本申请公开了孔位测量方法及其测量装置，该孔位测量方法用于测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度，方法包括：在工件的实际定位状态下，测量工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0；以A孔圆心C1为基准点，测量工件的实际定位状态相对于理想定位状态的B孔圆心C2的旋转偏移量，根据旋转偏移量计算水平误差Xe和竖直误差Ye；利用水平距离X0与水平误差Xe求和以获得工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的横向距离X，利用竖直距离Y0与竖直误差Ye求和以获得工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的纵向距离Y。
1.孔位测量方法，该孔位测量方法用于测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度，其特征在于，所述方法包括：
在所述工件的实际定位状态下，测量所述工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0；
以A孔圆心C1为基准点，测量所述工件的实际定位状态相对于理想定位状态的所述B孔圆心C2的旋转偏移量，根据所述旋转偏移量计算水平误差Xe和竖直误差Ye，所述水平误差Xe是实际定位状态下的工件相比于理想定位状态下的工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平方向距离的测量误差，所述竖直误差Ye是实际定位状态下的工件相比于理想定位状态下的工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的重力方向距离的测量误差；
其中：如所述B孔圆心C2逆时针旋转，则所述水平误差Xe为正值，所述竖直误差Ye为负值；如所述B孔圆心C2顺时针旋转，则所述水平误差Xe为负值，所述竖直误差Ye为正值；
利用所述水平距离X0与所述水平误差Xe求和以获得所述工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的横向距离X，利用所述竖直距离Y0与所述竖直误差Ye求和以获得所述工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的纵向距离Y；
所述旋转偏移量包括：以所述A孔圆心C1为圆心的所述B孔圆心C2的旋转角度θ0；和以所述A孔圆心C1为圆心且以A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的中心距R1为半径的所述B孔圆心C2的第一弧长L1；以及所述理想定位状态与所述实际定位状态下的所述B孔圆心C2的偏移距离L，该偏移距离L约等于所述第一弧长L1；
所述旋转偏移量的测量步骤包括：在所述工件上的所述A孔和B孔以外的位置选取第九点位O9和第十点位O10，测量所述工件的实际定位状态相对于所述理想定位状态在以A孔圆心C1为基准点的情况下的所述第九点位O9和第十点位O10的偏移距离L’，该偏移距离L’约等于以所述第九点位O9和第十点位O10的测量间距D1为半径旋转所述旋转角度θ0的第二弧长L2，通过所述测量间距D1、第二弧长L2和中心距R1计算所述第一弧长L1。
2.根据权利要求1所述的孔位测量方法，其特征在于，所述测量步骤包括测量所述A孔和B孔的内表面的多个点位；
所述A孔中的点位至少包括水平方向上远离所述B孔的第一点位O1和靠近所述B孔的第二点位O2，所述B孔中的点位至少包括水平方向上靠近所述A孔的第五点位O5和远离所述A孔的第六点位O6，根据上述点位的测量值计算获得所述水平距离X0；和/或所述A孔中的点位至少包括竖直方向上靠近所述B孔的第三点位O3和远离所述B孔的第四点位O4，所述B孔中的点位至少包括竖直方向上远离所述A孔的第七点位O7和靠近所述A孔的第八点位O8，根据上述点位的测量值计算获得所述竖直距离Y0。
3.根据权利要求1所述的孔位测量方法，其特征在于，以所述偏移距离L作为斜边与所述水平误差Xe和竖直误差Ye形成直角三角形，获取所述直角三角形的任意一个锐角θ，计算得出所述水平误差Xe和竖直误差Ye的值。
4.根据权利要求1所述的孔位测量方法，其特征在于，所述测量间距D1大于等于100mm。
5.根据权利要求1所述的孔位测量方法，其特征在于，所述第九点位O9和第十点位O10选取于所述工件的精加工面上。
6.孔位测量装置，其特征在于，该孔位测量装置用于根据如权利要求1所述的孔位测量方法测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度，所述孔位测量装置包括：
相对位置测量机构(100)，该相对位置测量机构(100)用于测量所述工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0；和偏移测量机构(200)，该偏移测量机构(200)用于测量所述工件的实际定位状态相对于理想定位状态在以A孔圆心C1为基准点的情况下的所述B孔圆心C2的旋转偏移量；
所述偏移测量机构(200)包括测量方向相同或相反的第三位置传感器(210)和第四位置传感器(220)，该第三位置传感器(210)的第三测头端(211)和第四位置传感器(220)的第四测头端(221)分别用于测量选取于所述工件的精加工面上的第九点位O9和第十点位O10。
7.根据权利要求6所述的孔位测量装置，其特征在于，
所述相对位置测量机构(100)包括相对位置彼此固定的A孔测头(110)和B孔测头(120)，
所述A孔测头(110)包括多个径向指向所述A孔内壁的第一位置传感器(111)，所述B孔测头(120)包括多个径向指向所述B孔内壁的第二位置传感器(121)，多个所述第一位置传感器(111)在所述A孔中的测量点位至少包括水平方向上远离所述B孔的第一点位O1和靠近所述B孔的第二点位O2，以及竖直方向上靠近所述B孔的第三点位O3和远离所述B孔的第四点位O4；多个所述第二位置传感器(121)在所述B孔中的测量点位至少包括水平方向上靠近所述A孔的第五点位O5和远离所述A孔的第六点位O6，以及竖直方向上远离所述A孔的第七点位O7和靠近所述A孔的第八点位O8。
孔位测量方法及其测量装置
技术领域
[0001] 本申请涉及测量领域，更具体地说，涉及一种用于测量孔结构之间的位置度的孔位测量方法及其测量装置。
背景技术
[0002] 工业生产中对工件的精度要求日益提高，例如针对带有孔结构的工件，其孔位之间的位置度是影响工件使用性能和寿命的重要因素。
[0003] 传统上，位于工件同一侧的两个孔结构之间，通常由孔结构的圆心之间的位置关系来定义位置度。例如图1所示的工件上，包括A孔结构和B孔结构，设A孔圆心与B孔圆心之间的横向距离为X，纵向距离为Y，两孔之间的位置度可表示为 。然而，由于用于工件定位的部件在于工件配合时必然存在配合间隙，或者工件加工过程中也可能存在加工误差，这都有可能导致对工件的定位难以实现理想定位状态，进而使工件在测量过程中出现定位偏移，导致测量误差出现。
[0004] 因此，如何在一定程度上消除工件定位偏移对位置度测量的干扰成为本领域需要解决的技术问题。
发明内容
[0005] 有鉴于此，本申请提出了一种孔位测量方法及其测量装置，以在一定程度上消除工件定位偏移对位置度测量的干扰。
[0006] 根据本申请，提出了一种孔位测量方法，该孔位测量方法用于测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度，所述方法包括：在所述工件的实际定位状态下，测量所述工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0；以A孔圆心C1为基准点，测量所述工件的实际定位状态相对于理想定位状态的所述B孔圆心C2的旋转偏移量，根据所述旋转偏移量计算水平误差Xe和竖直误差Ye，其中：如所述B孔圆心C2逆时针旋转，则所述水平误差Xe为正值，所述竖直误差Ye为负值；如所述B孔圆心C2顺时针旋转，则所述水平误差Xe为负值，所述竖直误差Ye为正值；利用所述水平距离X0与所述水平误差Xe求和以获得所述工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的横向距离X，利用所述竖直距离Y0与所述竖直误差Ye求和以获得所述工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的纵向距离Y。
[0007] 优选地，所述测量步骤包括测量所述A孔和B孔的内表面的多个点位；所述A孔中的点位至少包括水平方向上远离所述B孔的第一点位O1和靠近所述B孔的第二点位O2，所述B孔中的点位至少包括水平方向上靠近所述A孔的第五点位O5和远离所述A孔的第六点位O6，根据上述点位的测量值计算获得所述水平距离X0；和/或所述A孔中的点位至少包括竖直方向上靠近所述B孔的第三点位O3和远离所述B孔的第四点位O4，所述B孔中的点位至少包括竖直方向上远离所述A孔的第七点位O7和靠近所述A孔的第八点位O8，根据上述点位的测量值计算获得所述竖直距离Y0。
[0008] 优选地，所述B孔圆心C2的旋转偏移量包括：以所述A孔圆心C1为圆心的所述B孔圆心C2的旋转角度θ0；和以所述A孔圆心C1为圆心且以A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的中心距R1为半径的所述B孔圆心C2的第一弧长L1。
[0009] 优选地，所述旋转偏移量包括所述理想定位状态与所述实际定位状态下的所述B孔圆心C2的偏移距离L，该偏移距离L约等于所述第一弧长L1。
[0010] 优选地，以所述偏移距离L作为斜边与所述水平误差Xe和竖直误差Ye形成直角三角形，获取所述直角三角形的任意一个锐角θ，计算得出所述水平误差Xe和竖直误差Ye的值。
[0011] 优选地，所述测量步骤包括：在所述工件上的所述A孔和B孔以外的位置选取第九点位O9和第十点位O10，测量所述工件的实际定位状态相对于所述理想定位状态在以A孔圆心C1为基准点的情况下的所述第九点位O9和第十点位O10的偏移距离L’，该偏移距离L’约等于以所述第九点位O9和第十点位O10的测量间距D1为半径旋转所述旋转角度θ0的第二弧长L2，通过所述测量间距D1、第二弧长L2和中心距R1计算所述第一弧长L1。
[0012] 优选地，所述测量间距D1大于等于100mm。
[0013] 优选地，所述第九点位O9和第十点位O10选取于所述工件的精加工面上。
[0014] 根据上述测量方法，本申请还提供了一种孔位测量装置，该孔位测量装置用于测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度，其中，所述孔位测量装置包括：相对位置测量机构，该相对位置测量机构用于测量所述工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0；和偏移测量机构，该偏移测量机构用于测量所述工件的实际定位状态相对于所述理想定位状态在以A孔圆心C1为基准点的情况下的所述B孔圆心C2的旋转偏移量，其中，该旋转偏移量包括：以所述A孔圆心C1为圆心的所述B孔圆心C2的旋转角度θ0；和/或以所述A孔圆心C1为圆心且以A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的中心距R1为半径的所述B孔圆心C2的第一弧长L1。
[0015] 优选地，所述相对位置测量机构包括相对位置彼此固定的A孔测头和B孔测头，所述A孔测头包括多个径向指向所述A孔内壁的第一位置传感器，所述B孔测头包括多个径向指向所述B孔内壁的第二位置传感器，多个所述第一位置传感器在所述A孔中的测量点位至少包括水平方向上远离所述B孔的第一点位O1和靠近所述B孔的第二点位O2，以及竖直方向上靠近所述B孔的第三点位O3和远离所述B孔的第四点位O4；多个所述第二位置传感器在所述B孔中的测量点位至少包括水平方向上靠近所述A孔的第五点位O5和远离所述A孔的第六点位O6，以及竖直方向上远离所述A孔的第七点位O7和靠近所述A孔的第八点位O8。
[0016] 优选地，所述偏移测量机构包括测量方向相同或相反的第三位置传感器和第四位置传感器，该第三位置传感器的第三测头端和第四位置传感器的第四测头端分别用于测量选取于所述工件的精加工面上的第九点位O9和第十点位O10。
[0017] 根据本申请的技术方案，通过测量工件在实际定位状态相比其在理想定位状态下的旋转偏移量，以获取孔位测量过程中的水平误差和竖直误差的数值，从而结合水平距离和竖直距离的测量数值能够得到较为精准的位置度参数，进而通过该孔位测量方法及其测量装置实现了在一定程度上消除工件定位旋转偏移对位置度测量的干扰。
[0018] 本申请的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
[0019] 构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施方式及其说明用于解释本申请。在附图中：
[0020] 图1为理想状态下的孔位测量方法的原理图；
[0021] 图2、图3和图4为根据本申请实施方式的孔位测量方法原理图；
[0022] 图5和图6为孔位测量装置的测量状态示意图。
具体实施方式
[0023] 本申请中涉及的“水平方向”和“竖直方向”等方位词是以附图中所示的方向进行描述的，其中“水平方向”表示图中的横向方向，“竖直方向”表示图中的纵向方向。可以理解的是，上述方位词的描述是为了清楚表示本申请的技术方案而表示的相对位置关系，承载有本申请技术方案的产品的摆放布置方式可不限于本申请图中所示的方位关系，因此上述方位词不对本申请保护范围构成限制。
[0024] 如图1所示，测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度时，需要确定A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的横向距离X和A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的纵向距离Y，这里所述的横向距离X和纵向距离Y是指理想定位状态下的C1和C2之间的水平方向距离和重力方向距离。然而，在实际测量工件的情况下，由于定位间隙的存在，工件定位机构通常难以保证较高的定位精度，这就导致孔位测量结果容易被定位时的工件偏移所影响进而产生测量误差。
[0025] 本申请提供了一种结合误差补偿的孔位测量方法，通过对工件的旋转偏移量的检测，以计算实际定位状态下的工件相比于理想定位状态下的工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平方向距离和重力方向距离的水平误差Xe和竖直误差Ye。根据实际定位状态下的工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0与所述水平误差Xe和竖直误差Ye结合，从而获得较为准确的孔位测量结果。其中，理想定位状态可理解为标准工件在高精度定位情况下的状态，实际定位状态为工件在实际测量过程中的定位状态。
[0026] 下面将参考附图并结合实施方式来详细说明本申请的技术方案。
[0027] 根据本申请的孔位测量方法，该孔位测量方法用于测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度。如图2所示，孔位测量方法包括：在工件的实际定位状态下，测量工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0；以A孔圆心C1为基准点，测量工件的实际定位状态相对于理想定位状态的B孔圆心C2的旋转偏移量，根据旋转偏移量计算水平误差Xe和竖直误差Ye。
[0028] 其中，如B孔圆心C2逆时针旋转（如图2所示），则水平误差Xe为正值，竖直误差Ye为负值；如B孔圆心C2顺时针旋转（图中未示出），则水平误差Xe为负值，竖直误差Ye为正值。利用水平距离X0与水平误差Xe求和以获得工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的横向距离X，利用竖直距离Y0与竖直误差Ye求和以获得工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的纵向距离Y。
[0029] 根据上述孔位测量方法，所述横向距离X=X0+Xe，所述纵向距离Y=Y0+Ye。其中，水平距离X0和竖直距离Y0为测量过程中受到工件定位旋转偏移量影响下的孔位实际测量值，该测量值可通过定位测量A孔和B孔的圆心的坐标位置来获取，或优选情况下，测量步骤包括测量A孔和B孔的内表面的多个点位，通过该多个点位的实际测量值推导所述水平距离X0和竖直距离Y0。
[0030] 具体如图3所示，A孔中的点位至少包括水平方向上远离B孔的第一点位O1和靠近B孔的第二点位O2，B孔中的点位至少包括水平方向上靠近A孔的第五点位O5和远离A孔的第六点位O6。以任一水平位置为零位，设所述第一点位O1的测量值为T1，第二点位O2的测量值为T2，第五点位O5的测量值为T5，第六点位O6的测量值为T6，根据上述点位的测量值计算获得水平距离X0。其中，相对于所述零位，A孔圆心C1的水平距离值为（T1+T2）/2，B孔圆心C2的水平距离值为（T5+T6）/2，因此，A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0为：
[0031] 。
[0032] 另一方面，如图3所示，A孔中的点位至少还可以包括竖直方向上靠近B孔的第三点位O3和远离B孔的第四点位O4，B孔中的点位至少包括竖直方向上远离A孔的第七点位O7和靠近A孔的第八点位O8。以任一竖直位置为零位，设所述第三点位O3的测量值为T3，第四点位O4的测量值为T4，第七点位O7的测量值为T7，第八点位O8的测量值为T8，根据上述点位的测量值计算获得竖直距离Y0。其中，相对于所述零位，A孔圆心C1的竖直距离值为（T3+T4）/2，B孔圆心C2的竖直距离值为（T7+T8）/2，因此，A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的竖直距离Y0为：
[0033] 。
[0034] 可以理解的是，无论上述水平距离X0和竖直距离Y0的计算结果是正值还是负值，均取其绝对值。
[0035] 如图4所示，在本申请的孔位测量方法中，B孔圆心C2的旋转偏移量可以为图像偏移参数，通过固定机位的图像采集装置将实际定位状态下的工件的图像采集至图像分析装置（如计算机），从而与理想定位状态下的工件的图像参数对比，以获取图像偏移参数，进而推导出水平误差Xe和竖直误差Ye。优选情况下，旋转偏移量包括：以A孔圆心C1为圆心的B孔圆心C2的旋转角度θ0；和以A孔圆心C1为圆心且以A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的中心距R1为半径的B孔圆心C2的第一弧长L1。旋转偏移量还可以包括理想定位状态与实际定位状态下的B孔圆心C2的偏移距离L，该偏移距离L约等于第一弧长L1。以偏移距离L作为斜边与水平误差Xe和竖直误差Ye形成直角三角形，获取直角三角形的任意一个锐角θ，计算得出水平误差Xe和竖直误差Ye的值。例如根据如图4所示的锐角θ可根据如下公式计算水平误差Xe和竖直误差Ye：
[0036] Xe=sinθ×L≈sinθ×L1；
[0037] Ye=cosθ×L≈cosθ×L1。
[0038] 设实际定位状态下的所述中心距R1的延伸方向与竖直方向的夹角为α1，与所述偏移距离L的方向夹角为α2，如图4所示，上述锐角θ为：
[0039] θ=α2‑α1。
[0040] 如图4所示，已知理想定位状态下的中心距R1的延伸方向与水平方向的夹角为θ’，实际定位状态下的所述中心距R1的延伸方向与水平方向之间的夹角为（θ0+θ’），因此，上述中心距R1的延伸方向与竖直方向的夹角α1为：
[0041] α1=90°‑(θ0+θ’)。
[0042] 假设理想定位状态下的中心距R1和实际定位状态下的中心距R1相等，在理想定位状态下的中心距R1和实际定位状态下的中心距R1以及偏移距离L所形成的等腰三角形中，锐角θ0为顶角，实际定位状态下的中心距R1的延伸方向与偏移距离L的方向的夹角α2为底角，因此夹角α2为：
[0043] 。
[0044] 进而得出： 。
[0045] 根据偏移距离L约等于第一弧长L1，如图4所示，测量步骤优选包括在工件上的A孔和B孔以外的位置选取第九点位O9和第十点位O10，为获取较为准确的测量参数，第九点位O9和第十点位O10优选选取于工件的精加工面上。其中，测量工件的实际定位状态相对于理想定位状态在以A孔圆心C1为基准点的情况下的第九点位O9和第十点位O10的偏移距离L’，该偏移距离L’约等于以第九点位O9和第十点位O10的测量间距D1为半径旋转角度θ0的第二弧长L2，通过测量间距D1、第二弧长L2和中心距R1计算第一弧长L1。
[0046] 具体地，第九点位O9的测量值为T9，第十点位O10的测量值为T10，因此：
[0047] 偏移距离L’≈第二弧长L2；
[0048] 偏移距离L’=T9‑T10；
[0049] 第二弧长L2≈T9‑T10。
[0050] 由于工件旋转偏移角度与上述以A孔圆心C1为圆心的B孔圆心C2的旋转偏移角度是一致的，均为旋转角度θ0。从而根据弧长计算公式得出：
[0051] L1/R1=L2/D1；
[0052] L1=（L2×R1）÷D1；
[0053] L1≈（(T9‑T10)×R1）÷D1。
[0054] 根据前文已知 ，从而得出：
[0055] ；
[0056] 。
[0057] 根据本申请的技术方案，当旋转角度θ0较大时，可通过常规检测手段观测到或测量该旋转角度θ0的大小，从而根据Xe≈sinθ×L1和Ye≈cosθ×L1求取水平误差Xe和竖直误差Ye的值。
[0058] 为便于观测旋转角度θ0的大小，第九点位O9和第十点位O10的测量间距D1大于等于100mm，该测量间距D1可根据工件的大小来设定，可以为工件在该方向上的长度范围以内的任意间距，在允许的范围内，测量间距D1越大越便于观测或测量其旋转偏移量。
[0059] 而在旋转角度θ0较小时，例如测量间距D1大于等于100mm，且偏移距离L’和第二弧长L2在在200um以内的情况下， 无限接近于0.001， 无限接近于1。因此，根据前文的计算公式得出：
[0060] ；
[0061] 。
[0062] 已知理想定位状态下的中心距R1的延伸方向与水平方向的夹角为θ’，和理想定位状态下的标准工件的横向距离为Xa和纵向距离为Ya，从而得出 ，和 ，进而得出：
[0063] 水平误差 ；
[0064] 竖直误差 。
[0065] 根据本申请优选实施方式的孔位测量方法，通过测量工件在实际定位状态相比其在理想定位状态下的旋转偏移量，以获取孔位测量过程中的水平误差Xe和竖直误差Ye的数值，从而结合水平距离X0和竖直距离Y0的测量数值能够得到较为精准的该工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的横向距离X和纵向距离Y，进而通过该孔位测量方法及其测量装置实现了在一定程度上消除工件定位旋转偏移对位置度测量的干扰。根据该孔位测量方法，本申请还提供了一种孔位测量装置。
[0066] 如图5所示，该孔位测量装置用于测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度，孔位测量装置包括相对位置测量机构100和偏移测量机构200。其中，相对位置测量机构100用于测量工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0；偏移测量机构200用于测量工件的实际定位状态相对于理想定位状态在以A孔圆心C1为基准点的情况下的B孔圆心C2的旋转偏移量，该旋转偏移量可包括：以A孔圆心C1为圆心的B孔圆心C2的旋转角度θ0；和/或以A孔圆心C1为圆心且以A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的中心距R1为半径的B孔圆心C2的第一弧长L1。
[0067] 优选情况下，相对位置测量机构100包括相对位置彼此固定的A孔测头110和B孔测头120，A孔测头110包括多个径向指向A孔内壁的第一位置传感器111，B孔测头120包括多个径向指向B孔内壁的第二位置传感器121。该多个第一位置传感器111在A孔中的测量点位至少包括水平方向上远离B孔的第一点位O1和靠近B孔的第二点位O2，以及竖直方向上靠近B孔的第三点位O3和远离B孔的第四点位O4；多个第二位置传感器121在B孔中的测量点位至少包括水平方向上靠近A孔的第五点位O5和远离A孔的第六点位O6，以及竖直方向上远离A孔的第七点位O7和靠近A孔的第八点位O8。从而通过彼此固定的A孔测头110和B孔测头120能够获取前文所述的测量值（T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7和T8），进而根据水平距离X0的计算公式（ ）和竖直距离Y0的计算公式（ ）得出水平距离X0和竖直距离Y0的值。
[0068] 另一方面，偏移测量机构200优选包括测量方向相同或相反的第三位置传感器210和第四位置传感器220，该第三位置传感器210的第三测头端211和第四位置传感器220的第四测头端221分别用于测量选取于工件的精加工面上的第九点位O9和第十点位O10。所述第三位置传感器210和第四位置传感器220分别获取测量值T9和T10，从而根据水平误差Xe的计算公式（ ）和竖直误差Ye的计算公式（ ）得出水平误差Xe和竖直误差Ye的值。
[0069] 以上详细描述了本申请的优选实施方式，但是，本申请并不限于上述实施方式中的具体细节，在本申请的技术构思范围内，可以对本申请的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本申请的保护范围。
[0070] 另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本申请对各种可能的组合方式不再另行说明。
[0071] 此外，本申请的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本申请的思想，其同样应当视为本发明所公开的内容。
