一阶函数，则采用一阶函数拟合，若拟合曲线接近于二阶函数，则采用二阶函
数拟合，在本申请实施例中，采用一阶函数拟合的情况进行分析。
合曲线接近于一阶函数，则采用一阶函数拟合，若拟合曲线接近于二阶函数，则采用二阶函
数拟合，在本申请实施例中，采用一阶函数拟合的情况进行分析。
[0134] 在一些实施例中，求第一映射关系，根据确定的第二映射关系与第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述第一电阻所在支路的电流以及对应温度的关系
式，再保持电压采样电路的电压VIDSP不变，获取电子设备目标支路或干路的不同电流i，得
出所述第一电压增益A(T2)随温度T2变化的关系式。需要说明的是，在分别得出R(T1)、Z(T2)
与温度变化的关系之后，根据变量之间的关系式（VIDSP=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)）可以确定出A
(T2)是一个未知量（而不是两个或其余未知数量），因此在一些实施例中，可以通过分线性
插值法可以解算A(T2)。
式，再保持电压采样电路的电压VIDSP不变，获取电子设备目标支路或干路的不同电流i，得
出所述第一电压增益A(T2)随温度T2变化的关系式。需要说明的是，在分别得出R(T1)、Z(T2)
与温度变化的关系之后，根据变量之间的关系式（VIDSP=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)）可以确定出A
(T2)是一个未知量（而不是两个或其余未知数量），因此在一些实施例中，可以通过分线性
插值法可以解算A(T2)。
[0135] 需要说明的是，在根据确定的第二映射关系与第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述第一电阻所在支路的电流以及对应温度的关系式之后，可以保
持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得
出所述第一电压增益A(T2)随温度变化的关系式，也可以保持电压采样电路的电压VIDSP不
变，获取不同温度下的电子设备的目标支路或干路的电流i，本申请实施例对此不做限定，
在本实施例2中，选用保持电压采样电路的电压VIDSP不变，获取电子设备目标支路或干路的
不同电流i，得出第一电压增益A(T2)随温度T2变化的关系式的情况进行分析。
持第一电阻所在支路的电流不变，获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得
出所述第一电压增益A(T2)随温度变化的关系式，也可以保持电压采样电路的电压VIDSP不
变，获取不同温度下的电子设备的目标支路或干路的电流i，本申请实施例对此不做限定，
在本实施例2中，选用保持电压采样电路的电压VIDSP不变，获取电子设备目标支路或干路的
不同电流i，得出第一电压增益A(T2)随温度T2变化的关系式的情况进行分析。
[0136] 如图15所示，图15是本申请实施例提供的一种求解电压增益A(T2)的流程图。设置T2的温度测试点T2_1、T2_2、T2_3、T2_4、…、T2_N，电流测试点i1、i2、i3、…、iN，配置温度T2_i时采样
电压VIDSP，测量并记录此时的电流为i（i i=1,2,3…，N），由于A(T2)是一个未知量，可将其表
示为A(T2i)=a（i i=1,2,3,4…N），ai=VIDSP‑R(T1_i)*ii‑Z(T2_i)，此时保持电压采样电路的电压
VIDSP不变，获取电子设备目标支路或干路的不同电流i，得出不同T2温度下一组关于ai的值，
A(T2)的值根据分线性插值法可以解算A(T2)的表达式为：A(T2)=(T2‑T2_i)/((T2_i‑1‑T2_i) *
ai‑1)+(T2‑T2_i‑1)/((T2_i‑T2_i‑1) *ai)，(T2_i‑1≤T2≤T2_i)，(i=1,2,…,N)将不同温度下ai的
值带入A(T2)中，可以得出A(T)温度变化的关系式，即确定第一映射关系。
电压VIDSP，测量并记录此时的电流为i（i i=1,2,3…，N），由于A(T2)是一个未知量，可将其表
示为A(T2i)=a（i i=1,2,3,4…N），ai=VIDSP‑R(T1_i)*ii‑Z(T2_i)，此时保持电压采样电路的电压
VIDSP不变，获取电子设备目标支路或干路的不同电流i，得出不同T2温度下一组关于ai的值，
A(T2)的值根据分线性插值法可以解算A(T2)的表达式为：A(T2)=(T2‑T2_i)/((T2_i‑1‑T2_i) *
ai‑1)+(T2‑T2_i‑1)/((T2_i‑T2_i‑1) *ai)，(T2_i‑1≤T2≤T2_i)，(i=1,2,…,N)将不同温度下ai的
值带入A(T2)中，可以得出A(T)温度变化的关系式，即确定第一映射关系。
[0137] 举例来说，如表7所示，表7是本申请实施例提供的一组关于测量电压增益的数据测量表。当保持设备的电压采样电路的电压VIDSP=1.02V不变时，改变电子设备目标支路或
干路中的电流i，通过ai=VIDSP‑R(T1_i)*ii‑Z(T2_i)，将利用表2得到的不同温度下的第一电阻
的数据和利用表3中的数据得出的关系式Z(T2)=0.0048T2+0.0813带入ai=VIDSP‑R(T1_i)*ii‑Z
(T2_i)中，得出当i=17.056A，VIDSP=1.02V，T2=‑37.8℃时，a1=0.9316；当i=15.696A，VIDSP=
1.02V，T2=‑31.3℃时，a1=09239，以及其余8组数据，依次类推，不再赘述。
干路中的电流i，通过ai=VIDSP‑R(T1_i)*ii‑Z(T2_i)，将利用表2得到的不同温度下的第一电阻
的数据和利用表3中的数据得出的关系式Z(T2)=0.0048T2+0.0813带入ai=VIDSP‑R(T1_i)*ii‑Z
(T2_i)中，得出当i=17.056A，VIDSP=1.02V，T2=‑37.8℃时，a1=0.9316；当i=15.696A，VIDSP=
1.02V，T2=‑31.3℃时，a1=09239，以及其余8组数据，依次类推，不再赘述。
[0138]
[0139] 再将表7中的10组数据带入解算A(T2)的表达式中：A(T2)=(T2‑T2_i)/((T2_i‑1‑T2_i) *ai‑1)+(T2‑T2_i‑1)/((T2_i‑T2_i‑1) *ai)，(T2_i‑1≤T2≤T2_i)，(i=1,2,…,N)得到A(T2)的分段
线性表达式可以如公式（6）所示：
线性表达式可以如公式（6）所示：
[0140]
[0141] S302:根据第一电压、第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定第一电阻所在支路的电流。
[0142] 根据采样电路的电压增益随温度变化的关系式（第一映射关系A(T2)）、第一电阻随温度变化的不同阻值（第二映射关系R(T1)）、采样电路的输出零漂随温度变化的关系式
（第三映射关系Z(T2)）以及对应温度下的第一电压值VIDSP，求得对应温度下采样电路的电流
值i，也就是说，根据采样电路的电流与其余变量的映射关系：i=(VIDSP‑Z(T2))/(R(T1 )*A
(T2))，可以求得对应温度下采样电路的电流值。
（第三映射关系Z(T2)）以及对应温度下的第一电压值VIDSP，求得对应温度下采样电路的电流
值i，也就是说，根据采样电路的电流与其余变量的映射关系：i=(VIDSP‑Z(T2))/(R(T1 )*A
(T2))，可以求得对应温度下采样电路的电流值。
[0143] 举例来说，将利用表4、表5、表6、表7中的数据计算得出的第一映射关系A(T2)（例如公式（6））、第二映射关系R(T1)、第三映射关系Z(T2)=0.0048T2+0.0813（‑40℃≤T2≤50
℃）带入i=(VIDSP‑Z(T2))/(R(T1 )*A(T2))中，得出电流随温度变化的表达式。
℃）带入i=(VIDSP‑Z(T2))/(R(T1 )*A(T2))中，得出电流随温度变化的表达式。
[0144] 需要说明的是，本实施例的面板温度分别利用‑40℃至50℃之间的温度测量对应的数据，因此得出的采样电流关于温度变化的关系式也是在‑40℃至50℃范围内，若实施例
的温度测量范围扩大，例如测量‑40℃、60℃、80℃，则得出的采样电流关于温度变化的关系
式在‑40℃到80℃范围内，也就是说，设备温度的变化范围可以为关于设备温度变化的对应
范围，本申请实施例对设备温度的范围不做限定。
的温度测量范围扩大，例如测量‑40℃、60℃、80℃，则得出的采样电流关于温度变化的关系
式在‑40℃到80℃范围内，也就是说，设备温度的变化范围可以为关于设备温度变化的对应
范围，本申请实施例对设备温度的范围不做限定。
[0145] 上面介绍了本申请实施例的方法，下面介绍本申请实施例的装置。
[0146] 如图16所示，图16是本申请实施例提供的一种设备电流检测的装置30示意图。装置30包括第一映射单元1601、采集单元1602、第一求解单元1603、第二映射单元1604，其中：
[0147] 第一映射单元1601，用于确定第一映射关系，其中，所述第一映射关系用于表征温度与电压采样电路的所述第一电压的增益的对应关系，采集单元1602，用于通过所述电压
采样电路采集第一电阻两端的电压，所述第一电阻串联在电子设备的目标支路或干路上；
采样电路采集第一电阻两端的电压，所述第一电阻串联在电子设备的目标支路或干路上；
[0148] 第一求解单元1603，用于根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的所述目标支路或干路的电流，其中，第二映射单元1604，用于
表征不同温度下对应的所述第一电阻。
表征不同温度下对应的所述第一电阻。
[0149] 可以看出，考虑串联的分流器（电阻）会随着设备温度的变化而变化的影响，通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随温度变化的关系式，获得对应温度下采样电路所在支路
的电流，而不是通过在设备中通过硬件整改的方式（例如串联负温度系数热敏电阻）解决电
阻随设备温度的变化而变化的温漂问题，因此通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随温度
变化的关系式，能在不增加硬件设备的情况下，得到电子设备目标支路或干路在对应温度
下的实际电流值，节省了解决温漂问题的成本，提高了电流采样的精确度。
的电流，而不是通过在设备中通过硬件整改的方式（例如串联负温度系数热敏电阻）解决电
阻随设备温度的变化而变化的温漂问题，因此通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随温度
变化的关系式，能在不增加硬件设备的情况下，得到电子设备目标支路或干路在对应温度
下的实际电流值，节省了解决温漂问题的成本，提高了电流采样的精确度。
[0150] 在一种可能的实现方式中，在所述根据所述第一电压、所述第一映射关系、第二映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流方面，该第一求解单元1603
具体用于：
具体用于：
[0151] 确定第三映射关系，其中，所述第三映射关系用于表征不同温度下采样电路输出的零漂；
[0152] 根据所述第一电压、所述第一映射关系、所述第二映射关系、所述第三映射关系和当前温度确定所述电子设备的目标支路或干路的电流。
[0153] 可以看出，确定第一映射关系，也就是确定电压采样电路的第一电压的增益随温度变化的关系式(即A(T2)随温度变化的关系式)；确定第二映射关系，也就是确定第一电阻
随温度变化的对应电阻值（即R(T1)随温度变化的关系式）；确定第三映射关系，也就是确定
采样电路输出的零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。考虑分流器在
通入电流的情况下做功导致电阻温度升高以及设备其余器件的温度的影响，该设备各量之
间的关系式为：V=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，确定出第一映射关系、第二映射关系、第
三映射关系以及当前温度下的第一电压之后，得出电子设备的目标支路或干路中的电流随
温度变化的关系式（即i=(V‑Z(T2))/(R(T1)*A(T2))）。在上述方法中，能确定采样电阻（第一
电阻）所在电子设备的目标支路或干路中的电流随温度变化的关系式，考虑了温度对电阻
的影响，得到对应温度下的采样支路的电流，提高了测量电流的精确度。
随温度变化的对应电阻值（即R(T1)随温度变化的关系式）；确定第三映射关系，也就是确定
采样电路输出的零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。考虑分流器在
通入电流的情况下做功导致电阻温度升高以及设备其余器件的温度的影响，该设备各量之
间的关系式为：V=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，确定出第一映射关系、第二映射关系、第
三映射关系以及当前温度下的第一电压之后，得出电子设备的目标支路或干路中的电流随
温度变化的关系式（即i=(V‑Z(T2))/(R(T1)*A(T2))）。在上述方法中，能确定采样电阻（第一
电阻）所在电子设备的目标支路或干路中的电流随温度变化的关系式，考虑了温度对电阻
的影响，得到对应温度下的采样支路的电流，提高了测量电流的精确度。
[0154] 在一种可能的实现方式中，在所述确定第三映射关系方面，所述第一求解单元1603具体用于：
[0155] 保持所述电子设备的目标支路或干路的电流为零；
[0156] 获取不同温度下所述电压采样电路的所述第一电压，得出所述第一电阻的采样电路输出的零漂随温度变化的第三映射关系。
[0157] 可以看出，零漂可以理解为输入电压为零，输出电压偏离零值的变化，所以保持第一电阻所在电子设备的目标支路或干路中的电流为零，计算出对应温度下采样电路所在支
路的零漂。根据该设备各量之间的关系式：V=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，可以理解为：在保持第
一电阻所在支路（也就是电子设备的目标支路或干路）电流为零的情况下，获取不同温度下
所述电压采样电路的所述第一电压值，也即是获取不同温度下的零漂值，得出采样电路的
零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。
路的零漂。根据该设备各量之间的关系式：V=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，可以理解为：在保持第
一电阻所在支路（也就是电子设备的目标支路或干路）电流为零的情况下，获取不同温度下
所述电压采样电路的所述第一电压值，也即是获取不同温度下的零漂值，得出采样电路的
零漂随温度变化的关系式（即Z(T2)随温度变化的关系式）。
[0158] 在一种可能的实现方式中，在所述确定第一映射关系方面，所述第一映射单元1601具体用于：
[0159] 根据所述确定的所述第二映射关系、所述第三映射关系，获得所述第一电压增益与所述第一电压、所述电子设备的目标支路或干路的电流以及对应温度的关系式；
[0160] 保持所述电压采样电路的第一电压不变，获取不同温度下所述电子设备的支路或干路的实际电流，得出所述第一电压增益随温度变化的第一映射关系。
[0161] 可以看出，确定第一映射关系，也就是确定第一电压的增益A(T2)随温度变化的关系式。该设备各量之间的关系式为：VIDSP=R(T1)*A(T2)*i+Z(T2)，也就是说，需要先确定第二
映射关系（确定第一电阻随温度变化的对应电阻值，即R(T1)随温度变化的关系式）、第三映
射关系（确定采样电路输出的零漂随温度变化的关系式，即Z(T2)随温度变化的关系式），再
在设备的电压采样电路的电压保持不变的情况下，通过测量不同温度下对应的第一电阻所
在支路或管理的实际电流，得出第一映射关系。
映射关系（确定第一电阻随温度变化的对应电阻值，即R(T1)随温度变化的关系式）、第三映
射关系（确定采样电路输出的零漂随温度变化的关系式，即Z(T2)随温度变化的关系式），再
在设备的电压采样电路的电压保持不变的情况下，通过测量不同温度下对应的第一电阻所
在支路或管理的实际电流，得出第一映射关系。
[0162] 本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当其在处理器上运行时，实现图3所示的方法流程。
[0163] 本发明实施例还提供一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在处理器上运行时，实现图3所示的方法流程。
[0164] 综上所述，通过实施本申请实施例，通过确定采样电阻（第一电阻）的电流随温度变化的关系式，获得对应温度下采样电路所在支路的电流，而不是通过在设备中通过硬件
整改的方式（例如串联负温度系数热敏电阻）解决电阻随设备温度的变化而变化的温漂问
题，也不是忽略电阻会随设备的温度的变化而变化直接通过关系式得出电流值，因此确定
采样电阻（第一电阻）的电流随温度变化的关系式，能在不增加硬件设备的情况下，得到采
样支路对应温度下的电流值，提高了电流采样的精确度，节省了解决温漂问题的成本。
整改的方式（例如串联负温度系数热敏电阻）解决电阻随设备温度的变化而变化的温漂问
题，也不是忽略电阻会随设备的温度的变化而变化直接通过关系式得出电流值，因此确定
采样电阻（第一电阻）的电流随温度变化的关系式，能在不增加硬件设备的情况下，得到采
样支路对应温度下的电流值，提高了电流采样的精确度，节省了解决温漂问题的成本。
[0165] 本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，该流程可以由计算机程序来计算机程序相关的硬件完成，该计算机程序可存储于计算机可读取存
储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法实施例的流程。而前述的存储介质
包括：只读存储记忆体ROM或随机存储记忆体RAM、磁碟或者光盘等各种可存储计算机程序
代码的介质。
储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法实施例的流程。而前述的存储介质
包括：只读存储记忆体ROM或随机存储记忆体RAM、磁碟或者光盘等各种可存储计算机程序
代码的介质。