一种引线框架矫形检测组件及装置

摘要

一种引线框架矫形检测组件及装置，属于半导体器件基材生产检测技术领域，矫形检测组件包括：安装架具有横梁，横梁两端设有立柱；支撑滚轮两端分别连接于两侧的立柱，支撑滚轮中段外表面为硬质绝缘层，支撑滚轮的至少一端外表面设有导电圈；检测辊组平行设于支撑滚轮的上方，其包括中心轴及若干弧形板，中心轴为导电材料制成，中心轴与导电圈的电信号均与检测上位机相连，中心轴两端分别连接于两侧的立柱，弧形板为硬质绝缘材料，弧形板沿圆周布置于中心轴的外壁，所有弧形板的外壁构建形成完整的圆柱面，其中沿圆周相同间隔的弧形板内穿设有导电的探针。本方案可在对引线框架矫形的同时对引脚进行检测，具有较高的检测效率。

权利要求

1.一种引线框架矫形检测组件，其特征在于，包括：

安装架（1），其具有横梁（11），横梁（11）的两端均垂直设有相互平行的立柱（12）；

支撑滚轮（2），其两端分别连接于两侧的立柱（12），支撑滚轮（2）中段外表面为硬质绝缘层，支撑滚轮（2）的至少一端外表面设有导电圈（21）；

检测辊组（3），平行设于支撑滚轮（2）的上方，其包括中心轴（31）及若干弧形板（32），中心轴（31）由导电材料制成，中心轴（31）与导电圈（21）的电信号均与检测上位机相连，中心轴（31）两端分别连接于两侧的立柱（12），弧形板（32）为硬质绝缘材料，弧形板（32）沿圆周布置于中心轴（31）的外壁，所有弧形板（32）的外壁构成完整的圆柱面，其中沿圆周相同间隔的弧形板（32）内穿设有探针（33），该间隔的弧长距离与引线框架上相邻两横排之间的间距相同；探针（33）、中心轴（31）的轴线方向间隔设置，其间隔与引线框架上同一横排上相邻引脚之间的间距相同，探针（33）由导电材料制成，探针（33）的后端与中心轴（31）的外壁接触，探针（33）的前端凸出于弧形板（32）外壁预定距离，探针（33）沿长度前后端连线方向伸缩设置。

2.根据权利要求1所述的一种引线框架矫形检测组件，其特征在于，探针（33）的前端为针头，中段为弹簧结构，后端具有平板。

3.根据权利要求1所述的一种引线框架矫形检测组件，其特征在于，探针（33）的长度方向与检测辊组（3）的法线方向一致。

4.根据权利要求1所述的一种引线框架矫形检测组件，其特征在于，弧形板（32）沿长度方向开设有多处用于安装探针（33）的安装孔。

5.根据权利要求1所述的一种引线框架矫形检测组件，其特征在于，中心轴（31）的两端均设有端盖（34），端盖（34）朝向中心轴（31）中间的一侧均具有圆锥孔（341），圆锥孔（341）与中心轴（31）同轴，弧形板（32）的两端外侧均具有斜面（321），检测辊组（3）组装之后，弧形板（32）的斜面（321）与对应侧的圆锥孔（341）内壁贴合。

6.根据权利要求5所述的一种引线框架矫形检测组件，其特征在于，端盖（34）的圆锥孔（341）内均设有圆盘（342），圆盘（342）与圆锥孔（341）底面之间设有蝶形弹簧（343）。

7.根据权利要求1或5所述的一种引线框架矫形检测组件，其特征在于，支撑滚轮（2）与检测辊组（3）之间的间距可调。

8.根据权利要求6所述的一种引线框架矫形检测组件，其特征在于，中心轴（31）的两端均设有滑块（35），滑块（35）为绝缘材料，滑块（35）滑动设于立柱（12）上，且滑块（35）的顶部转动设有调节螺杆（36），调节螺杆（36）穿过立柱（12）的顶部。

9.一种引线框架矫形检测装置，其特征在于，包括输送轨道（4）以及权利要求1‑8中任一项所述的引线框架矫形检测组件，引线框架矫形检测组件沿输送轨道（4）的输送方向设有多组，且引线框架矫形检测组件沿输送轨道（4）宽度方向的位置可调。

10.根据权利要求9所述的一种引线框架矫形检测装置，其特征在于，输送轨道（4）的内壁上开设有安装槽，用于连接安装架（1），输送轨道（4）的外壁对应安装槽穿设有压紧螺钉（41）。

说明书

一种引线框架矫形检测组件及装置

技术领域

[0001] 本发明属于半导体器件基材生产检测技术领域，尤其涉及一种引线框架矫形检测组件及装置。

背景技术

[0002] 半导体器件通常形成于金属制成的引线框架上，引线框架通常采用铜片经冲压形成，为提高生产效率以及单片引线框架的产出率，多数引线框架上会阵列布局多个半导体器件的封装区域，且每个封装区域都具有若干引脚。半导体器件封装时，会在引脚上涂胶、点芯、组装跳线或是重叠另一块引线框架，然后经固焊、塑封、冲裁等工序形成最终的单个半导体器件。而引线框架冲压成型之后，在半导体封装之前都需要对引线框架进行矫形及检测。矫形目的是使各个引脚处于同一平面，并且使引线框架处于平成状态，以便于精确的涂胶及点芯；检测主要用于判断一片引线框架上的引脚是否有缺失，从而决定引线框架继续使用还是报废回收。

[0003] 现有的检测装置通常采用视觉对比的方式进行，即首先在检测系统内保存一张合格引线框架的照片，然后以此为基准，通过视觉系统扫描或是拍照，检测系统将获取的图片与基准照片进行比对，如果存在差异则发出提示。而此种检测方式必须是在引线框架矫形之后进行，否则将会因为引线框架的引脚甚至其他局部发生变形影响检测结构，也就是说此种检测方式不允许引线框架任何部位缺失或者发生变形，即使是半导体封装区域之外的部位，因此也导致检出的残次品中仍然存在引脚合格的，且不影响半导体成品质量的引线框架。为减少引线框架的报废，则需要设置人工再次检查环节，导致检测准确度较低，且影响检测环节的生产效率；并且此种方式还需要单独设置矫形装置，增加了设备及成本的投入。

发明内容

[0004] 为解决现有技术不足，本发明提供一种引线框架矫形检测组件及装置，可在对引线框架矫形的同时对引脚进行检测，设备投入少，且具有较高的检测效率，无需人工复检。

[0005] 为了实现本发明的目的，拟采用以下方案：

[0006] 一种引线框架矫形检测组件，包括：安装架、支撑滚轮及检测辊组。

[0007] 安装架具有横梁，横梁的两端均垂直设有相互平行的立柱；

[0008] 支撑滚轮两端分别连接于两侧的立柱，支撑滚轮中段外表面为硬质绝缘层，支撑滚轮的至少一端外表面设有导电圈；

[0009] 检测辊组平行设于支撑滚轮的上方，其包括中心轴及若干弧形板，中心轴为导电材料制成，中心轴与导电圈的电信号均与检测上位机相连，中心轴两端分别连接于两侧的立柱，弧形板为硬质绝缘材料，弧形板沿圆周布置于中心轴的外壁，所有弧形板的外壁构建形成完整的圆柱面，其中沿圆周相同间隔的弧形板内穿设有探针，该间隔的弧长距离与引线框架上相邻两横排之间的间距相同；探针中心轴的轴线方向间隔设置，其间隔与引线框架上同一横排上相邻引脚之间的间距相同，探针为导电材料制成，探针的后端与中心轴的外壁接触，探针的前端凸出于弧形板外壁预定距离，探针沿长度前后端连线方向可伸缩；

[0010] 支撑滚轮与检测辊组同步且沿相反方向旋转。

[0011] 进一步的，探针的前端为针头，中段为弹簧结构，后端具有平板。

[0012] 进一步的，探针的长度方向与检测辊组的法线方向一致。

[0013] 进一步的，弧形板沿长度方向开设有多处用于安装探针的安装孔。

[0014] 进一步的，中心轴的两端均设有端盖，端盖朝向中心轴中间的一侧均具有圆锥孔，圆锥孔与中心轴同轴，弧形板的两端外侧均具有斜面，检测辊组组装之后，弧形板的斜面与对应侧的圆锥孔内壁贴合。

[0015] 进一步的，端盖的圆锥孔内均设有圆盘，圆盘与圆锥孔底面之间设有蝶形弹簧。

[0016] 进一步的，支撑滚轮与检测辊组之间的间距可调，以适应不同厚度的引线框架。

[0017] 进一步的，中心轴的两端均设有滑块，滑块为绝缘材料，滑块滑动设于立柱上，且滑块的顶部转动设有调节螺杆，调节螺杆穿过立柱的顶部。

[0018] 一种引线框架矫形检测装置，包括输送轨道以及上述的引线框架矫形检测组件，引线框架矫形检测组件沿输送轨道的输送方向设有多组，且引线框架矫形检测组件沿输送轨道宽度方向的位置可调。

[0019] 进一步的，输送轨道的内壁上开设有安装槽，用于连接安装架，输送轨道的外壁对应安装槽穿设有压紧螺钉。

[0020] 本发明的有益效果在于：

[0021] 1、支撑滚轮与检测辊组可对引线框架及引脚进行校正，从而避免错误的检测判断，以此来减少人工复检的流程，从而提高检测准确率，并且此种检测方式仅对关键性的引脚进行检测，而避免了其他不重要部位对检测结果的影响，避免检错现象的发生。

[0022] 2、本申请可同时完成矫形及检测，能减少设备的投入，降低成本。

附图说明

[0023] 本文描述的附图只是为了说明所选实施例，而不是所有可能的实施方案，更不是意图限制本发明的范围。

[0024] 图1示出了一种引线框架的局部结构示意图。

[0025] 图2示出了本申请引线框架矫形检测组件一种优选的结构示意图。

[0026] 图3示出了本申请探针的优选结构示意图。

[0027] 图4示出了本申请检测辊组的结构爆炸图。

[0028] 图5示出了本申请弧形板与端盖的结构示意图。

[0029] 图6示出了本申请检测辊组整体结构的剖视图。

[0030] 图7示出了本申请引线框架矫形检测装置一种优选实施例的结构示意图。

[0031] 图中标记：安装架‑1、横梁‑11、立柱‑12、支撑滚轮‑2、导电圈‑21、检测辊组‑3、中心轴‑31、弧形板‑32、斜面‑321、探针‑33、端盖‑34、圆锥孔‑341、圆盘‑342、蝶形弹簧‑343、滑块‑35、调节螺杆‑36、输送轨道‑4、压紧螺钉‑41。

具体实施方式

[0032] 为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本发明的实施方式进行详细说明，但本发明所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

[0033] 实施例1

[0034] 如图2至6所示，一种引线框架矫形检测组件，包括安装架1、支撑滚轮2及检测辊组3。

[0035] 具体的，如图2所示，安装架1具有横梁11，横梁11的两端均垂直设有相互平行的立柱12。

[0036] 具体的，如图2所示，支撑滚轮2两端分别连接于两侧的立柱12，支撑滚轮2中段外表面为硬质绝缘层，支撑滚轮2的至少一端外表面设有导电圈21。硬质绝缘层可采用陶瓷、钢化玻璃或者硬塑料制成。

[0037] 具体的，如图2至图6所示，检测辊组3平行设于支撑滚轮2的上方，其包括中心轴31及若干弧形板32，中心轴31由导电材料制成，中心轴31与导电圈21的电信号均与检测上位机相连，中心轴31两端分别连接于两侧的立柱12，为防止引线框架矫形检测组件整体导电，中心轴31的两端均通过绝缘结构进行安装连接，弧形板32为硬质绝缘材料，硬质绝缘材料为陶瓷、钢化玻璃或者硬塑料。弧形板32沿圆周布置于中心轴31的外壁，所有弧形板32的外壁构建形成完整的圆柱面，其中沿圆周相同间隔的弧形板32内穿设有探针33，该间隔的弧长距离与引线框架上相邻两横排之间的间距相同，并且设置探针33的弧形板32之间的间隔可调节，以适应引线框架不同横排之间的间距。间隔调节方式为：增加或减少设置有探针33的弧形板32之间的其他弧形板32的数量，而其他弧形板32均设置为探针33；探针33、中心轴31的轴线方向间隔设置，其间隔与引线框架上同一横排上相邻引脚之间的间距相同，探针
33由导电材料制成，探针33的后端与中心轴31的外壁接触，探针33的前端凸出于弧形板32外壁预定距离，探针33可沿长度前后端连线方向伸缩，并且探针33的长度方向与检测辊组3的法线方向一致。

[0038] 支撑滚轮2与检测辊组3同步且沿相反方向旋转，具体的可采用单独两部电机独立驱动支撑滚轮2与检测辊组3旋转，也可利用一部电机驱动支撑滚轮2或检测辊组3旋转，然后通过设置传动结构驱动检测辊组3或支撑滚轮2旋转；也可仅利用一部电机控制检测辊组3转动，以便于控制其转速，使其转动速度与引线框架的移动速度匹配，然后利用摩擦力带动支撑滚轮2转动，电机主轴与中心轴31之间采用绝缘连接，具体的可通过皮带传动或是在电机主轴与中心轴31之间设置绝缘连接管。

[0039] 工作时，引线框架从支撑滚轮2与检测辊组3进入，利用支撑滚轮2与检测辊组3对引线框架进行矫形，过程中，因为支撑滚轮2与弧形板32均为硬质绝缘材料，因此不仅可对引线框架进行矫形，而且支撑滚轮2及弧形板32与引线框架及之间均不会通电，引线框架推进的过程中引线框架的工艺边框与导电圈21接触，使引线框架上电或者接地；引线框架的推进速度与检测辊组3的旋转速度同步，检测过程中通过检测辊组3的旋转，使每一块弧形板32的探针33与引线框架上同一横排的上预定的引脚位置一一感应；引脚位置合格时，当探针33滚动至该合格的引脚上，探针33便于与引脚顶面接触，并且通过引线框架导通导电圈21，检测上位机接收到导通信号则表示引脚无缺失而且位置合格，并且探针33同时进行收缩，避免压伤引脚；当引线框架中存在缺失的引脚，那么探针33在经过缺失引脚的位置时将直接与支撑滚轮2中段的绝缘层接触，而导致信号无法导通，然后通过检测上位机发出不合格提示；另一种比较常见的情况是，引脚并未缺失，只是存在弯曲、翘起等现象，而此种结构的引脚在经过支撑滚轮2与检测辊组3的同时将被矫正压平，使其回归到合格的位置，从而避免错误的判断，以此来减少人工复检的流程，从而提高检测准确率，并且此种检测方式仅对关键性的引脚进行检测，而避免了其他不重要部位对检测结果的影响。

[0040] 优选的，如图3所示，探针33的前端为针头，用于接触引脚，针头的直径小于探针33主体的直径，以防止从弧形板32的安装孔内滑落，中段为弹簧结构，以实现伸缩，后端具有平板，用于提高与中心轴31的接触范围。

[0041] 优选的，如图6所示，弧形板32沿长度方向开设有多处用于安装探针33的安装孔，以方便根据引线框架上同一横板引脚之间的间距选择适应的安装孔设置探针33。

[0042] 优选的，如图4至图6所示，中心轴31的两端均设有端盖34，端盖34可采用螺母锁紧，也可将其中一个端盖34与中心轴31设计为一体结构，仅将另一个端盖34设计为可拆卸的结构，以此利用与中心轴31一体的端盖34提高弧形板32的安装位置精度，并且还能减少组装工作量，端盖34朝向中心轴31中间的一侧均具有圆锥孔341，圆锥孔341与中心轴31同轴，弧形板32的两端外侧均具有斜面321，检测辊组3组装之后，弧形板32的斜面321与对应侧的圆锥孔341内壁贴合，此结构不仅可利用端盖34将多块弧形板32同时压紧，并且利用圆锥孔341可使弧形板32保持与中心轴31同轴的状态，而且沿法线方向对弧形板32施加朝向中心轴31的压力，从而使多块弧形板32构成的圆柱面更加规整，使相邻弧形板32之间接触更加紧密，从而避免接缝对探针33移动精度的影响。

[0043] 进一步优选的，如图6所示，端盖34的圆锥孔341内均设有圆盘342，圆盘342与圆锥孔341底面之间设有蝶形弹簧343，在组装时为弧形板32提供预压力以方便组装，并且为通过端盖34向锁紧端盖34的螺母提供反作用力，以防止螺母松动。

[0044] 优选的，支撑滚轮2与检测辊组3之间的间距可调，以适应不同厚度的引线框架。

[0045] 更具体的，如图2所示，中心轴31的两端均设有滑块35，滑块35为绝缘材料，滑块35滑动设于立柱12上，且滑块35的顶部转动设有调节螺杆36，调节螺杆36穿过立柱12的顶部，通过旋转调节螺杆36便可移动检测辊组3，从而调节支撑滚轮2与检测辊组3之间的间距，并且此结构实现了中心轴31两端的绝缘安装结构。

[0046] 实施例2

[0047] 如图7所示，一种引线框架矫形检测装置，包括输送轨道4以及实施例1公开的引线框架矫形检测组件，引线框架矫形检测组件沿输送轨道4的输送方向设有多组，且引线框架矫形检测组件沿输送轨道4宽度方向的位置可调，以适应同一片引线框架上不同横排上引脚的位置，如图1所示的引线框架，图中箭头方向为引线框架的长度方向，与箭头垂直的水平方向为横排方向，其中双线划线a轨迹上对应的引脚c，与双点划线b轨迹上对应的引脚d处于不同的横排，而且沿引线框架的长度方向并不重合，设置一组引线框架矫形检测组件无法同时对所有引脚进行检测，因此需要设置多组，并且为了适应不同横排引脚的位置，在将引线框架矫形检测组件安装到输送轨道4上时，需要调节引线框架矫形检测组件在输送轨道4宽度方向的位置，从而来满足不同位置引脚的检查工作，以提高检测效率，并且多组支撑滚轮2与检测辊组3对引线框架同时进行矫形，能有效提高引线框架的整体平整度。

[0048] 进一步优选的，如图7所示，输送轨道4的内壁上开设有安装槽，用于连接安装架1，输送轨道4的外壁对应安装槽穿设有压紧螺钉41，通过压紧螺钉41不仅可调节安装架1在输送轨道4宽度方向的位置，而且还能对安装架1进行压紧，实现对引线框架矫形检测组件的固定。

[0049] 以上所述仅为本发明的优选实施例，并不表示是唯一的或是限制本发明。本领域技术人员应理解，在不脱离本发明的范围情况下，对本发明进行的各种改变或同等替换，均属于本发明保护的范围。