后处理催化单元缩径精度提升方法、缩径系统及主控装置

摘要

本申请涉及一种后处理催化单元缩径精度提升方法、缩径系统及主控装置，所述后处理催化单元包括催化剂载体、衬垫和筒体，其包括如下步骤：获取缩径补偿直径值；对所述催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，计算后处理催化单元的缩径理论直径值；对所述后处理催化单元的缩径理论直径值和所述缩径补偿直径值进行求和，得到所述后处理催化单元的缩径目标直径值；按照所述后处理催化单元的缩径目标直径值，对所述催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，得到后处理催化单元。本申请可以提升后处理催化单元的缩径精度，提高产品合格率。

权利要求

1.一种后处理催化单元缩径精度提升方法，所述后处理催化单元包括催化剂载体、衬垫和筒体，其特征在于，其包括如下步骤：获取缩径补偿直径值；

对所述催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，计算后处理催化单元的缩径理论直径值；

对所述后处理催化单元的缩径理论直径值和所述缩径补偿直径值进行求和，得到所述后处理催化单元的缩径目标直径值；

按照所述后处理催化单元的缩径目标直径值，对所述催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，得到后处理催化单元；

当所述后处理催化单元为第n件，且n=1时，所述缩径补偿直径值是基于缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差，通过设备调试测量经验给定的；

当所述后处理催化单元为第n件，且n≥2时，获取缩径补偿直径值包括如下步骤：对第n‑1件后处理催化单元进行复测，计算第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；

对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；

对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；

对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值。

2.如权利要求1所述的后处理催化单元缩径精度提升方法，其特征在于：当所述后处理催化单元为第n件，且n=1时，所述缩径补偿直径值的取值范围为0.4mm~

0.8mm。

3.如权利要求2所述的后处理催化单元缩径精度提升方法，其特征在于：当所述后处理催化单元为第n件，且n=1时，所述缩径补偿直径值的取值为0.6mm。

4.如权利要求1所述的后处理催化单元缩径精度提升方法，其特征在于：当n=2时，第一个累计误差的取值设定为0。

5.一种后处理催化单元的缩径系统，所述后处理催化单元包括催化剂载体、衬垫和筒体，其特征在于，其包括：控制设备，其用于获取缩径补偿直径值；

复测设备，其用于在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量；以及，所述控制设备还用于根据复测设备在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量所得到的数据进行计算，获得后处理催化单元的缩径理论直径值，并对所述后处理催化单元的缩径理论直径值和所述缩径补偿直径值进行求和，得到后处理催化单元的缩径目标直径值；

缩径设备，其用于按照所述后处理催化单元的缩径目标直径值，对催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，得到后处理催化单元；

所述复测设备还用于在完成缩径之后，对得到的后处理催化单元进行复测；

所述控制设备预存有第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，所述控制设备还用于：记录复测设备测量的催化剂载体、衬垫和筒体所对应的后处理催化单元的序数n；

读取记录的序数n；

当n=1时，调用预存的第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，并与所述后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到所述后处理催化单元的缩径目标直径值，所述缩径补偿直径值是基于缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差，通过设备调试测量经验给定的；

当n≥2时，调用复测设备对完成缩径之后得到的第n‑1件后处理催化单元所复测的数据，计算得到第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值；将第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值与所述后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到第n件所述后处理催化单元的缩径目标直径值。

6.如权利要求5所述的后处理催化单元的缩径系统，其特征在于：当n=1时，所述缩径补偿直径值的取值范围为0.4mm 0.8mm；

~

当n=2时，第一个累计误差的取值设定为0。

7.一种如权利要求5或6所述的后处理催化单元的缩径系统的主控装置，其运行于所述控制设备上，其特征在于，其包括：存储模块，其预存有第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值；

计数模块，其用于记录复测设备测量的催化剂载体、衬垫和筒体所对应的后处理催化单元的序数n；

计算模块，其用于：

‑根据复测设备在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量所得到的数据进行计算，获得后处理催化单元的缩径理论直径值；

‑读取所述计数模块记录的序数n；

‑当n=1时，调用存储模块预存的第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，并与所述后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到所述后处理催化单元的缩径目标直径值；

‑当n≥2时，调用复测设备对完成缩径之后得到的第n‑1件后处理催化单元所复测的数据，计算得到第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值；将第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值与所述后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到第n件所述后处理催化单元的缩径目标直径值。

说明书

后处理催化单元缩径精度提升方法、缩径系统及主控装置

技术领域

[0001] 本申请涉及后处理技术领域，特别涉及一种后处理催化单元缩径精度提升方法、缩径系统及主控装置。

背景技术

[0002] 后处理催化单元缩径工艺常用于发动机后处理催化单元分总成的制造，通过外模和内模的锲形结构，可以产生指向圆心的水平压力，这种水平压力驱动缩径模瓣移动围合后，对催化单元筒体施加压力，筒体直径区域在施加的外力作用下将不锈钢筒体直径塑性变形到产品要求直径尺寸范围内，从而将催化剂载体、衬垫和不锈钢筒体三种不同零件组合成一个整体。

[0003] 在一些相关技术方案中，其制造的后处理催化单元会出现缩径尺寸不符合质量要求的情况，形成潜在的不良品，影响总成处理发动机尾气功能和机械性能。

发明内容

[0004] 本申请实施例提供一种后处理催化单元缩径精度提升方法、缩径系统及主控装置，可以提升后处理催化单元的缩径精度，提高产品合格率。

[0005] 第一方面，提供了一种后处理催化单元缩径精度提升方法，所述后处理催化单元包括催化剂载体、衬垫和筒体，其包括如下步骤：

[0006] 获取缩径补偿直径值；

[0007] 对所述催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，计算后处理催化单元的缩径理论直径值；

[0008] 对所述后处理催化单元的缩径理论直径值和所述缩径补偿直径值进行求和，得到所述后处理催化单元的缩径目标直径值；

[0009] 按照所述后处理催化单元的缩径目标直径值，对所述催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，得到后处理催化单元。

[0010] 一些实施例中，当所述后处理催化单元为第n件，且n＝1时，所述缩径补偿直径值是基于缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差，通过设备调试测量经验给定的。

[0011] 一些实施例中，当所述后处理催化单元为第n件，且n＝1时，所述缩径补偿直径值的取值范围为0.4mm～0.8mm。

[0012] 一些实施例中，当所述后处理催化单元为第n件，且n＝1时，所述缩径补偿直径值的取值为0.6mm。

[0013] 一些实施例中，当所述后处理催化单元为第n件，且n≥2时，获取缩径补偿直径值包括如下步骤：

[0014] 对第n‑1件后处理催化单元进行复测，计算第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；

[0015] 对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；

[0016] 对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；

[0017] 对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值。

[0018] 一些实施例中，当n＝2时，第一个累计误差的取值设定为0。

[0019] 第二方面，提供了一种后处理催化单元的缩径系统，所述后处理催化单元包括催化剂载体、衬垫和筒体，其包括：

[0020] 控制设备，其用于获取缩径补偿直径值；

[0021] 复测设备，其用于在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量；以及，[0022] 所述控制设备还用于根据复测设备在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量所得到的数据进行计算，获得后处理催化单元的缩径理论直径值，并对所述后处理催化单元的缩径理论直径值和所述缩径补偿直径值进行求和，得到后处理催化单元的缩径目标直径值；

[0023] 缩径设备，其用于按照所述后处理催化单元的缩径目标直径值，对催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，得到后处理催化单元。

[0024] 一些实施例中，所述复测设备还用于在完成缩径之后，对得到的后处理催化单元进行复测；

[0025] 所述控制设备预存有第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，所述控制设备还用于：

[0026] 记录复测设备测量的催化剂载体、衬垫和筒体所对应的后处理催化单元的序数n；

[0027] 读取记录的序数n；

[0028] 当n＝1时，调用预存的第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，并与所述后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到所述后处理催化单元的缩径目标直径值；

[0029] 当n≥2时，调用复测设备对完成缩径之后得到的第n‑1件后处理催化单元所复测的数据，计算得到第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值；将第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值与所述后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到第n件所述后处理催化单元的缩径目标直径值。

[0030] 一些实施例中，当n＝1时，所述缩径补偿直径值的取值范围为0.4mm～0.8mm；

[0031] 当n＝2时，第一个累计误差的取值设定为0。

[0032] 第三方面，提供了一种上述后处理催化单元的缩径系统的主控装置，其运行于所述控制设备上，其包括：

[0033] 存储模块，其预存有第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值；

[0034] 计数模块，其用于记录复测设备测量的催化剂载体、衬垫和筒体所对应的后处理催化单元的序数n；

[0035] 计算模块，其用于：

[0036] ‑根据复测设备在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量所得到的数据进行计算，获得后处理催化单元的缩径理论直径值；

[0037] ‑读取所述计数模块记录的序数n；

[0038] ‑当n＝1时，调用存储模块预存的第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，并与所述后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到所述后处理催化单元的缩径目标直径值；

[0039] ‑当n≥2时，调用复测设备对完成缩径之后得到的第n‑1件后处理催化单元所复测的数据，计算得到第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值；将第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值与所述后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到第n件所述后处理催化单元的缩径目标直径值。

[0040] 本申请提供的技术方案带来的有益效果包括：

[0041] (1)通过复测设备对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，进而计算出催化剂载体、衬垫和筒体对应的后处理催化单元的缩径理论直径值，再赋予一个缩径补偿直径值，对该缩径理论直径值进行补偿校准，以此来消除后处理催化单元制造过程中缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差所带来的影响，从而得到后处理催化单元的缩径目标直径值，按照该缩径目标直径值，对催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，即可得到缩径精度更高的后处理催化单元，因此，本申请可以提升后处理催化单元的缩径精度，提高产品合格率。

[0042] (2)每一个后处理催化单元包含催化剂载体、衬垫和筒体，在使用缩径设备对催化剂载体、衬垫和筒体缩径之前，利用复测设备对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，计算得到后处理催化单元的缩径理论直径值；完成缩径之后，再使用复测设备对得到的后处理催化单元进行测量，计算得到后处理催化单元的复测实际直径值。

[0043] 对于第一件后处理催化单元，缩径补偿直径值是一个给定值，该后处理催化单元的缩径理论直径值加上该给定值，即为该后处理催化单元的缩径目标直径值。

[0044] 对于后续制造的后处理催化单元，缩径补偿直径值都是动态计算的，而非给定值，当计算第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值时，先对第n‑1件后处理催化单元进行复测，计算出第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值，再对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；然后对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到更新的累计误差，也即第n个累计误差；最后对第n个累计误差与n‑1进行作商，就得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值。将第n件后处理催化单元的缩径理论直径值加上该缩径补偿直径值，即可得到第n件后处理催化单元的缩径目标直径值。

[0045] 采用上述方法，由于在计算当前后处理催化单元的缩径补偿直径值时，考虑了先前制造的各个后处理催化单元所形成的累计误差，因此，计算得到的当前后处理催化单元的缩径补偿直径值趋于理想状态，最终计算出来的当前后处理催化单元的缩径目标直径值也趋于理想状态，故采用动态调整法，可以进一步地消除在制造每一个后处理催化单元时，缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差所带来的影响，进一步地提升后处理催化单元的缩径精度，提高产品合格率。

附图说明

[0046] 为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0047] 图1为本申请实施例提供的后处理催化单元缩径精度提升方法流程图；

[0048] 图2为本申请实施例提供的后处理催化单元的缩径系统框图；

[0049] 图3为本申请实施例提供的主控装置框图。

具体实施方式

[0050] 为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

[0051] 参见图1所示，本申请实施例提供了一种后处理催化单元缩径精度提升方法，其中，后处理催化单元包括催化剂载体、衬垫和筒体，该方法包括如下步骤：

[0052] 101：获取缩径补偿直径值；

[0053] 102：对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，计算后处理催化单元的缩径理论直径值；

[0054] 103：对后处理催化单元的缩径理论直径值和缩径补偿直径值进行求和，得到后处理催化单元的缩径目标直径值；

[0055] 104：按照后处理催化单元的缩径目标直径值，对催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，得到后处理催化单元。

[0056] 本申请实施例提供的后处理催化单元缩径精度提升方法，通过复测设备对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，进而计算出催化剂载体、衬垫和筒体对应的后处理催化单元的缩径理论直径值，再赋予一个缩径补偿直径值，对该缩径理论直径值进行补偿校准，以此来消除后处理催化单元制造过程中缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差所带来的影响，从而得到后处理催化单元的缩径目标直径值，按照该缩径目标直径值，对催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，即可得到缩径精度更高的后处理催化单元，因此，本申请可以提升后处理催化单元的缩径精度，提高产品合格率。

[0057] 由于在制造不同的后处理催化单元时，缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差所带来的影响大小不一。为了能够对每一个后处理催化单元进行适应性地消除误差带来的影响，在一些优选的实施方式中，本申请采用动态调整法进行调整。

[0058] 动态调整，以适应每一个后处理催化单元的质量要求，具体操作如下：

[0059] (1)当后处理催化单元为第n件，且n＝1时，缩径补偿直径值给一个定值，也就是说，在制造第一件后处理催化单元时，缩径补偿直径值是给定的，且是基于缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差，通过设备调试测量经验给定的，也就是说，第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值是一个经验值，这种经验值是可以从设备制造商在调试设备过程中获取，也可以是后处理催化单元的制造商根据以往制造经验获取。

[0060] 比如，可以将第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值的取值范围设定为0.4mm～0.8mm，进一步地，第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值的取值设定为0.6mm。

[0061] (2)当后处理催化单元为第n件，且n≥2时，获取第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值包括如下步骤：

[0062] 对第n‑1件后处理催化单元进行复测，计算第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；

[0063] 对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；

[0064] 对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；

[0065] 对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值。

[0066] 本实施例的原理如下：

[0067] 每一个后处理催化单元包含催化剂载体、衬垫和筒体，在使用缩径设备对催化剂载体、衬垫和筒体缩径之前，利用复测设备对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，计算得到后处理催化单元的缩径理论直径值；完成缩径之后，再使用复测设备对得到的后处理催化单元进行测量，计算得到后处理催化单元的复测实际直径值。

[0068] 对于第一件后处理催化单元，缩径补偿直径值是一个给定值，该后处理催化单元的缩径理论直径值加上该给定值，即为该后处理催化单元的缩径目标直径值。

[0069] 对于后续制造的后处理催化单元，缩径补偿直径值都是动态计算的，而非给定值，当计算第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值时，先对第n‑1件后处理催化单元进行复测，计算出第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值，再对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；然后对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到更新的累计误差，也即第n个累计误差；最后对第n个累计误差与n‑1进行作商，就得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值。将第n件后处理催化单元的缩径理论直径值加上该缩径补偿直径值，即可得到第n件后处理催化单元的缩径目标直径值。

[0070] 采用上述方法，由于在计算当前后处理催化单元的缩径补偿直径值时，考虑了先前制造的各个后处理催化单元所形成的累计误差，因此，计算得到的当前后处理催化单元的缩径补偿直径值趋于理想状态，最终计算出来的当前后处理催化单元的缩径目标直径值也趋于理想状态，故采用动态调整法，可以进一步地消除在制造每一个后处理催化单元时，缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差所带来的影响，进一步地提升后处理催化单元的缩径精度，提高产品合格率。

[0071] 当n＝2时，第一个累计误差的取值设定为0。

[0072] 参见图2所示，本申请实施例还提供了一种后处理催化单元的缩径系统，后处理催化单元包括催化剂载体、衬垫和筒体，其包括控制设备、复测设备和缩径设备，其中：

[0073] 控制设备用于获取缩径补偿直径值；

[0074] 复测设备用于在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量；以及，[0075] 控制设备还用于根据复测设备在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量所得到的数据进行计算，获得后处理催化单元的缩径理论直径值，并对后处理催化单元的缩径理论直径值和缩径补偿直径值进行求和，得到后处理催化单元的缩径目标直径值；

[0076] 缩径设备用于按照后处理催化单元的缩径目标直径值，对催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，得到后处理催化单元。

[0077] 本申请实施例提供的缩径系统，通过复测设备对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量，将测量数据发给控制设备，控制设备根据测量的数据计算出催化剂载体、衬垫和筒体对应的后处理催化单元的缩径理论直径值，再赋予一个缩径补偿直径值，对该缩径理论直径值进行补偿校准，以此来消除后处理催化单元制造过程中缩径设备的制造误差、复测设备的测量误差和后处理催化单元的弹性变形产生的偏差所带来的影响，从而得到后处理催化单元的缩径目标直径值，按照该缩径目标直径值，控制缩径设备对催化剂载体、衬垫和筒体进行缩径处理，即可得到缩径精度更高的后处理催化单元，因此，本申请可以提升后处理催化单元的缩径精度，提高产品合格率。

[0078] 在一些优选的实施方式中，为了能够对每一个后处理催化单元进行适应性地消除误差带来的影响，复测设备还用于在完成缩径之后，对得到的后处理催化单元进行复测；

[0079] 控制设备预存有第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，控制设备还用于：

[0080] 记录复测设备测量的催化剂载体、衬垫和筒体所对应的后处理催化单元的序数n；

[0081] 读取记录的序数n；

[0082] 当n＝1时，调用预存的第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，并与后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到后处理催化单元的缩径目标直径值；

[0083] 当n≥2时，调用复测设备对完成缩径之后得到的第n‑1件后处理催化单元所复测的数据，计算得到第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值；将第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值与后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到第n件后处理催化单元的缩径目标直径值。

[0084] 其中，当n＝1时，缩径补偿直径值的取值范围为0.4mm～0.8mm。

[0085] 当n＝2时，第一个累计误差的取值设定为0。

[0086] 参见图3所示，本申请实施例还提供了一种后处理催化单元的缩径系统的主控装置，该主控装置运行于控制设备上，该主控装置包括存储模块、计数模块和计算模块，其中：

[0087] 存储模块预存有第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值；

[0088] 计数模块用于记录复测设备测量的催化剂载体、衬垫和筒体所对应的后处理催化单元的序数n；

[0089] 计算模块用于：

[0090] 根据复测设备在缩径之前，对催化剂载体、衬垫和筒体进行测量所得到的数据进行计算，获得后处理催化单元的缩径理论直径值；

[0091] 读取计数模块记录的序数n；

[0092] 当n＝1时，调用存储模块预存的第一件后处理催化单元的缩径补偿直径值，并与后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到后处理催化单元的缩径目标直径值；

[0093] 当n≥2时，调用复测设备对完成缩径之后得到的第n‑1件后处理催化单元所复测的数据，计算得到第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值；对第n‑1件后处理催化单元的复测实际直径值与第n‑1件后处理催化单元的缩径目标直径值进行作差，得到第n‑1个偏差值；对第n‑1个偏差值和第n‑1个累计误差进行求和，得到第n个累计误差；对第n个累计误差与n‑1进行作商，得到第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值；将第n件后处理催化单元的缩径补偿直径值与后处理催化单元的缩径理论直径值进行求和，得到第n件后处理催化单元的缩径目标直径值。

[0094] 在本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

[0095] 需要说明的是，在本申请中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

[0096] 以上所述仅是本申请的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。