一种校验eMMC数据传输信号的方法和装置

摘要

本发明提供一种校验eMMC数据传输信号的方法和装置，属于数据存储技术领域。方法包括：针对eMMC包含的每一组数据通道，利用预设的校验电路连通一组数据通道，并测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量；从而根据测试电压调整通过所述一组数据通道的电流数值，直到测试电压指示的数据传输信号满足设定信号质量预期。本发明的实施例提高了校验eMMC数据传输信号的准确率、并克服了现有方法中校验eMMC数据传输信号的颗粒度较大、灵活性较差的问题。

权利要求

1.一种校验eMMC数据传输信号的方法，其特征在于，响应于校验eMMC的数据传输信号；其中，所述eMMC包含多组数据通道；

针对eMMC包含的每一组数据通道，执行N1‑N3的步骤，直到完成校验每一组数据通道的数据传输信号：N1：利用预设的校验电路连通一组数据通道；其中，所述一组数据通道中的两个数据通道与所述预设的校验电路连接；

N2：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，所述数据传输信号质量包括：数据输出驱动电流能力和/或数据输入消耗电流能力；

N3：在所述测试电压小于设定阈值的情况下，调整通过所述一组数据通道的电流数值，并执行步骤N2，直到所述测试电压不小于所述设定阈值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述预设的校验电路设置有开关；

所述利用预设的校验电路连通一组数据通道，包括：

驱动所述开关的状态为闭合，以在所述开关状态为闭合的情况下，使得所述预设的校验电路连通与所述预设的校验电路连接的一组数据通道。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：利用使能信号切换所述一组数据通道中的两个数据通道中的第一数据通道作为数据输入方或者数据输出方；

以使在所述第一数据通道作为数据输入方的情况下，所述两个数据通道中的第二数据通道作为数据输出方；或者，在所述第一数据通道作为数据输出方的情况下，所述第二数据通道作为数据输入方。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，根据电压与电流的关联关系，基于所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力、和/或数据输入方的数据输入消耗电流能力。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流、以及所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流、以及所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，进一步包括：利用测量电路测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；其中，所述测量电路具有多路切换开关，通过所述多路切换开关控制所述测量电路测量多组数据通道中的一组目标数据通道。

8.根据权利要求1‑7任一所述的方法，其特征在于，所述调整通过所述一组数据通道的电流数值，包括：

提高所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的电流，或者，降低所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的电流。

9.一种校验eMMC数据传输信号的装置，其特征在于，所述装置包括：校验模块和预设的校验电路；其中，所述校验模块用于响应于校验eMMC的数据传输信号；其中，所述eMMC包含多组数据通道；针对eMMC包含的每一组数据通道，执行N1‑N3的步骤，直到完成每一组数据通道的数据传输信号校验：N1：利用所述预设的校验电路连通一组数据通道；其中，所述一组数据通道中的两个数据通道与所述预设的校验电路连接；

N2：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，所述数据传输信号质量包括：数据输出驱动电流能力和/或数据输入消耗电流能力；

N3：在所述测试电压小于设定阈值的情况下，调整通过所述一组数据通道的电流数值，并执行步骤N2，直到所述测试电压不小于所述设定阈值。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，

所述装置包含测试电路；

利用测量电路测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；其中，所述测量电路具有多路切换开关，通过所述多路切换开关控制所述测量电路测量多组数据通道中的一组目标数据通道。

11.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1‑8中任一所述的方法。

12.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1‑8中任一所述的方法。

说明书

一种校验eMMC数据传输信号的方法和装置

技术领域

[0001] 本发明涉及数据存储技术领域，尤其涉及一种校验eMMC数据传输信号的方法和装置。

背景技术

[0002] eMMC数据传输的性能依赖于eMMC数据传输信号的质量，因此校验eMMC数据传输的信号质量至关重要。

[0003] 目前，校验eMMC数据传输信号的方法主要有：针对eMMC的基准电压进行测量，基于测量的结果判断eMMC数据传输信号质量；或者利用在eMMC的外部板卡上增加电流镜电路以及比较器的方式来校验。

[0004] 现有的校验eMMC数据传输信号的方法存在评估eMMC数据传输信号质量的准确率偏低、颗粒度较大、灵活性较差的问题。

发明内容

[0005] 有鉴于此，本发明实施例提供一种校验eMMC数据传输信号的方法和装置，能够针对eMMC包含的每一组数据通道，利用预设的校验电路连通一组数据通道，并测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量；从而根据测试电压调整通过所述一组数据通道的电流数值，直到测试电压指示的数据传输信号满足设定的信号质量预期。本发明的实施例提高了校验eMMC数据传输信号的准确率、并克服了现有方法中校验eMMC数据传输信号的颗粒度较大、灵活性较差的问题。

[0006] 为实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种校验eMMC数据传输信号的方法，包括：响应于校验eMMC的数据传输信号；其中，所述eMMC包含多组数据通道；针对eMMC包含的每一组数据通道，执行N1‑N3的步骤，直到完成校验每一组数据通道的数据传输信号：N1：利用预设的校验电路连通一组数据通道；其中，所述一组数据通道中的两个数据通道与所述预设的校验电路连接；N2：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量；N3：在所述测试电压小于设定阈值的情况下，调整通过所述一组数据通道的电流数值，并执行步骤N2，直到所述测试电压不小于设定阈值。

[0007] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的方法，还包括：所述预设的校验电路设置有开关；所述利用预设的校验电路连通一组数据通道，包括：驱动所述开关的状态为闭合，以在所述开关状态为闭合的情况下，使得所述预设的校验电路连通与所述预设的校验电路连接的一组数据通道。

[0008] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的方法，进一步包括：利用使能信号切换所述一组数据通道中的两个数据通道中的第一数据通道作为数据输入方或者数据输出方；以使在所述第一数据通道作为数据输入方的情况下，所述两个数据通道中的第二数据通道作为数据输出方；或者，在所述第一数据通道作为数据输出方的情况下，所述第二数据通道作为数据输入方。

[0009] 可选地，所述数据传输信号质量包括：数据输出驱动电流能力和/或数据输入消耗电流能力；所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，根据电压与电流的关联关系，基于所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力、和/或数据输入方的数据输入消耗电流能力。

[0010] 可选地，所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流、以及所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力。

[0011] 可选地，所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流、以及所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力。

[0012] 可选地，所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，进一步包括：利用测量电路测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；其中，所述测量电路具有多路切换开关，通过所述多路切换开关控制所述测量电路测量多组数据通道中的一组目标数据通道。

[0013] 可选地，所述调整通过所述一组数据通道的电流数值，包括：提高所述一组数据通道中所述数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的电流，或者，降低所述一组数据通道中所述数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的电流。

[0014] 根据本发明的另一方面，提供了一种校验eMMC数据传输信号的装置，所述装置包括：校验模块和预设的校验电路；其中，

[0015] 所述校验模块用于响应于校验eMMC的数据传输信号；其中，所述eMMC包含多组数据通道；

[0016] 所述校验模块针对eMMC包含的每一组数据通道，执行N1‑N3的步骤，直到完成每一组数据通道的数据传输信号校验：

[0017] N1：利用所述预设的校验电路连通一组数据通道；其中，所述一组数据通道中的两个数据通道与所述预设的校验电路连接；

[0018] N2：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量；

[0019] N3：在所述测试电压小于设定阈值的情况下，调整通过所述一组数据通道的电流数值，并执行步骤N2，直到所述测试电压不小于设定阈值。

[0020] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的装置包含测试电路；利用测量电路测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；其中，所述测量电路具有多路切换开关，通过所述多路切换开关控制所述测量电路测量多组数据通道中的一组目标数据通道。

[0021] 可选地，所述预设的校验电路设置有开关；所述利用预设的校验电路连通一组数据通道，包括：驱动所述开关的状态为闭合，以在所述开关状态为闭合的情况下，使得所述预设的校验电路连通与所述预设的校验电路连接的一组数据通道。

[0022] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的装置，进一步用于利用使能信号切换所述一组数据通道中的两个数据通道中的第一数据通道作为数据输入方或者数据输出方；以使在所述第一数据通道作为数据输入方的情况下，所述两个数据通道中的第二数据通道作为数据输出方；或者，在所述第一数据通道作为数据输出方的情况下，所述第二数据通道作为数据输入方。

[0023] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的装置包含的所述数据传输信号质量包括数据输出驱动电流能力和/或数据输入消耗电流能力；所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，根据电压与电流的关联关系，基于所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力、和/或数据输入方的数据输入消耗电流能力。

[0024] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的装置用于测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流、以及所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力。

[0025] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的装置用于测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流、以及所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力。

[0026] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的装置用于调整通过所述一组数据通道的电流数值，包括：提高所述一组数据通道中所述数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的电流，或者，降低所述一组数据通道中所述数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的电流。

[0027] 根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，包括：

[0028] 处理器；以及

[0029] 存储程序的存储器，

[0030] 其中，所述程序包括指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述处理器执行上述校验eMMC数据传输信号的方法。

[0031] 根据本发明的另一方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使计算机执行上述校验eMMC数据传输信号的方法。

[0032] 上述发明中的一个实施例具有如下优点或有益效果：能够针对eMMC包含的每一组数据通道，利用预设的校验电路连通一组数据通道，并测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量；从而根据测试电压调整通过所述一组数据通道的电流数值，直到测试电压指示的数据传输信号满足设定信号质量预期。本发明的实施例提高了校验eMMC数据传输信号的准确率、并克服了现有方法中校验eMMC数据传输信号的颗粒度较大、灵活性较差的问题。

[0033] 上述的非惯用的可选方式所具有的进一步效果将在下文中结合具体实施方式加以说明。

附图说明

[0034] 在下面结合附图对于示例性实施例的描述中，本发明的更多细节、特征和优点被公开，在附图中：

[0035] 图1是本发明示例性实施例提供的一种校验eMMC数据传输信号的方法的流程示意图；

[0036] 图1A本发明示例性实施例提供的一组数据通道的结构示意图；

[0037] 图1B本发明示例性实施例提供的利用测量电路切换测量一组数据通道的结构示意图；

[0038] 图2A是本发明示例性实施例提供的一种校验数据输出方的数据输出驱动电流能力的流程示意图；

[0039] 图2B是本发明示例性实施例提供的一种校验数据输入方的数据输入消耗电流能力的流程示意图；

[0040] 图3是本发明示例性实施例提供的一种校验eMMC数据传输信号的装置的结构示意图；

[0041] 图4示出了能够用于实现本发明的实施例的示例性电子设备的结构框图。

具体实施方式

[0042] 下面将参照附图更详细地描述本发明的实施例。虽然附图中显示了本发明的某些实施例，然而应当理解的是，本发明可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本发明。应当理解的是，本发明的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本发明的保护范围。

[0043] 应当理解，本发明的方法实施方式中记载的各个步骤可以按照不同的顺序执行，和/或并行执行。此外，方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本发明的范围在此方面不受限制。

[0044] 本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”；术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。需要注意，本发明中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的装置、模块或单元进行区分，并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。

[0045] 需要注意，本发明中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。

[0046] 本发明实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的，而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。

[0047] 如图1所示，本发明实施例提供了一种校验eMMC数据传输信号的方法，该方法可以包括以下步骤：

[0048] 步骤S101：响应于校验eMMC的数据传输信号。

[0049] 具体地，eMMC（embedded Multi Media Card，简称eMMC）即嵌入式多媒体卡，是一种闪存卡的标准，其可用于智能手机、平板电脑、移动互联网设备等消费类电子设备的存储介质。

[0050] 作为存储介质，eMMC的数据传输信号密切关联于eMMC的数据传输性能，因此需要对eMMC的数据传输信号进行校验，校验包括测量、校准、评估等。

[0051] 在本发明的一个实施例中，eMMC包含多组数据通道，例如：eMMC包含8条独立的数据通道，即包括8条互相没有连接关系的数据通道，例如用D0 D7代表8条独立的数据通道；~
在本发明的一个实施例中，将eMMC包含的8条数据通道分成4组，以通过各组数据通道校验eMMC的数据传输信号，例如：D0、D1组成一组数据通道；D2、D3组成一组数据通道；D4、D5组成一组数据通道；D6、D7组成一组数据通道。

[0052] 进一步地，响应于校验eMMC的数据传输信号，例如接收到触发校验eMMC的数据传输信号的指令，或者接收到触发校验eMMC的数据传输信号的信号等，以执行校验eMMC的数据传输信号的步骤。

[0053] 步骤S102：针对eMMC包含的每一组数据通道，执行N1‑N3的步骤，直到完成校验每一组数据通道的数据传输信号。

[0054] 步骤S103：N1：利用预设的校验电路连通一组数据通道；其中，所述一组数据通道中的两个数据通道与所述预设的校验电路连接。

[0055] 具体地，在本发明的一个实施例中，所述预设的校验电路设置有开关；通过开关调整预设的校验电路为断开（即高阻状态）或者闭合（即连通状态）。优选地，在不校验eMMC的数据传输信号的应用场景中，可以驱动预设的校验电路的开关处于断开状态，使得eMMC包含的8条独立的数据通道处于原始的独立而互相不连接的状态。优选地，可以根据数据通道之间的距离确定预设的校验电路的长度，使预设的校验电路尽量短；可以理解的是，在预设的校验电路的开关处于断开的情况下，独立的D0、或D1的数据传输不会受到预设的校验电路的影响。其中，每一组数据通道之间均设置有预设的校验电路。在本发明的一个实施例中，开关可以为MOS管通道，通过使能信号控制MOS而达到“断开”或者“闭合”的效果。

[0056] 进一步地，利用预设的校验电路连通一组数据通道，包括：驱动所述开关的状态为闭合，以在所述开关状态为闭合的情况下，使得所述预设的校验电路连通与所述预设的校验电路连接的一组数据通道。图1A示出了预设的校验电路的结构示意图，其中，如图1A 所示，1A00为预设的校验电路，并且预设的校验电路中设置有开关，在开关为闭合的情况下，预设的校验电路1A00连通与所述预设的校验电路连接的一组数据通道（如图1A所示的D0和D1），即在开关闭合的情况下，D0和D1的电路连通。

[0057] 进一步地，在本发明的实施例中，一组数据通道包含两个数据通道，例如：D0、D1；假设D0为第一数据通道、D1为第二数据通道；可以设置D0为数据输入方input，D1为数据输出方output、或者，反之设置D0为数据输出方output，D1为数据输入方input。设置的方法可以利用发送使能信号对同一个数据通道作为数据输入方或者数据输入方进行切换，使得该数据通道的数据输入输出均得到校验，从而提高了校验数据传输信号的准确性和效率。即，利用使能信号切换所述一组数据通道中的两个数据通道中的第一数据通道作为数据输入方或者数据输出方；以使在所述第一数据通道作为数据输入方的情况下，所述两个数据通道中的第二数据通道作为数据输出方；或者，在所述第一数据通道作为数据输出方的情况下，所述第二数据通道作为数据输入方。

[0058] 步骤S104：N2：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量。

[0059] 具体地，利用预设的校验电路连通一组数据通道后，测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，优选地，可以利用测量电路测量一组数据通道的测试电压，其中测量电压的采样点可以在一组数据通道（例如：D0与D1连通）的中间位置。例如：测量到的测试电压为1.6V；假设满足数据传输信号质量正常范围的电压阈值为1.5V，由于1.6V大于1.5V，则基于所述测试电压（1.6V）评估所述一组数据通道的数据传输信号质量为正常范围。其中，电压阈值可以基于eMMC自身的产品规格或标准等因素所设定，本发明对满足数据传输信号质量正常范围的电压阈值的具体数值不作限定。

[0060] 其中，所述数据传输信号质量包括：数据输出驱动电流能力和/或数据输入消耗电流能力；所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，以基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，根据电压与电流的关联关系，基于所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力、和/或数据输入方的数据输入消耗电流能力。因此，评估数据传输信号质量包括：根据测试电压评估数据输出方（例如D0、D2、D4、D6等）的数据输出驱动电流能力、和/或数据输入方（例如D1、D3、D5、D7等）的数据输入消耗电流能力。可以理解的是，D0、D2、D4、D6可以作为数据输出方，也可以作为数据输入方；同理地，D1、D3、D5、D7可以作为数据输出方，也可以作为数据输入方；在4组数据通道中，如果D1、D3、D5、D7作为数据输入方时，则对应的D0、D2、D4、D6可以作为数据输出方；反之亦然。

[0061] 在本发明的一个实施例中，分别对数据输出驱动电流能力、数据输入消耗电流能力进行评估和校验，从而提高校验eMMC数据传输信号的准确率。

[0062] 1）在对数据输出驱动电流能力进行评估和校验的情况下，获取数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流作为基础，例如：测试D0、D1的测试电压，其中，D0为数据输入方、D1为数据输出方；例如获取D0的第一校准电流为1ma；则基于1ma、以及测量连通后的D0和D1的测试电压，以评估D1的数据输出驱动电流能力；从而进行校准；例如：测试得到的测试电压小于1.5V，其中，假设满足数据传输信号质量正常范围的电压阈值为1.5V；则执行进一步调整电流档位的操作。其中，第一校准电流可以基于eMMC自身的产品规格或实验值等因素所设定，本发明对第一校准电流的具体数值不作限定；即，所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流、以及所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力。

[0063] 2）在对数据输入消耗电流能力进行评估和校验的情况下，获取数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流作为基础，例如：测试D0、D1的测试电压，其中，D0为数据输入方、D1为数据输出方；例如获取D1的第二校准电流为5毫安，用5ma代表；则基于5ma、以及测量连通后的D0和D1的测试电压，以评估D0的数据输入消耗电流能力；从而进行校准；例如：测试得到的测试电压小于1.5V，其中，假设满足数据传输信号质量正常范围的电压阈值为1.5V；则执行进一步调整电流档位的操作。第二校准电流可以基于eMMC自身的产品规格或实验值等因素所设定，本发明对第二校准电流的具体数值不作限定；即，所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量，包括：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于所述一组数据通道中数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流、以及所述测试电压评估所述一组数据通道中数据输入方的数据输入消耗电流能力。

[0064] 进一步优选地，所述测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，进一步包括：利用测量电路测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；其中，所述测量电路具有多路切换开关，通过所述多路切换开关控制所述测量电路测量多组数据通道中的一组目标数据通道。

[0065] 具体地，在本发明的一个实施例中，测量电路可以为AD电路，其中，AD电路为模拟信号转换为数字信号的电路，并且，测量电路具有多路切换开关（例如：单刀8路开关）；可以利用多路切换开关控制所述测量电路测量多组数据通道中的一组目标数据通道；图1B示出了包含多路切换开关的测量电路的示意图，如图1B所示，一共有4组数据通道，当前多路切换开关切换到由D0、D1组成的目标数据通道；通过测量电路和多路切换开关可以针对多组数据通道依次测量对应的测试电压，或者根据业务场景，仅选取其中的一组有针对性地次测量，提高了测量测试电压的灵活性。

[0066] 步骤S105：判断述测试电压是否小于设定阈值，如果是，执行步骤S106；否则针对其他的一组数据通道，执行步骤S102。

[0067] 步骤S106：N3：在所述测试电压小于设定阈值的情况下，调整通过所述一组数据通道的电流数值，并执行步骤N2，直到所述测试电压不小于设定阈值。

[0068] 具体地，根据步骤S105‑步骤S106的描述，在所述测试电压小于设定阈值的情况下，确定该组数据通道的数据传输信号质量为待调整；并进一步执行调整通过所述一组数据通道的电流数值的步骤。

[0069] 进一步地，在评估和校验数据输出方对应的数据输出驱动电流能力的情况下，针对于所述测试电压小于设定阈值的情况，提高所述一组数据通道中所述数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的电流（即调整通过所述一组数据通道的电流数值）；例如：提高一档电流；电流的挡位的数量和具体的电流数值依据eMMC的设计或标准等因素所设定，本发明对此不做限定。进一步地在提高提高一档电流之后，重复测量测试电压和判断测试电压是否小于设定阈值的步骤，直到数据输出驱动电流能力满足数据传输信号质量的要求。

[0070] 并且，在评估和校验数据输入方对应的数据输入消耗电流能力的情况下，针对于所述测试电压小于设定阈值的情况，降低所述一组数据通道中所述数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的电流（即调整通过所述一组数据通道的电流数值）；例如：降低一档电流；电流的挡位的数量和具体的电流数值依据eMMC的设计和标准所设定，本发明对此不做限定。进一步地在降低一档电流之后，重复测量测试电压和判断测试电压是否小于设定阈值的步骤，直到数据输入消耗电流能力满足数据传输信号质量的要求。

[0071] 即，所述调整通过所述一组数据通道的电流数值，包括：提高所述一组数据通道中所述数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的电流，或者，降低所述一组数据通道中所述数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的电流。

[0072] 本发明的实施例利用步骤S101‑步骤S106包含的循环可以校验eMMC包含的每一组数据通道的数据传输信号；并且灵活切换各个数据通道组中的数据输入方和数据输出方，使得针对每一个数据通道的数据输入消耗电流能力和数据输出驱动电流能力均得到校验；提高了校验eMMC数据传输信号的效率和灵活性。

[0073] 如图2A所示，本发明实施例提供了一种校验eMMC数据传输信号的流程，该流程可以包括以下步骤：

[0074] 该流程的步骤对应于在数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流不变的情况下，对数据输出方的数据输出驱动电流能力进行校验。

[0075] 步骤S201A：驱动所述开关的状态为闭合，以在所述开关状态为闭合的情况下，使得所述预设的校验电路连通与所述预设的校验电路连接的一组数据通道。

[0076] 步骤S202A：利用使能信号切换一组数据通道中的两个数据通道中的数据输入方以及对应的数据输出方。

[0077] 步骤S203A：获取数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流。

[0078] 步骤S204A：利用测量电路测量连通后的所述一组数据通道的测试电压。

[0079] 步骤S205A：判断述测试电压是否小于设定阈值，如果是，执行步骤S206A；否则执行步骤S208A。

[0080] 步骤S206A：提高所述一组数据通道中所述数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的电流。

[0081] 步骤S207A：判断电流是否达到最大值，如果是，切换数据输入方和数据输出方后执行步骤S202A；否则执行步骤S204A。

[0082] 步骤S208A：结束该组数据通道的信号质量校验，切换至下一组数据通道后执行步骤S201A。

[0083] 步骤S201A‑步骤S208A描述了在数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流不变的情况下，对数据输出方的数据输出驱动电流能力进行校验的流程。其中，数据输入消耗电流能力对应的第一校准电流为校验后得到的满足eMMC数据传输信号质量的电流值。在测试的初始阶段，将第一校准电流（例如1ma）作为通过待测量的该一组数据通道的电流数值，测量改组数据通道的测试电压。

[0084] 由此可见，根据步骤S201A‑步骤S208A，可以完成对D0‑D7的每一个数据通道在作为数据输出方时其数据输出驱动电流能力的校验，通过数据输出方的数据输出驱动电流能力的校验来完成对eMMC数据传输信号中数据输出的信号的校验。

[0085] 如图2B所示，本发明实施例提供了一种校验eMMC数据传输信号的流程，该流程可以包括以下步骤：

[0086] 该流程的步骤对应于在数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流不变的情况下，对数据输入方的数据输入消耗电流能力进行校验。

[0087] 步骤S201B：驱动所述开关的状态为闭合，以在所述开关状态为闭合的情况下，使得所述预设的校验电路连通与所述预设的校验电路连接的一组数据通道。

[0088] 步骤S202B：利用使能信号切换一组数据通道中的两个数据通道中的数据输入方以及对应的数据输出方。

[0089] 步骤S203B：获取数据输出方的数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流。

[0090] 步骤S204B：利用测量电路测量连通后的所述一组数据通道的测试电压。

[0091] 步骤S205B：判断述测试电压是否小于设定阈值，如果是，执行步骤S206B；否则执行步骤S208B。

[0092] 步骤S206B：降低所述一组数据通道中所述数据输入方的数据输入消耗电流能力对应的电流。

[0093] 步骤S207B：判断电流是否达到最小值，如果是，切换数据输入方和数据输出方后执行步骤S202B；否则执行步骤S204B。

[0094] 步骤S208B：结束该组数据通道的信号质量校验，切换至下一组数据通道后执行步骤S201B。

[0095] 步骤S201B‑步骤S208B描述了在数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流不变的情况下，对数据输入方的数据输入消耗电流能力进行校验的流程。其中，数据输出驱动电流能力对应的第二校准电流为校验后得到的满足eMMC数据传输信号质量的电流值。在测试的初始阶段，将第二校准电流（例如5ma）作为通过待测量的该一组数据通道的电流数值，测量改组数据通道的测试电压。

[0096] 由此可见，根据步骤S201B‑步骤S208B，可以完成对D0‑D7的每一个数据通道在作为数据输入方时期数据输入消耗电流能力的校验，通过对数据输入方的数据输入消耗电流能力的校验来完成对eMMC数据传输信号中数据输入的信号的校验。

[0097] 本发明实施例提供了一种校验eMMC数据传输信号的装置，该装置用于实现上述校验eMMC数据传输信号的方法。如图3所示的示意性框图，校验eMMC数据传输信号的装置300包括：校验模块301以及预设的校验电路302。其中，

[0098] 所述校验模块301用于响应于校验eMMC的数据传输信号；其中，所述eMMC包含多组数据通道；

[0099] 所述校验模块301针对eMMC包含的每一组数据通道，执行N1‑N3的步骤，直到完成每一组数据通道的数据传输信号校验：

[0100] N1：利用所述预设的校验电路302连通一组数据通道；其中，所述一组数据通道中的两个数据通道与所述预设的校验电路302连接；

[0101] N2：测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；基于所述测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量；

[0102] N3：在所述测试电压小于设定阈值的情况下，调整通过所述一组数据通道的电流数值，并执行步骤N2，直到所述测试电压不小于设定阈值。

[0103] 可选地，所述校验eMMC数据传输信号的装置包含测试电路；利用测量电路测量连通后的所述一组数据通道的测试电压；其中，所述测量电路具有多路切换开关，通过所述多路切换开关控制所述测量电路测量多组数据通道中的一组目标数据通道。

[0104] 在本发明的一个实施例，校验eMMC数据传输信号的装置归属于eMMC处理器。

[0105] 本实施例中，能够针对eMMC包含的每一组数据通道，利用预设的校验电路连通一组数据通道，并测量连通后的所述一组数据通道的测试电压，基于测试电压评估所述一组数据通道的数据传输信号质量；从而根据测试电压调整通过所述一组数据通道的电流数值，直到测试电压指示的数据传输信号满足设定信号质量预期。本发明的实施例提高了校验eMMC数据传输信号的准确率、并克服了现有方法中校验eMMC数据传输信号的颗粒度较大、灵活性较差的问题。

[0106] 本发明示例性实施例还提供一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器。所述存储器存储有能够被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序在被所述至少一个处理器执行时用于使所述电子设备执行根据本发明实施例的方法。

[0107] 本发明示例性实施例还提供一种存储有计算机程序的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机程序在被计算机的处理器执行时用于使所述计算机执行根据本发明实施例的方法。

[0108] 本发明示例性实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被计算机的处理器执行时用于使所述计算机执行根据本发明实施例的方法。

[0109] 参考图4，现将描述可以作为本发明的电子设备400的结构框图，其是可以应用于本发明的各方面的硬件设备的示例。电子设备旨在表示各种形式的数字电子的计算机设备，诸如，数据中心服务器、笔记本电脑、瘦客户机、膝上型计算机、台式计算机、工作站、个人数字助理、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。

[0110] 如图4所示，电子设备400包括计算单元401，其可以根据存储在只读存储器（ROM）402中的计算机程序或者从存储单元408加载到随机访问存储器（RAM）403中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 403中，还可存储设备400操作所需的各种程序和数据。计算单元401、ROM 402以及RAM 403通过总线404彼此相连。输入/输出（I/O）接口405也连接至总线404。

[0111] 电子设备400中的多个部件连接至I/O接口405，包括：输入单元406、输出单元407、存储单元408以及通信单元409。输入单元406可以是能向电子设备400输入信息的任何类型的设备，输入单元406可以接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备的用户设置和/或功能控制有关的键信号输入。输出单元407可以是能呈现信息的任何类型的设备，并且可以包括但不限于显示器、扬声器、视频/音频输出终端、振动器和/或打印机。存储单元408可以包括但不限于磁盘、光盘。通信单元409允许电子设备400通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据，并且可以包括但不限于调制解调器、网卡、红外通信设备、无线通信收发机和/或芯片组，例如蓝牙设备、WiFi设备、WiMax设备、蜂窝通信设备和/或类似物。

[0112] 计算单元401可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。计算单元401的一些示例包括但不限于中央处理单元（CPU）、图形处理单元（GPU）、各种专用的人工智能（AI）计算芯片、各种运行机器学习模型算法的计算单元、数字信号处理器（DSP）、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。计算单元401执行上文所描述的各个方法和处理。例如，在一些实施例中，上述校验eMMC数据传输信号的方法可被实现为计算机软件程序，其被有形地包含于机器可读介质，例如存储单元408。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 402和/或通信单元409而被载入和/或安装到电子设备400上。在一些实施例中，计算单元401可以通过其他任何适当的方式（例如，借助于固件）而被配置为上述校验eMMC数据传输信号的方法。

[0113] 用于实施本发明的方法的程序代码可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些程序代码可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器或控制器，使得程序代码当由处理器或控制器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。程序代码可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

[0114] 在本发明的上下文中，机器可读介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦除可编程只读存储器（EPROM或快闪存储器）、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器（CD‑ROM）、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

[0115] 如本发明使用的，术语“机器可读介质”和“计算机可读介质”指的是用于将机器指令和/或数据提供给可编程处理器的任何计算机程序产品、设备、和/或装置(例如，磁盘、光盘、存储器、可编程逻辑装置(PLD))，包括，接收作为机器可读信号的机器指令的机器可读介质。术语“机器可读信号”指的是用于将机器指令和/或数据提供给可编程处理器的任何信号。

[0116] 为了提供与用户的交互，可以在计算机上实施此处描述的系统和技术，该计算机具有：用于向用户显示信息的显示装置（例如，CRT（阴极射线管）或者LCD（液晶显示器）监视器）；以及键盘和指向装置（例如，鼠标或者轨迹球），用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给计算机。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈（例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈）；并且可以用任何形式（包括声输入、语音输入或者、触觉输入）来接收来自用户的输入。

[0117] 可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统（例如，作为数据服务器）、或者包括中间件部件的计算系统（例如，应用服务器）、或者包括前端部件的计算系统（例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互）、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信（例如，通信网络）来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网（LAN）、广域网（WAN）和互联网。

[0118] 计算机系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端‑服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。