一种磁共振图像卷褶伪影去除方法、装置、设备及介质

摘要

本申请公开了一种磁共振图像卷褶伪影去除方法、装置、设备及存储介质，涉及图像处理领域。该方法包括：获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除。通过定位像和磁共振图像之间的扫描视野差，确定出由于受检部位超出扫描视野而引起的磁共振图像中的卷褶伪影，从而确定重叠在图像视野内的卷褶部分，利用该部分图像信息进行卷褶伪影的去除，以提高图像质量，在不改变扫描视野的基础上同时还能节约扫描时间，提高成像速度。

权利要求

1.一种磁共振图像卷褶伪影去除方法，其特征在于，包括：

获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；

根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；

根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除；

其中，所述根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除，包括：获取所述卷褶区域的信号量，并根据磁共振图像卷褶规律，确定所述卷褶区域被卷褶到所述磁共振图像上的卷褶伪影区域；

在所述卷褶伪影区域中减去所述卷褶区域的信号量，以得到不存在卷褶伪影的磁共振图像；

其中，所述获取所述卷褶区域的信号量之前，还包括：

根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，从所述磁共振图像中提取出不存在卷褶伪影的第一区域图像，并从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像；

计算所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量，并根据所述信号偏移量调节所述定位像的信号量。

2.根据权利要求1所述的磁共振图像卷褶伪影去除方法，其特征在于，所述根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，从所述磁共振图像中提取出不存在卷褶伪影的第一区域图像，并从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像，包括：确定所述定位像对应的第一扫描视野；所述第一扫描视野包括第一相位视野；

确定所述磁共振图像对应的第二扫描视野；所述第一扫描视野包括第二相位视野；

根据所述第一相位视野和所述第二相位视野，计算所述磁共振图像中不存在卷褶伪影的第一区域图像；

根据所述第一区域图像对应的位置信息和扫描视野，从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像。

3.根据权利要求1所述的磁共振图像卷褶伪影去除方法，其特征在于，所述计算所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量，包括：通过互相关函数计算所述第一区域图像和所述第二区域图像之间的相似性，确定所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量。

4.根据权利要求1至3任一项所述的磁共振图像卷褶伪影去除方法，其特征在于，所述获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像之后，还包括：按照所述磁共振图像的像素值对所述定位像进行像素插值处理，以便处理后定位像的分辨率与所述磁共振图像的分辨率一致。

5.根据权利要求4所述的磁共振图像卷褶伪影去除方法，其特征在于，所述根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域，包括：根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，以及所述定位像与所述磁共振图像之间的像素数差异，在所述定位像中确定出卷褶区域。

6.一种磁共振图像卷褶伪影去除装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；

卷褶区域确定模块，用于根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；

卷褶伪影去除模块，用于根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除；

其中，所述卷褶伪影去除模块，还用于获取所述卷褶区域的信号量，并根据磁共振图像卷褶规律，确定所述卷褶区域被卷褶到所述磁共振图像上的卷褶伪影区域；在所述卷褶伪影区域中减去所述卷褶区域的信号量，以得到不存在卷褶伪影的磁共振图像；

其中，所述磁共振图像卷褶伪影去除装置，还用于在获取所述卷褶区域的信号量之前，根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，从所述磁共振图像中提取出不存在卷褶伪影的第一区域图像，并从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像；计算所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量，并根据所述信号偏移量调节所述定位像的信号量。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器，用于保存计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序，以实现如权利要求1至5任一项所述的磁共振图像卷褶伪影去除方法。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于存储计算机程序；其中计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的磁共振图像卷褶伪影去除方法。

说明书

一种磁共振图像卷褶伪影去除方法、装置、设备及介质

技术领域

[0001] 本发明涉及图像处理领域，特别涉及一种磁共振图像卷褶伪影去除方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

[0002] MRI（Magnetic Resonance Imaging，磁共振成像）图像中每个点的信息，都由频率和相位编码决定，在频率编码或相位编码过程中若出现设定的FOV（扫描视野，Field of View）小于编码方向上实际存在的组织尺寸，将导致图像卷褶伪影的出现，伪影将影响医生对图像的判读、对病变的诊断，因此识别和设法消除/减小这些伪影非常重要。扫描视野或称有效视野，是指扫描前设定的可扫描范围。图像卷褶是指如果检查时的被检查者的受检部位一部分在扫描视野之外，但又在接收线圈灵敏度之内，在相位编码方向或读出方向上，相位移动超出相位周期，扫描视野外的信号频率高于扫描视野内的信号频率，导致扫描视野外的部分影像重叠在视野内的图像上，就会造成图像卷褶，具体表现为视野一侧FOV以外的信号叠加在另一侧的FOV内。

[0003] 现有技术中，针对去除卷褶伪影常用的技术手段有：（1）增大FOV，使得FOV大于受检部位，简单易行，采集时间不会增加；（2）采用预饱和技术，添加预饱和带将相位编码方向上的FOV外组织全部覆盖，但该方法信号不会消除，只会减弱；（3）切换频率与相位编码方向，采用矩形像素技术，将相位编码方向放在组织结构径向较短的方向上，采集时间不变，但是牺牲了空间分辨率；（4）相位编码方向上采用过采样技术，在相位编码方向上将超出FOV的部分进行相位编码，但不将该部位的信息包含至FOV之内，此方法采集时间将会有所增加。可见，在成像FOV限制的情况下，对于出现在相位编码方向的卷褶伪影，无法通过增加FOV的方法解决，虽然这时可以通过在相位编码方向加过采样的方式来解决，这种方式的缺点在于增加了数据采集时间，从而延长了磁共振扫描的整体时间。因此，如何在FOV有限的情况下去除卷褶伪影，并节约扫描时间、提高成像速度是目前亟需解决的问题。

发明内容

[0004] 有鉴于此，本发明的目的在于提供一种磁共振图像卷褶伪影去除方法、装置、设备及介质，能够提高图像质量，并在不改变扫描视野的基础上节约扫描时间，提高成像速度。其具体方案如下：

[0005] 第一方面，本申请公开了一种磁共振图像卷褶伪影去除方法，包括：

[0006] 获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；

[0007] 根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；

[0008] 根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除。

[0009] 可选的，所述根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除，包括：

[0010] 获取所述卷褶区域的信号量，并根据磁共振图像卷褶规律，确定所述卷褶区域被卷褶到所述磁共振图像上的卷褶伪影区域；

[0011] 在所述卷褶伪影区域中减去所述卷褶区域的信号量，以得到不存在卷褶伪影的磁共振图像。

[0012] 可选的，所述获取所述卷褶区域的信号量之前，还包括：

[0013] 根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，从所述磁共振图像中提取出不存在卷褶伪影的第一区域图像，并从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像；

[0014] 计算所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量，并根据所述信号偏移量调节所述定位像的信号量。

[0015] 可选的，所述根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，从所述磁共振图像中提取出不存在卷褶伪影的第一区域图像，并从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像，包括：

[0016] 确定所述定位像对应的第一扫描视野；所述第一扫描视野包括第一相位视野；

[0017] 确定所述磁共振图像对应的第二扫描视野；所述第一扫描视野包括第二相位视野；

[0018] 根据所述第一相位视野和所述第二相位视野，计算所述磁共振图像中不存在卷褶伪影的第一区域图像；

[0019] 根据所述第一区域图像对应的位置信息和扫描视野，从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像。

[0020] 可选的，所述计算所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量，包括：

[0021] 通过互相关函数计算所述第一区域图像和所述第二区域图像之间的相似性，确定所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量。

[0022] 可选的，所述获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像之后，还包括：

[0023] 按照所述磁共振图像的像素值对所述定位像进行像素插值处理，以便处理后定位像的分辨率与所述磁共振图像的分辨率一致。

[0024] 可选的，所述根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域，包括：

[0025] 根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，以及所述定位像与所述磁共振图像之间的像素数差异，在所述定位像中确定出卷褶区域。

[0026] 第二方面，本申请公开了一种磁共振图像卷褶伪影去除装置，包括：

[0027] 图像获取模块，用于获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；

[0028] 卷褶区域确定模块，用于根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；

[0029] 卷褶伪影去除模块，用于根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除。

[0030] 第三方面，本申请公开了一种电子设备，包括：

[0031] 存储器，用于保存计算机程序；

[0032] 处理器，用于执行所述计算机程序，以实现前述的磁共振图像卷褶伪影去除方法。

[0033] 第四方面，本申请公开了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序；其中计算机程序被处理器执行时实现前述的磁共振图像卷褶伪影去除方法。

[0034] 本申请中，获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除。可见，通过定位像和磁共振图像之间的扫描视野差，确定出由于受检部位超出扫描视野而引起的磁共振图像中的卷褶伪影，从而确定重叠在图像视野内的卷褶部分，利用该部分图像信息进行卷褶伪影的去除，以提高图像质量，在不改变扫描视野的基础上同时还能节约扫描时间，提高成像速度。

附图说明

[0035] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

[0036] 图1为本申请提供的一种磁共振图像卷褶伪影去除方法流程图；

[0037] 图2a为本申请提供的一种具体的定位像图片；

[0038] 图2b为本申请提供的一种与图2a对应的磁共振图像；

[0039] 图3a为本申请提供的一种具体的定位像图像区域划分示意图；

[0040] 图3b为本申请提供的一种与图3a对应的卷褶伪影区域定位示意图；

[0041] 图4为本申请提供的一种具体的第一区域图像定位示意图；

[0042] 图5为本申请提供的一种具体的无卷褶伪影的高质量磁共振图像；

[0043] 图6为本申请提供的一种磁共振图像卷褶伪影去除装置结构示意图；

[0044] 图7为本申请提供的一种电子设备结构图。

具体实施方式

[0045] 为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

[0046] 现有技术中，在成像FOV限制的情况下，对于出现在相位编码方向的卷褶伪影，无法通过增加FOV的方法解决，虽然这时可以通过在相位编码方向加过采样的方式来解决，这种方式的缺点在于增加了数据采集时间，从而延长了磁共振扫描的整体时间。针对上述技术问题，本申请提出一种磁共振图像卷褶伪影去除方法，能够提高图像质量，并在不改变扫描视野的基础上节约扫描时间，提高成像速度。

[0047] 本申请实施例公开了一种磁共振图像卷褶伪影去除方法，参见图1所示，该方法可以包括以下步骤：

[0048] 步骤S11：获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像。

[0049] 本实施例中，首先获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像，即对目标扫描部分进行扫描得到定位像，例如图2a所示，并对该目标扫描部位进行扫描得到磁共振图像，例如图2b所示。

[0050] 本实施例中，所述获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像之后，还可以包括：按照所述磁共振图像的像素值对所述定位像进行像素插值处理，以便处理后定位像的分辨率与所述磁共振图像的分辨率一致。即按照磁共振图像的像素值对定位像数据进行数据插值，使定位像分辨率与磁共振图像分辨率一致，以确保两个图像的像素矩阵大小一致，以便后续定位像和磁共振图像的比较。

[0051] 步骤S12：根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域。

[0052] 本实施例中，获取图像后根据两张图像之间的扫描视野差异，即FOV差，计算得到图像卷褶区域，根据定位像得到卷褶区域的人体组织结构，卷褶区域即为被卷褶到磁共振图像上的人体组织结构在定位像上的显示区域。

[0053] 可以理解的是，MRI是多参数成像，临床上常常根据成像的目的而选择合适的参数，成像参数的选择也是影响图像质量的重要因素。卷褶伪影即为与成像参数相关的磁共振图像伪影。由于计算机只能识别带宽以内的频率，超出频带的频率会出现频率混乱，当检查部位大小超出所设置的FOV范围时会产生图像卷褶，磁共振成像根据其自旋在矩阵中从0°—360°进行编码，当检查部位大小超出所设置的FOV范围时，自旋积累超过了360°的相移，即“360°+n°”，此时该FOV外的自旋“360°+n°”就无法与FOV内自旋“n°”区分开来，这样FOV外的自旋“360°+n°”就会出现在FOV内自旋“n°”的位置上，从而导致卷褶现象的发生。

[0054] 具体来说，对于相位编码梯度的每个值，分配特定数量的相位周期以覆盖扫描视野。例如，相位编码方向为从右到左，在相位编码的第一个步骤中，包括视野从右到左的0°和360°之间的相移，物体的超出视野的部分具有小于0°或大于360°的相位；即受检部位超出视野的L（左）部分，若其具有361°到450°的相移，由于在此相位编码步骤中已经在0°至360°的范围内定义了所有有意义的频率，因此将361°的相移分配给1°的空间位置，以此类推，将450°的移位分配给450°‑360°= 90°的空间位置。因此，在成像过程中，受检部位的L侧将“卷褶”并在空间上错误地映射到磁共振图像的相对右侧。同理，受检者超出扫描视野的R侧被类似的过程“卷褶”到磁共振图像的相对L侧。类似的，磁共振图像也会出现上侧区域与下侧区域的卷褶。

[0055] 以图2a为例，根据FOV和像素数判断实际图像的卷褶伪影范围，可将定位像图像分为三部分，如图3a所示，第一部分和第三部分范围为实际图像中被卷褶的部分，第二部分为所得磁共振图像部分，如图3b所示，第三部分被卷褶到第二部分的上半部分，第一部分被卷褶到第二部分的下半部分。

[0056] 磁共振临床应用中，磁共振图像质量和磁共振扫描速度是两项非常重要的指标，本实施例中根据定位像的成像范围大于实际扫描图像的成像范围的特征，利用定位像确定磁共振图像成像区域以外的组织结构，从而确定重叠在图像视野内的组织结构，即卷褶部分，利用该部分图像信息达到去除卷褶伪影的目的，提高图像质量，不需要增大FOV，提高了图像分辨率，同时避免了相位编码方向过采样，节约扫描时间。

[0057] 本实施例中，所述根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域，可以包括：根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，以及所述定位像与所述磁共振图像之间的像素数差异，在所述定位像中确定出卷褶区域。即为了提高卷着区域定位的准确性，在扫描视野差异的基础上还可以结合定位像与磁共振图像之间的像素数差异，来确定定位像中确定出卷褶区域。

[0058] 步骤S13：根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除。

[0059] 本实施例中，确定出卷褶区域后，即可根据卷褶区域的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除，如根据图3a的第一部分和第三部分范区域的数据确定磁共振图像中的卷褶伪影并去除。

[0060] 本实施例中，所述根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除，可以包括：获取所述卷褶区域的信号量，并根据磁共振图像卷褶规律，确定所述卷褶区域被卷褶到所述磁共振图像上的卷褶伪影区域；在所述卷褶伪影区域中减去所述卷褶区域的信号量，以得到不存在卷褶伪影的磁共振图像。即具体通过在卷褶伪影区域中减去卷褶区域的信号量，得到不存在卷褶伪影的磁共振图像，其中，磁共振图像卷褶规律即为上述描述的左侧卷褶到右侧，上侧卷褶到下侧等规律。

[0061] 本实施例中，所述获取所述卷褶区域的信号量之前，还可以包括：根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，从所述磁共振图像中提取出不存在卷褶伪影的第一区域图像，并从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像；计算所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量，并根据所述信号偏移量调节所述定位像的信号量。也就是说，根据磁共振图像中不存在卷褶区域的优秀图像部分的信号量，调整定位像的信号量。

[0062] 本实施例中，所述计算所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量，可以包括：通过互相关函数计算所述第一区域图像和所述第二区域图像之间的相似性，确定所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量。即具体可以通过互相关函数计算第一区域图像和第二区域图像之间的相似性，来确定第一区域图像相对于第二区域图像的信号偏移量。

[0063] 本实施例中，所述根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，从所述磁共振图像中提取出不存在卷褶伪影的第一区域图像，并从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像，可以包括：确定所述定位像对应的第一扫描视野；所述第一扫描视野包括第一相位视野；确定所述磁共振图像对应的第二扫描视野；所述第一扫描视野包括第二相位视野；根据所述第一相位视野和所述第二相位视野，计算所述磁共振图像中不存在卷褶伪影的第一区域图像；根据所述第一区域图像对应的位置信息和扫描视野，从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像。即根据定位像和磁共振图像的相位视野的差异，确定两张图像中不存在磁共振的区域。

[0064] 具体的，以图2a和图2b为例，定位像信号量调整的过程包括：

[0065] （1）令定位像FOV大小为（xf *xp） ，单位为厘米（cm），其中xf为频率方向FOV大小，xp为相位方向FOV大小，存在卷褶伪影的磁共振图像FOV大小为（yf*yp），其中，yf为频率方向FOV大小，yp为相位方向FOV大小，由于卷褶伪影常出现在相位编码方向，因此带卷褶伪影磁共振图像的优秀图像部分相位编码方向FOV可表示为：yp‑(2*(xp‑yp)/2)，例如图4所示，以得到上述第一区域图像，用Ｓ1表示。

[0066] （2）取定位像中同等位置、同等FOV大小的图像范围，得到上述第二区域图像，用S２表示。

[0067] （3）利用互相关测量信号之间的相似性对待处理图像与参考图像进行信号量一致性校正。假设参考图像是待处理图像平移得到的，则第一区域图像和第二区域图像之间的图像函数关系为：

[0068] ；

[0069] 互相关函数定义：R_S (x,y)=S2(x,y)*S1(‑x,‑y)；

[0070] 计算其傅里叶变换和反傅里叶变换，可得当图像函数S（x，y）的峰值在原点处时，R（x，y）的峰值在点 处，由此可计算得到图像函数S1（x，y）相对于图像函数S2（x，y）的信号偏移量。

[0071] （4）根据上述信号偏移量调节定位像图像和磁共振图像的信号量，使其信号量一致。

[0072] 最后，根据信号量调整后的定位像的卷褶区域的信号量，在卷褶图像中减去卷褶部分的信号量即可得到无卷褶伪影的高质量磁共振图像，例如图5所示。

[0073] 由上可见，本实施例中通过获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除。可见，通过定位像和磁共振图像之间的扫描视野差，确定出由于受检部位超出扫描视野而引起的磁共振图像中的卷褶伪影，从而确定重叠在图像视野内的卷褶部分，利用该部分图像信息进行卷褶伪影的去除，以提高图像质量，在不改变扫描视野的基础上同时还能节约扫描时间，提高成像速度。

[0074] 相应的，本申请实施例还公开了一种磁共振图像卷褶伪影去除装置，参见图6所示，该装置包括：

[0075] 图像获取模块11，用于获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；

[0076] 卷褶区域确定模块12，用于根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；

[0077] 卷褶伪影去除模块13，用于根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除。

[0078] 由上可见，本实施例中获取目标扫描部位对应的定位像和磁共振图像；根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，在所述定位像中确定出卷褶区域；根据所述定位像中所述卷褶区域对应的图像数据，确定所述磁共振图像中的卷褶伪影并去除。可见，通过定位像和磁共振图像之间的扫描视野差，确定出由于受检部位超出扫描视野而引起的磁共振图像中的卷褶伪影，从而确定重叠在图像视野内的卷褶部分，利用该部分图像信息进行卷褶伪影的去除，以提高图像质量，在不改变扫描视野的基础上同时还能节约扫描时间，提高成像速度。

[0079] 在一些具体实施例中，所述卷褶伪影去除模块13具体可以包括：

[0080] 信号量获取单元，用于获取所述卷褶区域的信号量，并根据磁共振图像卷褶规律，确定所述卷褶区域被卷褶到所述磁共振图像上的卷褶伪影区域；

[0081] 卷褶伪影去除单元，用于在所述卷褶伪影区域中减去所述卷褶区域的信号量，以得到不存在卷褶伪影的磁共振图像。

[0082] 在一些具体实施例中，所述磁共振图像卷褶伪影去除装置具体可以包括：

[0083] 区域图像确定单元，用于根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，从所述磁共振图像中提取出不存在卷褶伪影的第一区域图像，并从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像；

[0084] 信号量调整单元，用于计算所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量，并根据所述信号偏移量调节所述定位像的信号量。

[0085] 在一些具体实施例中，所述区域图像确定单元具体可以包括：

[0086] 第一扫描视野确定单元，用于确定所述定位像对应的第一扫描视野；所述第一扫描视野包括第一相位视野；

[0087] 第二扫描视野确定单元，用于确定所述磁共振图像对应的第二扫描视野；所述第一扫描视野包括第二相位视野；

[0088] 第一区域图像确定单元，用于根据所述第一相位视野和所述第二相位视野，计算所述磁共振图像中不存在卷褶伪影的第一区域图像；

[0089] 第二区域图像确定单元，用于根据所述第一区域图像对应的位置信息和扫描视野，从所述定位像中提取出与所述第一区域图像对应的第二区域图像。

[0090] 在一些具体实施例中，所述信号量调整单元具体可以用于通过互相关函数计算所述第一区域图像和所述第二区域图像之间的相似性，确定所述第一区域图像相对于所述第二区域图像的信号偏移量。

[0091] 在一些具体实施例中，所述磁共振图像卷褶伪影去除装置具体可以包括：

[0092] 像素插值单元，用于按照所述磁共振图像的像素值对所述定位像进行像素插值处理，以便处理后定位像的分辨率与所述磁共振图像的分辨率一致。

[0093] 在一些具体实施例中，所述卷褶区域确定模块12具体可以用于根据所述定位像与所述磁共振图像之间的扫描视野差异，以及所述定位像与所述磁共振图像之间的像素数差异，在所述定位像中确定出卷褶区域。

[0094] 进一步的，本申请实施例还公开了一种电子设备，参见图7所示，图中的内容不能被认为是对本申请的使用范围的任何限制。

[0095] 图7为本申请实施例提供的一种电子设备20的结构示意图。该电子设备20，具体可以包括：至少一个处理器21、至少一个存储器22、电源23、通信接口24、输入输出接口25和通信总线26。其中，所述存储器22用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器21加载并执行，以实现前述任一实施例公开的磁共振图像卷褶伪影去除方法中的相关步骤。

[0096] 本实施例中，电源23用于为电子设备20上的各硬件设备提供工作电压；通信接口24能够为电子设备20创建与外界设备之间的数据传输通道，其所遵循的通信协议是能够适用于本申请技术方案的任意通信协议，在此不对其进行具体限定；输入输出接口25，用于获取外界输入数据或向外界输出数据，其具体的接口类型可以根据具体应用需要进行选取，在此不进行具体限定。

[0097] 另外，存储器22作为资源存储的载体，可以是只读存储器、随机存储器、磁盘或者光盘等，其上所存储的资源包括操作系统221、计算机程序222及包括定位像、磁共振图像在内的数据223等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。

[0098] 其中，操作系统221用于管理与控制电子设备20上的各硬件设备以及计算机程序222，以实现处理器21对存储器22中海量数据223的运算与处理，其可以是Windows Server、Netware、Unix、Linux等。计算机程序222除了包括能够用于完成前述任一实施例公开的由电子设备20执行的磁共振图像卷褶伪影去除方法的计算机程序之外，还可以进一步包括能够用于完成其他特定工作的计算机程序。

[0099] 进一步的，本申请实施例还公开了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被处理器加载并执行时，实现前述任一实施例公开的磁共振图像卷褶伪影去除方法步骤。

[0100] 本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

[0101] 结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器（RAM）、内存、只读存储器（ROM）、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD‑ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

[0102] 最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

[0103] 以上对本发明所提供的一种磁共振图像卷褶伪影去除方法、装置、设备及介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。