立方体绘制检测方法及装置、计算机设备和可读存储介质

摘要

本申请提供一种立方体绘制检测方法及装置、计算机设备和可读存储介质，涉及图形异常检测技术领域。本申请通过对待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹，而后对每条边绘制轨迹进行直线段拟合，接着将拟合出的边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目进行比对，以在两者并不相同的情况下提示待检测立方体绘制轨迹异常，或者在两者相同的情况下将拟合得到的多条边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示待检测立方体绘制轨迹异常或正常，从而在提升立方体绘制检测精准度的同时，有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本。

权利要求

1.一种立方体绘制检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测立方体绘制轨迹，并对所述待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹；

针对每条边绘制轨迹，对该边绘制轨迹进行直线段拟合，得到与该边绘制轨迹对应的边拟合线段；

在拟合出的所述边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常；

在所述边拟合线段的线段总数目与所述有效立方体边绘制数目保持一致的情况下，将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待检测立方体绘制轨迹包括多条立方体书画轨迹，所述对所述待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹的步骤，包括：针对每条立方体书画轨迹，对该条立方体书画轨迹进行直线段拟合，得到与该条立方体书画轨迹对应的初始拟合线段；

针对每条立方体书画轨迹，计算该条立方体书画轨迹与对应的初始拟合线段之间的轨迹拟合损失，并在所述轨迹拟合损失大于第一预设损失值时，将该条立方体书画轨迹拆分为轨迹延伸趋势互不相同的多条立方体书画轨迹；

对拆分出的每条立方体书画轨迹进行直线段拟合，得到拆分出的每条立方体书画轨迹的初始拟合线段；

针对当前得到的每条立方体书画轨迹，计算该条立方体书画轨迹与其他立方体书画轨迹各自对应的初始拟合线段之间的互拟合损失；

在任意两条立方体书画轨迹相互之间各自对应的互拟合损失均小于或等于第二预设损失值的情况下，将所述任意两条立方体书画轨迹合并为一条立方体书画轨迹；

将完成书画轨迹合并操作后剩余的所有立方体书画轨迹分别作为一条边绘制轨迹。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将该条立方体书画轨迹拆分为轨迹延伸趋势互不相同的多条立方体书画轨迹的步骤，包括：以该条立方体书画轨迹的轨迹起点为起始点，按照预设点数间隔地选取该条立方体书画轨迹上的预设拟合点数目个离散轨迹点构建得到多个轨迹点集，其中所述预设拟合点数目大于所述预设点数间隔，相邻轨迹点集存在部分离散轨迹点相互重合；

对所有轨迹点集分别进行直线段拟合，得到每个轨迹点集所对应的轨迹拟合线段；

针对每条轨迹拟合线段，检测该条轨迹拟合线段与相邻下一条轨迹拟合线段之间的斜率角度差值是否超过预设角度差阈值，并在检测到所述斜率角度差值超过所述预设角度差阈值时，将该条轨迹拟合线段所对应的轨迹点集内的末尾离散轨迹点作为一个轨迹拐点；

针对每个轨迹拐点，计算该轨迹拐点与相邻下一个轨迹拐点之间的轨迹点数目，并在计算出的所述轨迹点数目大于所述预设点数间隔时，以该轨迹拐点为拆分位置对该条立方体书画轨迹进行轨迹拆分处理。

4.根据权利要求1‑3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常的步骤，包括：基于拟合得到的多条所述边拟合线段构建形成剔除竖直边拟合线段的第一子图以及剔除水平边拟合线段的第二子图；

检测所述第一子图和所述第二子图各自的与边拟合线段对应的实际子图边数目是否均与预设的有效立方体子图边数目保持一致；

在检测到所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际子图边数目与所述有效立方体子图边数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常的步骤，还包括：在检测到所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际子图边数目均与所述有效立方体子图边数目保持一致的情况下，确定所述第一子图与所述第二子图各自包括的多条所述边拟合线段之间的邻接关系；

分别针对所述第一子图与所述第二子图，根据对应邻接关系确定对应子图内的实际非闭环边数目以及多边闭环的实际闭环数目、实际闭环形状；

检测所述第一子图和所述第二子图各自的实际闭环数目是否均与预设的有效立方体子图闭环数目保持一致；

在检测到所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际闭环数目与所述有效立方体子图闭环数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常的步骤，还包括：在检测到所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际闭环数目均与所述有效立方体子图闭环数目保持一致的情况下，检测所述第一子图和所述第二子图各自的实际非闭环边数目是否与所述有效立方体子图闭环数目所对应的有效非闭环边数目保持一致；

在检测到所述第一子图和/或所述第二子图的实际非闭环边数目与所述有效非闭环边数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常的步骤，还包括：在检测到所述第一子图和所述第二子图各自的实际非闭环边数目均与所述有效非闭环边数目保持一致的情况下，检测所述第一子图和所述第二子图各自的实际闭环形状是否均为平行四边形；

在检测到所述第一子图和/或所述第二子图的实际闭环形状不为平行四边形的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常；

在检测到所述第一子图和所述第二子图各自的实际闭环形状均为平行四边形的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹正常。

8.一种立方体绘制检测装置，其特征在于，所述装置包括：

轨迹预处理模块，用于获取待检测立方体绘制轨迹，并对所述待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹；

边轨迹拟合模块，用于针对每条边绘制轨迹，对该边绘制轨迹进行直线段拟合，得到与该边绘制轨迹对应的边拟合线段；

立方体匹配模块，用于在拟合出的所述边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常；

所述立方体匹配模块，还用于在所述边拟合线段的线段总数目与所述有效立方体边绘制数目保持一致的情况下，将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常。

9.一种计算机设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器存储有能够被所述处理器执行的计算机程序，所述处理器可执行所述计算机程序，以实现权利要求1‑7中任意一项所述的立方体绘制检测方法。

10.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1‑7中任意一项所述的立方体绘制检测方法。

说明书

立方体绘制检测方法及装置、计算机设备和可读存储介质

技术领域

[0001] 本申请涉及图形异常检测技术领域，具体而言，涉及一种立方体绘制检测方法及装置、计算机设备和可读存储介质。

背景技术

[0002] 随着科学技术的不断发展，图形异常检测技术的应用越发广泛，其中认知障碍评估测试的重要组成部分——立方体绘制评估测试便是当今图形异常检测技术的一种重要应用方向。在立方体绘制评估测试实现过程中，可利用图形异常检测技术检测书写者绘制出的对边是否相对平行、对边的相对长度是否保持一致、绘制边数目是否为12条或9条(少了三条透视边)，并在前者三项检测任务中至少一项任务检测结果为否时，判定对应书写者的立方体绘制图形存在异常，并认定该书写者认知存在障碍。

[0003] 目前，现有立方体绘制检测方案是通过收集大量正常立方体绘制图像和大量异常立方体绘制图像进行分类器模型训练，以通过训练出的分类器模型来检测书写者绘制出的立方体图像是否存在异常。值得注意的是，这种立方体绘制检测方案存在训练数据收集难度大，且异常立方体绘制图像无法穷举，影响分类器模型的检测精准度的问题，往往在耗时耗力的同时无法达到期望的立方体绘制检测精准度。

发明内容

[0004] 有鉴于此，本申请的目的在于提供一种立方体绘制检测方法及装置、计算机设备和可读存储介质，能够在有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，并降低立方体绘制检测成本的同时，提升立方体绘制检测精准度。

[0005] 为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

[0006] 第一方面，本申请提供一种立方体绘制检测方法，所述方法包括：

[0007] 获取待检测立方体绘制轨迹，并对所述待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹；

[0008] 针对每条边绘制轨迹，对该边绘制轨迹进行直线段拟合，得到与该边绘制轨迹对应的边拟合线段；

[0009] 在拟合出的所述边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常；

[0010] 在所述边拟合线段的线段总数目与所述有效立方体边绘制数目保持一致的情况下，将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常。

[0011] 在可选的实施方式中，所述待检测立方体绘制轨迹包括多条立方体书画轨迹，所述对所述待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹的步骤，包括：

[0012] 针对每条立方体书画轨迹，对该条立方体书画轨迹进行直线段拟合，得到与该条立方体书画轨迹对应的初始拟合线段；

[0013] 针对每条立方体书画轨迹，计算该条立方体书画轨迹与对应的初始拟合线段之间的轨迹拟合损失，并在所述轨迹拟合损失大于第一预设损失值时，将该条立方体书画轨迹拆分为轨迹延伸趋势互不相同的多条立方体书画轨迹；

[0014] 对拆分出的每条立方体书画轨迹进行直线段拟合，得到拆分出的每条立方体书画轨迹的初始拟合线段；

[0015] 针对当前得到的每条立方体书画轨迹，计算该条立方体书画轨迹与其他立方体书画轨迹各自对应的初始拟合线段之间的互拟合损失；

[0016] 在任意两条立方体书画轨迹相互之间各自对应的互拟合损失均小于或等于第二预设损失值的情况下，将所述任意两条立方体书画轨迹合并为一条立方体书画轨迹；

[0017] 将完成书画轨迹合并操作后剩余的所有立方体书画轨迹分别作为一条边绘制轨迹。

[0018] 在可选的实施方式中，所述将该条立方体书画轨迹拆分为轨迹延伸趋势互不相同的多条立方体书画轨迹的步骤，包括：

[0019] 以该条立方体书画轨迹的轨迹起点为起始点，按照预设点数间隔地选取该条立方体书画轨迹上的预设拟合点数目个离散轨迹点构建得到多个轨迹点集，其中所述预设拟合点数目大于所述预设点数间隔，相邻轨迹点集存在部分离散轨迹点相互重合；

[0020] 对所有轨迹点集分别进行直线段拟合，得到每个轨迹点集所对应的轨迹拟合线段；

[0021] 针对每条轨迹拟合线段，检测该条轨迹拟合线段与相邻下一条轨迹拟合线段之间的斜率角度差值是否超过预设角度差阈值，并在检测到所述斜率角度差值超过所述预设角度差阈值时，将该条轨迹拟合线段所对应的轨迹点集内的末尾离散轨迹点作为一个轨迹拐点；

[0022] 针对每个轨迹拐点，计算该轨迹拐点与相邻下一个轨迹拐点之间的轨迹点数目，并在计算出的所述轨迹点数目大于所述预设点数间隔时，以该轨迹拐点为拆分位置对该条立方体书画轨迹进行轨迹拆分处理。

[0023] 在可选的实施方式中，所述将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常的步骤，包括：

[0024] 基于拟合得到的多条所述边拟合线段构建形成剔除竖直边拟合线段的第一子图以及剔除水平边拟合线段的第二子图；

[0025] 检测所述第一子图和所述第二子图各自的与边拟合线段对应的实际子图边数目是否均与预设的有效立方体子图边数目保持一致；

[0026] 在检测到所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际子图边数目与所述有效立方体子图边数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常。

[0027] 在可选的实施方式中，所述将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常的步骤，还包括：

[0028] 在检测到所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际子图边数目均与所述有效立方体子图边数目保持一致的情况下，确定所述第一子图与所述第二子图各自包括的多条所述边拟合线段之间的邻接关系；

[0029] 分别针对所述第一子图与所述第二子图，根据对应邻接关系确定对应子图内的实际非闭环边数目以及多边闭环的实际闭环数目、实际闭环形状；

[0030] 检测所述第一子图和所述第二子图各自的实际闭环数目是否均与预设的有效立方体子图闭环数目保持一致；

[0031] 在检测到所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际闭环数目与所述有效立方体子图闭环数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常。

[0032] 在可选的实施方式中，所述将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常的步骤，还包括：

[0033] 在检测到所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际闭环数目均与所述有效立方体子图闭环数目保持一致的情况下，检测所述第一子图和所述第二子图各自的实际非闭环边数目是否与所述有效立方体子图闭环数目所对应的有效非闭环边数目保持一致；

[0034] 在检测到所述第一子图和/或所述第二子图的实际非闭环边数目与所述有效非闭环边数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常。

[0035] 在可选的实施方式中，所述将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常的步骤，还包括：

[0036] 在检测到所述第一子图和所述第二子图各自的实际非闭环边数目均与所述有效非闭环边数目保持一致的情况下，检测所述第一子图和所述第二子图各自的实际闭环形状是否均为平行四边形；

[0037] 在检测到所述第一子图和/或所述第二子图的实际闭环形状不为平行四边形的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常；

[0038] 在检测到所述第一子图和所述第二子图各自的实际闭环形状均为平行四边形的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹正常。

[0039] 第二方面，本申请提供一种立方体绘制检测装置，所述装置包括：

[0040] 轨迹预处理模块，用于获取待检测立方体绘制轨迹，并对所述待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹；

[0041] 边轨迹拟合模块，用于针对每条边绘制轨迹，对该边绘制轨迹进行直线段拟合，得到与该边绘制轨迹对应的边拟合线段；

[0042] 立方体匹配模块，用于在拟合出的所述边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目并不一致的情况下，提示所述待检测立方体绘制轨迹异常；

[0043] 所述立方体匹配模块，还用于在所述边拟合线段的线段总数目与所述有效立方体边绘制数目保持一致的情况下，将拟合得到的多条所述边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示所述待检测立方体绘制轨迹异常或正常。

[0044] 第三方面，本申请提供一种计算机设备，包括处理器和存储器，所述存储器存储有能够被所述处理器执行的计算机程序，所述处理器可执行所述计算机程序，以实现前述实施方式中任意一项所述的立方体绘制检测方法。

[0045] 第四方面，本申请提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现前述实施方式中任意一项所述的立方体绘制检测方法。

[0046] 在此情况下，本申请实施例的有益效果可以包括以下内容：

[0047] 本申请在获取待检测立方体绘制轨迹后，通过对待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹，而后对每条边绘制轨迹进行直线段拟合，得到对应的边拟合线段，接着通过将拟合出的边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目进行比对，以在两者并不相同的情况下提示待检测立方体绘制轨迹异常，或者在两者相同的情况下将拟合得到的多条边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示待检测立方体绘制轨迹异常或正常，从而通过确认用户的立方体绘制轨迹与有效立方体图形的图形相关特征的特征接近状况，得到最终的立方体绘制检测结果，以在提升立方体绘制检测精准度的同时，有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本。

[0048] 为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

[0049] 为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

[0050] 图1为本申请实施例提供的计算机设备的组成示意图；

[0051] 图2为本申请实施例提供的立方体绘制检测方法的流程示意图；

[0052] 图3为图2中的步骤S210包括的子步骤的流程示意图；

[0053] 图4为图3中的子步骤S212包括的子步骤的流程示意图；

[0054] 图5为图2中的步骤S240包括的子步骤的流程示意图；

[0055] 图6为本申请实施例提供的立方体绘制检测装置的组成示意图。

[0056] 图标：10‑计算机设备；11‑存储器；12‑处理器；13‑通信单元；100‑立方体绘制检测装置；110‑轨迹预处理模块；120‑边轨迹拟合模块；130‑立方体匹配模块。

具体实施方式

[0057] 为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

[0058] 因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

[0059] 应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

[0060] 在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

[0061] 下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互结合。

[0062] 请参照图1，图1是本申请实施例提供的计算机设备10的组成示意图。在本申请实施例中，所述计算机设备10能够将用户作出的立方体绘制轨迹直接与正常有效立方体图形(包括完全显露12条边的立方体图形，及少了3条透视边的显露9条边的立方体图形)的图形相关特征进行特征匹配，以确定立方体绘制轨迹与有效立方体图形的图形相关特征的特征接近状况，进而得以基于所述特征接近状况输出高精准度的立方体绘制检测结果，从而在提升立方体绘制检测精准度的同时，有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本。其中，所述有效立方体图形的图形相关特征用于描述对应有效立方体图形的有效边数目及多条有效边之间的相对位置关系；所述计算机设备可以是，但不限于，个人计算机、平板电脑、智能手机、服务器、笔记本电脑等。

[0063] 在本申请实施例中，所述计算机设备10可以包括存储器11、处理器12、通信单元13及立方体绘制检测装置100。其中，所述存储器11、所述处理器12及所述通信单元13各个元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，所述存储器11、所述处理器12及所述通信单元13这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。

[0064] 在本申请实施例中，所述存储器11可以是，但不限于，随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read‑Only Memory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read‑Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read‑Only Memory，EEPROM)等。其中，所述存储器11用于存储计算机程序，所述处理器12在接收到执行指令后，可相应地执行所述计算机程序。

[0065] 在本实施例中，所述处理器12可以是一种具有信号的处理能力的集成电路芯片。所述处理器12可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、图形处理器(Graphics Processing Unit，GPU)及网络处理器(Network Processor，NP)、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件中的至少一种。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。

[0066] 在本实施例中，所述通信单元13用于通过网络建立所述计算机设备10与其他电子设备之间的通信连接，并通过所述网络收发数据，其中所述网络包括有线通信网络及无线通信网络。例如，所述计算机设备10可以通过所述通信单元13与用户手持的终端设备通信连接，以获取用户在终端设备的触控显示屏上作出的立方体绘制轨迹，并针对该立方体绘制轨迹进行高精准度的立方体绘制检测处理，而后将最终的绘制检测结果发送给终端设备进行展示。

[0067] 在本申请实施例中，所述立方体绘制检测装置100可以包括至少一个能够以软件或固件的形式存储于所述存储器11中或者固化在所述计算机设备10的操作系统中的软件功能模块。所述处理器12可用于执行所述存储器11存储的可执行模块，例如所述立方体绘制检测装置100所包括的软件功能模块及计算机程序等。所述计算机设备10可以通过所述立方体绘制检测装置100在提升立方体绘制检测精准度的同时，有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本。

[0068] 可以理解的是，图1所示的框图仅为所述计算机设备10的一种组成示意图，所述计算机设备10还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。图1中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。

[0069] 在本申请中，为确保所述计算机设备10能够在提升立方体绘制检测精准度的同时，有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本，本申请实施例提供一种立方体绘制检测方法实现前述目的。下面对本申请提供的立方体绘制检测方法进行详细描述。

[0070] 请参照图2，图2是本申请实施例提供的立方体绘制检测方法的流程示意图。在本申请实施例中，所述立方体绘制检测方法可以包括步骤S210～步骤S240。

[0071] 步骤S210，获取待检测立方体绘制轨迹，并对待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹。

[0072] 在本实施例中，所述计算机设备10在得到用户作出的待检测立体绘制轨迹后，因考虑到用户书画具有随机性，可能出现用多条书画轨迹绘制立方体的一条边，或者来回重复用多条书画轨迹表示立方体的同一条边，或者采用一条书画轨迹绘制立方体的多条边，需要所述计算机设备10利用轨迹合并方式和/或轨迹拆分方式对所述待检测立方体绘制轨迹所包括的多条立方体书画轨迹进行轨迹预处理，使最终得到的多条边绘制轨迹中的每条边绘制轨迹能够单独表征用户针对立方体绘制出的一条边，无论该条边绘制轨迹是否符合有效立方体图形的图形相关特征。

[0073] 步骤S220，针对每条边绘制轨迹，对该边绘制轨迹进行直线段拟合，得到与该边绘制轨迹对应的边拟合线段。

[0074] 在本实施例中，所述计算机设备10在得到与待检测立方体绘制轨迹对应的多条边绘制轨迹后，会针对每条边绘制轨迹，根据该条边绘制轨迹上的多个离散轨迹点各自的被绘制先后顺序及轨迹点位置，利用最小二乘法对该条边绘制轨迹进行直线拟合，得到该条边绘制轨迹的拟合直线，而后利用该条边绘制轨迹的绘制起点位置及绘制终点位置，在该条边绘制轨迹的拟合直线上确定对应的拟合起点位置及拟合终点位置，此时即可由所述拟合起点位置、所述拟合直线及所述拟合终点位置构建形成该条边绘制轨迹的边拟合线段。

[0075] 步骤S230，在拟合出的边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目并不一致的情况下，提示待检测立方体绘制轨迹异常。

[0076] 在本实施例中，所述计算机设备10在得到每条边绘制轨迹所对应的边拟合线段后，可通过对边拟合线段进行数目统计，而后将统计出的边拟合线段的线段总数目与预存的有效立方体边绘制数目进行比对，以判断该待检测立方体绘制轨迹是否符合有效立方体图形的有效边数目。其中，所述有效立方体边绘制数目为对应有效立边体图形能够完全显露出的边的总数目，其可以是12，也可以是9。

[0077] 其中，若所述边拟合线段的线段总数目与预存的有效立方体边绘制数目并不一致，即代表该待检测立方体绘制轨迹所形成的图形必定不是立方体图形，此时所述计算机设备10将向用户提示该待检测立方体绘制轨迹异常，可以将该用户评估为存在认知障碍。在本实施例的一种实施方式中，所述计算机设备10可通过将所述待检测立方体绘制轨迹评估为0分的方式，向用户提示该待检测立方体绘制轨迹异常。

[0078] 步骤S240，在边拟合线段的线段总数目与有效立方体边绘制数目保持一致的情况下，将拟合得到的多条边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示待检测立方体绘制轨迹异常或正常。

[0079] 在本实施例中，若所述边拟合线段的线段总数目与预存的有效立方体边绘制数目保持一致，即代表该待检测立方体绘制轨迹所形成的图形符合有效立方体图形的有效边数目，此时需进一步将拟合得到的多条边拟合线段之间的相对位置关系，与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，以确定待检测立方体绘制轨迹与有效立方体图形的有效边分布特征的特征接近状况，进而得以基于所述特征接近状况输出对应的立方体绘制检测结果(包括提示待检测立方体绘制轨迹异常或正常)，从而在有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，并降低立方体绘制检测成本的同时，有效确保立方体绘制检测精准度。

[0080] 由此，本申请可通过执行上述步骤S210～步骤S240，将用户作出的立方体绘制轨迹直接与正常有效立方体图形的图形相关特征进行特征匹配，并根据立方体绘制轨迹与有效立方体图形的图形相关特征之间的特征接近状况，输出高精准度的立方体绘制检测结果，从而在提升立方体绘制检测精准度的同时，有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本。

[0081] 可选地，请参照图3，图3是图2中的步骤S210包括的子步骤的流程示意图。在本申请实施例中，所述步骤S210可以包括子步骤S211～子步骤S216，以将用户作出的待检测立体绘制轨迹处理成多条边绘制轨迹，使每条边绘制轨迹能够单独表征用户针对立方体绘制出的一条边。

[0082] 子步骤S211，针对每条立方体书画轨迹，对该条立方体书画轨迹进行直线段拟合，得到与该条立方体书画轨迹对应的初始拟合线段。

[0083] 在本实施例中，所述计算机设备10可根据待拟合的立方体书画轨迹上的多个离散轨迹点各自的被绘制先后顺序和轨迹点位置，以及该立方体书画轨迹的绘制起点位置和绘制终点位置，利用最小二乘法对该条立方体书画轨迹进行直线段拟合，得到与该条立方体书画轨迹对应的初始拟合线段。

[0084] 子步骤S212，针对每条立方体书画轨迹，计算该条立方体书画轨迹与对应的初始拟合线段之间的轨迹拟合损失，并在轨迹拟合损失大于第一预设损失值时，将该条立方体书画轨迹拆分为轨迹延伸趋势互不相同的多条立方体书画轨迹。

[0085] 在本实施例中，所述计算机设备10在针对某条立方体书画轨迹拟合出对应的初始拟合线段后，可通过将该条立方体书画轨迹包括的各个离散轨迹点到对应初始拟合线段的垂直距离之间的距离平均值，作为该条立方体书画轨迹与对应的初始拟合线段之间的轨迹拟合损失，而后通过将所述轨迹拟合损失与第一预设损失值进行比较，以确定该初始拟合线段是否与该条立方体书画轨迹适配。其中，所述第一预设损失值可以是10，也可以是15。

[0086] 其中，若单条立方体书画轨迹所对应的轨迹拟合损失大于所述第一预设损失值进行比较，即代表该条立方体书画轨迹所对应的初始拟合线段无法与该条立方体书画轨迹适配，该条立方体书画轨迹可能表征立方体的多条边，此时需要对该条立方体书画轨迹进行轨迹拆分，以确保拆分出的多条立方体书画轨迹各自的轨迹延伸趋势互不相同，使拆分出的每条立方体书画轨迹可以单独表征用户针对立方体绘制出的一条边。

[0087] 可选地，请参照图4，图4是图3中的子步骤S212包括的子步骤的流程示意图。在本实施例中，所述步骤S212可以包括子步骤S2121～子步骤S2124。

[0088] 子步骤S2121，以该条立方体书画轨迹的轨迹起点为起始点，按照预设点数间隔地选取该条立方体书画轨迹上的预设拟合点数目个离散轨迹点构建得到多个轨迹点集。

[0089] 在本实施例中，针对需要轨迹拆分的每条立方体书画轨迹，所述计算机设备10会以该条立方体书画轨迹的轨迹起点为起始点，按照预设点数间隔地选取该条立方体书画轨迹上的邻近分布的多个离散轨迹点单独构成一个轨迹点集，从而得到与该条立方体书画轨迹对应的多个轨迹点集，其中每个轨迹点集所对应的离散轨迹点数目均为预设拟合点数目，所述预设拟合点数目大于所述预设点数间隔，使构建得到的相邻轨迹点集之间存在部分离散轨迹点相互重合。

[0090] 在本实施例的一种实施方式中，所述预设拟合点数目为所述预设点数间隔的至少两倍。以所述预设点数间隔为5而所述预设拟合点数目为10为例，针对存在20个离散轨迹点的立方体书画轨迹，可将该立方体书画轨迹的轨迹起点(第i＝0个离散轨迹点)作为起始点选取10个离散轨迹点构建第1个轨迹点集(包括第i＝0～9个离散轨迹点)，将该立方体书画轨迹的第i＝5个离散轨迹点作为起始点选取10个离散轨迹点构建第2个轨迹点集(包括第i＝5～14个离散轨迹点)，将该立方体书画轨迹的第i＝10个离散轨迹点作为起始点选取10个离散轨迹点构建第3个轨迹点集(包括第i＝10～19个离散轨迹点)，此时第1个轨迹点集与第2个轨迹点集存在5个离散轨迹点相互重合，第3个轨迹点集与第2个轨迹点集存在5个离散轨迹点相互重合。

[0091] 子步骤S2122，对所有轨迹点集分别进行直线段拟合，得到每个轨迹点集所对应的轨迹拟合线段。

[0092] 子步骤S2123，针对每条轨迹拟合线段，检测该条轨迹拟合线段与相邻下一条轨迹拟合线段之间的斜率角度差值是否超过预设角度差阈值，并在检测到斜率角度差值超过预设角度差阈值时，将该条轨迹拟合线段所对应的轨迹点集内的末尾离散轨迹点作为一个轨迹拐点。

[0093] 在本实施例中，所述轨迹拐点用于表征对应立方体书画轨迹在该轨迹拐点位置处可能存在轨迹延伸趋势大幅改变的状况。所述斜率角度差值用于表征相邻轨迹拟合线段各自的斜率在转换为倾斜角后的角度差值。其中，若相邻轨迹拟合线段之间的斜率角度差值超过预设角度差阈值，即表明这两个轨迹拟合线段的延伸趋势存在明显差异，此时即可针对靠近轨迹起点的轨迹拟合线段所对应的轨迹点集进行轨迹拐点标注处理。其中，所述预设角度差阈值可以是10°，也可以是15°，其可以根据立方体绘制检测精度需求进行不同的配置。

[0094] 子步骤S2124，针对每个轨迹拐点，计算该轨迹拐点与相邻下一个轨迹拐点之间的轨迹点数目，并在计算出的轨迹点数目大于预设点数间隔时，以该轨迹拐点为拆分位置对该条立方体书画轨迹进行轨迹拆分处理。

[0095] 在本实施例中，相邻轨迹拐点之间的轨迹点数目用于表示相邻两个轨迹拐点之间间隔的离散轨迹点总数目，若相邻轨迹拐点之间的轨迹点数目大于预设点数间隔，即表明相邻两个轨迹拐点各自对应的轨迹段之间的延伸趋势差异过大，可直接以靠近轨迹起点的轨迹拐点为拆分位置对该条立方体书画轨迹进行轨迹拆分处理，使拆分出的立方体书画轨迹能够。

[0096] 由此，本申请可通过执行上述子步骤S2121～子步骤S2124，将需要轨迹拆分的每条立方体书画轨迹拆分为多条立方体书画轨迹，使拆分出的每条立方体书画轨迹各自的轨迹延伸趋势互不相同，可以单独表征用户针对立方体绘制出的一条边。

[0097] 子步骤S213，对拆分出的每条立方体书画轨迹进行直线段拟合，得到拆分出的每条立方体书画轨迹的初始拟合线段。

[0098] 子步骤S214，针对当前得到的每条立方体书画轨迹，计算该条立方体书画轨迹与其他立方体书画轨迹各自对应的初始拟合线段之间的互拟合损失。

[0099] 在本实施例中，针对经轨迹拆分处理得到的所有立方体书画轨迹，所述计算机设备10可相应计算每条立方体书画轨迹包括的各个离散轨迹点到其他任意一条立方体书画轨迹的初始拟合线段的垂直距离之间的距离平均值，作为该条立方体书画轨迹相对于所述其他任意一条立方体书画轨迹的互拟合损失。

[0100] 子步骤S215，在任意两条立方体书画轨迹相互之间各自对应的互拟合损失均小于或等于第二预设损失值的情况下，将所述任意两条立方体书画轨迹合并为一条立方体书画轨迹。

[0101] 在本实施例中，若任意两条立方体书画轨迹中每条立方体书画轨迹相对于另一条立方体书画轨迹的互拟合损失均小于或等于第二预设损失值(例如，立方体书画轨迹1相对于立方体书画轨迹2的互拟合损失小于或等于第二预设损失值，且立方体书画轨迹2相对于立方体书画轨迹1的互拟合损失小于或等于第二预设损失值)，即表明这两条立方体书画轨迹相互邻近，且各自的轨迹延伸趋势差异不大，此时即可将这两条立方体书画轨迹进行轨迹合并，使合并出的立方体书画轨迹的离散轨迹点由前述两条立方体书画轨迹的离散轨迹点组合形成。

[0102] 子步骤S216，将完成书画轨迹合并操作后剩余的所有立方体书画轨迹分别作为一条边绘制轨迹。

[0103] 由此，本申请可通过执行上述子步骤S211～子步骤S216，将用户作出的待检测立体绘制轨迹处理成多条边绘制轨迹，使每条边绘制轨迹能够单独表征用户针对立方体绘制出的一条边。

[0104] 可选地，请参照图5，图5是图2中的步骤S240包括的子步骤的流程示意图。在本申请实施例中，所述步骤S240可以包括子步骤S241～子步骤S249，以确定用户的立方体绘制轨迹与有效立方体图形的图形相关特征的特征接近状况，并输出高精准度的立方体绘制检测结果，从而在避免避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本的同时，有效提升立方体绘制检测精准度。

[0105] 子步骤S241，基于拟合得到的多条所述边拟合线段构建形成剔除竖直边拟合线段的第一子图以及剔除水平边拟合线段的第二子图。

[0106] 在本实施例中，所述竖直边拟合线段的斜率角度与竖直方向的方向角(即90°)之间的角度差小于第一偏移角度值(其可以是10°)，以确保所述竖直边拟合线段的延伸方向与竖直方向的偏差不大；所述水平边拟合线段的斜率角度与水平方向的方向角(即0°)之间的角度差小于第二偏移角度值(其可以是10°)，以确保所述水平边拟合线段的延伸方向与水平方向的偏差不大。

[0107] 所述计算机设备10可通过对拟合得到的多条所述边拟合线段分别进行竖直边拟合线段识别处理及水平边拟合线段识别处理，以确定拟合得到的每条边拟合线段是否为竖直边拟合线段或水平边拟合线段，而后通过从拟合得到的多条所述边拟合线段中剔除竖直边拟合线段，并维持剩余的多条所述边拟合线段之间的相对位置关系，得到对应的第一子图，接着通过从拟合得到的多条所述边拟合线段中剔除水平边拟合线段，并维持剩余的多条所述边拟合线段之间的相对位置关系，得到对应的第二子图。

[0108] 子步骤S242，检测第一子图和第二子图各自的与边拟合线段对应的实际子图边数目是否均与预设的有效立方体子图边数目保持一致。

[0109] 在本实施例中，有效立方体子图边数目用于表示有效立方体图形在剔除竖直边或水平边后完全显露出的有效边数目。对完全显露12条边的立方体图形而言，该立方体图形的竖直边数目或水平边数目为4，则该立方体图形所对应的有效立方体子图边数目即为8；对完全显露9条边(少了3条透视边)的立方体图形而言，该立方体图形的竖直边数目或水平边数目为3，则该立方体图形所对应的有效立方体子图边数目即为6。

[0110] 因此，所述计算机设备10可通过检测所述第一子图和所述第二子图各自的与边拟合线段对应的实际子图边数目是否为8或6的方式，确定当前第一子图和/或第二子图是否初步符合有效立方体图形的边分布特征。

[0111] 其中，若检测到所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际子图边数目不为8且不为6，即所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际子图边数目与所述有效立方体子图边数目并不一致，此时表明当前待检测立方体绘制轨迹所对应的多条边绘制轨迹实质并不符合有效立方体图形的边分布特征，所述计算机设备10将对应执行子步骤S249，向用户提示所述待检测立方体绘制轨迹存在异常。

[0112] 若检测到所述第一子图和所述第二子图所对应的实际子图边数目均为8或6，即所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际子图边数目均与所述有效立方体子图边数目保持一致，此时表明当前待检测立方体绘制轨迹所对应的多条边绘制轨迹初步符合有效立方体图形的边分布特征，所述计算机设备10将对应执行子步骤S243。

[0113] 子步骤S243，确定第一子图与第二子图各自包括的多条边拟合线段之间的邻接关系。

[0114] 在本实施例中，当所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际子图边数目均与所述有效立方体子图边数目保持一致时，所述计算机设备10将针对所述第一子图和所述第二子图中任意一个子图，根据该子图中各条边拟合线段的起始点及结束点，确定每条边拟合线段的起始点最近的其他边拟合线段的起始点或结束点，而后计算该条边拟合线段的起始点与最近的起始点或结束点之间的实际距离，并在该实际距离小于预设距离阈值的情况下，即可将所述最近的起始点或结束点所在的边拟合线段作为该条边拟合线段的邻接边拟合线段。

[0115] 子步骤S244，分别针对第一子图与第二子图，根据对应邻接关系确定对应子图内的实际非闭环边数目以及多边闭环的实际闭环数目、实际闭环形状。

[0116] 在本实施例中，针对第一子图与第二子图中任意一个子图，可利用深度遍历算法对该子图进行无向图找环处理，得到该子图内的实际非闭环边数目，以及该子图内的多边闭环的实际闭环数目和实际闭环形状。

[0117] 子步骤S245，检测第一子图和第二子图各自的实际闭环数目是否均与预设的有效立方体子图闭环数目保持一致。

[0118] 在本实施例中，有效立方体子图边闭环数目用于表示有效立方体图形在剔除竖直边或水平边后完全显露出的有效边所能构成的闭环数目。对完全显露12条边的立方体图形而言，该立方体图形的竖直边数目或水平边数目为4，则该立方体图形所对应的有效立方体子图边数目即为8，对应有效立方体子图边闭环数目即为2；对完全显露9条边(少了3条透视边)的立方体图形而言，该立方体图形的竖直边数目或水平边数目为3，则该立方体图形所对应的有效立方体子图边数目即为6，对应有效立方体子图边闭环数目即为1。

[0119] 因此，所述计算机设备10可通过检测所述第一子图和所述第二子图各自的实际闭环数目是否为1或2的方式，确定当前第一子图和/或第二子图是否初步符合有效立方体图形的多边聚成侧面特征。

[0120] 其中，若检测到所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际闭环数目不为1且不为2，即所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际闭环数目与所述有效立方体子图闭环数目并不一致，此时表明当前待检测立方体绘制轨迹所对应的多条边绘制轨迹实质并不符合有效立方体图形的多边聚成侧面特征，所述计算机设备10将对应执行子步骤S249，向用户提示所述待检测立方体绘制轨迹存在异常。

[0121] 若检测到所述第一子图和所述第二子图所对应的实际闭环数目均为1或2，即所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际闭环数目均与所述有效立方体子图闭环数目保持一致，此时表明当前待检测立方体绘制轨迹所对应的多条边绘制轨迹初步符合有效立方体图形的多边聚成侧面特征，所述计算机设备10将对应执行子步骤S246。

[0122] 子步骤S246，检测第一子图和第二子图各自的实际非闭环边数目是否与有效立方体子图闭环数目所对应的有效非闭环边数目保持一致。

[0123] 在本实施例中，所述有效非闭环边数目用于表示有效立方体图形在剔除竖直边或水平边后完全显露出的无法构成闭环的有效边数目。对完全显露12条边的立方体图形而言，该立方体图形的竖直边数目或水平边数目为4，则该立方体图形所对应的有效立方体子图边数目即为8，对应有效立方体子图边闭环数目即为2，则对应有效非闭环边数目为0；对完全显露9条边(少了3条透视边)的立方体图形而言，该立方体图形的竖直边数目或水平边数目为3，则该立方体图形所对应的有效立方体子图边数目即为6，对应有效立方体子图边闭环数目即为1，对应有效非闭环边数目为2。

[0124] 因此，当检测到所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际闭环数目均与所述有效立方体子图闭环数目保持一致时，所述计算机设备10将对应检测所述第一子图和所述第二子图各自的实际非闭环边数目是否为0或2的方式，确定当前第一子图和/或第二子图是否初步符合有效立方体图形的非闭环边分布特征。

[0125] 其中，若检测到所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际非闭环边数目不为0且不为2，即所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际非闭环边数目与所述有效非闭环边数目并不一致，此时表明当前待检测立方体绘制轨迹所对应的多条边绘制轨迹实质并不符合有效立方体图形的非闭环边分布特征，所述计算机设备10将对应执行子步骤S249，向用户提示所述待检测立方体绘制轨迹存在异常。

[0126] 若检测到所述第一子图和所述第二子图所对应的实际非闭环边数目均为1或2，即所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际非闭环边数目均与所述有效非闭环边数目保持一致，此时表明当前待检测立方体绘制轨迹所对应的多条边绘制轨迹初步符合有效立方体图形的非闭环边分布特征，所述计算机设备10将对应执行子步骤S247。

[0127] 子步骤S247，检测第一子图和第二子图各自的实际闭环形状是否均为平行四边形。

[0128] 在本实施例中，当检测到所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际非闭环边数目均与所述有效非闭环边数目保持一致时，所述计算机设备10将对应检测所述第一子图和所述第二子图中每个闭环的实际闭环形状是否为平行四边形，以确定对应第一子图和/或第二子图是否符合有效立方体图形的侧面形状特征。其中，针对单个闭环来说，如果该闭环的所有位置相对的边拟合线段之间的斜率角度差值小于预设角度，即表明该闭环的所有位置相对的边拟合线段相互平行，即该闭环的实际闭环形状为平行四边形。

[0129] 因此，若检测到所述第一子图和/或所述第二子图所对应的实际闭环形状不为平行四边形，此时表明当前待检测立方体绘制轨迹所对应的多条边绘制轨迹实质并不符合有效立方体图形的侧面形状特征，所述计算机设备10将对应执行子步骤S249，向用户提示所述待检测立方体绘制轨迹存在异常。

[0130] 若检测到所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际闭环形状均为平行四边形，此时表明当前待检测立方体绘制轨迹所对应的多条边绘制轨迹实质符合有效立方体图形的侧面形状特征，所述计算机设备10将对应执行子步骤S248。

[0131] 子步骤S248，提示待检测立方体绘制轨迹正常。

[0132] 在本实施例中，若检测到所述第一子图和所述第二子图各自对应的实际闭环形状均为平行四边形，即表明当前待检测立方体绘制轨迹的多条边绘制轨迹实质符合有效立方体边分布特征，该待检测立方体绘制轨迹实质符合有效立方体图形的图形相关特征，此时所述计算机设备10即可向用户提示该待检测立方体绘制轨迹正常。

[0133] 在本实施例的一种实施方式，所述计算机设备10在确定当前待检测立方体绘制轨迹的多条边绘制轨迹实质符合完全显露12条边的有效立方体图形的图形相关特征的情况下，可通过将所述待检测立方体绘制轨迹评估为2分的方式，向用户提示该待检测立方体绘制轨迹正常；所述计算机设备10在确定当前待检测立方体绘制轨迹的多条边绘制轨迹实质符合完全显露9条边(少了3条透视边)的有效立方体图形的图形相关特征的情况下，可通过将所述待检测立方体绘制轨迹评估为1分的方式，向用户提示该待检测立方体绘制轨迹正常。

[0134] 由此，本申请可通过执行上述子步骤S241～子步骤S249，直接确定用户的立方体绘制轨迹与有效立方体图形的图形相关特征的特征接近状况，并输出高精准度的立方体绘制检测结果，从而在避免避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本的同时，有效提升立方体绘制检测精准度。

[0135] 在本申请中，为确保所述计算机设备10能够有效执行上述立方体绘制检测方法，本申请通过对存储在所述计算机设备10中的立方体绘制检测装置100进行功能模块划分的方式实现前述功能。下面对本申请提供的应用于上述计算机设备10的立方体绘制检测装置100的具体组成进行相应描述。

[0136] 请参照图6，图6是本申请实施例提供的立方体绘制检测装置100的组成示意图。在本申请实施例中，所述立方体绘制检测装置100可以包括轨迹预处理模块110、边轨迹拟合模块120及立方体匹配模块130。

[0137] 轨迹预处理模块110，用于获取待检测立方体绘制轨迹，并对所述待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹。

[0138] 边轨迹拟合模块120，用于针对每条边绘制轨迹，对该边绘制轨迹进行直线段拟合，得到与该边绘制轨迹对应的边拟合线段。

[0139] 立方体匹配模块130，用于在拟合出的边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目并不一致的情况下，提示待检测立方体绘制轨迹异常。

[0140] 所述立方体匹配模块130，还用于在边拟合线段的线段总数目与有效立方体边绘制数目保持一致的情况下，将拟合得到的多条边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示待检测立方体绘制轨迹异常或正常。

[0141] 需要说明的是，本申请实施例所提供的立方体绘制检测装置100，其基本原理及产生的技术效果与前述的立方体绘制检测方法相同。为简要描述，本实施例部分未提及之处，可参考上述的针对立方体绘制检测方法的描述内容。

[0142] 在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本申请的实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

[0143] 另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。本申请提供的各项功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个可读存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例记载方法的全部或部分步骤。而前述的可读存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read‑Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

[0144] 综上所述，在本申请实施例提供的一种立方体绘制检测方法及装置、计算机设备和可读存储介质中，本申请在获取待检测立方体绘制轨迹后，通过对待检测立方体绘制轨迹进行轨迹预处理，得到多条边绘制轨迹，而后对每条边绘制轨迹进行直线段拟合，得到对应的边拟合线段，接着通过将拟合出的边拟合线段的线段总数目与预设的有效立方体边绘制数目进行比对，以在两者并不相同的情况下提示待检测立方体绘制轨迹异常，或者在两者相同的情况下将拟合得到的多条边拟合线段与预设的有效立方体边分布特征进行特征匹配，并根据特征匹配结果提示待检测立方体绘制轨迹异常或正常，从而通过确认用户的立方体绘制轨迹与有效立方体图形的图形相关特征的特征接近状况，得到最终的立方体绘制检测结果，以在提升立方体绘制检测精准度的同时，有效避免收集大量训练数据进行检测模型训练，降低立方体绘制检测成本。

[0145] 以上所述，仅为本申请的各种实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应当以权利要求的保护范围为准。