激发极化参数检测方法、装置、电子设备和存储介质

摘要

本发明提出一种激发极化参数检测方法、装置、电子设备和存储介质，其中，方法包括：通过根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号，实现采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发，从而对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号，进而根据伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数。由此，可实现在设定的伪随机序列的脉宽范围内提取有效的激发极化参数。

权利要求

1.一种激发极化参数检测方法，其特征在于，所述激发极化参数用于勘探地质信息，所述方法包括以下步骤：根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号；

采用与所述伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发；

对所述第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在所述被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到所述第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号；

将所述伪随机序列参考信号与所述电流信号进行互相关计算，以得到第一计算参数，以及将所述伪随机序列参考信号与所述电位差信号进行互相关计算，以得到第二计算参数；

根据所述第一计算参数和所述第二计算参数，确定冲激响应参数；

根据所述冲激响应参数，确定激发极化参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一计算参数和所述第二计算参数，确定冲激响应参数，包括：根据所述第一计算参数，确定平均发射计算电流；

根据所述第二计算参数和所述平均发射计算电流，确定冲激响应参数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二计算参数和所述平均发射计算电流，确定冲激响应参数，包括：根据所述第二计算参数，确定用于计算冲激响应参数的二阶差分算子；

根据所述第二计算参数和所述平均发射计算电流，以及所述二阶差分算子，确定冲激响应参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述冲激响应参数，确定激发极化参数，包括：根据所述冲激响应参数，确定充电曲线参数；

根据所述充电曲线参数，确定激发极化参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述激发极化参数包括充电率参数和最优时间常数，所述根据所述充电曲线参数，确定激发极化参数，包括：根据所述充电曲线参数，确定充电率参数和时间常数；

采用线性插值法，根据最邻近的两个时间常数之间的差值，确定最优时间常数。

6.根据权利要求1‑5任一项所述的方法，其特征在于，所述根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号，包括：根据干扰信号的周期，设定伪随机序列的脉宽，以及根据原始信噪比和预期效果，设定伪随机序列的阶数，以得到伪随机序列参考信号，其中，预期效果用于指示伪随机序列的阶数与预设误差百分比的关系。

7.一种激发极化参数检测装置，其特征在于，所述激发极化参数用于勘探地质信息，所述装置包括：处理模块，用于根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号；

驱动模块，用于采用与所述伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发；

采样模块，用于对所述第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在所述被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到所述第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号；

计算模块，用于将所述伪随机序列参考信号与所述电流信号进行互相关计算，以得到第一计算参数，以及将所述伪随机序列参考信号与所述电位差信号进行互相关计算，以得到第二计算参数；

第一确定模块，用于根据所述第一计算参数和所述第二计算参数，确定冲激响应参数；

第二确定模块，用于根据所述冲激响应参数，确定激发极化参数。

8.一种电子设备，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1‑6中任一项所述的方法。

9.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1‑6中任一项所述的方法。

说明书

激发极化参数检测方法、装置、电子设备和存储介质

技术领域

[0001] 本发明涉及地球物理勘查技术领域，尤其涉及一种激发极化参数检测方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

[0002] 激发极化效应可以用于进行地质勘探，以确定被测区域中的物质。具体来说，当供电电极向地下供入稳定电流时，即供电电流不变，可以观测到测量电极之间的电位差会随时间增长而增大，并经一定时间后趋近于某一稳定的饱和值；断开供电电流后，在测量电极之间仍然存在着随时间增长而减小的电位差，该电位差会在断开供电电流的一瞬间很快下降，而后随时间增长而相对缓慢地下降，并逐步衰减趋近于零。这种在供电过程中，或者，在切断电源电流的一个较短时间内，由人工电场激励而迫使岩矿石产生电化学作用所引起的一个随时间有规律变化的附加电场现象称为激发极化效应（简称激电效应）。激发极化法（Induced Polarization method，简称激电法，缩写为 IP）就是研究这一效应的方法。激发极化法是以不同岩石、矿石激电效应之差为基础，通过观测和研究大地激电效应来探查地下地质情况的一种地球物理勘探方法，被广泛应用于金属、石油矿产资源以及地下水资源等方面的探测。

[0003] 相关技术中，由于伪随机序列中的m序列容易产生，规律性强，有很好的自相关性和较好的互相关特性，在相关辨识计算中能够把噪声压制得很低，因而常将其用于弱信号系统辨识探测。并且，若将伪随机序列，比如m序列运用到激发极化法中，也即运用在地球物理勘探中，能够有效对抗勘探过程中的人文干扰，提高探测分辨率，加深勘探深度。而由于激发极化法主要通过测量激发极化参数来探查地下地质情况，比如，通过采用伪随机序列电流信号驱动供电电极进行供电，从而通过测量电极得到激发后的电像特征，并确定对应的激发极化参数，探查地下地质情况，因此，如何在设定的伪随机序列的脉宽范围内提取有效的激发极化参数是一个值得研究的问题。

发明内容

[0004] 本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

[0005] 为此，本发明的第一个目的在于提出一种激发极化参数检测方法，以实现将伪随机序列运用到激发极化法中，基于伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号确定激发极化参数，提高探测分辨率。

[0006] 本发明的第二个目的在于提出一种激发极化参数检测装置。

[0007] 本发明的第三个目的在于提出一种电子设备。

[0008] 本发明的第四个目的在于提出一种非瞬时计算机可读存储介质。

[0009] 为达上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种激发极化参数检测方法，包括：

[0010] 根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号；

[0011] 采用与所述伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发；

[0012] 对所述第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在所述被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到所述第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号；

[0013] 根据所述伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数。

[0014] 可选地，作为第一方面的第一种可能的实现方式，所述根据所述伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数，包括：

[0015] 将所述伪随机序列参考信号与所述电流信号进行互相关计算，以得到第一计算参数，以及将所述伪随机序列参考信号与所述电位差信号进行互相关计算，以得到第二计算参数；

[0016] 根据所述第一计算参数和所述第二计算参数，确定冲激响应参数；

[0017] 根据所述冲激响应参数，确定激发极化参数。

[0018] 可选地，作为第一方面的第二种可能的实现方式，所述根据所述第一计算参数，确定所述第二计算参数，确定冲激响应参数，包括：

[0019] 根据所述第一计算参数，确定平均发射计算电流；

[0020] 根据所述第二计算参数和所述平均发射计算电流，确定冲激响应参数。

[0021] 可选地，作为第一方面的第三种可能的实现方式，所述根据所述第二计算参数和所述平均发射计算电流，确定冲激响应参数，包括：

[0022] 根据所述第二计算参数，确定用于计算冲激响应参数的二阶差分算子；

[0023] 根据所述第二计算参数和所述平均发射计算电流，以及所述二阶差分算子，确定冲激响应参数。

[0024] 可选地，作为第一方面的第四种可能的实现方式，所述根据所述冲激响应参数，确定激发极化参数，包括：

[0025] 根据所述冲激响应参数，确定充电曲线参数；

[0026] 根据所述充电曲线参数，确定激发极化参数。

[0027] 可选地，作为第一方面的第五种可能的实现方式，所述激发极化参数包括充电率参数和最优时间常数，所述根据所述充电曲线参数，确定激发极化参数，包括：

[0028] 根据所述充电曲线参数，确定充电率参数和时间常数；

[0029] 采用线性插值法，根据最邻近的两个时间常数之间的差值，确定最优时间常数。

[0030] 可选地，作为第一方面的第六种可能的实现方式，所述根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号，包括：

[0031] 根据干扰信号的周期，设定伪随机序列的脉宽，以及根据原始信噪比和预期效果，设定伪随机序列的阶数，以得到伪随机序列参考信号，其中，预期效果用于指示伪随机序列的阶数与预设误差百分比的关系。

[0032] 为达上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种激发极化参数检测装置，包括：

[0033] 处理模块，用于根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号；

[0034] 驱动模块，用于采用与所述伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发；

[0035] 采样模块，用于对所述第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在所述被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到所述第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号；

[0036] 确定模块，用于根据所述伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数。

[0037] 可选地，作为第二方面的第一种可能的实现方式，所述确定模块，包括：

[0038] 处理单元，用于将所述伪随机序列参考信号与所述电流信号进行互相关计算，以得到第一计算参数，以及将所述伪随机序列参考信号与所述电位差信号进行互相关计算，以得到第二计算参数；

[0039] 第一确定单元，用于根据所述第一计算参数和所述第二计算参数，确定冲激响应参数；

[0040] 第二确定单元，用于根据所述冲激响应参数，确定激发极化参数。

[0041] 可选地，作为第二方面的第二种可能的实现方式，所述第一确定单元，还用于：

[0042] 根据所述第一计算参数，确定平均发射计算电流；

[0043] 根据所述第二计算参数和所述平均发射计算电流，确定冲激响应参数。

[0044] 可选地，作为第二方面的第三种可能的实现方式，所述第一确定单元，还用于：

[0045] 根据所述第二计算参数，确定用于计算冲激响应参数的二阶差分算子；

[0046] 根据所述第二计算参数和所述平均发射计算电流，以及所述二阶差分算子，确定冲激响应参数。

[0047] 可选地，作为第二方面的第四种可能的实现方式，所述第二确定单元，还用于：

[0048] 根据所述冲激响应参数，确定充电曲线参数；

[0049] 根据所述充电曲线参数，确定激发极化参数。

[0050] 可选地，作为第二方面的第五种可能的实现方式，所述第二确定单元，还用于：

[0051] 根据所述充电曲线参数，确定充电率参数和时间常数；

[0052] 采用线性插值法，根据最邻近的两个时间常数之间的差值，确定最优时间常数。

[0053] 可选地，作为第二方面的第六种可能的实现方式，所述处理模块，还用于：

[0054] 根据干扰信号的周期，设定伪随机序列的脉宽，以及根据原始信噪比和预期效果，设定伪随机序列的阶数，以得到伪随机序列参考信号，其中，预期效果用于指示伪随机序列的阶数与预设误差百分比的关系。

[0055] 为达上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种电子设备，包括：

[0056] 至少一个处理器；以及

[0057] 与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

[0058] 所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行第一方面所述的方法。

[0059] 为了实现上述目的，本发明第四方面实施例提出了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行第一方面所述的方法。

[0060] 本发明实施例所提供的技术方案包含如下的有益效果：

[0061] 通过根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号，实现采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发，从而对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号，进而根据伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数。由此，可实现将伪随机序列运用到激发极化法中，在设定的伪随机序列的脉宽范围内提取有效的激发极化参数，提高探测分辨率。

[0062] 本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

[0063] 本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

[0064] 图1为本发明实施例所提供的一种激发极化参数检测方法的流程示意图；

[0065] 图2为本发明实施例所提供的另一种激发极化参数检测方法的流程示意图；

[0066] 图3为本发明实施例所提供的一种场景下在供电过程中电压随时间变化的示意图；

[0067] 图4为本发明实施例所提供的另一种激发极化参数检测方法的流程示意图；

[0068] 图5为本发明实施例所提供的一种场景下m序列阶数与压制干扰效果的关系示意图；

[0069] 图6为本发明实施例所提供的一种场景下m序列阶数与抑制噪音效果的关系示意图；

[0070] 图7为本发明实施例所提供的一种场景下激发极化参数检测方法的原理示意图；

[0071] 图8为本发明实施例所提供的一种激发极化参数检测装置的结构示意图；

[0072] 图9为本发明实施例所提供的一种电子设备的结构框图。

具体实施方式

[0073] 下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

[0074] 下面参考附图描述本发明实施例的激发极化参数检测方法、装置、电子设备和存储介质。

[0075] 在具体描述本公开实施例之前，为了便于理解，首先对常用技术词进行介绍：

[0076] 地球物理勘探：简称“物探”，是指通过研究和观测各种地球物理场的变化来探测地层岩性、地质构造等地质条件。由于组成地壳的不同岩层介质往往在密度、弹性、导电性、磁性、放射性以及导热性等方面存在差异，这些差异将引起相应的地球物理场的局部变化。通过量测这些物理场的分布和变化特征，结合已知地质资料进行分析研究，就可以达到推断地质性状的目的。也就是说，地球物理勘探是以岩石、矿石（或地层）与围岩的密度、磁化性质、导电性、放射性等物理性质的差异为研究基础，用不同的物理方法和物探仪器，探测天然的或人工的地球物理场的变化，通过分析、研究获得的物探资料，推断、解释地质构造和矿产分布情况的一种间接的勘探方法。地球物理勘探常利用的岩石物理性质有：密度、磁导率、电导率、弹性、热导率、放射性。与此相应的勘探方法有：重力勘探、磁法勘探、电法勘探、地震勘探、地温法勘探、核法勘探。

[0077] 电法勘探：电法勘探是根据地壳中各类岩石或矿体的电磁学性质（如导电性、导磁性、介电性）和电化学特性的差异，通过对人工或天然电场、电磁场或电化学场的空间分布规律和时间特性的观测和研究，寻找不同类型有用矿床和查明地质构造及解决地质问题的地球物理勘探方法。电法勘探分为两大类：研究直流电场的，统称为直流电法，包括电阻率法、充电法、自然电场法和直流激发极化法等；研究交变电磁场的，统称为交流电法，包括交流激发极化法、电磁法、大地电磁场法、无线电波透视法和微波法等。

[0078] 伪随机序列：如果一个序列，一方面它是可以预先确定的，并且是可以重复地生产和复制的；一方面它又具有某种随机序列的随机特性（即统计特性），我们便称这种序列为伪随机序列。可以简单理解为：伪随机序列是具有某种随机特性的确定的序列。

[0079] m序列：由线性反馈移存器产生出的周期最长的二进制数字序列，称为最大长度线性反馈遗存器序列，简称为m序列。可以简单理解为：m序列是由带线性反馈的移存器产生的周期最长的一种序列。

[0080] 伪随机信号：又称伪随机序列或伪随机码，是由周期性数字序列经过滤波等处理后得出的,它具有类似于随机噪声的某些统计特性，同时又能够重复产生。可以简单理解为：伪随机信号并非随机生成的信号，而是通过相对复杂的一定算法得出的有规律可循的变化信号。绝大多数伪随机信号都是用移位寄存器（移存器）加反馈来产生，这种结构形式简单，易于实现并容易产生周期极长的序列。

[0081] 供电电极：供电电极（current electrodel）是指在地面、井中或坑道进行电法工作时，为了向地下供电而选用的连接电源的接地金属物。一般的供电电极是钢棍或铁棍，其长度依工作需要选定。在电测井中还有特殊的供电电极，如屏蔽测井（侧向测井电极系）中，在主电极上下方配有供电电极，目的是使主电极的电流聚焦进入地层，这一套供电电极又称为“屏蔽电极”。

[0082] 测量电极：测量电极（potential electrode）是指在地面、井中、坑道中进行电法工作时，为了测量电位差而选用的接地金属物。一般的测量电极用紫铜棒，其长度依需要选定。在特殊条件下，还有用特殊物质的和不同形状的测量电极，如不极化电极多为陶瓷的，有的还用帆布或塑料外装。实验室则有更特殊的不极化电极。

[0083] 图1为本发明实施例所提供的一种激发极化参数检测方法的流程示意图。

[0084] 一方面，激发极化法作为一种根据岩石、矿石的激发极化效应来寻找金属和解决水文地质、工程地质等问题的电法勘探方法，被广泛应用于金属、石油矿产资源以及地下水资源等方面的探测。另一方面，在所有的伪随机序列中，m序列是最重要、最基本的一种伪随机序列。它容易产生，规律性强，有很好的自相关性和较好的互相关特性，在相关辨识计算中能够把噪声压制得很低，常用于弱信号系统辨识探测。因此，若将伪随机序列运用到激发极化法中，也即运用在地球物理勘探中，能够有效对抗勘探过程中的人文干扰，提高探测分辨率，加深勘探深度。

[0085] 但是，在电法勘探的应用中，伪随机序列相关辨识方法在伪随机序列的脉宽Δt范围内激发极化特性的辨识效果不佳，为了提高该辨识效果，宜选用较小的Δt参数；同时，为了增强抗干扰能力或者避免电磁耦合效应、供电电极极化导致的波形畸变带来的影响，又宜选用大一些的Δt参数，二者之间存在难以权衡的矛盾。因此，如何在设定的伪随机序列的脉宽范围内提取有效的激发极化参数是一个值得研究的问题。

[0086] 针对这一问题，本发明实施例提供了激发极化参数检测方法，以实现将伪随机序列运用到激发极化法中，基于伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，在设定的伪随机序列的脉宽范围内提取有效的激发极化参数，提高探测分辨率，如图1所示，该激发极化参数检测方法包括以下步骤：

[0087] 步骤101，根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号。

[0088] 在本实施例中，可以基于设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号。其中，对于设定的伪随机序列的阶数和脉宽的具体取值本实施例并没有作出限定，可选地，可以根据人工经验进行设定，例如，可以将设定的伪随机序列的阶数n设定为8，将设定的伪随机序列的脉宽Δt设定为1000ms，或者，也可以根据实际应用需求进行动态调整，本实施例中对此不作限制。作为一种可能的实现方式，伪随机序列可以采用具有发送能量强、电磁干扰小等特点的最长线性反馈移位寄存器序列（m序列），并将m序列的阶数n设定为大于或等于5的任一值，将m序列的脉宽Δt设定为大于或等于500ms的任一值，从而得到伪随机序列参考信号。例如，伪随机序列可以采用m序列，设定的伪随机序列的阶数和脉宽即为m序列的阶数和脉宽，可选地，可以设定m序列的阶数n为10，脉宽Δt为500ms，从而可以根据设定的m序列的阶数n和脉宽Δt，得到伪随机序列参考信号。

[0089] 可以理解的是，伪随机序列参考信号即为任一伪随机信号，具有良好的相关特性，比如，自相关函数具有明显的峰值，互相关函数峰值较低等。

[0090] 步骤102，采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发。

[0091] 在本实施例中，在得到伪随机序列参考信号之后，可以基于伪随机序列参考信号确定对应的伪随机序列电流信号，从而采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发。其中，被勘探区域可以为任一需要进行地球物理勘探的具有不同电化学性质的岩石或矿石等的区域。例如，在进行多金属硫化物类矿床勘查时，被勘探区域可以为地质勘探部门依据《固体矿产地质勘查规范总则》（GB/T13908‑2002）等规范确定的需进行地球物理勘探的区域。第一供电电极和第二供电电极可以为任一为了向地下供电而选用的连接电源的接地金属物，比如钢棍或者铁棍等，其长度可以依据实际工作需要选定。可选地，第一供电电极和第二供电电极可以为相同的接地金属物，比如，第一供电电极和第二供电电极都为钢棍，或者都为铁棍，也可以为不同的接地金属物，比如，第一供电电极为钢棍，第二供电电极为铁棍，或者第一供电电极为铁棍，第二供电电极为钢棍，等等，本实施例中对此不作限制。相类似地，第一供电电极的长度和第二供电电极的长度可以是相同的，比如，第一供电电极的长度和第二供电电极的长度都为2米，也可以是不同的，比如，第一供电电极的长度为1米，第二供电电极的长度为2米，等等，本实施例中对此不作限制。

[0092] 可以理解的是，当采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极向地下供电进行激发时，被勘探区域由于具有不同电化学性质的岩石或矿石等，会发生电化学作用，从而产生随时间变化的附加电场，即发生激发极化效应。

[0093] 步骤103，对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号。

[0094] 在本实施例中，第一供电电极和第二供电电极在被与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号驱动的情况下，会和伪随机序列电流信号一同向大地供电，这里通过对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，可以得到第一供电电极和第二供电电极处的电流信号，以及通过在被勘探区域内设置第一测量电极和第二测量电极，能够实现利用第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，从而得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号。其中，第一测量电极和第二测量电极可以采用不极化罐装置，以避免引入电极化干扰。可选地，第一测量电极所采用的不极化罐装置的大小、形状和第二测量电极所采用的不极化罐装置的大小、形状可以是相同的，比如，第一测量电极的大小、形状和第二测量电极的大小、形状都为半径0.5米、高1米的圆柱体，也可以是不同的，比如，第一测量电极的大小、形状为半径0.5米、高1米的圆柱体，第二测量电极的大小、形状为边长1米的正立方体，等等，本实施例中对此不作限制。

[0095] 作为一种可能的实现方式，可以采用ADC（Analog‑to‑Digital Converter，模/数转换器或者模拟/数字转换器）同时对第一供电电极和第二供电电极处的电流和对第一测量电极和第二测量电极处的电压进行采样，从而得到电流信号和第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号，其中，采样速率可以设定为大于或等于1kHz的任一值，采样动态范围可以设定为[‑5V,+5V]，采样位数可以设定为32位。

[0096] 通过上述分析可知，第一供电电极和第二供电电极、第一测量电极和第二测量电极都被设置在被勘探区域内，从而第一供电电极和第二供电电极、第一测量电极和第二测量电极的几何布置方法可以采用中间梯度法、对称四极法、偶极‑偶极法、三极法中的至少一种。需要说明的是，当采用中间梯度法或者对称四极法布置第一供电电极和第二供电电极、第一测量电极和第二测量电极时，第一供电电极和第二供电电极的空间距离可以设定为大于5km，当采用偶极‑偶极法或者三极法布置第一供电电极和第二供电电极、第一测量电极和第二测量电极时，对应的隔离系数可以设定为大于5。

[0097] 步骤104，根据伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数。

[0098] 在本实施例中，可以基于上述步骤得到的伪随机序列参考信号、电流信号和第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号，通过一系列计算确定对应的激发极化参数，其中，激发极化参数用于指示勘探得到的地质信息，可以为充电率参数。

[0099] 作为一种可能的实现方式，可以将伪随机序列参考信号与电流信号进行互相关计算，以得到伪随机序列参考信号与电流信号的互相关函数 ，以及将伪随机序列参考信号与第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号进行互相关计算，以得到伪随机序列参考信号与电位差信号的互相关函数 ，从而基于伪随机序列参考信号与电流信号的互相关函数 ，确定平均发射计算电流I，以便基于平均发射计算电流 和伪随机序列参考信号与电位差信号的互相关函数 ，确定激发极化参数。

[0100] 本实施例提供的激发极化参数检测方法，通过根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号，实现采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发，从而对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号，进而根据伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数。由此，可实现将伪随机序列运用到激发极化法中，在设定的伪随机序列的脉宽范围内提取有效的激发极化参数，提高探测分辨率。

[0101] 通过上述分析可知，本公开实施例中，可以根据伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数，下面结合图2，对根据伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数的过程进一步说明。

[0102] 图2为本发明实施例所提供的另一种激发极化参数检测方法的流程示意图。

[0103] 如图2所示，该激发极化参数检测方法可以包括以下步骤：

[0104] 步骤201，根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号。

[0105] 步骤202，采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发。

[0106] 步骤203，对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号。

[0107] 需要说明的是，步骤201‑203的执行过程可以参见上一实施例中步骤101‑103的执行过程，原理相同，在此不再赘述。

[0108] 步骤204，将伪随机序列参考信号与电流信号进行互相关计算，以得到第一计算参数，以及将伪随机序列参考信号与电位差信号进行互相关计算，以得到第二计算参数。

[0109] 在本实施例中，通过将伪随机序列参考信号与电流信号进行互相关计算，可以得到伪随机序列参考信号与电流信号的互相关函数 ，即为第一计算参数，以及将伪随机序列参考信号与第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号进行互相关计算，可以得到伪随机序列参考信号与电位差信号的互相关函数 ，即为第二计算参数。其中，互相关函数用于表示的是两个时间序列之间的相关程度。

[0110] 可以理解的是，当伪随机序列参考信号采用m序列时， 是伪随机序列参考信号m(t)和电流信号I(t)的互相关函数，即伪随机序列参考信号m(t)和电流信号I(t)两个函数互相关； 是伪随机序列参考信号m(t)和电位差信号U(t)的互相关函数，即伪随机序列参考信号m(t)和电位差信号U(t)两个函数互相关。其中，两个函数互相关的含义是：对两个函数分别作复数共轭和反向平移并使其相乘的无穷积分，或者，第一个函数依次作复共轭和平移后与第二个函数相乘的无穷积分。从物理上看，互相关运算的结果反映了两个信号之间相似性的量度。特别是对于两个实函数，例如f(x)和h(x)而言，其相关运算相当于求两函数的曲线相对平移 1个参变量x后形成的重叠部分与横轴所围区域的面积。

[0111] 需要说明的是，与电流信号进行互相关计算的伪随机序列参考信号，和与第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号进行互相关计算的伪随机序列参考信号，二者的脉宽和阶数应一致，即需采用相同脉宽和阶数的伪随机序列参考信号，分别与电流信号、第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号进行互相关计算，以得到第一计算参数和第二计算参数。

[0112] 步骤205，根据第一计算参数和第二计算参数，确定冲激响应参数。

[0113] 在本实施例中，可以基于第一计算参数，即伪随机序列参考信号与电流信号的互相关函数 ，和第二计算参数，即伪随机序列参考信号与电位差信号的互相关函数，确定冲激响应参数G(t)。

[0114] 作为一种可能的实现方式，可以在脉宽小于伪随机序列参考信号的脉宽Δt的情况下，采用面积法推导出计算冲激响应参数G(t)的近似公式。为了清楚说明采用面积法推导出计算冲激响应参数G(t)的近似公式的过程，本实施例提供了如图3所示的电压在供电过程中随时间变化的示意图，即图3描述了在第一供电电极和第二供电电极，以及与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号一同向大地供电的过程中电压随时间的变化。需要说明的是，这里的伪随机序列参考信号采用m序列。

[0115] 如图3所示，电压在供电过程中会随着时间的变化在正负象限来回变换，并且，每次电压从正象限变为负象限，以及从负象限变为正象限的过程中都存在一个缓慢变化的过程，可以理解为电压每次变换都存在一个缓冲脉。这里，可以根据电压在供电过程中随时间变化的图像，采用面积法计算输入、输出信号之间的正负重叠区域的面积 、 ，其中，输入是电流信号和伪随机序列电流信号，输出是电位差信号，并且输入、输出信号的平移量应小于伪随机序列参考信号的脉宽Δt。具体计算公式如下：

[0116]

[0117] 其中，j表示伪随机序列某个游程的蝉联数，即以脉宽为单位的长度计数； 表示对连续信号离散化计算的采样率；Δt表示伪随机序列参考信号的脉宽； 表示第i时刻的电压值；I表示平均发射计算电流，可以根据第一计算参数计算得到，具体计算公式如下：

[0118]

[0119] 其中，n表示伪随机序列参考信号的阶数； 表示时间偏移量为0的伪随机序列参考信号与电流信号的互相关函数。

[0120] 从而可以得出在脉宽小于伪随机序列参考信号的脉宽Δt的情况下，计算冲激响应参数G(t)的近似公式为：

[0121]

[0122] 其中，j表示伪随机序列某个游程的蝉联数，即以脉宽为单位的长度计数；n表示伪随机序列参考信号的阶数，即m序列的阶数；M表示伪随机序列参考信号，即m序列，在具体计算时，由于m 序列总共含有 个游程数，因此式中 ； 、 表示输入、输出信号之间的正负重叠区域的面积； 、 表示伪随机序列参考信号的正负区域的面积。

[0123] 步骤206，根据冲激响应参数，确定激发极化参数。

[0124] 在本实施例的一种可能的实现方式中，激发极化参数可以包括充电率参数和最优时间常数中的至少一个，从而可以基于上一步骤得到的计算冲激响应参数的公式，确定计算充电曲线参数的公式，进而基于计算得到的充电曲线参数，计算得到充电率参数和时间常数，并基于计算得到的时间常数确定最优时间常数。

[0125] 本实施例提供的激发极化参数检测方法，通过将伪随机序列参考信号与电流信号进行互相关计算，以得到第一计算参数，以及将伪随机序列参考信号与电位差信号进行互相关计算，以得到第二计算参数，实现根据第一计算参数和第二计算参数，确定冲激响应参数，从而根据冲激响应参数，确定激发极化参数。由此，可实现基于伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，计算得到有效的用于指示勘探地质信息的激发极化参数。

[0126] 为了清楚说明上一实施例，本实施例提供了另一种激发极化参数检测方法，图4为本发明实施例所提供的另一种激发极化参数检测方法的流程示意图。需要说明的是，在本发明实施例中，激发极化参数包括充电率参数和最优时间常数。

[0127] 如图4所示，该激发极化参数检测方法可以包括以下步骤：

[0128] 步骤401，根据干扰信号的周期，设定伪随机序列的脉宽，以及根据原始信噪比和预期效果，设定伪随机序列的阶数，以得到伪随机序列参考信号，其中，预期效果用于指示伪随机序列的阶数与预设误差百分比的关系。

[0129] 在本实施例中，为了提高伪随机序列干扰信号的压制能力，可以基于根据干扰信号的周期，设定伪随机序列的脉宽，例如，在伪随机序列采用m序列的情况下，可以得到如图5所示的m序列阶数与压制干扰效果的关系示意图，如图5所示，干扰信号通常在干扰信号的周期的整数倍时较为稳定，从而可以将伪随机序列，即m序列阶数的脉宽设定为干扰信号的周期的整数倍。

[0130] 在本实施例中，在伪随机序列的脉宽为确定值的情况下，可以基于原始信噪比和预期效果，设定伪随机序列的阶数，其中，预期效果用于指示伪随机序列的阶数与预设误差百分比的关系。例如，在伪随机序列采用m序列，且m序列的脉宽为1s的情况下，可以得到如图6所示的m序列阶数与抑制噪音效果的关系示意图，如图6所示，当m序列阶数较小时，对应的预设误差百分比较大，而随着m序列阶数的增加，预设误差百分比也在变小，并趋于一个较为稳定的取值范围，从而可以在预期效果指示的预设误差百分比较大时，将伪随机序列，即m序列阶数的阶数设定为较小值；在预期效果指示的预设误差百分比较小时，将伪随机序列，即m序列阶数的阶数设定为较大值。

[0131] 步骤402，采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发。

[0132] 步骤403，对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号。

[0133] 需要说明的是，步骤402‑403的执行过程可以参见上述实施例中步骤101‑103的执行过程，原理相同，在此不再赘述。

[0134] 步骤404，根据第一计算参数，确定平均发射计算电流。

[0135] 在本实施例中，由于当伪随机序列参考信号采用m序列时，第一计算参数是伪随机序列参考信号m(t)和电流信号I(t)的互相关函数，离散化公式为：

[0136]

[0137] 其中，a表示对 中的时间偏移量t进行离散化后的值，t为自变量，表示信号时刻。并且， ，因此 ，从而可以得到平均发射计算电流I的计算公式为：

[0138]

[0139] 其中，n表示伪随机序列参考信号的阶数； 为时间偏移量为0的伪随机序列参考信号与电流信号的互相关函数。

[0140] 步骤405，根据第二计算参数，确定用于计算冲激响应参数的二阶差分算子。

[0141] 由于当伪随机序列参考信号采用m序列时，第二计算参数 是伪随机序列参考信号m(t)和电位差信号U(t)的互相关函数。在本实施例中，可以基于第二计算参数确定用于计算冲激响应参数的二阶差分算子，其中，二阶差分算子的计算公式如下：

[0142]

[0143] 其中， ，也就是说， 与 关于y轴对称； 表示互相关函数在时间偏移量为(t+2个脉宽)时的值； 同理，表示 互相
关函数在时间偏移量为(t+1个脉宽)时的值。

[0144] 需要说明的是，二阶差分算子的计算公式推导过程如下：

[0145] 有三个等间隔时间偏移的自变量t，t+1和t+2，对应的 互相关函数值分别是， 和 ，它们的一阶差分值分别为： 和 ，从而二阶差分值即为 ，由此可得二阶差分
算子的计算公式为 。

[0146] 步骤406，根据第二计算参数和平均发射计算电流，以及二阶差分算子，确定冲激响应参数。

[0147] 在本实施例中，可以基于第二计算参数 、 和平均发射计算电流I，以及二阶差分算子 ，确定冲激响应参数G(t)，其中，冲激响应参数G(t)的计算公式如下：

[0148]

[0149] 其中，n表示伪随机序列参考信号的阶数；I表示平均发射计算电流；表示伪随机序列参考信号的脉宽； 表示偏移量为单个脉宽时的互相关函数值； ，是伪随机序列参考信号m(t)和电位差信号U(t)的互相关函数。

[0150] 步骤407，根据冲激响应参数，确定充电曲线参数。

[0151] 在本实施例中，由于激发极化参数可以包括充电率参数和最优时间常数，从而需要基于冲激响应参数，确定充电曲线参数。作为一种可能的实现方式，可以根据上一步骤得到的冲激响应参数G(t)的具体计算公式，确定充电曲线参数 的具体计算公式如下：

[0152]

[0153] 其中， 表示充电过程中，时间与电位差的关系。t为常量， 为自变量。

[0154] 步骤408，根据充电曲线参数，确定充电率参数和时间常数。

[0155] 在本实施例的一种可能的实现方式中，可以根据上一步骤得到的充电曲线参数的具体计算公式，确定计算充电率参数 的的具体计算公式如下：

[0156]

[0157] 其中，T表示伪随机序列的周期，Gs(T)表示一个周期时的充电值，Gs(0)表示时刻为0处的充电值，此时无极化效应，满足欧姆定律。

[0158] 在本实施例的一种可能的实现方式中，时间常数可以为满足如下计算公式计算得到的 ：

[0159]

[0160] 其中，T表示伪随机序列的周期。也就是说上式中右边为某一固定值。

[0161] 步骤409，采用线性插值法，根据最邻近的两个时间常数之间的差值，确定最优时间常数。

[0162] 在本实施例中，解得最邻近的两个时间常数后，可以采用线性插值法，确定最优时间常数。作为一种可能的实现方式，在解得最邻近的两个时间常数 和 后，可以采用如下计算公式的线性插值法，求解得到最优时间常数：

[0163]

[0164] 其中，k为插值的权重系数。

[0165] 本实施例提供的激发极化参数检测方法，通过根据第一计算参数，确定平均发射计算电流，以及根据第二计算参数，确定用于计算冲激响应参数的二阶差分算子，实现根据第二计算参数和平均发射计算电流，以及二阶差分算子，确定冲激响应参数，从而根据冲激响应参数，确定充电曲线参数，进而根据充电曲线参数，确定充电率参数和时间常数，并采用线性插值法，根据最邻近的两个时间常数之间的差值，确定最优时间常数。由此，可实现将伪随机序列运用到激发极化法中，在设定的伪随机序列的脉宽范围内提取有效的激发极化参数。并且，由于可以根据干扰信号的周期，设定伪随机序列的脉宽，以及根据原始信噪比和预期效果，设定伪随机序列的阶数，以得到伪随机序列参考信号，从而可以降低干扰信号和噪音的影响，提高探测分辨率。

[0166] 为了更加清楚地说明上述实施例，现举例进行说明。

[0167] 举例而言，如图7所示，本激发极化参数检测实施可分为三部分，一是基于电流信号和伪随机序列参考信号，确定伪随机序列参考信号与电流信号的互相关函数 ，以及基于电位差信号和伪随机序列参考信号，确定伪随机序列参考信号与电位差信号的互相关函数 ，二是基于伪随机序列参考信号与电流信号的互相关函数 ，确定平均发射计算电流I，以及基于平均发射计算电流I和伪随机序列参考信号与电位差信号的互相关函数 ，确定冲击响应参数G(t),三是根据冲击响应参数G(t)，确定充电曲线参数Gs(t)，进而根据充电曲线参数Gs(t)，确定激发极化参数。

[0168] 为了实现上述实施例，本发明还提出一种激发极化参数检测装置。

[0169] 图8为本发明实施例提供的一种激发极化参数检测装置的结构示意图。

[0170] 如图8所示，该激发极化参数检测装置包括：处理模块81、驱动模块82、采样模块83和确定模块84。

[0171] 处理模块81，用于根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号；

[0172] 驱动模块82，用于采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发；

[0173] 采样模块83，用于对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号；

[0174] 确定模块84，用于根据伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数。

[0175] 进一步地，在本发明实施例的一种可能的实现方式中，确定模块84，包括：

[0176] 处理单元841，用于将伪随机序列参考信号与电流信号进行互相关计算，以得到第一计算参数，以及将伪随机序列参考信号与电位差信号进行互相关计算，以得到第二计算参数；

[0177] 第一确定单元842，用于根据第一计算参数和第二计算参数，确定冲激响应参数；

[0178] 第二确定单元843，用于根据冲激响应参数，确定激发极化参数。

[0179] 进一步地，在本发明实施例的一种可能的实现方式中，第一确定单元842，还用于：

[0180] 根据第一计算参数，确定平均发射计算电流；

[0181] 根据第二计算参数和平均发射计算电流，确定冲激响应参数。

[0182] 进一步地，在本发明实施例的一种可能的实现方式中，第一确定单元842，还用于：

[0183] 根据第二计算参数，确定用于计算冲激响应参数的二阶差分算子；

[0184] 根据第二计算参数和平均发射计算电流，以及二阶差分算子，确定冲激响应参数。

[0185] 进一步地，在本发明实施例的一种可能的实现方式中，第二确定单元843，还用于：

[0186] 根据冲激响应参数，确定充电曲线参数；

[0187] 根据充电曲线参数，确定激发极化参数。

[0188] 进一步地，在本发明实施例的一种可能的实现方式中，第二确定单元843，还用于：

[0189] 根据充电曲线参数，确定充电率参数和时间常数；

[0190] 采用线性插值法，根据最邻近的两个时间常数之间的差值，确定最优时间常数。

[0191] 进一步地，在本发明实施例的一种可能的实现方式中，处理模块81，还用于：

[0192] 根据干扰信号的周期，设定伪随机序列的脉宽，以及根据原始信噪比和预期效果，设定伪随机序列的阶数，以得到伪随机序列参考信号，其中，预期效果用于指示伪随机序列的阶数与预设误差百分比的关系。

[0193] 需要说明的是，前述对激发极化参数检测方法实施例的解释说明也适用于该实施例的激发极化参数检测装置，此处不再赘述。

[0194] 本实施例提供的激发极化参数检测装置，通过根据设定的伪随机序列的阶数和脉宽，得到伪随机序列参考信号，实现采用与伪随机序列参考信号对应的伪随机序列电流信号，驱动插入被勘探区域的第一供电电极和第二供电电极，以进行激发，从而对第一供电电极和第二供电电极处的电流进行采样，以得到电流信号，以及通过在被勘探区域内设置的第一测量电极和第二测量电极对激发后的电像特征进行采样，以得到第一测量电极和第二测量电极之间的电位差信号，进而根据伪随机序列参考信号、电流信号和电位差信号，确定激发极化参数。由此，可实现将伪随机序列运用到激发极化法中，在设定的伪随机序列的脉宽范围内提取有效的激发极化参数，提高探测分辨率。

[0195] 为了实现上述实施例，本公开实施例提出了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行前述方法实施例提出的激发极化参数检测方法。

[0196] 为了实现上述实施例，本公开实施例提出了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，计算机指令用于使计算机执行前述方法实施例提出的激发极化参数检测方法。

[0197] 图9为本发明实施例所提供的一种电子设备的结构框图。图9示出的电子设备仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

[0198] 如图9所示，电子设备10包括处理器11，其可以根据存储在只读存储器（ROM，Read Only Memory）12中的程序或者从存储器16加载到随机访问存储器（RAM，Random Access Memory）13中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还存储有电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出（I/O，Input / Output）接口15也连接至总线14。

[0199] 以下部件连接至I/O接口15：包括硬盘等的存储器16；以及包括诸如LAN（局域网，Local Area Network）卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分17，通信部分17经由诸如因特网的网络执行通信处理；驱动器18也根据需要连接至I/O接口15。

[0200] 特别地，根据本公开的实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本公开的实施例包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分17从网络上被下载和安装。在该计算机程序被处理器11执行时，执行本公开的方法中限定的上述功能。

[0201] 在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的存储介质，例如包括指令的存储器16，上述指令可由电子设备10的处理器11执行以完成上述方法。可选地，存储介质可以是非临时性计算机可读存储介质，例如，非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器（RAM）、CD‑ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

[0202] 在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、 “示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

[0203] 此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

[0204] 流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

[0205] 在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备（如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统）使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例（非穷尽性列表）包括以下：具有一个或多个布线的电连接部（电子装置），便携式计算机盘盒（磁装置），随机存取存储器（RAM），只读存储器（ROM），可擦除可编辑只读存储器（EPROM或闪速存储器），光纤装置，以及便携式光盘只读存储器（CDROM）。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

[0206] 应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列（PGA），现场可编程门阵列（FPGA）等。

[0207] 本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

[0208] 此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

[0209] 上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。