一种产品元件的测试方法及系统

摘要

本发明公开了一种产品元件的测试方法及系统，其方法包括：获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序，提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位，利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果，根据测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止。在一个测试结构上实现对待测产品元件的多功能测试，提高了测试效率的同时节省了测试成本，同时也降低了由于多个测试结构组合而占用空间的问题，提高了空间使用率。

权利要求

1.一种产品元件的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序；

提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位；

利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果；

根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止；

在获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序之前，所述方法还包括：利用X光检测装置对所述待测产品元件进行光学检测，获取检测结果；

根据所述检测结果确定待测产品元件的内部结构特征；

评估所述待测产品元件的内部结构特征是否存在缺陷，若是，发出待测产品元件异常提醒，否则，确认取待测产品元件检测合格；

根据所述待测产品元件的内部结构特征确定其测试项目，根据所述测试项目生成多个测试需求；

所述根据所述检测结果确定待测产品元件的内部结构特征，包括：根据所述检测结果分别获取待测产品元件的光学图像正视图、侧视图、仰视图和俯视图；

根据所述光学图像正视图和侧视图确定待测产品元件的序列结构特征；

根据所述光学图像仰视图和俯视图确定待测产品元件的位置结构特征；

确定所述位置结构特征随序列结构特征变化对应的特征变化情况；

根据所述特征变化情况确定待测产品元件内各配件之间的相互作用特征；

获取所述待测产品元件的结构参数，根据所述结构参数对待测产品元件的内部结构进行动力学仿真，获取仿真结果；

根据所述仿真结果获得所述待测产品元件的初步结构特征；

根据所述初步结构特征构建待测产品元件的初步特征模型；

生成预设频率的声波信号，将所述声波信号导入到所述初步特征模型中确定声波信号在待测产品元件内部的时延特性变化；

根据所述时延特性变化确定待测产品元件的初步特征模型内部的结构稳定性；

评估所述结构稳定性是否合格，若是，确认所述初步特征模型符合要求，否则，确认所述初步特征模型不符合要求；

当确认所述初步特征模型符合要求时，获取所述初步特征模型的特征密集层；

在所述特征密集层中提取初步特征模型的纹理特征、平滑特征和边缘特征；

利用所述待测产品元件的序列结构特征对所述纹理特征进行调整，利用待测产品元件内各配件之间的相互作用特征对所述纹理特征进行调整以及利用待测产品元件的位置结构特征对所述边缘特征进行调整，获取调整后的特征密集层；

根据调整后的特征密集层获得待测产品元件的目标特征模型；

获取所述目标特征模型的目标结构特征并将其作为待测产品元件的内部结构特征。

2.根据权利要求1所述产品元件的测试方法，其特征在于，所述获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序，包括：获取每个测试需求对应的测试流程；

根据每个测试需求对应的测试流程确定该测试需求的优先级；

根据每个测试需求的优先级对所述多个测试需求进行排序，获取第一排序结果；

根据两两测试需求的关联性对所述第一排序结果进行调整，获的第二排序结果，根据所述第二排序结果确定多个测试需求的测试顺序。

3.根据权利要求1所述产品元件的测试方法，其特征在于，所述提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位，包括：获取所述首个测试需求对应的测试功能属性；

在预设数据库中调取每个预设测试工位的测试属性集；

根据所述测试功能属性对每个预设测试工位的测试属性集进行匹配，获取匹配结果；

根据所述匹配结果确定待测产品元件对应的目标测试工位并通过测试机构的放料装置将所述待测产品元件放置在所述目标测试工位上。

4.根据权利要求1所述产品元件的测试方法，其特征在于，所述测试下压组件包括：下压动力元件、动力传递元件、测试元件、电信号传输元件、测试安装元件、弹性元件和限位元件；

所述转盘组件包括：转盘动力元件、转盘、产品固定座。

5.根据权利要求4所述产品元件的测试方法，其特征在于，利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果，包括：通过所述产品固定座产生相对于待测产品元件向下的力将待测产品元件固定；

利用所述转盘动力元件进行转动将所述待测产品元件运至测试下压组件的下压位；

在所述下压动力元件的作用下生成一向下的力传输至动力传递元件；

所述动力传递元件带动安装在测试安装元件上的测试元件和电信号输送元件以及弹性元件向下运动，通过所述限位元件调节所述测试元件的伸缩长度；

在弹性元件的缓冲作用下，测试元件接触到待测产品元件的第一测试点，将测试信号通过电信号传输元件传输至待测产品元件完成测试，获取所述目标测试结果。

6.根据权利要求4‑5任一所述产品元件的测试方法，其特征在于，根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止，包括：根据每个后续测试需求确定待测产品元件的第二测试点；

根据每个后续测试需求生成测试元件的功能测试信号；

根据所述每个后续测试需求对应的测试元件的功能测试信号重复上述测试对待测产品元件的第二测试点进行测试直到所有测试需求都测试完毕为止；

所述方法还包括：

测试完毕后，在下压动力元件的作用下控制测试下压组件向上移动，同时转盘继续做旋转运动将所述待测产品元件运走。

7.根据权利要求1‑5任一所述产品元件的测试方法，其特征在于，所述多个测试需求包括：导通性测试、电阻值测试和耐压性测试。

说明书

一种产品元件的测试方法及系统

技术领域

[0001] 本发明涉及设备智能测试技术领域，尤其涉及一种新型的测试方法及系统。

背景技术

[0002] 随着科学技术的高速发展，为了满足产品性能、外观等方面的需求，产品元件也趋向于小型化、多功能化、高性能化发展。如BTB连接器,BTB连接器不仅传输能力最强，而且还有着轻薄、高频传输稳定、无需焊接、降噪等特点。从性能上来说，BTB连接器有着超强的耐腐蚀性和优越的耐环境性，既具备了柔性连接的优点，又承担着信号转化功能，作为电子元器件之间连接的桥梁，性能十分优秀,是手机、电脑等精密产品不可缺少的一部分。BTB连接器的pin数和pitch值是选择时的基本依据，可根据需要连接的信号数量来选择pin数，应用在消费电子领域中的BTB连接器，越来越向着小pitch化发展；BTB连接器的电气性能主要体现在四个方面，接触电阻、绝缘电阻、极限电流和抗电强度，然而随之而来的就是对此类产品电阻、耐压、导通等测试和的难题。

[0003] 传统的小型元件耐压导通测试机构，一般是通过运料机构将产品原件运至测试机构，测试机构中测试零件（如：探针）一端与测试工位接触（测试元件一般为绝缘材料），另一端与电信号传输装置（印刷电路板）相连，电信号传输装置连接相关仪器，将电信号转化为数字信号，从而达到对产品元件的耐压或电阻测试的目的，完成第一种测试内容后，再由运料机构将产品元件运至下一站，进行产品导通或者其他功能的的测试。上述方法存在以下问题：若需要对产品元件多个功能进行测试，需要增加不同的测试机构进行测试，极大的影响了产品的测试效率，同时增加了测试成本。

发明内容

[0004] 针对上述所显示出来的问题，本发明提供了一种新型的测试方法及系统用以解决背景技术中提到的若需要对产品元件多个功能进行测试，需要增加不同的测试机构进行测试，极大的影响了产品的测试效率，同时增加了测试成本的问题。

[0005] 一种新型的测试方法，包括以下步骤：

[0006] 获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序；

[0007] 提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位；

[0008] 利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果；

[0009] 根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止。

[0010] 优选的，在获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序之前，所述方法还包括：

[0011] 利用X光检测装置对所述待测产品元件进行光学检测，获取检测结果；

[0012] 根据所述检测结果确定待测产品元件的内部结构特征；

[0013] 评估所述待测产品元件的内部结构特征是否存在缺陷，若是，发出待测产品元件异常提醒，否则，确认取待测产品元件检测合格；

[0014] 根据所述待测产品元件的内部结构特征确定其测试项目，根据所述测试项目生成多个测试需求。

[0015] 优选的，所述获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序，包括：

[0016] 获取每个测试需求对应的测试流程；

[0017] 根据每个测试需求对应的测试流程确定该测试需求的优先级；

[0018] 根据每个测试需求的优先级对所述多个测试需求进行排序，获取第一排序结果；

[0019] 根据两两测试需求的关联性对所述第一排序结果进行调整，获的第二排序结果，根据所述第二排序结果确定多个测试需求的测试顺序。

[0020] 优选的，所述提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位，包括：

[0021] 获取所述首个测试需求对应的测试功能属性；

[0022] 在预设数据库中调取每个预设测试工位的测试属性集；

[0023] 根据所述测试功能属性对每个预设测试工位的测试属性集进行匹配，获取匹配结果；

[0024] 根据所述匹配结果确定待测产品元件对应的目标测试工位并通过测试机构的放料装置将所述待测产品元件放置在所述目标测试工位上。

[0025] 优选的，所述测试下压组件包括：下压动力元件、动力传递元件、测试元件、电信号传输元件、测试安装元件、弹性元件和限位元件；

[0026] 所述转盘组件包括：转盘动力元件、转盘、产品固定座。

[0027] 优选的，利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果，包括：

[0028] 通过所述产品固定座产生相对于待测产品元件向下的力将待测产品元件固定；

[0029] 利用所述转盘动力元件进行转动将所述待测产品元件运至测试下压组件的下压位；

[0030] 在所述下压动力元件的作用下生成一向下的力传输至动力传递元件；

[0031] 所述动力传递元件带动安装在测试安装元件上的测试元件和电信号输送元件以及弹性元件向下运动，通过所述限位元件调节所述测试元件的伸缩长度；

[0032] 在弹性元件的缓冲作用下，测试元件接触到待测产品元件的第一测试点，将测试信号通过电信号传输元件传输至待测产品元件完成测试，获取所述目标测试结果。

[0033] 优选的，根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止，包括：

[0034] 根据每个后续测试需求确定待测产品元件的第二测试点；

[0035] 根据每个后续测试需求生成测试元件的功能测试信号；

[0036] 根据所述每个后续测试需求对应的测试元件的功能测试信号重复上述测试对待测产品元件的第二测试点进行测试直到所有测试需求都测试完毕为止。

[0037] 所述方法还包括：

[0038] 测试完毕后，在下压动力元件的作用下控制测试下压组件向上移动，同时转盘继续做旋转运动将所述待测产品元件运走。

[0039] 优选的，所述多个测试需求包括：导通性测试、电阻值测试和耐压性测试。

[0040] 优选的，所述根据所述检测结果确定待测产品元件的内部结构特征，包括：

[0041] 根据所述检测结果分别获取待测产品元件的光学图像正视图、侧视图、仰视图和俯视图；

[0042] 根据所述光学图像正视图和侧视图确定待测产品元件的序列结构特征；

[0043] 根据所述光学图像仰视图和俯视图确定待测产品元件的位置结构特征；

[0044] 确定所述位置结构特征随序列结构特征变化对应的特征变化情况；

[0045] 根据所述特征变化情况确定待测产品元件内各配件之间的相互作用特征；

[0046] 获取所述待测产品元件的结构参数，根据所述结构参数对待测产品元件的内部结构进行动力学仿真，获取仿真结果；

[0047] 根据所述仿真结果获得所述待测产品元件的初步结构特征；

[0048] 根据所述初步结构特征构建待测产品元件的初步特征模型；

[0049] 生成预设频率的声波信号，将所述声波信号导入到所述初步特征模型中确定声波信号在待测产品元件内部的时延特性变化；

[0050] 根据所述时延特性变化确定待测产品元件的初步特征模型内部的结构稳定性；

[0051] 评估所述结构稳定性是否合格，若是，确认所述初步特征模型符合要求，否则，确认所述初步特征模型不符合要求；

[0052] 当确认所述初步特征模型符合要求时，获取所述初步特征模型的特征密集层；

[0053] 在所述特征密集层中提取初步特征模型的纹理特征、平滑特征和边缘特征；

[0054] 利用所述待测产品元件的序列结构特征对所述纹理特征进行调整，利用待测产品元件内各配件之间的相互作用特征对所述纹理特征进行调整以及利用待测产品元件的位置结构特征对所述边缘特征进行调整，获取调整后的特征密集层；

[0055] 根据调整后的特征密集层获得待测产品元件的目标特征模型；

[0056] 获取所述目标特征模型的目标结构特征并将其作为待测产品元件的内部结构特征。

[0057] 一种新型的测试系统，该系统包括：

[0058] 确定模块，用于获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序；

[0059] 提取模块，用于提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位；

[0060] 测试模块，用于利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果；

[0061] 调整模块，用于根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止。

[0062] 本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

[0063] 下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

[0064] 附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。

[0065] 图1为本发明所提供的一种新型的测试方法的工作流程图；

[0066] 图2为本发明所提供的一种新型的测试方法的另一工作流程图；

[0067] 图3为本发明所提供的一种新型的测试方法的又一工作流程图；

[0068] 图4为本发明所提供的一种新型的测试系统的结构示意图；

[0069] 图5为根据本发明所提供的一种新型的测试方法所制造的测试结构的整体正视图；

[0070] 图6为测试结构中下压测试组件的局部结构示意图；

[0071] 图7为测试结构中下压测试组件的另一局部结构示意图；

[0072] 图8为测试结构中转盘组件的结构示意图；

[0073] 图9为测试结构中转盘组件中转盘的顶部视图。

具体实施方式

[0074] 这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

[0075] 一种新型的测试方法，如图1所示，包括以下步骤：

[0076] 步骤S101、获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序；

[0077] 步骤S102、提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位；

[0078] 步骤S103、利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果；

[0079] 步骤S104、根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止。

[0080] 上述技术方案的工作原理为：获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序，提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位，利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果，根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止。

[0081] 上述技术方案的有益效果为：通过在测试结构上设置多个测试工位可以在一个测试结构上实现对待测产品元件的多功能测试，提高了测试效率的同时节省了测试成本，同时也降低了由于多个测试结构组合而占用空间的问题，提高了空间使用率，解决了现有技术中若需要对产品元件多个功能进行测试，需要增加不同的测试机构进行测试，极大的影响了产品的测试效率，同时增加了测试成本的问题。

[0082] 在一个实施例中，如图2所示，在获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序之前，所述方法还包括：

[0083] 步骤S201、利用X光检测装置对所述待测产品元件进行光学检测，获取检测结果；

[0084] 步骤S202、根据所述检测结果确定待测产品元件的内部结构特征；

[0085] 步骤S203、评估所述待测产品元件的内部结构特征是否存在缺陷，若是，发出待测产品元件异常提醒，否则，确认取待测产品元件检测合格；

[0086] 步骤S204、根据所述待测产品元件的内部结构特征确定其测试项目，根据所述测试项目生成多个测试需求。

[0087] 上述技术方案的有益效果为：通过对待测产品元件进行结构特征检测和缺陷分析可以保证在对其进行测试之前其自身参数的正常情况，避免由于其自身参数异常而导致测试结果也相应异常进而大大地降低了测试效率情况的发生。

[0088] 在一个实施例中，如图3所示，所述获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序，包括：

[0089] 步骤S301、获取每个测试需求对应的测试流程；

[0090] 步骤S302、根据每个测试需求对应的测试流程确定该测试需求的优先级；

[0091] 步骤S303、根据每个测试需求的优先级对所述多个测试需求进行排序，获取第一排序结果；

[0092] 步骤S304、根据两两测试需求的关联性对所述第一排序结果进行调整，获的第二排序结果，根据所述第二排序结果确定多个测试需求的测试顺序。

[0093] 上述技术方案的有益效果为：通过对每个功能测试进行顺序排列可以根据每个功能测试流程的复杂性和与其他功能测试的关联性来综合地进行排序，从而在后续进行检测时避免发生相互影响情况的发生，保证了测试数据的准确性。

[0094] 在一个实施例中，所述提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位，包括：

[0095] 获取所述首个测试需求对应的测试功能属性；

[0096] 在预设数据库中调取每个预设测试工位的测试属性集；

[0097] 根据所述测试功能属性对每个预设测试工位的测试属性集进行匹配，获取匹配结果；

[0098] 根据所述匹配结果确定待测产品元件对应的目标测试工位并通过测试机构的放料装置将所述待测产品元件放置在所述目标测试工位上。

[0099] 上述技术方案的有益效果为：通过根据属性匹配可以更加精准地确定每个测试需求所对应的测试位，进一步地保证了测试效率和测试稳定性。

[0100] 在一个实施例中，所述测试下压组件包括：下压动力元件、动力传递元件、测试元件、电信号传输元件、测试安装元件、弹性元件和限位元件；

[0101] 所述转盘组件包括：转盘动力元件、转盘、产品固定座。

[0102] 上述技术方案的有益效果为：通过设置多个功能元件可以保证测试过程中的稳定性，实现分工明确，进一步地提高了测试效率。

[0103] 在一个实施例中，利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果，包括：

[0104] 通过所述产品固定座产生相对于待测产品元件向下的力将待测产品元件固定；

[0105] 利用所述转盘动力元件进行转动将所述待测产品元件运至测试下压组件的下压位；

[0106] 在所述下压动力元件的作用下生成一向下的力传输至动力传递元件；

[0107] 所述动力传递元件带动安装在测试安装元件上的测试元件和电信号输送元件以及弹性元件向下运动，通过所述限位元件调节所述测试元件的伸缩长度；

[0108] 在弹性元件的缓冲作用下，测试元件接触到待测产品元件的第一测试点，将测试信号通过电信号传输元件传输至待测产品元件完成测试，获取所述目标测试结果。

[0109] 上述技术方案的有益效果为：通过产品下吸和测试下压等方式，避免了传统测试方法待测原件位置偏离以及接触点接触不良的问题，保证了测试元件和测试位的充分、准确接触，进一步地，通过对待测产品元件的测试点进行测试可以实现精准的定位测试，进一步地保证了测试效率和稳定性。

[0110] 在一个实施例中，根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止，包括：

[0111] 根据每个后续测试需求确定待测产品元件的第二测试点；

[0112] 根据每个后续测试需求生成测试元件的功能测试信号；

[0113] 根据所述每个后续测试需求对应的测试元件的功能测试信号重复上述测试对待测产品元件的第二测试点进行测试直到所有测试需求都测试完毕为止。

[0114] 所述方法还包括：

[0115] 测试完毕后，在下压动力元件的作用下控制测试下压组件向上移动，同时转盘继续做旋转运动将所述待测产品元件运走。

[0116] 上述技术方案的有益效果为：通过生成不同的功能测试信号可以有效地区分出每个功能测试的测试结果，提高了工作效率，进一步地，通过将测试完毕后的待测产品元件转移以方便后续产品元件的测试工作，进一步地提高了工作效率。

[0117] 在一个实施例中，所述多个测试需求包括：导通性测试、电阻值测试和耐压性测试。

[0118] 在一个实施例中，所述根据所述检测结果确定待测产品元件的内部结构特征，包括：

[0119] 根据所述检测结果分别获取待测产品元件的光学图像正视图、侧视图、仰视图和俯视图；

[0120] 根据所述光学图像正视图和侧视图确定待测产品元件的序列结构特征；

[0121] 根据所述光学图像仰视图和俯视图确定待测产品元件的位置结构特征；

[0122] 确定所述位置结构特征随序列结构特征变化对应的特征变化情况；

[0123] 根据所述特征变化情况确定待测产品元件内各配件之间的相互作用特征；

[0124] 获取所述待测产品元件的结构参数，根据所述结构参数对待测产品元件的内部结构进行动力学仿真，获取仿真结果；

[0125] 根据所述仿真结果获得所述待测产品元件的初步结构特征；

[0126] 根据所述初步结构特征构建待测产品元件的初步特征模型；

[0127] 生成预设频率的声波信号，将所述声波信号导入到所述初步特征模型中确定声波信号在待测产品元件内部的时延特性变化；

[0128] 根据所述时延特性变化确定待测产品元件的初步特征模型内部的结构稳定性；

[0129] 评估所述结构稳定性是否合格，若是，确认所述初步特征模型符合要求，否则，确认所述初步特征模型不符合要求；

[0130] 当确认所述初步特征模型符合要求时，获取所述初步特征模型的特征密集层；

[0131] 在所述特征密集层中提取初步特征模型的纹理特征、平滑特征和边缘特征；

[0132] 利用所述待测产品元件的序列结构特征对所述纹理特征进行调整，利用待测产品元件内各配件之间的相互作用特征对所述纹理特征进行调整以及利用待测产品元件的位置结构特征对所述边缘特征进行调整，获取调整后的特征密集层；

[0133] 根据调整后的特征密集层获得待测产品元件的目标特征模型；

[0134] 获取所述目标特征模型的目标结构特征并将其作为待测产品元件的内部结构特征。

[0135] 上述技术方案的有益效果为：通过构建待测产品元件的特征模型来获得待测产品元件的内部特征可以通过模型的方式直观地根据待测产品元件的结构参数来获得其内部特征，提高了获取数据的精确度，进一步地，通过利用待测产品元件的序列结构特征和相互作用特征以及位置结构特征对待测产品元件的初始特征模型进行调整可以对其初始特征模型进行打磨和完善，进而使得后续获得的内部结构特征更加精确和实际。

[0136] 本实施例还公开了一种新型的测试系统，如图4所示，该系统包括：

[0137] 确定模块401，用于获取待测产品元件的多个测试需求，根据所述测试需求确定测试顺序；

[0138] 提取模块402，用于提取所述测试顺序中的首个测试需求，根据所述首个测试需求将待测产品元件放置在测试机构的目标测试工位；

[0139] 测试模块403，用于利用所述测试机构的测试下压组件和转盘组件对目标测试工位中的待测产品元件进行首个测试需求对应的功能测试，获取目标测试结果；

[0140] 调整模块404，用于根据所述测试顺序中的后续测试需求调整待测产品元件在测试机构的目标测试工位并重复上述测试直到所有测试需求都测试完毕为止。

[0141] 上述技术方案的工作原理及有益效果在方法权利要求中已经说明，此处不再赘述。

[0142] 在一个实施例中，如图5所示，本实施例公开了一种测试机构用以对产品元件进行不同功能的测试；

[0143] 测试机构分为两大组件：测试下压组件和转盘组件；

[0144] 测试下压组件主要组成部分有：下压动力元件、动力传递元件、测试元件（探针）、电信号传输元件（PCB板）、测试安装元件、弹性元件和限位元件，其结构图如图6和图7所示；

[0145] 转盘组件主要组成部分有：转盘动力元件、转盘和产品固定座，其结构图如图8和图9所示；

[0146] 具体工作流程如下：待测产品元件，通过放料机构放到转盘组件的转盘的其中一个工位上，通过产品固定座产生相对于待测产品元件向下的力（力的产生可通过气体负压下吸或者磁吸等方法）将产品固定，转盘动力元件转动将待测产品元件运至测试下压组件的下压位，在下压动力元件（如电机）的作用下,给动力传递元件一个向下的力，带动安装在测试安装元件上的测试元件（探针）和电信号输送元件以及弹性元件向下运动，在弹性元件的缓冲作用下，测试元件接触到待测元件的测试点，继而将信号通过电信号传输元件，输送至相关检测仪器完成测试。测试完成后，下压组件在下压动力元件的作用下向上移动，同时转盘继续做旋转运动将待测产运走，转盘上的不同工位可检测待测产品元件的不同性能需求。

[0147] 本领域技术用户员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

[0148] 应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。