一种光学镀层基材及使用方法转让专利

申请号 : CN202111646401.0

文献号 : CN114133226B

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 吴宪君

申请人 : 苏州晶生新材料有限公司

摘要 :

本发明属于光学镀膜材料技术领域,具体涉及一种光学镀层基材及使用方法。本发明提供的光学镀层基材的原材料按重量百分比计包括以下组分:二氧化硅15‑18%;二氧化钛13‑15%;二氧化锆10‑12%;五氧化二铌5‑8%;硫化锌2‑4%;余量为氧化镧和不可避免的杂质,杂质占光学镀层基材的总质量不超过0.03%。与现有技术相比,本发明提供的光学镀层基材能够广泛应用于各类光学基片的镀膜,制得的镀膜层水接触角小,可有效防止在湿热环境中起雾,透光率高且折射率与玻璃接近,不影响玻璃基片的正常透光,也不引起光学畸变,并且还具有一定耐磨性,对玻璃基片具有一定的保护作用。

权利要求 :

1.一种光学镀层基材,其特征在于:所述光学镀层基材的原材料按重量百分比计包括以下组分:二氧化硅15‑18%

二氧化钛13‑15%

二氧化锆10‑12%

五氧化二铌5‑8%

硫化锌2‑4%

余量为氧化镧和不可避免的杂质,杂质占光学镀层基材的总质量不超过0.03%;

所述光学镀层基材是上述原材料经混合、研磨、压块、烧结、破碎、筛分制得的粉末;

将压成块状的原材料进行高温烧结,包括预烧结和再烧结两个阶段;所述预烧结是将压成块状的原材料置于马弗炉中,在900‑1250℃进行预烧结;所述再烧结是将经预烧结的原材料置于真空熔炼炉中,在1550‑1800℃进行再烧结;

预烧结阶段的温度设置如下:

第一步:5℃/min从室温升至120℃;

第二步:保温3h;

第三步:10℃/min从120℃升至预烧结温度;

第四步:在预烧结温度下保温5‑7h;

第五步:随炉冷却至室温;

再烧结阶段的温度设置如下:

第一步:10℃/min从室温升至再烧结温度;

第二步:在再预烧结温度下保温12‑15h;

第三步:随炉冷却至室温;

所述光学镀层基材可使用气相沉积装置进行镀膜,包括以下步骤:(S1)将光学镀层基材装入气相沉积装置的电子束蒸发器中,将待镀基片固定在气相沉积装置的沉积腔中;

(S2)对沉积腔进行抽真空,使压力降至0.1‑2Pa范围内;

(S3)对待镀基片进行预热,预热至250‑280℃;

(S4)将电子束蒸发器中的光学镀层基材加热至2250‑2300℃,然后打开电子束蒸发器与沉积腔之间的通道,使光学镀层基材蒸汽进入到沉积腔中,从而在待镀基片上沉积形成镀层。

2.根据权利要求1所述的光学镀层基材,其特征在于:所述原材料采用湿法研磨,研磨过程中加入一定量的乙醇,乙醇与原材料的重量比为0.15‑0.3:1。

3.根据权利要求2所述的光学镀层基材,其特征在于:所述原材料经研磨后转移至模具中,使用压机将模具中的原材料压成块状,压力为30‑45MPa。

4.根据权利要求1所述的光学镀层基材,其特征在于:烧结得到的原材料块体经破碎、筛分,得到粒径在0.2‑1.5范围内的粉末,即为所述的光学镀层基材。

5.根据权利要求1所述的光学镀层基材,其特征在于:所述待镀基片为玻璃或石英,所述待镀基片使用前应保持洁净干燥。

6.根据权利要求5所述的光学镀层基材,其特征在于:所述待镀基片使用前先进行以下预处理:将待镀基片先浸入去离子水中超声清洗3‑10min,然后浸入丙酮中超声清洗3‑

10min,烘干得到洁净干燥的待镀基片。

说明书 :

一种光学镀层基材及使用方法

技术领域

[0001] 本发明属于光学镀膜材料技术领域,具体涉及一种光学镀层基材及使用方法。

背景技术

[0002] 光学玻璃广泛应用于各类精密光学仪器中。在光学玻璃表面镀膜是光学玻璃普遍采用的修饰手段,通常是将镀膜材料加热至极高的温度,使材料表面组分以原子团或离子形式被蒸发出来,沉积在基片表面,形成镀膜。
[0003] 根据不同的目的可采用不同的镀膜材料对光学玻璃进行修饰。例如提高耐腐蚀性、提高耐磨性、提高透光率、选择性透过或滤除一定波长范围内的光线等等。然而,现有镀膜材料通常只能满足某一两个方面的需求,受到材料自身特性的限制,不同方面的性能往往难以兼容。

发明内容

[0004] 针对现有技术存在的不足,本发明提供一种光学镀层基材及使用方法。
[0005] 本发明的目的是要在玻璃基片上形成一层耐磨、防雾、透光率高、折射率与玻璃接近的镀膜层,以应用于光学镜头等基材表面。
[0006] 本发明提供的光学镀层基材的原材料按重量百分比计包括以下组分:
[0007] 二氧化硅 15‑18%
[0008] 二氧化钛 13‑15%
[0009] 二氧化锆 10‑12%
[0010] 五氧化二铌 5‑8%
[0011] 硫化锌 2‑4%
[0012] 余量为氧化镧和不可避免的杂质,杂质占光学镀层基材的总质量不超过0.03%;
[0013] 所述光学镀层基材是上述原材料经混合、研磨、压块、烧结、破碎、筛分制得的粉末。
[0014] 进一步地,所述原材料采用湿法研磨,研磨过程中加入一定量的乙醇,乙醇与原材料的重量比为0.15‑0.3:1。
[0015] 进一步地,所述原材料经研磨后转移至模具中,使用压机将模具中的原材料压成块状,压力为30‑45MPa。
[0016] 进一步地,将压成块状的原材料进行高温烧结,包括预烧结和再烧结两个阶段;所述预烧结是将压成块状的原材料置于马弗炉中,在900‑1250℃进行预烧结;所述再烧结是将经预烧结的原材料置于真空熔炼炉中,在1550‑1800℃进行再烧结。
[0017] 进一步地,预烧结阶段的温度设置如下:
[0018] 第一步:5℃/min从室温升至120℃;
[0019] 第二步:保温3h;
[0020] 第三步:10℃/min从120℃升至预烧结温度;
[0021] 第四步:在预烧结温度下保温5‑7h;
[0022] 第五步:随炉冷却至室温。
[0023] 进一步地,再烧结阶段的温度设置如下:
[0024] 第一步:10℃/min从室温升至再烧结温度;
[0025] 第二步:在再预烧结温度下保温12‑15h;
[0026] 第三步:随炉冷却至室温。
[0027] 进一步地,烧结得到的原材料块体经破碎、筛分,得到粒径在0.2‑1.5范围内的粉末,即为所述的光学镀层基材。
[0028] 本发明还进一步提供一种光学镀层基材的使用方法,使用气相沉积装置进行镀膜,包括以下步骤:
[0029] (S1)将光学镀层基材装入气相沉积装置的电子束蒸发器中,将待镀基片固定在气相沉积装置的沉积腔中;
[0030] (S2)对沉积腔进行抽真空,使压力降至0.1‑2Pa范围内;
[0031] (S3)对待镀基片进行预热,预热至250‑280℃;
[0032] (S4)将电子束蒸发器中的光学镀层基材加热至2250‑2300℃,然后打开电子束蒸发器与沉积腔之间的通道,使光学镀层基材蒸汽进入到沉积腔中,从而在待镀基片上沉积形成镀层。
[0033] 进一步地,所述待镀基片为玻璃或石英,所述待镀基片使用前应保持洁净干燥。
[0034] 进一步地,所述待镀基片使用前先进行以下预处理:将待镀基片先浸入去离子水中超声清洗3‑10min,然后浸入丙酮中超声清洗3‑10min,烘干得到洁净干燥的待镀基片。
[0035] 有益效果:与现有技术相比,本发明提供的光学镀层基材能够广泛应用于各类光学基片的镀膜,制得的镀膜层水接触角小,可有效防止在湿热环境中起雾,透光率高且折射率与玻璃接近,不影响玻璃基片的正常透光,也不引起光学畸变,并且还具有一定耐磨性,对玻璃基片具有一定的保护作用。

具体实施方式

[0036] 下面通过具体实施例进一步阐明本发明,这些实施例是示例性的,旨在说明问题和解释本发明,并不是一种限制。
[0037] 实施例1
[0038] 本实施例提供一种光学镀层基材及使用方法。
[0039] 光学镀层基材的原材料按重量百分比计包括以下组分:
[0040] 二氧化硅 15%
[0041] 二氧化钛 13%
[0042] 二氧化锆 10%
[0043] 五氧化二铌 5%
[0044] 硫化锌 2%
[0045] 余量为氧化镧和不可避免的杂质,杂质占光学镀层基材的总质量不超过0.03%;
[0046] 光学镀层基材是上述原材料经混合、研磨、压块、烧结、破碎、筛分制得的粉末。
[0047] 本实施例中,原材料采用湿法研磨,研磨过程中加入一定量的乙醇,乙醇与原材料的重量比为0.15:1。
[0048] 本实施例中,原材料经研磨后转移至模具中,使用压机将模具中的原材料压成块状,压力为45MPa。
[0049] 本实施例中,将压成块状的原材料进行高温烧结,包括预烧结和再烧结两个阶段;所述预烧结是将压成块状的原材料置于马弗炉中,在900℃进行预烧结;所述再烧结是将经预烧结的原材料置于真空熔炼炉中,在1550℃进行再烧结。
[0050] 本实施例中,预烧结阶段的温度设置如下:
[0051] 第一步:5℃/min从室温升至120℃;
[0052] 第二步:保温3h;
[0053] 第三步:10℃/min从120℃升至预烧结温度;
[0054] 第四步:在预烧结温度下保温7h;
[0055] 第五步:随炉冷却至室温。
[0056] 本实施例中,再烧结阶段的温度设置如下:
[0057] 第一步:10℃/min从室温升至再烧结温度;
[0058] 第二步:在再预烧结温度下保温15h;
[0059] 第三步:随炉冷却至室温。
[0060] 本实施例中,烧结得到的原材料块体经破碎、筛分,得到粒径在0.2‑1.5范围内的粉末,即为所述的光学镀层基材。
[0061] 上述光学镀层基材的使用方法,使用气相沉积装置进行镀膜,包括以下步骤:
[0062] (S1)将光学镀层基材装入气相沉积装置的电子束蒸发器中,将待镀基片固定在气相沉积装置的沉积腔中;
[0063] (S2)对沉积腔进行抽真空,使压力降至0.1‑2Pa;
[0064] (S3)对待镀基片进行预热,预热至250℃;
[0065] (S4)将电子束蒸发器中的光学镀层基材加热至2250℃,然后打开电子束蒸发器与沉积腔之间的通道,使光学镀层基材蒸汽进入到沉积腔中,从而在待镀基片上沉积形成镀层。
[0066] 本实施例中,所述待镀基片为玻璃,所述待镀基片使用前应保持洁净干燥,具体是将待镀基片先浸入去离子水中超声清洗3min,然后浸入丙酮中超声清洗3min,烘干得到洁净干燥的待镀基片。
[0067] 实施例2
[0068] 本实施例提供一种光学镀层基材及使用方法。
[0069] 光学镀层基材的原材料按重量百分比计包括以下组分:
[0070] 二氧化硅 18%
[0071] 二氧化钛 15%
[0072] 二氧化锆 12%
[0073] 五氧化二铌 8%
[0074] 硫化锌 4%
[0075] 余量为氧化镧和不可避免的杂质,杂质占光学镀层基材的总质量不超过0.03%;
[0076] 光学镀层基材是上述原材料经混合、研磨、压块、烧结、破碎、筛分制得的粉末。
[0077] 本实施例中,原材料采用湿法研磨,研磨过程中加入一定量的乙醇,乙醇与原材料的重量比为0.3:1。
[0078] 本实施例中,原材料经研磨后转移至模具中,使用压机将模具中的原材料压成块状,压力为30MPa。
[0079] 本实施例中,将压成块状的原材料进行高温烧结,包括预烧结和再烧结两个阶段;所述预烧结是将压成块状的原材料置于马弗炉中,在1250℃进行预烧结;所述再烧结是将经预烧结的原材料置于真空熔炼炉中,在1800℃进行再烧结。
[0080] 本实施例中,预烧结阶段的温度设置如下:
[0081] 第一步:5℃/min从室温升至120℃;
[0082] 第二步:保温3h;
[0083] 第三步:10℃/min从120℃升至预烧结温度;
[0084] 第四步:在预烧结温度下保温5h;
[0085] 第五步:随炉冷却至室温。
[0086] 本实施例中,再烧结阶段的温度设置如下:
[0087] 第一步:10℃/min从室温升至再烧结温度;
[0088] 第二步:在再预烧结温度下保温12h;
[0089] 第三步:随炉冷却至室温。
[0090] 本实施例中,烧结得到的原材料块体经破碎、筛分,得到粒径在0.2‑1.5范围内的粉末,即为所述的光学镀层基材。
[0091] 上述光学镀层基材的使用方法,使用气相沉积装置进行镀膜,包括以下步骤:
[0092] (S1)将光学镀层基材装入气相沉积装置的电子束蒸发器中,将待镀基片固定在气相沉积装置的沉积腔中;
[0093] (S2)对沉积腔进行抽真空,使压力降至0.1‑2Pa范围内;
[0094] (S3)对待镀基片进行预热,预热至280℃;
[0095] (S4)将电子束蒸发器中的光学镀层基材加热至2300℃,然后打开电子束蒸发器与沉积腔之间的通道,使光学镀层基材蒸汽进入到沉积腔中,从而在待镀基片上沉积形成镀层。
[0096] 本实施例中,所述待镀基片为玻璃,所述待镀基片使用前应保持洁净干燥,具体是将待镀基片先浸入去离子水中超声清洗10min,然后浸入丙酮中超声清洗10min,烘干得到洁净干燥的待镀基片。
[0097] 实施例3
[0098] 本实施例提供一种光学镀层基材及使用方法。
[0099] 光学镀层基材的原材料按重量百分比计包括以下组分:
[0100] 二氧化硅 16%
[0101] 二氧化钛 14%
[0102] 二氧化锆 11%
[0103] 五氧化二铌 7%
[0104] 硫化锌 3%
[0105] 余量为氧化镧和不可避免的杂质,杂质占光学镀层基材的总质量不超过0.03%;
[0106] 光学镀层基材是上述原材料经混合、研磨、压块、烧结、破碎、筛分制得的粉末。
[0107] 本实施例中,原材料采用湿法研磨,研磨过程中加入一定量的乙醇,乙醇与原材料的重量比为0.22:1。
[0108] 本实施例中,原材料经研磨后转移至模具中,使用压机将模具中的原材料压成块状,压力为40MPa。
[0109] 本实施例中,将压成块状的原材料进行高温烧结,包括预烧结和再烧结两个阶段;所述预烧结是将压成块状的原材料置于马弗炉中,在1200℃进行预烧结;所述再烧结是将经预烧结的原材料置于真空熔炼炉中,在1750℃进行再烧结。
[0110] 本实施例中,预烧结阶段的温度设置如下:
[0111] 第一步:5℃/min从室温升至120℃;
[0112] 第二步:保温3h;
[0113] 第三步:10℃/min从120℃升至预烧结温度;
[0114] 第四步:在预烧结温度下保温6h;
[0115] 第五步:随炉冷却至室温。
[0116] 本实施例中,再烧结阶段的温度设置如下:
[0117] 第一步:10℃/min从室温升至再烧结温度;
[0118] 第二步:在再预烧结温度下保温13h;
[0119] 第三步:随炉冷却至室温。
[0120] 本实施例中,烧结得到的原材料块体经破碎、筛分,得到粒径在0.2‑1.5范围内的粉末,即为所述的光学镀层基材。
[0121] 上述光学镀层基材的使用方法,使用气相沉积装置进行镀膜,包括以下步骤:
[0122] (S1)将光学镀层基材装入气相沉积装置的电子束蒸发器中,将待镀基片固定在气相沉积装置的沉积腔中;
[0123] (S2)对沉积腔进行抽真空,使压力降至0.1‑2Pa范围内;
[0124] (S3)对待镀基片进行预热,预热至270℃;
[0125] (S4)将电子束蒸发器中的光学镀层基材加热至2280℃,然后打开电子束蒸发器与沉积腔之间的通道,使光学镀层基材蒸汽进入到沉积腔中,从而在待镀基片上沉积形成镀层。
[0126] 本实施例中,所述待镀基片为玻璃,所述待镀基片使用前应保持洁净干燥,具体是将待镀基片先浸入去离子水中超声清洗5min,然后浸入丙酮中超声清洗5min,烘干得到洁净干燥的待镀基片。
[0127] 实施例4
[0128] 本实施例提供一种光学镀层基材及使用方法。
[0129] 光学镀层基材的原材料按重量百分比计包括以下组分:
[0130] 二氧化硅16%
[0131] 二氧化钛15%
[0132] 二氧化锆10%
[0133] 五氧化二铌7%
[0134] 硫化锌3%
[0135] 余量为氧化镧和不可避免的杂质,杂质占光学镀层基材的总质量不超过0.03%;
[0136] 光学镀层基材是上述原材料经混合、研磨、压块、烧结、破碎、筛分制得的粉末。
[0137] 本实施例中,原材料采用湿法研磨,研磨过程中加入一定量的乙醇,乙醇与原材料的重量比为0.25:1。
[0138] 本实施例中,原材料经研磨后转移至模具中,使用压机将模具中的原材料压成块状,压力为35MPa。
[0139] 本实施例中,将压成块状的原材料进行高温烧结,包括预烧结和再烧结两个阶段;所述预烧结是将压成块状的原材料置于马弗炉中,在1000℃进行预烧结;所述再烧结是将经预烧结的原材料置于真空熔炼炉中,在1600℃进行再烧结。
[0140] 本实施例中,预烧结阶段的温度设置如下:
[0141] 第一步:5℃/min从室温升至120℃;
[0142] 第二步:保温3h;
[0143] 第三步:10℃/min从120℃升至预烧结温度;
[0144] 第四步:在预烧结温度下保温6h;
[0145] 第五步:随炉冷却至室温。
[0146] 本实施例中,再烧结阶段的温度设置如下:
[0147] 第一步:10℃/min从室温升至再烧结温度;
[0148] 第二步:在再预烧结温度下保温13h;
[0149] 第三步:随炉冷却至室温。
[0150] 本实施例中,烧结得到的原材料块体经破碎、筛分,得到粒径在0.2‑1.5范围内的粉末,即为所述的光学镀层基材。
[0151] 上述光学镀层基材的使用方法,使用气相沉积装置进行镀膜,包括以下步骤:
[0152] (S1)将光学镀层基材装入气相沉积装置的电子束蒸发器中,将待镀基片固定在气相沉积装置的沉积腔中;
[0153] (S2)对沉积腔进行抽真空,使压力降至0.1‑2Pa范围内;
[0154] (S3)对待镀基片进行预热,预热至250℃;
[0155] (S4)将电子束蒸发器中的光学镀层基材加热至2300℃,然后打开电子束蒸发器与沉积腔之间的通道,使光学镀层基材蒸汽进入到沉积腔中,从而在待镀基片上沉积形成镀层。
[0156] 本实施例中,所述待镀基片为玻璃,所述待镀基片使用前应保持洁净干燥,具体是将待镀基片先浸入去离子水中超声清洗8min,然后浸入丙酮中超声清洗8min,烘干得到洁净干燥的待镀基片。
[0157] 实施例5
[0158] 本实施例提供一种光学镀层基材及使用方法。
[0159] 光学镀层基材的原材料按重量百分比计包括以下组分:
[0160] 二氧化硅18%
[0161] 二氧化钛13%
[0162] 二氧化锆10%
[0163] 五氧化二铌6%
[0164] 硫化锌4%
[0165] 余量为氧化镧和不可避免的杂质,杂质占光学镀层基材的总质量不超过0.03%;
[0166] 光学镀层基材是上述原材料经混合、研磨、压块、烧结、破碎、筛分制得的粉末。
[0167] 本实施例中,原材料采用湿法研磨,研磨过程中加入一定量的乙醇,乙醇与原材料的重量比为0.2:1。
[0168] 本实施例中,原材料经研磨后转移至模具中,使用压机将模具中的原材料压成块状,压力为45MPa。
[0169] 本实施例中,将压成块状的原材料进行高温烧结,包括预烧结和再烧结两个阶段;所述预烧结是将压成块状的原材料置于马弗炉中,在1100℃进行预烧结;所述再烧结是将经预烧结的原材料置于真空熔炼炉中,在1800℃进行再烧结。
[0170] 本实施例中,预烧结阶段的温度设置如下:
[0171] 第一步:5℃/min从室温升至120℃;
[0172] 第二步:保温3h;
[0173] 第三步:10℃/min从120℃升至预烧结温度;
[0174] 第四步:在预烧结温度下保温6h;
[0175] 第五步:随炉冷却至室温。
[0176] 本实施例中,再烧结阶段的温度设置如下:
[0177] 第一步:10℃/min从室温升至再烧结温度;
[0178] 第二步:在再预烧结温度下保温13h;
[0179] 第三步:随炉冷却至室温。
[0180] 本实施例中,烧结得到的原材料块体经破碎、筛分,得到粒径在0.2‑1.5范围内的粉末,即为所述的光学镀层基材。
[0181] 上述光学镀层基材的使用方法,使用气相沉积装置进行镀膜,包括以下步骤:
[0182] (S1)将光学镀层基材装入气相沉积装置的电子束蒸发器中,将待镀基片固定在气相沉积装置的沉积腔中;
[0183] (S2)对沉积腔进行抽真空,使压力降至0.1‑2Pa范围内;
[0184] (S3)对待镀基片进行预热,预热至280℃;
[0185] (S4)将电子束蒸发器中的光学镀层基材加热至2250℃,然后打开电子束蒸发器与沉积腔之间的通道,使光学镀层基材蒸汽进入到沉积腔中,从而在待镀基片上沉积形成镀层。
[0186] 本实施例中,所述待镀基片为玻璃,所述待镀基片使用前应保持洁净干燥,具体是将待镀基片先浸入去离子水中超声清洗8min,然后浸入丙酮中超声清洗8min,烘干得到洁净干燥的待镀基片。
[0187] 实施例1‑5制得的镀膜层各项参数如表1所示。
[0188] 表1
[0189] 样例 膜层厚度(nm) 膜层透光率(%) 折射率 水接触角(°)实施例1 279 99.2 1.65 11
实施例2 268 99.4 1.71 7
实施例3 272 99.1 1.70 9
实施例4 275 99.1 1.64 8
实施例5 269 99.4 1.67 12
[0190] 注:膜层透光率和折射率都是在500nm光源条件下测得的。
[0191] 以上实施方式是示例性的,其目的是说明本发明的技术构思及特点,以便熟悉此领域技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施,并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围之内。