基于随钻电成像的图像生成方法及装置转让专利

申请号 : CN202210175437.3

文献号 : CN114233274B

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相似专利:

发明人 : 于增辉牛德成刘耀伟王芝环侯洪为鲍东升张中庆刘保银邵晓程

申请人 : 中海油田服务股份有限公司

摘要 :

本发明公开了一种基于随钻电成像的图像生成方法及装置。方法包括:根据测量得到的随钻电成像测量响应值,计算不同测井深度对应的偏心方位;确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率;构建井眼偏心环境下的第一等效地层数值模型;以及构建无井眼偏心环境下的第二等效地层数值模型;将该测井深度中的该井周方位对应的第二等效地层数值模型的第二模拟响应值与第一等效地层数值模型的第一模拟响应值的比值作为偏心校正系数;利用偏心校正系数对测量响应值进行校正,获得偏心校正响应值;生成随钻电成像图像。本方案能够提升随钻电成像图像的分辨率及清晰度,提升基于该随钻电成像图像的地层分析精度及应用精度。

权利要求 :

1.一种基于随钻电成像的图像生成方法,其特征在于,包括:根据测量得到的随钻电成像测量响应值,计算不同测井深度对应的偏心方位;

根据所述测量响应值以及所述不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率;

利用所述不同测井深度对应的偏心方位、偏心距以及地层电阻率,构建井眼偏心环境下的第一等效地层数值模型;以及构建与所述第一等效地层数值模型对应的无井眼偏心环境下的第二等效地层数值模型;

针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的所述第二等效地层数值模型的第二模拟响应值与所述第一等效地层数值模型的第一模拟响应值的比值作为偏心校正系数;

利用所述偏心校正系数对所述测量响应值进行校正,以获得偏心校正响应值;

基于所述偏心校正响应值生成随钻电成像图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测量响应值以及所述不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率进一步包括:预先构建偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版;所述解释图版中包含有多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的偏心方位的模拟响应值;

利用每个测井深度对应的偏心方位,分别查找所述解释图版,以确定出每个测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述预先构建偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版具体包括:

构建动态参数地层数值模拟模型;

分别将偏心距、地层电阻率作为模型动态参数,通过模型动态参数变化获得偏心距‑地层电阻率多种取值组合下的模型集,对所述模型集进行数值模拟,以获得多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值;

根据所述多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值,绘制偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述计算不同测井深度对应的偏心方位之后,所述方法还包括:

对所述不同测井深度对应的偏心方位进行异常点修正。

5.根据权利要求1‑4中任一项所述的方法,其特征在于,在所述获得偏心校正响应值之后,所述方法还包括:对所述偏心校正响应值进行聚焦处理,以获得聚焦校正响应值;

则所述基于所述偏心校正响应值生成随钻电成像图像具体包括:基于所述聚焦校正响应值生成随钻电成像图像。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对所述偏心校正响应值进行聚焦处理,以获得聚焦校正响应值进一步包括:构建层化地层的第三等效地层数值模型以及对应的均匀无限厚的第四等效地层数值模型;

针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的所述第四等效地层数值模型的第四模拟响应值与所述第三等效地层数值模型的第三模拟响应值的比值作为聚焦校正系数;

利用所述聚焦校正系数对所述偏心校正响应值进行聚焦校正,以获得聚焦校正响应值。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述构建层化地层的第三等效地层数值模型进一步包括:

识别电阻率分层界面,并根据所述电阻率分层界面确定各个分层;

计算各个分层的电阻率以及围岩电阻率,根据所述各个分层的电阻率以及围岩电阻率构建所述第三等效地层数值模型。

8.一种基于随钻电成像的图像生成装置,其特征在于,包括:计算模块,用于根据测量得到的随钻电成像测量响应值,计算不同测井深度对应的偏心方位;

确定模块,用于根据所述测量响应值以及所述不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率;

构建模块,用于利用所述不同测井深度对应的偏心方位、偏心距以及地层电阻率,构建井眼偏心环境下的第一等效地层数值模型;以及构建与所述第一等效地层数值模型对应的无井眼偏心环境下的第二等效地层数值模型;

偏心校正模块,用于针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的所述第二等效地层数值模型的第二模拟响应值与所述第一等效地层数值模型的第一模拟响应值的比值作为偏心校正系数;以及利用所述偏心校正系数对所述测量响应值进行校正,以获得偏心校正响应值;

图像生成模块,用于基于所述偏心校正响应值生成随钻电成像图像。

9.一种计算设备,其特征在于,包括:处理器、存储器、通信接口和通信总线,所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信;

所述存储器用于存放至少一可执行指令,所述可执行指令使所述处理器执行如权利要求1‑7中任一项所述的基于随钻电成像的图像生成方法对应的操作。

10.一种计算机存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有至少一可执行指令,所述可执行指令使处理器执行如权利要求1‑7中任一项所述的基于随钻电成像的图像生成方法对应的操作。

说明书 :

基于随钻电成像的图像生成方法及装置

技术领域

[0001] 本发明涉及数据处理技术领域,具体涉及一种基于随钻电成像的图像生成方法及装置。

背景技术

[0002] 随钻电成像测井技术是通过随钻测井仪器测量,并将测量所得数据转化成图像的一种测井技术。随钻电成像测井技术能够直观地还原地层真实情况,从而在地层裂缝识别、
孔洞识别、地层岩性分析和储层分析等方面具有相应应用。
[0003] 然而,发明人在实施过程中发现,现有技术中存在如下缺陷:现有的随钻电成像测井技术,通常在获得测量响应值之后,仅对该测量响应值进行深度规范化或坏数据修复等
预处理,从而导致生成的图像精度低、分辨率低、图像不清晰等弊端,继而影响后续基于该
图像的地层评价和数据应用。

发明内容

[0004] 鉴于上述问题,提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的基于随钻电成像的图像生成方法及装置。
[0005] 根据本发明的一个方面,提供了一种基于随钻电成像的图像生成方法,包括:根据测量得到的随钻电成像测量响应值,计算不同测井深度对应的偏心方位;根据所述测量响
应值以及所述不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电
阻率;利用所述不同测井深度对应的偏心方位、偏心距以及地层电阻率,构建井眼偏心环境
下的第一等效地层数值模型;以及构建与所述第一等效地层数值模型对应的无井眼偏心环
境下的第二等效地层数值模型;针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中
的该井周方位对应的所述第二等效地层数值模型的第二模拟响应值与所述第一等效地层
数值模型的第一模拟响应值的比值作为偏心校正系数;利用所述偏心校正系数对所述测量
响应值进行校正,以获得偏心校正响应值;基于所述偏心校正响应值生成随钻电成像图像。
[0006] 在一种可选的实施方式中,所述根据所述测量响应值以及所述不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率进一步包括:
[0007] 预先构建偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版;所述解释图版中包含有多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的偏心方位的模拟响应值;
[0008] 利用每个测井深度对应的偏心方位,分别查找所述解释图版,以确定出每个测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。
[0009] 在一种可选的实施方式中,所述预先构建偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版具体包括:
[0010] 构建动态参数地层数值模拟模型;
[0011] 分别将偏心距、地层电阻率作为模型动态参数,通过模型动态参数变化获得偏心距‑地层电阻率多种取值组合下的模型集,对所述模型集进行数值模拟,以获得多个偏心
距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值;
[0012] 根据所述多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值,绘制偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版。
[0013] 在一种可选的实施方式中,在所述计算不同测井深度对应的偏心方位之后,所述方法还包括:对所述不同测井深度对应的偏心方位进行异常点修正。
[0014] 在一种可选的实施方式中,在所述获得偏心校正响应值之后,所述方法还包括:对所述偏心校正响应值进行聚焦处理,以获得聚焦校正响应值;
[0015] 则所述基于所述偏心校正响应值生成随钻电成像图像具体包括:基于所述聚焦校正响应值生成随钻电成像图像。
[0016] 在一种可选的实施方式中,所述对所述偏心校正响应值进行聚焦处理,以获得聚焦校正响应值进一步包括:
[0017] 构建层化地层的第三等效地层数值模型以及对应的均匀无限厚的第四等效地层数值模型;
[0018] 针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的所述第四等效地层数值模型的第四模拟响应值与所述第三等效地层数值模型的第三模拟响
应值的比值作为聚焦校正系数;
[0019] 利用所述聚焦校正系数对所述偏心校正响应值进行聚焦校正,以获得聚焦校正响应值。
[0020] 在一种可选的实施方式中,所述构建层化地层的第三等效地层数值模型进一步包括:
[0021] 识别电阻率分层界面,并根据所述电阻率分层界面确定各个分层;
[0022] 计算各个分层的电阻率以及围岩电阻率,根据所述各个分层的电阻率以及围岩电阻率构建所述层化地层的第三等效地层数值模型。
[0023] 根据本发明的另一方面,提供了一种基于随钻电成像的图像生成装置,包括:
[0024] 计算模块,用于根据测量得到的随钻电成像测量响应值,计算不同测井深度对应的偏心方位;
[0025] 确定模块,用于根据所述测量响应值以及所述不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率;
[0026] 构建模块,用于利用所述不同测井深度对应的偏心方位、偏心距以及地层电阻率,构建井眼偏心环境下的第一等效地层数值模型;以及构建与所述第一等效地层数值模型对
应的无井眼偏心环境下的第二等效地层数值模型;
[0027] 偏心校正模块,用于针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的所述第二等效地层数值模型的第二模拟响应值与所述第一等效地层数
值模型的第一模拟响应值的比值作为偏心校正系数;以及利用所述偏心校正系数对所述测
量响应值进行校正,以获得偏心校正响应值;
[0028] 图像生成模块,用于基于所述偏心校正响应值生成随钻电成像图像。
[0029] 在一种可选的实施方式中,所述确定模块进一步用于:预先构建偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版;所述解释图版中包含有多个偏心距、多个地层电阻率条件下
对应的偏心方位的模拟响应值;利用每个测井深度对应的偏心方位,分别查找所述解释图
版,以确定出每个测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。
[0030] 在一种可选的实施方式中,所述确定模块进一步用于:构建动态参数地层数值模拟模型;
[0031] 分别将偏心距、地层电阻率作为模型动态参数,通过模型动态参数变化获得偏心距‑地层电阻率多种取值组合下的模型集,对所述模型集进行数值模拟,以获得多个偏心
距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值;
[0032] 根据所述多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值,绘制偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版。
[0033] 在一种可选的实施方式中,所述装置还包括:异常点修正模块,用于在所述计算不同测井深度对应的偏心方位之后,对所述不同测井深度对应的偏心方位进行异常点修正。
[0034] 在一种可选的实施方式中,所述装置还包括:聚焦校正模块,用于在所述获得偏心校正响应值之后,对所述偏心校正响应值进行聚焦处理,以获得聚焦校正响应值;
[0035] 则所述图像生成模块进一步用于:基于所述聚焦校正响应值生成随钻电成像图像。
[0036] 在一种可选的实施方式中,所述聚焦校正模块进一步用于:构建层化地层的第三等效地层数值模型以及对应的均匀无限厚的第四等效地层数值模型;
[0037] 针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的所述第四等效地层数值模型的第四模拟响应值与所述第三等效地层数值模型的第三模拟响
应值的比值作为聚焦校正系数;
[0038] 利用所述聚焦校正系数对所述偏心校正响应值进行聚焦校正,以获得聚焦校正响应值。
[0039] 在一种可选的实施方式中,所述聚焦校正模块进一步用于:识别电阻率分层界面,并根据所述电阻率分层界面确定各个分层;
[0040] 计算各个分层的电阻率以及围岩电阻率,根据所述各个分层的电阻率以及围岩电阻率构建所述层化地层的第三等效地层数值模型。
[0041] 根据本发明的又一方面,提供了一种计算设备,包括:处理器、存储器、通信接口和通信总线,所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信;
[0042] 所述存储器用于存放至少一可执行指令,所述可执行指令使所述处理器执行上述基于随钻电成像的图像生成方法对应的操作。
[0043] 根据本发明的再一方面,提供了一种计算机存储介质,所述存储介质中存储有至少一可执行指令,所述可执行指令使处理器执行如上述基于随钻电成像的图像生成方法对
应的操作。
[0044] 本发明公开的基于随钻电成像的图像生成方法及装置:根据测量得到的随钻电成像测量响应值,计算不同测井深度对应的偏心方位;确定不同测井深度对应的偏心距以及
地层电阻率;构建井眼偏心环境下的第一等效地层数值模型;以及构建无井眼偏心环境下
的第二等效地层数值模型;将该测井深度中的该井周方位对应的第二等效地层数值模型的
第二模拟响应值与第一等效地层数值模型的第一模拟响应值的比值作为偏心校正系数;利
用偏心校正系数对测量响应值进行校正,获得偏心校正响应值;生成随钻电成像图像。本方
案能够提升随钻电成像图像的分辨率及清晰度,提升基于该随钻电成像图像的地层分析及
应用精度。
[0045] 上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够
更明显易懂,以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

[0046] 通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明
实施例的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
[0047] 图1示出了本发明实施例一提供的一种基于随钻电成像的图像生成方法的流程示意图;
[0048] 图2示出了本发明实施例一提供的一种偏心方位的计算方法的流程示意图;
[0049] 图3示出了本发明实施例一提供的一种测井深度对应的数值对拟合曲线示意图;
[0050] 图4示出了本发明实施例一提供的一种异常点修正方法的流程示意图;
[0051] 图5示出了本发明实施例一提供的一种不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率的确定方法的流程示意图;
[0052] 图6示出了本发明实施例一提供的一种解释图版生成方法的流程示意图;
[0053] 图7示出了本发明实施例一提供的一种不同的偏心距下的模拟响应值变化曲线;
[0054] 图8示出了本发明实施例一提供的一种解释图版的示意图;
[0055] 图9示出了本发明实施例一提供的一种随钻电成像图像的对比示意图;
[0056] 图10示出了本发明实施例二提供的一种基于随钻电成像的图像生成方法的流程示意图;
[0057] 图11示出了本发明实施例二提供的一种聚焦校正响应值生成方法的流程示意图;
[0058] 图12示出了本发明实施例二提供的一种随钻电成像图像的对比示意图;
[0059] 图13示出了本发明实施例三提供的一种基于随钻电成像的图像生成装置的结构示意图;
[0060] 图14示出了本发明实施例五提供的一种计算设备的结构示意图。

具体实施方式

[0061] 下面将参照附图更详细地描述本发明的示例性实施例。虽然附图中显示了本发明的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例
所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本发明,并且能够将本发明的范围
完整的传达给本领域的技术人员。
[0062] 实施例一
[0063] 图1示出了本发明实施例一提供的一种基于随钻电成像的图像生成方法的流程示意图。
[0064] 在随钻电成像测井中,随钻电成像仪器具有广泛应用。随钻电成像仪器采用的是旋转测量的方式。即在每个测井深度,在井周360°方位上测量多个方位的数据。然而,在大
斜度井、水平井等测井环境下,随钻电成像仪器通常会存在一定程度的偏心情况,导致随钻
电成像仪器在同一测井深度处,环井周测量时仪器到井壁间隙不同,使得测量得到的数据
在不同方位上受间隙影响大小不同,从而无法真实反映地层状态,并影响图像精准度及清
晰度。
[0065] 则本发明实施例所提供的基于随钻电成像的图像生成方法通过对随钻电成像仪器测量得到的测量响应值进行偏心校正,来提升最终图像的精准度及清晰度。
[0066] 如图1所示,该方法包括如下步骤:
[0067] 步骤S110,根据测量得到的随钻电成像测量响应值,计算不同测井深度对应的偏心方位。
[0068] 随钻电成像测量响应值是随钻电成像仪器实际测量得到的数据,通过对该测量响应值的分析能够得到不同测井深度对应的偏心方位。
[0069] 在一种可选的实施方式中,具体可采用图2所示方法计算不同测井深度对应的偏心方位。如图2所示,该方法包括如下步骤S111‑步骤S114:
[0070] 步骤S111,根据测量得到的随钻电成像测量响应值,对测量响应值进行时深转换。
[0071] 随钻电成像仪器初始测量得到的数据为时间域数据,为便于后续的数据处理,本步骤将该时间域数据进行时深转换,以将该时间域数据转换为深度域数据。则后续的处理
步骤以时深转换后的深度域数据为基础进行处理。
[0072] 对测量响应值进行时深转换得到的深度域数据具体为以测井深度为索引的井周360°测量响应值,即通过时深转换能够获得不同测井深度处井周各个方位角度所对应的测
量响应值。其中,在一些随钻电成像仪器中,该测量响应值具体为电流模值响应。
[0073] 步骤S112,针对于任一测井深度,构建该测井深度对应的方位角与测量响应值的数值对。
[0074] 每个测井深度对应于多个方位角,每个方位角均具有相应的测量响应值。则将每个方位角与对应的测量响应值构成一个数值对,则每个测井深度可以对应于多个数值对,
该数值对的个数与划分的方位角的个数一致。
[0075] 例如,时深转换后生成了120列测量响应值,将该120列测量响应值按低边展开,第一列测量响应值对应井周方位角0°,第二列数据对应井周方位角3°,……,依次类推,第120
列数据对应井周方位角357°,以井周方位角作为自变量X:
[0076] X=(x1,x2,x3……,x119,x120)=(0,3,6……,354,357)(公式1)
[0077] 以测量响应值作为因变量Y:
[0078] Y=(y1,y2,y3……,y119,y120)(公式2)
[0079] 则数值对为(xi,yi),i=1,2……120,即每个测井深度对应于120个数值对。
[0080] 步骤S113,对任一测井深度对应的数值对进行拟合,以识别该测井深度对应的极值。
[0081] 采用相应的拟合方式对每个测井深度对应的多个数值对进行拟合,从而获得每个测井深度对应的数值对拟合曲线,并识别该曲线中的极大值或极小值。
[0082] 在一种可选的实施方式中,本发明实施例采用非线性拟合算法中的高斯拟合算法进行拟合。例如,可以采用如下公式3进行拟合。
[0083] (公式3)
[0084] 公式3中,μ为数值对的均值,σ为数值对的标准差。
[0085] 图3示出了本发明实施例一提供的一种测井深度对应的数值对拟合曲线示意图。图3中各个散点对应于各个数值对,该散点横坐标为井周方位角(对应图3中的井周方位),
纵坐标为测量响应值(对应图3中的电流模值响应)。图3中的曲线为各散点的拟合曲线。该
拟合曲线的极值即为该测井深度对应的极值。
[0086] 步骤S114,根据任一测井深度对应的极值的方位角度,确定该测井深度的偏心方位。
[0087] 具体地,测井深度对应的极大值的方位角的反方向为该测井深度的偏心方位;或者,测井深度对应的极小值的方位角为该测井深度的偏心方位。
[0088] 此外,在一种可选的实施方式中,为便于后续的数据处理,需对确定的偏心方位进行标准化处理。具体地,在确定偏心方位之后,识别该偏心方位的方位编号,该方位编号即
为偏心方位编号。其中,每个偏心方位编号对应于一个划分的方位角。
[0089] 以上述第一列测量响应值对应井周方位角0°,第二列数据对应井周方位角3°,……,依次类推,第120列数据对应井周方位角357°为例,各个测井深度对应的偏心方位
编号与偏心方位关系如公式4所示:
[0090] Azii=EccNi*3°,i=1,2,3……M                                     (公式4)
[0091] 公式4中,EccNi表示第i个测井深度对应的偏心方位编号,Azii表示第i个测井深度对应的偏心方位,i为测井深度编号,M为测井深度总数目。
[0092] 作为本发明实施例一种可选的实施方式,在步骤S110计算不同测井深度对应的偏心方位之后,为了提升后续数据的处理精度,本发明实施例进一步包括:对计算获得的偏心
方位进行异常点修正。其中,异常点修正的具体实施过程可参照图4所示步骤S115‑S118:
[0093] 步骤S115,计算每个测井深度单位对应的偏心方位均值。
[0094] 为便于提升数据处理效率,本发明实施例将整个井深划分为多个测井深度单位,该测井深度单位可以为1米等等。继而计算出每个测井深度单位对应的偏心方位均值。例
如,可以通过如下公式5获得各个测井深度单位对应的偏心方位均值。
[0095] (公式5)
[0096] 公式5中,L表示每个测井深度单位内包含的测量深度的个数,Aziji表示第j个测井深度单位的第i个测量深度对应的偏心方位,n表示测井深度单位的个数,Фj表示第j个测
井深度单位的偏心方位均值。
[0097] 步骤S116,根据每个测井深度单位对应的偏心方位均值,划分窗长。
[0098] 具体地,为进一步减少后续数据处理量,提升本方法的执行效率以及降低异常点的误判率,在计算每个测井深度单位对应的偏心方位均值之后,进一步基于每个测井深度
单位对应的偏心方位均值,采用相应的聚合算法对测井深度单位进行聚合,根据聚合结果
生成对应的窗长。其中,每个聚合簇对应于一个窗长,一个窗长对应于一个或多个测井深度
单位。
[0099] 例如,可以计算相邻的测井深度单位的偏心方位均值的差值,若该差值小于预设角度阈值(如5°等),则将相邻的测井深度单位合并。
[0100] 步骤S117,获取每个窗长对应的偏心方位随测井深度的变化曲线,将变化曲线中的跳变点作为该窗长内的异常点。
[0101] 在不存在异常点的情况下,每个窗长对应的偏心方位随测井深度的变化曲线连续,并且每个窗长内各个测井深度对应的偏心方位应当处于一定范围内。基于此,本发明实
施例将变化曲线中的跳变点作为该窗长内的异常点。例如,针对于任一窗长,若某测井深度
的偏心方位大于该窗长内所有测井深度的偏心方位均值的二倍,或者若某测井深度的偏心
方位小于该窗长内所有测井深度的偏心方位均值的一半,则将该测井深度对应的点作为异
常点。
[0102] 步骤S118,对异常点进行修正。
[0103] 在一种可选的修正方式中,可以利用异常点相邻的正常点对应的偏心方位对该异常点进行修正。例如,可以采用如下公式6进行异常点的修正:
[0104] (公式6)
[0105] 公式6中,MDc为异常点C对应的测井深度,MDA、MDB分别指邻近异常值C前后的正常点A、B对应的测井深度,AziA、AziB分别表示正常点A、B对应的偏心方位,Azic表示修正后的
异常点C的偏心方位。
[0106] 此外,为进一步简化后续操作,消除统计误差,提升本方法的数据处理精度。本发明实施例还可以针对于各个窗长内偏心方位随测井深度变化的偏心方位曲线进行曲线滤
波。例如,可以采用五点均值滤波算法进行滤波处理等等。继而后续基于滤波处理后的偏心
方位进行数据处理。其中,五点均值滤波算法具体可参见公式7。
[0107] (公式7)
[0108] 公式7中,Azij为滤波前窗长内第j个测井深度对应的偏心方位, 为滤波后窗长内第j个测井深度对应的偏心方位。
[0109] 步骤S120,根据测量响应值以及不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。
[0110] 采用数值模拟算法模拟出偏心距、地层电阻率、偏心方位以及响应值的映射关系,继而基于该映射关系以及不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距
以及地层电阻率。
[0111] 在一种可选的实施方式中,可以采用图5所示方法来确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。如图5所示,该方法包括如下步骤S121‑步骤S122。
[0112] 步骤S121,预先构建偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版;解释图版中包含有多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的偏心方位的模拟响应值。
[0113] 具体可采用图6所示步骤S1211‑步骤S1213获得解释图版:
[0114] S1211,构建动态参数地层数值模拟模型。
[0115] 该动态参数地层数值模拟模型中的偏心距参数以及地层电阻率参数可以动态变化。地层数值模拟模型具体为均匀无限厚地层模型,采用的模拟算法可以为有限元素法等
等。具体地,根据随钻电成像仪器结构以及工作原理,采用有限元素法构建该动态参数地层
数值模拟模型。
[0116] 根据随钻电成像仪器工作原理,构建磁场波动方程,获取激励源在空间中的电磁响应情况,具体如下,先将麦克斯韦方程组写成包含磁荷和磁流的广义形式:
[0117]      (公式8)
[0118]    (公式9)
[0119]  (公式10)
[0120]    (公式11)
[0121] 公式8、9、10及11中,▽表示旋度算符,E表示电场强度,r表示位移变量,t表示时间变量,B表示磁感应强度,H表示磁场强度,M表示磁流密度,ρm表示磁荷密度,D表示电位移,J
表示电流密度,ρ表示总电荷密度。
[0122] 继而利用广义形式的麦克斯韦方程组的对称性进行替换,其中的场量应理解为两类源产生的场的叠加:电荷和电流称为电性源,磁荷和磁流称为磁性源。
[0123] 则替换关系如公式12所示:
[0124]     (公式12)
[0125] 则将上述公式8‑11转换成复数形式,得到如下公式13‑16:
[0126]  (公式13)
[0127]  (公式14)
[0128]   (公式15)
[0129]    (公式16)
[0130] 公式13、14、15及16中,H为辅助磁场,w为电磁波频率,μ为磁导率,ε为介电常数,i为虚数单位。
[0131] 在无源的特殊情况下,替换关系只需令符合公式17即可,该替换关系通常称为对偶性原理:   (公式17)
[0132] 基于麦克斯韦方程组,可得到关于磁场H的波动方程,见公式18,并利用矢量边有限元素法求取磁场的波动方程,求解得到H:
[0133]   (公式18)
[0134] 由矢量边有限元方法求解得到空间各元素棱边上的磁场H,运用安培环路定律可以求解流出测量电极表面的电流大小I,该电流I可以反映地层电阻率参数信息,I的求解方
式如下公式19所示:
[0135]    (公式19)
[0136] 公式19中,H为空间各元素棱边的磁场强度, 为流出电极表面的电流值,dl为磁场积分路径微元。
[0137] 地层视电阻率信息定义为公式20:
[0138] Ra=K/I   (公式20)
[0139] 公式20中,Ra表示视电阻率,K为刻度系数,I为电极电流。
[0140] 步骤S1212,分别将偏心距、地层电阻率作为模型动态参数,通过模型动态参数变化获得偏心距‑地层电阻率多种取值组合下的模型集,对模型集进行数值模拟,以获得多个
偏心距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值。
[0141] 为简化解释图版的构建过程,可以预先获取常用测井的井径、泥浆电阻率以及仪器半径。并在后续模型的模拟过程中保持井径、泥浆电阻率以及仪器半径固定,从而后续获
得的是指定井径以及指定泥浆电阻率下的偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版。
在此应当理解的是,本领域技术人员可以根据实际需求构建不同指定井径和/或不同泥浆
电阻率下的解释图版,以适应不同的测井环境需求。根据确定的井径、泥浆电阻率以及仪器
半径可以通过如下公式21确定动态参数地层数值模拟模型对应的最大偏心距。
[0142] ECCmax=(R‑r)/2(公式21)
[0143] 公式21中,ECCmax表示最大偏心距,R表示井径,r表示仪器半径。
[0144] 进一步设置偏心距参数的取值处于0 ECCmax,地层电阻率取值范围从仪器测量电~
阻率0.1倍 100倍变化。
~
[0145] 如图7所示,图7分别示出了在偏心距Ecc为0in及0.7in下的井周方位所对应的模拟响应值(对应图7中的电流模值响应)。
[0146] 步骤S1213,根据多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值,绘制偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版。
[0147] 本发明实施例对具体的解释图版绘制方式不作限定。例如,为提升查找速率,可以根据不同的偏心距以及不同的地层电阻率对应的模拟响应值,确定偏心方位,继而将与偏
心方位相差180°对应的模拟响应值作为自变量,将偏心方位相差180°对应的模拟响应值与
偏心方位对应的模拟响应值的商作为因变量,偏心距参数的取值处于0 ECCmax,地层电阻
~
率取值范围从仪器测量电阻率0.1倍 100倍变化,绘制偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据
~
的解释图版。
[0148] 如图8所示的解释图版,设置工作频率200KHz,固定井径8.5in,泥浆电阻率0.08Ω·m不变,将与偏心方位相差180°对应的模拟响应值(对应图8中的电流模值响应Max)作
为自变量,将偏心方位相差180°对应的模拟响应值与偏心方位对应的模拟响应值的商(对
应图8中的电流模值响应Max/Min)作为因变量,偏心距Ecc分别取0in、0.4in、0.6in、0.7in、 
0.8in,地层电阻率rt分别取0.1、0.2、0.5、1、2、5、10、20、50、100、200、500、1000、2000、
5000、10000。
[0149] 步骤S122,利用每个测井深度对应的偏心方位,分别查找解释图版,以确定出每个测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。
[0150] 每个测井深度对应于一个偏心方位,根据偏心方位以及该深度处的测井响应数据,通过查找解释图版,能够准确地确定出各个测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。
[0151] 步骤S130,利用不同测井深度对应的偏心方位、偏心距以及地层电阻率,构建井眼偏心环境下的第一等效地层数值模型;以及构建与第一等效地层数值模型对应的无井眼偏
心环境下的第二等效地层数值模型。
[0152] 第一等效地层数值模型用于模拟存在井眼偏心的情况下当前测量的井段地层。其模型参数为上述步骤S110获得的不同测井深度对应的偏心方位及测井响应数据,以及上述
步骤S120获得的不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。以及还包括井径、泥浆电阻
率参数。即本发明实施例是结合井径、泥浆电阻率参数构建井眼偏心环境下的第一等效地
层数值模型。
[0153] 第二等效地层数值模型用于模拟不存在井眼偏心的情况下当前测量的井段地层。相较于第一等效地层数值模型,第二等效地层数值模型在同样的地层电阻率条件下,不考
虑井径、泥浆(即泥浆电阻率等于地层电阻率)、偏心距(ECC=0in)、偏心方位(Azi=0)的影
响。
[0154] 具体可通过上述参数,通过相应的模型构建方法来构建上述模型。
[0155] 步骤S140,针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的第二等效地层数值模型的第二模拟响应值与第一等效地层数值模型的第一模拟
响应值的比值作为偏心校正系数。
[0156] 针对于任一测井深度的任一井周方位,第一等效地层数值模型会输出相应的第一模拟响应值,第二等效地层数值模型会输出相应的第二模拟响应值,则将该第二模拟响应
值与第一模拟响应值的比值作为该测井深度的该井周方位的偏心校正系数。
[0157] 具体地,可以采用如下公式22计算偏心校正系数:
[0158] Cori=RACi/RAi(公式22)
[0159] 公式22中,Cori表示测井深度P下i井周方位的偏心校正系数,RACi表示测井深度P下i井周方位的第二模拟响应值,RAi表示测井深度P下i井周方位的第一模拟响应值。
[0160] 步骤S150,利用偏心校正系数对测量响应值进行校正,以获得偏心校正响应值。
[0161] 具体地,针对于每个测井深度下的各个井周方位,根据该测井深度下该井周方位的偏心校正系数对该测井深度下该井周方位的测量响应值进行校正,例如可以将偏心校正
系数与测量响应值的乘积作为该测井深度下该井周方位的偏心校正响应值。
[0162] 具体地,固定测井深度,读取该测井深度下各个井周方位的测量响应值,对该测井深度下的测量响应值进行校正,得到该测井深度下的偏心校正响应值;继而采用相应的方
法对下一测井深度各个井周方位的测量相应值进行校正,直至所有测量响应值校正完毕后
结束。
[0163] 步骤S160,基于偏心校正响应值生成随钻电成像图像。
[0164] 如图9所示,图像A为采用现有技术获得的静态图像,图像B为采用现有技术获得的动态图像,图像C为与图像A相同条件下采用本发明实施例方法获得的静态图像,图像D为与
图像B相同条件下采用本发明实施例方法获得的动态图像。从图中可以看出,图像C相较于
图像A,以及图像D相较于图像B,图像清晰度高。
[0165] 由此可见,本发明实施例在获得测量响应值之后进一步进行井眼偏心校正,基于校正后的数据来生成随钻电成像图像,从而提升随钻电成像图像的分辨率及清晰度,提升
基于该随钻电成像图像的地层分析及应用精度;而且本发明实施例构建井眼偏心环境下的
第一等效地层数值模型以及第二等效地层数值模型;将该测井深度中的该井周方位对应的
第二等效地层数值模型的第二模拟响应值与第一等效地层数值模型的第一模拟响应值的
比值作为偏心校正系数,从而提升偏心校正精度。
[0166] 实施例二
[0167] 图10示出了本发明实施例二提供的一种基于随钻电成像的图像生成方法的流程示意图。如图10所示,该方法包括如下步骤:
[0168] 步骤S1010,对偏心校正响应值进行聚焦处理,以获得聚焦校正响应值。
[0169] 在获得偏心校正响应值之后,为进一步消除围岩影响,本发明实施例进一步对获得的偏心校正响应值进行聚焦处理,从而获得聚焦校正响应值。
[0170] 在一种可选的实施方式中,可采用图11所示聚焦处理方法获得聚焦校正响应值。如图11所示,聚焦处理方法包括如下步骤S1011‑步骤S1014:
[0171] 步骤S1011,构建层化地层的第三等效地层数值模型。
[0172] 具体先识别电阻率分层界面,并根据电阻率分层界面确定各个分层。获取实施例一中得到的不同测井深度对应的地层电阻率,采用方波化差异算法识别电阻率分层界面。
[0173] 获取实施例一中得到的不同测井深度对应的地层电阻率,并采用阈值分段法进行方波化处理。其中,方波化处理公式可以为如下公式23:
[0174]
[0175] (公式23)
[0176] 公式23中,num为测井深度的个数,m为方波化控制窗长,Rtj为第j个测井深度对应的电阻率值,A0为分段阈值,P为计算得到的分段参考线。
[0177] 从公式23中可以看出,当P(Rtj)值大于A0且为窗长m内极值时,即为方波化处理的边界位置。
[0178] 在获得方波化处理的边界位置之后,相邻两个边界位置会形成一个测井段。针对于任一方波化处理后生成的测井段,将该测井段中心长度的测量值的均值作为该测井段的
测量值。并根据方波化曲线边界来确定电阻率分层界面,继而确定各个分层。
[0179] 进一步计算各个分层的电阻率以及围岩电阻率,根据各个分层的电阻率以及围岩电阻率构建层化地层的第三等效地层数值模型。具体地,设置固定井眼尺寸、偏心距为0in、
偏心方位为0°,以及各个分层的电阻率RTi及围岩电阻率RSi,构建层化地层的第三等效地
层数值模型。
[0180] 步骤S1012,构建第三等效地层数值模型对应的均匀无限厚的第四等效地层数值模型。
[0181] 设置固定井眼尺寸(与第三等效地层数值模型一致)、偏心距为0in、偏心方位为0°,电阻率等于方波化后层内电阻率RT=RTi,围岩电阻率RS= RSi,建立均匀无限厚模型。
[0182] 步骤S1013,针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的第四等效地层数值模型的第四模拟响应值与第三等效地层数值模型的第三模拟
响应值的比值作为聚焦校正系数。
[0183] 具体地,针对于任一测井深度中的任一井周方位的测量点,确定该测量点与电阻率分层界面的位置关系,并利用第三等效地层数值模型模拟该测量点的响应值,该响应值
即为该测井深度中的该井周方位对应的第三等效地层数值模型的第三模拟响应值RABi
(Azi)。
[0184] 相应地,获取将该测井深度中的该井周方位对应的第四等效地层数值模型的第四模拟响应值RA0i。
[0185] 继而通过如下公式24获得任一测井深度中的任一井周方位的聚焦校正系数:
[0186] CorBi(Azi)=RA0i/RABi(Azi) (公式24)
[0187] 公式24中,RA0i表示任一测井深度中的任一井周方位的第四等效地层数值模型的第四模拟响应值,RABi(Azi)为该测井深度中的该井周方位的第三等效地层数值模型的第三
模拟响应值,CorBi(Azi)为该测井深度中的该井周方位的聚焦校正系数,Azi表示井周方位,
其大于或等于0°并且小于或等于360°。
[0188] 步骤S1014,利用聚焦校正系数对偏心校正响应值进行聚焦校正,以获得聚焦校正响应值。
[0189] 任一测井深度中的任一井周方位,会具有对应的聚焦校正系数,则将该测井深度中的该井周方位对应的聚焦系数与该测井深度中的该井周方位的校正响应值的乘积作为
该测井深度中的该井周方位的聚焦校正响应值。具体可通过如下公式25获得聚焦校正响应
值:
[0190] (公式25)
[0191] 公式25中, 表示偏心校正响应值,CorBi表示聚焦校正系数, 表示聚焦校正响应值。
[0192] 此外,为进一步提升校正效果,本发明实施例进一步通过相应的截断条件作为约束。具体地,比较该聚焦校正响应值与界面的两侧受界面影响最小的值对比作为截断条件
进行约束,并将约束后的数据作为约束后的聚焦校正响应值。其中,约束公式参见公式26:
[0193] (公式26)
[0194] 公式26中,RARt(Azi)表示测量点所在分层方波化后的值,RARs(Azi)表示围岩层方波化后的值 表示约束后的聚焦校正响应值。
[0195] 步骤S1020,基于聚焦校正响应值生成随钻电成像图像。
[0196] 若步骤S1010经过约束化处理,则进一步依据约束化后的聚焦校正响应值生成随钻电成像图像。
[0197] 如图12所示,图像A为采用现有技术获得的静态图像,图像B为采用现有技术获得的动态图像,图像C为与图像A相同条件下采用本发明实施例一方法获得的静态图像,图像D
为与图像B相同条件下采用本发明实施例方法一获得的动态图像,图像E为与图像A相同条
件下采用本发明实施例二方法获得的静态图像,图像F为与图像B相同条件下采用本发明实
施例方法二获得的动态图像。从图中可以看出,从图中可以看出,图像E相较于图像A及C,以
及图像F相较于图像B及D,图像清晰度高。
[0198] 由此可见,本发明实施例在偏心校正的基础上,进一步地对偏心校正响应值进行聚焦处理,从而消除围岩影响,进一步实现对随钻电成像图像的图像增强处理,提升随钻电
成像图像的清晰度及分辨率。
[0199] 实施例三
[0200] 图13示出了本发明实施例三提供的一种基于随钻电成像的图像生成装置的结构示意图。
[0201] 如图13所示,该装置1300包括: 计算模块1310、确定模块1320、构建模块1330、偏心校正模块1340、以及图像生成模块1350。
[0202] 计算模块1310,用于根据测量得到的随钻电成像测量响应值,计算不同测井深度对应的偏心方位;
[0203] 确定模块1320,用于根据所述测量响应值以及所述不同测井深度对应的偏心方位,确定不同测井深度对应的偏心距以及地层电阻率;
[0204] 构建模块1330,用于利用所述不同测井深度对应的偏心方位、偏心距以及地层电阻率,构建井眼偏心环境下的第一等效地层数值模型;以及构建与所述第一等效地层数值
模型对应的无井眼偏心环境下的第二等效地层数值模型;
[0205] 偏心校正模块1340,用于针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的所述第二等效地层数值模型的第二模拟响应值与所述第一等效地
层数值模型的第一模拟响应值的比值作为偏心校正系数;以及利用所述偏心校正系数对所
述测量响应值进行校正,以获得偏心校正响应值;
[0206] 图像生成模块1350,用于基于所述偏心校正响应值生成随钻电成像图像。
[0207] 在一种可选的实施方式中,确定模块1320进一步用于:
[0208] 预先构建偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版;所述解释图版中包含有多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的偏心方位的模拟响应值;
[0209] 利用每个测井深度对应的偏心方位,分别查找所述解释图版,以确定出每个测井深度对应的偏心距以及地层电阻率。
[0210] 在一种可选的实施方式中,确定模块1320进一步用于:构建动态参数地层数值模拟模型;
[0211] 分别将偏心距、地层电阻率作为模型动态参数,通过模型动态参数变化获得偏心距‑地层电阻率多种取值组合下的模型集,对所述模型集进行数值模拟,以获得多个偏心
距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值;
[0212] 根据所述多个偏心距、多个地层电阻率条件下对应的模拟响应值,绘制偏心距‑地层电阻率‑模拟响应数据的解释图版。
[0213] 在一种可选的实施方式中,装置1300还包括:异常点修正模块(图中未示出),用于在所述计算不同测井深度对应的偏心方位之后,对所述不同测井深度对应的偏心方位进行
异常点修正。
[0214] 在一种可选的实施方式中,装置1300还包括:聚焦校正模块(图中未示出),用于在所述获得偏心校正响应值之后,对所述偏心校正响应值进行聚焦处理,以获得聚焦校正响
应值;
[0215] 则图像生成模块1350进一步用于:基于所述聚焦校正响应值生成随钻电成像图像。
[0216] 在一种可选的实施方式中,所述聚焦校正模块进一步用于:构建层化地层的第三等效地层数值模型以及对应的均匀无限厚的第四等效地层数值模型;
[0217] 针对于任一测井深度中的任一井周方位,将该测井深度中的该井周方位对应的所述第四等效地层数值模型的第四模拟响应值与所述第三等效地层数值模型的第三模拟响
应值的比值作为聚焦校正系数;
[0218] 利用所述聚焦校正系数对所述偏心校正响应值进行聚焦校正,以获得聚焦校正响应值。
[0219] 在一种可选的实施方式中,所述聚焦校正模块进一步用于:识别电阻率分层界面,并根据所述电阻率分层界面确定各个分层;
[0220] 计算各个分层的电阻率以及围岩电阻率,根据所述各个分层的电阻率以及围岩电阻率构建所述第三等效地层数值模型。
[0221] 由此可见,本装置能够提升随钻电成像图像的分辨率及清晰度,提升基于该随钻电成像图像的地层分析及应用精度。
[0222] 实施例四
[0223] 本发明实施例四提供了一种非易失性计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有至少一可执行指令,该计算机可执行指令可执行上述任意方法实施例中的基于随钻电成
像的图像生成方法。
[0224] 实施例五
[0225] 图14示出了本发明实施例五提供的一种计算设备的结构示意图。本发明具体实施例并不对计算设备的具体实现做限定。
[0226] 如图14所示,该计算设备可以包括:处理器(processor)1402、通信接口(Communications Interface)1404、存储器(memory)1406、以及通信总线1408。
[0227] 其中:处理器1402、通信接口1404、以及存储器1406通过通信总线1408完成相互间的通信。通信接口1404,用于与其它设备比如客户端或其它服务器等的网元通信。处理器
1402,用于执行程序1410,具体可以执行上述用于基于随钻电成像的图像生成方法实施例
中的相关步骤。
[0228] 具体地,程序1410可以包括程序代码,该程序代码包括计算机操作指令。
[0229] 处理器1402可能是中央处理器CPU,或者是特定集成电路ASIC(Application Specific Integrated Circuit),或者是被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电
路。计算设备包括的一个或多个处理器,可以是同一类型的处理器,如一个或多个CPU;也可
以是不同类型的处理器,如一个或多个CPU以及一个或多个ASIC。
[0230] 存储器1406,用于存放程序1410。存储器1406可能包含高速RAM存储器,也可能还包括非易失性存储器(non‑volatile memory),例如至少一个磁盘存储器。程序1410具体可
以用于使得处理器1402执行上述任一方法实施例中的操作。
[0231] 在此提供的算法或显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述,构造这类系统所要求
的结构是显而易见的。此外,本发明实施例也不针对任何特定编程语言。应当明白,可以利
用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容,并且上面对特定语言所做的描述是为了披
露本发明的最佳实施方式。
[0232] 在此处所提供的说明书中,说明了大量具体细节。然而,能够理解,本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中,并未详细示出公知的方法、结构
和技术,以便不模糊对本说明书的理解。
[0233] 类似地,应当理解,为了精简本发明并帮助理解各个发明方面中的一个或多个,在上面对本发明的示例性实施例的描述中,本发明实施例的各个特征有时被一起分组到单个
实施例、图、或者对其的描述中。然而,并不应将该公开的方法解释成反映如下意图:即所要
求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说,如
下面的权利要求书所反映的那样,发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。
因此,遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式,其中每个权利要
求本身都作为本发明的单独实施例。
[0234] 本领域那些技术人员可以理解,可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单
元或组件组合成一个模块或单元或组件,以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或
子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外,可以采用任何
组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任
何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述,本说明书(包括伴随的权
利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代
替。
[0235] 此外,本领域的技术人员能够理解,尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征,但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围
之内并且形成不同的实施例。例如,在下面的权利要求书中,所要求保护的实施例的任意之
一都可以以任意的组合方式来使用。
[0236] 本发明的各个部件实施例可以以硬件实现,或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现,或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解,可以在实践中使用
微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的一些或者全部部件的一些
或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备
或者装置程序(例如,计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储
在计算机可读介质上,或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网
网站上下载得到,或者在载体信号上提供,或者以任何其他形式提供。
[0237] 应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制,并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中,
不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未
列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的
元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实
现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项
来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名
称。上述实施例中的步骤,除有特殊说明外,不应理解为对执行顺序的限定。