一种应用于微放电效应测试的相位检测调节装置

摘要

一种应用于微放电效应测试的相位检测调节装置，涉及测电变量领域，包括：外部输入的射频信号SIF分别输出信号至第一混频器X1和第三混频器X3；本振信号源LO发出的信号经过第一移相器P1输出信号SLO1至第一混频器X1，经过第二移相器P2输出信号SLO2至第二混频器X2；第一混频器X1混频得到射频信号SRF输出至非变频链路，引入相位偏移叠加在射频信号SRF形成测试参考点耦合信号S1反馈回装置中与信号SLO2混频形成信号SIFT输入第三混频器X3；微控单元MCU接收第三混频器X3输出的信号并检测，比相测量计算相对相位差值，微控单元MCU向第一移相器P1和第二移相器P2发送根据相对相位差值调节的控制信号最终影响目标信号S2以达到实时检测调节相位的目的。