校正畸变表格图像中的单元格的方法及装置转让专利
申请号 : CN202111401956.9
文献号 : CN114119410B
文献日 : 2022-04-22
发明人 : 孙鹏程 , 王潇茵 , 杜婉茹 , 刘萱 , 李瑞群 , 郑俊康
申请人 : 航天宏康智能科技(北京)有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一种校正畸变表格图像中的单元格的方法,其特征在于,包括:获取畸变表格图像;
对所述畸变表格图像进行图像分割,得到所述畸变表格图像中的各个单元格;
确定所述各个单元格中的畸变单元格;
对所述畸变表格图像进行目标检测,得到畸变单元格检测框;
计算所述畸变单元格与对应的所述畸变单元格检测框的交并比,以确定所述畸变单元格的畸变程度;
基于所述畸变程度,确定用于校正所述畸变单元格的框线和所述框线内的内容的校正框;
基于所述校正框,对所述畸变单元格的框线和所述框线内的内容进行仿射变换。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述畸变程度,确定用于校正所述畸变单元格的框线和所述框线内的内容的校正框,包括:对所述畸变单元格的框线进行逼近拟合,得到所述畸变单元格的最小外接矩形;
基于所述畸变程度,确定所述最小外接矩形与所述畸变单元格检测框的中间区域校正框作为所述校正框。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述中间区域校正框的对角线坐标[x1,y1,x2,y2]通过下式来计算:[x1,y1,x2,y2]=([xa1,ya1,xa2,ya2]+[xb1,yb1,xb2,yb2])×D/2,其中,[xa1,ya1,xa2,ya2]为所述最小外接矩形的对角线坐标,[xb1,yb1,xb2,yb2]为所述畸变单元格检测框的对角线坐标,D为畸变程度,0.5≤D≤1。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述畸变程度,确定用于校正所述畸变单元格的框线和所述框线内的内容的校正框,包括:确定所述畸变单元格的畸变位置;
基于所述畸变程度,对所述畸变位置进行凹凸校正,得到所述校正框。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,凹凸校正后的畸变位置的像素点的坐标为[xd±offset_x,yd±offset_y],其中,[xd,yd]为凹凸校正前的所述畸变位置的像素点的坐标,offset_x为对xd的校正量,offset_y为对yd的校正量,在所述畸变位置仅位于所述畸变单元格的横向框线上的情况下,offset_x=0,offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且,当采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,在所述畸变位置仅位于所述畸变单元格的纵向框线上的情况下,offset_y=0,offset_x=1/D×100×sin(2×π×xd/(2×W)),并且,当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x>xp,则offset_x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,则offset_x=0,在所述畸变位置既位于所述横向框线上又位于所述纵向框线上的情况下,offset_x=
1/D×100×sin(2×π×xd/(2×W)),offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x>xp,则offset_x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,则offset_x=0,当采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,其中,H为所述畸变单元格检测框的高度,W为所述畸变单元格检测框的宽度,D为畸变程度,0.5≤D≤1,xp为与[xd,yd]在同一纵向框线上的非畸变位置的横坐标,yp为与[xd,yd]在同一横向框线上的非畸变位置的纵坐标。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述各个单元格中的畸变单元格,包括:
对所述各个单元格分别进行特征提取;
根据所提取的特征来确定所述畸变单元格。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过训练好的图像分割模型来对所述畸变表格图像进行图像分割,得到所述畸变表格图像中的各个单元格。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过训练好的目标检测模型来对所述畸变表格图像进行目标检测,得到畸变单元格检测框。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述畸变表格图像进行图像分割和对所述畸变表格图像进行目标检测之前,还包括:将所述畸变表格图像转换为灰度图,得到畸变表格图像灰度图;
将所述畸变表格图像灰度图进行二值化处理,得到二值化后的畸变表格图像。
10.一种校正畸变表格图像中的单元格的装置,其特征在于,包括:图像获取单元,被配置为,获取畸变表格图像;
图像分割单元,被配置为,对所述畸变表格图像进行图像分割,得到所述畸变表格图像中的各个单元格;
确定单元,被配置为,确定所述各个单元格中的畸变单元格;
目标检测单元,被配置为,对所述畸变表格图像进行目标检测,得到畸变单元格检测框;
计算单元,被配置为,计算所述畸变单元格与对应的所述畸变单元格检测框的交并比,以确定所述畸变单元格的畸变程度;
校正框确定单元,被配置为,基于所述畸变程度,确定用于校正所述畸变单元格的框线和所述框线内的内容的校正框;
仿射变换单元,被配置为,基于所述校正框,对所述畸变单元格的框线和所述框线内的内容进行仿射变换。
11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述校正框确定单元被配置为:对所述畸变单元格的框线进行逼近拟合,得到所述畸变单元格的最小外接矩形;
基于所述畸变程度,确定所述最小外接矩形与所述畸变单元格检测框的中间区域校正框作为所述校正框。
12.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述中间区域校正框的对角线坐标[x1,y1,x2,y2]通过下式来计算:[x1,y1,x2,y2]=([xa1,ya1,xa2,ya2]+[xb1,yb1,xb2,yb2])×D/2,其中,[xa1,ya1,xa2,ya2]为所述最小外接矩形的对角线坐标,[xb1,yb1,xb2,yb2]为所述畸变单元格检测框的对角线坐标,D为畸变程度,0.5≤D≤1。
13.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述校正框确定单元被配置为:确定所述畸变单元格的畸变位置;
基于所述畸变程度,对所述畸变位置进行凹凸校正,得到所述校正框。
14.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,凹凸校正后的畸变位置的像素点的坐标为[xd±offset_x,yd±offset_y],其中,[xd,yd]为凹凸校正前的所述畸变位置的像素点的坐标,offset_x为对xd的校正量,offset_y为对yd的校正量,在所述畸变位置仅位于所述畸变单元格的横向框线上的情况下,offset_x=0,offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且,当采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,在所述畸变位置仅位于所述畸变单元格的纵向框线上的情况下,offset_y=0,offset_x=1/D×100×sin(2×π×xd/(2×W)),并且,当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x>xp,则offset_x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,则offset_x=0,在所述畸变位置既位于所述横向框线上又位于所述纵向框线上的情况下,offset_x=
1/D×100×sin(2×π×xd/(2×W)),offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x>xp,则offset_x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,则offset_x=0,当采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,其中,H为所述畸变单元格检测框的高度,W为所述畸变单元格检测框的宽度,D为畸变程度,0.5≤D≤1,xp为与[xd,yd]在同一纵向框线上的非畸变位置的横坐标,yp为与[xd,yd]在同一横向框线上的非畸变位置的纵坐标。
15.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述确定单元被配置为:对所述各个单元格分别进行特征提取;
根据所提取的特征来确定所述畸变单元格。
16.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述图像分割单元被配置为:通过训练好的图像分割模型来对所述畸变表格图像进行图像分割,得到所述畸变表格图像中的各个单元格。
17.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述目标检测单元被配置为:通过训练好的目标检测模型来对所述畸变表格图像进行目标检测,得到畸变单元格检测框。
18.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述图像获取单元还被配置为:在获取所述畸变表格图像之后,
将所述畸变表格图像转换为灰度图,得到畸变表格图像灰度图;
将所述畸变表格图像灰度图进行二值化处理,得到二值化后的畸变表格图像。
19.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器;
用于存储计算机可执行指令的存储器;
其中,所述计算机可执行指令在被所述处理器运行时,促使所述处理器实现如权利要求1至9中任一项所述的方法。
20.一种计算机可读存储介质,其特征在于,当所述计算机可读存储介质中的指令被处理器执行时,促使所述处理器执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。
说明书 :
校正畸变表格图像中的单元格的方法及装置
技术领域
背景技术
到的表格图像带有畸变的情况。在想要对表格图像中的内容进行文字识别(OCR)时,如果图
像中存在畸变则会大大影响识别的准确度。因此,就需要在对表格图像进行文字识别之前,
对表格图像进行校正,以利于文字识别。
发明内容
各个单元格;确定所述各个单元格中的畸变单元格;对所述畸变表格图像进行目标检测,得
到畸变单元格检测框;计算所述畸变单元格与对应的所述畸变单元格检测框的交并比,以
确定所述畸变单元格的畸变程度;基于所述畸变程度,确定用于校正所述畸变单元格的框
线和所述框线内的内容的校正框;基于所述校正框,对所述畸变单元格的框线和所述框线
内的内容进行仿射变换。
的最小外接矩形;基于所述畸变程度,确定所述最小外接矩形与所述畸变单元格检测框的
中间区域校正框作为所述校正框。
为所述最小外接矩形的对角线坐标,[xb1,yb1,xb2,yb2]为所述畸变单元格检测框的对角
线坐标,D为畸变程度,0.5≤D≤1。
畸变位置进行凹凸校正,得到所述校正框。
量,offset_y为对yd的校正量,在所述畸变位置仅位于所述畸变单元格的横向框线上的情
况下,offset_x=0,offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且,当采用yd+
offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑
offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,在所述畸变位置
仅位于所述畸变单元格的纵向框线上的情况下,offset_y=0,offset_x=1/D×100×sin
(2×π×xd/(2×W)),并且,当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x
>xp,则offset_x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,
则offset_x=0,在所述畸变位置既位于所述横向框线上又位于所述纵向框线上的情况下,
offset_x=1/D×100×sin(2×π×xd/(2×W)),offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2
×H)),并且当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x>xp,则offset_
x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,则offset_x=0,
当采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采
用yd‑offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,其中,H为
所述畸变单元格检测框的高度,W为所述畸变单元格检测框的宽度,D为畸变程度,0.5≤D≤
1,xp为与[xd,yd]在同一纵向框线上的非畸变位置的横坐标,yp为与[xd,yd]在同一横向框
线上的非畸变位置的纵坐标。
畸变表格图像灰度图进行二值化处理,得到二值化后的畸变表格图像。
表格图像进行图像分割,得到所述畸变表格图像中的各个单元格;确定单元,被配置为,确
定所述各个单元格中的畸变单元格;目标检测单元,被配置为,对所述畸变表格图像进行目
标检测,得到畸变单元格检测框;计算单元,被配置为,计算所述畸变单元格与对应的所述
畸变单元格检测框的交并比,以确定所述畸变单元格的畸变程度;校正框确定单元,被配置
为,基于所述畸变程度,确定用于校正所述畸变单元格的框线和所述框线内的内容的校正
框;仿射变换单元,被配置为,基于所述校正框,对所述畸变单元格的框线和所述框线内的
内容进行仿射变换。
畸变单元格检测框的中间区域校正框作为所述校正框。
为所述最小外接矩形的对角线坐标,[xb1,yb1,xb2,yb2]为所述畸变单元格检测框的对角
线坐标,D为畸变程度,0.5≤D≤1。
量,offset_y为对yd的校正量,在所述畸变位置仅位于所述畸变单元格的横向框线上的情
况下,offset_x=0,offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且,当采用yd+
offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑
offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,在所述畸变位置
仅位于所述畸变单元格的纵向框线上的情况下,offset_y=0,offset_x=1/D×100×sin
(2×π×xd/(2×W)),并且,当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x
>xp,则offset_x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,
则offset_x=0,在所述畸变位置既位于所述横向框线上又位于所述纵向框线上的情况下,
offset_x=1/D×100×sin(2×π×xd/(2×W)),offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2
×H)),并且当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x>xp,则offset_
x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,则offset_x=0,
当采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采
用yd‑offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,其中,H为
所述畸变单元格检测框的高度,W为所述畸变单元格检测框的宽度,D为畸变程度,0.5≤D≤
1,xp为与[xd,yd]在同一纵向框线上的非畸变位置的横坐标,yp为与[xd,yd]在同一横向框
线上的非畸变位置的纵坐标。
值化处理,得到二值化后的畸变表格图像。
理器实现如上所述的方法。
附图说明
具体实施方式
的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本公开的实施例能够以除了在这里图示或
描述的那些以外的顺序实施。以下实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的
所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致
的装置和方法的例子。
情况。例如“包括A和B之中的至少一个”即包括如下三种并列的情况:(1)包括A;(2)包括B;
(3)包括A和B。又例如“执行步骤一和步骤二之中的至少一个”,即表示如下三种并列的情
况:(1)执行步骤一;(2)执行步骤二;(3)执行步骤一和步骤二。
的准确度。
端110、120和服务器100都可以用来实施本公开的校正畸变表格图像中的单元格的方法,还
可以在通过用户终端110、120获取了畸变表格图像之后,利用服务器100来进行校正。此时,
服务器100能够与用户终端110、120进行双向通信。用户终端并不限于图中所示的数量和种
类,包括并不限于具有摄像功能的智能手机、平板电脑等移动终端和个人计算机等,还可以
包括其他任何能够进行拍摄或扫描的电子设备。服务器100可以是单个服务器,也可以是若
干个服务器组成的服务器集群,还可以是云计算平台或虚拟化中心。
像。并且,畸变表格图像可以是在扫描或拍摄带有表格的文稿时由于操作不当而导致畸变
的图像。这里所说的畸变可以是指表格图像中的一部分未处于正常位置而发生变形的情
况。
的各个单元格。根据本公开的示例性实施例,可以通过训练好的图像分割模型来对畸变表
格图像进行图像分割,得到畸变表格图像中的各个单元格。这里,训练好的图像分割模型为
预先根据图像分割的目标进行训练而得到的。由此,能够准确地得到畸变表格图像中的各
个单元格。此外,在对所述畸变表格图像进行图像分割之前可以对畸变表格图像进行如下
所述的预处理,以利于图像分割。
二值化后的畸变表格图像。即,在畸变表格图像不是灰度图的情况下,将其转换为灰度图,
然后,将该灰度图中的像素点的灰度值设置为0或255(对于阈值法二值化,小于阈值时设置
为255,大于阈值时设置为0),从而得到二值化(并反色)后的畸变表格图像。这里,可以通过
现有的各种方法将畸变表格图像转换为灰度图。也可以通过现有的各种方法来进行二值化
处理。例如,可以通过适当的阈值选取来获得能够反映图像整体和局部特征的二值化图像。
通过对畸变表格图像进行这样的预处理,能够便于后续的图像分割和目标检测。
单元格。
示单元格发生畸变的特征来判断单元格是否为畸变单元格。可以通过现有的各种方法来提
取特征,也可以通过预定的特征提取模型来进行特征提取。
目标检测之前也可以先对畸变表格图像进行预处理,以利于目标检测。预处理的具体方法
如上所述。这里,可以通过现有的各种目标检测方法来检测出畸变单元格检测框。根据本公
开的示例性实施例,可以通过训练好的目标检测模型来对畸变表格图像进行目标检测,得
到畸变单元格检测框。这里,训练好的目标检测模型为预先根据要检测的目标进行训练而
得到的。目标检测模型可以采用Yolov3网络,且Yolov3网络中包括:Darkent53(特征提取器
模型)、FPN(特征金字塔网络)、Yolo Head函数等。在本发明中,将畸变单元格检测框的大小
作为畸变单元格在正常情况下的单元格的大小,以用于确定畸变程度。应予说明,步骤S240
和步骤S220的顺序可以调换,也可以同时执行,对本发明的执行没有影响。
IoU)为畸变单元格与畸变单元格检测框的相交面积与相并面积之比(如图3所示),用来衡
量两者的相似度。交并比的取值范围在0和1之间,0表示两者无重合像素,1表示两者相等。
在本发明中,交并比与畸变程度是线性对应关系,交并比越大,则畸变程度越小,交并比越
小,则畸变程度越大。这里,可以通过现有的各种方法来基于交并比确定畸变单元格的畸变
程度。
元格检测框的中间区域校正框作为校正框。即,取最小外接矩形与畸变单元格检测框之间
的中间区域作为校正框。这里,可以通过现有逼近拟合方法来得到最小外接矩形。
单元格的框线和框线内的内容的校正框。
种方法来确定畸变单元格的畸变位置。然后,可以通过基于畸变程度,对例如凹陷的畸变位
置进行凸起校正,对例如凸起的畸变位置进行凹陷校正,从而得到校正框。
offset_x为对xd的校正量,offset_y为对yd的校正量。此时,在畸变位置仅位于畸变单元格
的横向框线上的情况下,仅对纵坐标进行校正,offset_x=0,offset_y=1/D×100×sin(2
×π×yd/(2×H)),并且,当采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时(即,该畸变位置为向
下畸变时),如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑offset_y的方式对yd进行校
正时(即,该畸变位置为向上畸变时),如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0。
x的方式对xd进行校正时(即,该畸变位置为向左畸变时),如果xd+offset_x>xp,则
offset_x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时(即,该畸变位置为向右畸变时),
如果xd‑offset_x<xp,则offset_x=0。
xd/(2×W)),offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且当采用xd+offset_x的方
式对xd进行校正时(即,该畸变位置为向左畸变时),如果xd+offset_x>xp,则offset_x=
0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时(即,该畸变位置为向右畸变时),如果xd‑
offset_x<xp,则offset_x=0,当采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时(即,该畸变位
置为向下畸变时),如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑offset_y的方式对yd
进行校正时(即,该畸变位置为向上畸变时),如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0。其中,
H为畸变单元格检测框的高度,W为畸变单元格检测框的宽度,D为畸变程度,0.5≤D≤1。这
里,xp为与[xd,yd]在同一纵向框线上的非畸变位置的横坐标。应予说明,发生畸变的纵向
框线上存在畸变位置和非畸变位置,在对畸变位置进行校正时,可以根据该纵向框线上的
非畸变位置的横坐标来限制校正的过度进行。yp为与[xd,yd]在同一横向框线上的非畸变
位置的纵坐标。同样地,发生畸变的横向框线上存在畸变位置和非畸变位置,在对畸变位置
进行校正时,可以根据该横向框线上的非畸变位置的纵坐标来限制校正的过度进行。
变换单元470。
灰度图。然后将畸变表格图像灰度图进行二值化处理,得到二值化后的畸变表格图像。由
此,便于后续的图像分割和目标检测。
矩形与畸变单元格检测框的中间区域校正框作为校正框。
[xa1,ya1,xa2,ya2]为最小外接矩形的对角线坐标,[xb1,yb1,xb2,yb2]为畸变单元格检测
框的对角线坐标,D为畸变程度,0.5≤D≤1。由此,能够得到用于校正畸变单元格的框线和
框线内的内容的校正框。
offset_x为对xd的校正量,offset_y为对yd的校正量,在畸变位置仅位于畸变单元格的横
向框线上的情况下,offset_x=0,offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且,当
采用yd+offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用
yd‑offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,在畸变位置
仅位于畸变单元格的纵向框线上的情况下,offset_y=0,offset_x=1/D×100×sin(2×π
×xd/(2×W)),并且,当采用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x>xp,
则offset_x=0,当采用xd‑offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,则
offset_x=0,在畸变位置既位于横向框线上又位于纵向框线上的情况下,offset_x=1/D
×100×sin(2×π×xd/(2×W)),offset_y=1/D×100×sin(2×π×yd/(2×H)),并且当采
用xd+offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd+offset_x>xp,则offset_x=0,当采用xd‑
offset_x的方式对xd进行校正时,如果xd‑offset_x<xp,则offset_x=0,当采用yd+
offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd+offset_y>yp,则offset_y=0,当采用yd‑
offset_y的方式对yd进行校正时,如果yd‑offset_y<yp,则offset_y=0,其中,H为畸变单
元格检测框的高度,W为畸变单元格检测框的宽度,D为畸变程度,0.5≤D≤1,xp为与[xd,
yd]在同一纵向框线上的非畸变位置的横坐标,yp为与[xd,yd]在同一横向框线上的非畸变
位置的纵坐标。
时,促使至少一个处理器520执行根据本公开的示例性实施例的校正畸变表格图像中的单
元格的方法。
以是任何能够单独或联合执行上述指令(或指令集)的装置或电路的集合体。电子设备500
还可以是集成控制系统或系统管理器的一部分,或者可被配置为与本地或远程(例如,经由
无线传输)以接口互联的便携式电子设备。
模拟处理器、数字处理器、微处理器、多核处理器、处理器阵列、网络处理器等。
用任何已知的传输协议。
系统可使用的其他存储装置。存储器510和处理器520可在操作上进行耦合,或者可例如通
过I/O端口、网络连接等互相通信,使得处理器520能够读取存储在存储器510中的文件。
性实施例的校正畸变表格图像中的单元格的方法。这里的计算机可读存储介质的示例包
括:只读存储器(ROM)、随机存取可编程只读存储器(PROM)、电可擦除可编程只读存储器
(EEPROM)、随机存取存储器(RAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、静态随机存取存储器
(SRAM)、闪存、非易失性存储器、CD‑ROM、CD‑R、CD+R、CD‑RW、CD+RW、DVD‑ROM、DVD‑R、DVD+R、
DVD‑RW、DVD+RW、DVD‑RAM、BD‑ROM、BD‑R、BD‑R LTH、BD‑RE、蓝光或光盘存储器、硬盘驱动器
(HDD)、固态硬盘(SSD)、卡式存储器(诸如,多媒体卡、安全数字(SD)卡或极速数字(XD)卡)、
磁带、软盘、磁光数据存储装置、光学数据存储装置、硬盘、固态盘以及任何其他装置,所述
任何其他装置被配置为以非暂时性方式存储计算机程序以及任何相关联的数据、数据文件
和数据结构并将所述计算机程序以及任何相关联的数据、数据文件和数据结构提供给处理
器或计算机使得处理器或计算机能执行所述计算机程序。上述计算机可读存储介质中的计
算机程序可在诸如客户端、主机、代理装置、服务器等计算机设备中部署的环境中运行,此
外,在一个示例中,计算机程序以及任何相关联的数据、数据文件和数据结构分布在联网的
计算机系统上,使得计算机程序以及任何相关联的数据、数据文件和数据结构通过一个或
多个处理器或计算机以分布式方式存储、访问和执行。
法。
者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识
或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由下面的
权利要求指出。