工艺参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质

摘要

本申请涉及数据分析技术领域，特别是涉及一种工艺参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺；确定目标生产工艺对应的历史工艺数据；基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权重；基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数。本申请实现了对于目标产品生产工艺的优化，辅助工作人员对生产工艺参数中的问题参数进行排查和调整，帮助工作人员对生产工艺的生产质量进行机理分析，实现对于目标产品生产工艺的快速调优，实现了高效率的提升目标产品的产品质量。

权利要求

1.一种工艺参数确定方法，其特征在于，所述方法包括：

确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，所述目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺；

确定所述目标生产工艺对应的历史工艺数据；

基于所述历史工艺数据，构建所述目标生产工艺针对所述目标产品差分阻抗的影响关系架构，并将所述目标生产工艺对目标产品差分阻抗造成影响的情况作为影响关系架构的隐含层节点；

根据各历史工艺数据到隐含层节点的权重，以及各隐含层节点到目标产品差分阻抗的权重，确定所述目标生产工艺对应的候选影响权重；

基于个体交叉更新方法和个体变异更新方法中的至少一种更新方法，对所述候选影响权重进行更新处理；

根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候选影响权重对应的适应值；

将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈值的候选影响权重作为所述目标生产工艺针对所述目标产品差分阻抗的目标影响权重；

确定候选工艺参数；

基于所述目标影响权重，根据候选工艺参数的函数值，确定所述目标产品对应的目标工艺参数；所述函数值为所述候选工艺参数对应的目标产品差分阻抗误差绝对值倒数的和。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述历史工艺数据包括历史工艺参数和所述历史工艺参数对应的历史差分阻抗。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述适应值用于表示该候选影响权重对应差分阻抗误差的大小。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将候选影响权重确定的目标产品差分阻抗误差绝对值的倒数，作为该候选影响权重对应的适应值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述更新后的候选影响权重中，不存在适应值大于适应阈值的候选影响权重，则基于所述更新后的候选影响权重，返回执行对所述候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权重的操作，直至存在适应值大于适应阈值的候选影响权重为止。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将各个候选工艺参数输入至目标产品对应的生产仿真模型；

根据生产仿真模型输出的仿真目标产品对应的误差绝对值的倒数，确定候选工艺参数对应的函数值。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标影响权重，根据候选工艺参数的函数值，确定所述目标产品对应的目标工艺参数，包括：基于所述目标影响权重和所述更新后的候选工艺参数，确定所述更新后的候选工艺参数对应的函数值；

将所述更新后的候选工艺参数中，函数值大于函数阈值的候选工艺参数作为所述目标工艺参数。

8.一种工艺参数确定装置，其特征在于，所述装置包括：

第一确定模块，用于确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，所述目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺；

第二确定模块，用于确定所述目标生产工艺对应的历史工艺数据；

第三确定模块，用于基于所述历史工艺数据，构建所述目标生产工艺针对所述目标产品差分阻抗的影响关系架构，并将所述目标生产工艺对目标产品差分阻抗造成影响的情况作为影响关系架构的隐含层节点；根据各历史工艺数据到隐含层节点的权重，以及各隐含层节点到目标产品差分阻抗的权重，确定所述目标生产工艺对应的候选影响权重；基于个体交叉更新方法和个体变异更新方法中的至少一种更新方法，对所述候选影响权重进行更新处理；根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候选影响权重对应的适应值；将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈值的候选影响权重作为所述目标生产工艺针对所述目标产品差分阻抗的目标影响权重；

第四确定模块，用于确定候选工艺参数；基于所述目标影响权重，根据候选工艺参数的函数值，确定所述目标产品对应的目标工艺参数；所述函数值为所述候选工艺参数对应的目标产品差分阻抗误差绝对值倒数的和。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

说明书

工艺参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质

技术领域

[0001] 本申请涉及数据分析技术领域，特别是涉及一种工艺参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

[0002] 随着5G通信、人工智能和高性能计算等技术的快速发展，高频高密度电路板被广泛地应用在电子设备中；但是，在其服务于人类社会海量数据通信的基础上，也显露了产品
生产过程的各类质量问题。

[0003] 现有技术中，可通过阻抗测试仪获取电路板生产过程中各项数据，并基于ERP(Enterprise Resource Planning，企业资源计划)系统实现对于数据的分析与优化；最终
完成电路板生产线的质量追溯和质量分析优化过程。

[0004] 但是，现有技术中仅考虑到了生产过程中各项数据的采集，但未对生产工程中生产工艺的参数进行优化。

发明内容

[0005] 基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够实现目标产品工艺参数优化的工艺参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质。

[0006] 第一方面，本申请提供了一种工艺参数确定方法。该方法包括：

[0007] 确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺；

[0008] 确定目标生产工艺对应的历史工艺数据；

[0009] 基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权重；

[0010] 基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数。

[0011] 在其中一个实施例中，历史工艺数据包括历史工艺参数和历史工艺参数对应的历史差分阻抗，基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权
重，包括：

[0012] 基于历史工艺参数和历史差分阻抗，构建目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构；

[0013] 基于影响关系架构，确定目标生产工艺对应的候选影响权重；

[0014] 对候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0015] 在其中一个实施例中，对候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重，包括：

[0016] 对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权重；

[0017] 对更新后的候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0018] 在其中一个实施例中，对更新后的候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重，包括：

[0019] 根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候选影响权重对应的适应值；

[0020] 将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈值的候选影响权重作为目标影响权重。

[0021] 在其中一个实施例中，该方法还包括：

[0022] 若更新后的候选影响权重中，不存在适应值大于适应阈值的候选影响权重，则基于更新后的候选影响权重，返回执行对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权
重的操作，直至存在适应值大于适应阈值的候选影响权重为止。

[0023] 在其中一个实施例中，基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数，包括：

[0024] 确定候选工艺参数；

[0025] 对候选工艺参数进行更新，得到更新后的候选工艺参数；

[0026] 基于目标影响权重，对更新后的候选工艺参数进行筛选处理，确定目标工艺参数。

[0027] 在其中一个实施例中，基于目标影响权重，对更新后的候选工艺参数进行筛选处理，确定目标工艺参数，包括：

[0028] 基于目标影响权重和更新后的候选工艺参数，确定更新后的候选工艺参数对应的函数值；

[0029] 将更新后的候选工艺参数中，函数值大于函数阈值的候选工艺参数作为目标工艺参数。

[0030] 第二方面，本申请还提供了一种工艺参数确定装置。该装置包括：

[0031] 第一确定模块，用于确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺；

[0032] 第二确定模块，用于确定目标生产工艺对应的历史工艺数据；

[0033] 第三确定模块，用于基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权重；

[0034] 第四确定模块，用于基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数。

[0035] 第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。计算机设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上述第一方面任一实施例的工艺
参数确定方法。

[0036] 第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面任一实施例的工艺参
数确定方法。

[0037] 根据本申请的技术方案，通过确定目标生产工艺，为后续的确定目标工艺参数提供了判断基础，保证了后续流程的顺利进行，实现了对于非必要生产工艺的去除，降低了后
续确定目标工艺参数所需要的计算量；通过确定目标生产工艺的历史工艺参数，实现了对
于相关信息的获取，保证了后续确定目标影响权重和目标工艺参数的准确性，保证了后续
流程的顺利进行，并且为后续确定目标影响权重和目标工艺参数提供了数据基础，使得目
标影响权重更加符合目标产品的实际情况；通过确定目标影响权重，实现了后续保证了目
标工艺参数确定的准确性，使得能够根据目标工艺参数实现目标产品的生产工艺优化；通
过确定目标工艺参数，实现了对于目标产品生产工艺的优化，辅助工作人员对生产工艺参
数中的问题参数进行排查和调整，帮助工作人员对生产工艺的生产质量进行机理分析，实
现对于目标产品生产工艺的快速调优，实现了高效率的提升目标产品的产品质量。

附图说明

[0038] 图1为本申请实施例提供的一种工艺参数确定方法的应用环境图；

[0039] 图2为本申请实施例提供的一种工艺参数确定方法的流程图；

[0040] 图3为本申请实施例提供的一种确定目标影响权重的步骤流程图；

[0041] 图4为本申请实施例提供的一种影响关系架构示意图；

[0042] 图5为本申请实施例提供的一种个体交叉更新结构示意图；

[0043] 图6为本申请实施例提供的一种确定目标工艺参数的步骤流程图；

[0044] 图7为本申请实施例提供的另一种工艺参数确定方法的流程图；

[0045] 图8为本申请实施例提供的第一种工艺参数确定装置的结构框图；

[0046] 图9为本申请实施例提供的第二种工艺参数确定装置的结构框图；

[0047] 图10为本申请实施例提供的第三种工艺参数确定装置的结构框图；

[0048] 图11为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

[0049] 为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不
用于限定本申请。

[0050] 应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。在本申请的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请
的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相
同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施
例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本
说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

[0051] 随着5G通信、人工智能和高性能计算等技术的快速发展，高频高密度电路板被广泛地应用在电子设备中；但是，在其服务于人类社会海量数据通信的基础上，也显露了产品
生产过程的各类质量问题。其中，差分阻抗作为高频电路板关键的质量指标，其精度控制对
于电路板实现其稳定高频的电路运行具有关键作用。

[0052] 影响电路板质量的因素有很多，覆盖研发设计、原材料、加工工艺、使用和维护等多个阶段，其中最主要影响电路板质量的因素就是电路板的各生产工艺参数对差分阻抗的
影响关系是否被清晰的挖掘。

[0053] 随着数字化、自动化技术手段逐步成熟，高端电路板的生产方式正向“智能制造模式”转变。多数企业已具备了记录电路板制造过程中人、机、料、法、环、测等方面的海量数据的能力，但是，在挖掘数据价值、支撑制造质量的提升方面仍然存在不足，尤其是考虑产线
的复杂结构，多因素的关联影响等方面，企业面临“数据爆炸、知识匮乏”的困境。传统的电路板差分阻抗精度管控主要包括设备点检、统计过程控制、测量系统分析等，丰富的数据以
及基于大数据的智能算法的应用，但这些方法往往集中在发现问题本身，而无法有效挖掘
背后测量阻抗值与工艺因素的内在关联。

[0054] 需要说明的是，电路板生产过程是一个复杂的生产工艺系统，不同设备的生产工艺之间存在耦合，涉及参数种类繁多，其生产工艺与阻抗之间关联关系分析难度较高。一个
生产工艺参数的变化，可能导致多个模块或设备受到影响，使电路板板不同点位的阻抗值
同时出现偏差。如果不能及时预警，可能出现大量的产品不合格等情况，造成巨大损失。

[0055] 现有技术中，可通过阻抗测试仪获取电路板生产过程中各项数据，并基于ERP系统实现对于数据的分析与优化；最终完成电路板生产线的质量追溯和质量分析优化过程。但
是，现有技术中仅考虑到了生产过程中各项数据的采集，但未对生产工程中生产工艺的参
数进行优化。

[0056] 本申请实施例提供的工艺参数确定方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如
图1所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质
和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非
易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于
存储工艺参数确定的获取数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接
通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种工艺参数确定方法。

[0057] 本申请公开了一种工艺参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质。工作人员的计算机设备通过确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，以及目标生产工艺的历史工
艺数据；根据历史工艺数据，确定目标影响权重；根据目标影响权重，确定目标产品对应的
目标工艺参数。

[0058] 在一个实施例中，如图2所示，图2为本申请实施例提供的一种工艺参数确定方法的流程图，提供了一种工艺参数确定方法，图1中的计算机设备执行的工艺参数确定方法可
以包括以下步骤：

[0059] 步骤201，确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺。

[0060] 在本申请的一种实施例中，当需要确定目标生产工艺时，可确定目标产品在生产过程中的候选生产工艺，根据候选生产工艺，确定每一候选生产工艺的工艺参数对目标产
品在生产过程中的中间检测参数造成的影响，由于中间检测参数会对目标产品的差分阻抗
造成影响，因此，可根据每一候选生产工艺对目标产品在生产过程中的中间检测参数造成
的影响，确定每一候选生产工艺对目标产品的差分阻抗造成的影响。

[0061] 需要说明的是，候选生产工艺为目标产品在生产过程中的全部生产工艺，可理解为候选生产工艺中既包含目标生产工艺也包含不是目标生产工艺的其他生产工艺。

[0062] 其中，候选生产工艺可以包括但不限于：蚀刻工艺和电镀工艺等；并且，候选生产工艺的工艺参数可以包括但不限于：蚀刻工艺中的内层蚀刻速度、蚀刻上压力、蚀刻下压
力、蚀刻上喷开启位、蚀刻下喷开启位和外层蚀刻速度等，以及电镀工艺中的VCP闪镀电流
密度、VCP闪镀电流时间、VCP填孔电流时间、VCP填孔电流密度、VCP脉冲电流密度和VCP脉冲电流时间等。

[0063] 进一步的，中间检测参数是与目标产品差分阻抗具有明确关联关系的检测参数，并且，中间检测参数可以包括但不限于：线宽参数、线距参数、介质厚度参数和微带线高度
参数等。

[0064] 在本申请的一种实施例中，当需要确定每一候选生产工艺对目标产品在生产过程中的中间检测参数造成的影响时，可通过变换候选生产工艺对应的工艺参数，判断不同候
选生产工艺对应的工艺参数对应的中间检测参数是否处于要求区间内；若候选生产工艺对
应的工艺参数发生变化时，中间检测参数不会从要求区间内变化到要求区间外，则表示该
候选生产工艺不会对目标产品在生产过程中的中间检测参数造成影响；若候选生产工艺对
应的工艺参数发生变化时，中间检测参数会从要求区间内变化到要求区间外，则表示该候
选生产工艺会对目标产品在生产过程中的中间检测参数造成影响，进而确定该候选生产工
艺即为影响目标产品差分阻抗的目标生产工艺。

[0065] 其中，中间检测参数的要求区间的确定，可根据电路仿真软件进行确定，进一步的，还可根据工作人员的历史经验或者中间检测参数对应的历史中间检测参数，确定中间
检测参数的要求区间。

[0066] 具体的，若根据中间检测参数对应的历史中间检测参数可知，在不影响目标产品差分阻抗的前提下，历史中间检测参数的最大值为a，且在不影响目标产品差分阻抗的前提
下，历史中间检测参数的最小值为b，因此，确定中间检测参数的要求区间为大于等于b并且
小于等于a。

[0067] 在本申请的一种实施例中，获取候选生产工艺对应的历史候选工艺参数、历史候选工艺参数对应的中间检测参数以及历史候选工艺参数对应的目标产品分差阻抗。根据候
选生产工艺对应的历史候选工艺参数、历史候选工艺参数对应的中间检测参数以及历史候
选工艺参数对应的目标产品分差阻抗构建分析模型，根据分析模型对候选生产工艺对应的
历史候选工艺参数对不同中间检测参数的影响进行挖掘，以及探索不同候选生产工艺的参
数变化对目标产品差分阻抗的影响，进而根据分析模型从候选生产工艺中确定目标生产工
艺。

[0068] 进一步的，可将候选生产工艺对应的历史候选工艺参数作为分析模型的输入，将历史候选工艺参数对应的中间检测参数以及历史候选工艺参数对应的目标产品分差阻抗
作为分析模型的输出，从而实现对于分析模型的训练操作，以保证分析模型能够准确确定
候选生产工艺中的目标生产工艺。

[0069] 步骤202，确定目标生产工艺对应的历史工艺数据。

[0070] 需要说明的是，当需要确定历史工艺数据时，可根据目标产品的历史生产记录，确定目标产品在历史生产过程中对应的历史工艺数据。

[0071] 进一步说明，若目标产品的历史生产记录中不包含历史工艺数据时，可获取与目标产品对应的参考产品，其中，参考产品为与目标产品相似的，并且具有相同生产工艺的产
品；根据参考产品的历史生产记录，确定参考产品在历史生产过程中对应的历史工艺数据，
并将参考产品在历史生产过程中对应的历史工艺数据作为目标产品的历史工艺数据。

[0072] 步骤203，基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权重。

[0073] 需要说明的是，当需要确定目标影响权重时，可包括以下步骤：历史工艺数据可包括历史工艺参数和历史工艺参数对应的历史差分阻抗，根据历史工艺参数和历史差分阻
抗，确定历史工艺参数与历史差分阻抗之间的对应关系；根据历史工艺参数与历史差分阻
抗之间的对应关系，确定多个候选影响权重，通过对多个候选影响权重进行筛选处理，从多
个候选影响权重中确定目标影响权重。

[0074] 进一步说明，可通过预先设定的适应值算法，对多个候选影响权重进行适应值计算，从而根据多个候选影响权重的适应值，确定出用于表征工艺参数与差分阻抗之间对应
关系的权重，该权重即为目标影响权重。具体可以包括以下内容：可分别确定多个候选影响
权重对应的适应值，适应值用于体现根据候选影响权重确定目标产品差分阻抗的误差大
小，若候选影响权重对应的适应值越大，则表示根据该候选影响权重确定目标产品差分阻
抗的误差较小；若候选影响权重对应的适应值越小，则表示根据该候选影响权重确定目标
产品差分阻抗的误差较大。

[0075] 步骤204，基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数。

[0076] 需要说明的是，当需要确定目标工艺参数时，可包括以下步骤：采用随机化数据生成的方式或者从历史工艺参数中提取的方式，确定多个候选工艺参数；通过对多个候选工
艺参数进行筛选处理，从多个候选工艺参数中确定目标工艺参数。

[0077] 进一步说明，当从多个候选工艺参数中确定目标工艺参数时，可分别确定多个候选工艺参数对应的函数值，函数值用于体现在基于目标影响权重的前提下，根据候选工艺
参数确定目标产品差分阻抗的误差大小，若候选工艺参数对应的函数值越大，则表示根据
该候选工艺参数确定目标产品差分阻抗的误差较小；若候选工艺参数对应的函数值越小，
则表示根据该候选工艺参数确定目标产品差分阻抗的误差较大。

[0078] 根据本申请的工艺参数确定方法，通过确定目标生产工艺，为后续的确定目标工艺参数提供了判断基础，保证了后续流程的顺利进行，实现了对于非必要生产工艺的去除，
降低了后续确定目标工艺参数所需要的计算量；通过确定目标生产工艺的历史工艺参数，
实现了对于相关信息的获取，保证了后续确定目标影响权重和目标工艺参数的准确性，保
证了后续流程的顺利进行，并且为后续确定目标影响权重和目标工艺参数提供了数据基
础，使得目标影响权重更加符合目标产品的实际情况；通过确定目标影响权重，实现了后续
保证了目标工艺参数确定的准确性，使得能够根据目标工艺参数实现目标产品的生产工艺
优化；通过确定目标工艺参数，实现了对于目标产品生产工艺的优化，辅助工作人员对生产
工艺参数中的问题参数进行排查和调整，帮助工作人员对生产工艺的生产质量进行机理分
析，实现对于目标产品生产工艺的快速调优，实现了高效率的提升目标产品的产品质量。

[0079] 需要说明的是，通过影响关系架构，确定候选影响权重，进而根据候选影响权重，确定目标影响权重；如图3所示，图3为本申请实施例提供的一种确定目标影响权重的步骤
流程图。具体的，确定目标影响权重可以包括以下步骤：

[0080] 步骤301，基于历史工艺参数和历史差分阻抗，构建目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构。

[0081] 需要说明的是，目标生产工艺的工艺参数对目标产品差分阻抗造成影响时，可存在多种情况，例如：一个目标生产工艺的工艺参数发生改变，从而影响目标产品差分阻抗，
以及多个目标生产工艺的工艺参数同时发生改变，从而影响目标产品差分阻抗等。进一步
的，不同目标生产工艺的工艺参数对目标产品差分阻抗造成影响的权重也不相同。

[0082] 在本申请的一种实施例中，当构建目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构时，可引入隐含层节点概念，隐含层节点用于表示不同一个或多个目标生产工艺情
况下对目标产品差分阻抗造成影响的情况；具体的，如图4所示，图4为本申请实施例提供的
一种影响关系架构示意图，其中，xn指的是第n个历史工艺数据，ym指的是第m个隐含层节点，ol指的是根据对应历史工艺数据和对应中间检测参数确定的目标产品差分阻抗，或者，根
据对应历史工艺数据和对应中间检测参数确定的中间检测参数，Vi，j指的是第i个历史工艺
数据到第j个隐含层节点对应的权重，Wj，k指的是第j个隐含层节点到第k个目标产品差分阻
抗或者中间检测参数对应的权重。

[0083] 举例说明，当仅有一个目标生产工艺的工艺参数对目标产品差分阻抗造成影响时，在图4中可表示为，x1指向y1，再由y1指向o1；当存在多个目标生产工艺的工艺参数对目标产品差分阻抗造成影响时，在图4中可表示为，x1和x2指向y1，再由y1指向o1。

[0084] 步骤302，基于影响关系架构，确定目标生产工艺对应的候选影响权重。

[0085] 需要说明的是，根据候选影响权重指的是各个历史工艺数据到隐含层节点的权重，以及各个隐含层节点到目标产品差分阻抗或者中间检测参数的权重。当需要确定候选
影响权重时，可预先确定候选影响权重中各个权重的排列顺序；确定候选影响权重中每一
权重的正常取值范围；根据每一权重的正常取值范围确定每一权重对应的多个取值，并将
每一权重对应的多个取值按照候选影响权重中各个权重的排列顺序，填入候选影响权重的
对应位置中，通过不同权重的多个取值进行排列组合，从而得到多个候选影响权重。

[0086] 其中，每一权重的正常取值范围需要符合目标生产工艺的实际情况。并且，每一权重的正常取值范围可根据工作人员的工作经验或者历史工艺数据与历史差分阻抗的关系
进行推测，在此不对每一权重的正常取值范围进行限定。

[0087] 举例说明，若候选影响权重中共包含两个权重。两个权重分别为权重1和权重2，并且，候选影响权重中两个权重的排列顺序为：权重1、权重2。已知，权重1的取值包括：a和b；
权重2的取值包括c和d。将权重1和权重2对应的取值按照排列顺序填入候选影响权重中，通
过两个权重的两个取值进行排列组合，得到的多个候选影响权重分别为：候选影响权重1：
a、c；候选影响权重2：a、d；候选影响权重3：b、c；候选影响权重4：b、d。

[0088] 在本申请的一种实施例中，如图4所示，当需要确定候选影响权重中各个权重的排列顺序时，可将影响关系架构中第i个历史工艺数据到第j个隐含层节点对应的权重Vi，j和
第j个隐含层节点到第k个目标产品差分阻抗或者中间检测参数对应的权重Wj，k进行有序排
列，得到Vi，j和Wj，k对应的候选影响权重。进一步的，候选影响权重的排列顺序可以为：V1，1、V1，2....Vn，m、W1，1、W1，2…Wm，l。

[0089] 其中，候选影响权重中Vi，j和Wj，k的排列方式可为Vi，j在前，也可以Wj，k在前，进一步的，候选影响权重中各个权重需按照一定的规则进行有序分布，但候选影响权重中各个权重的分布规则在此不进行限定。

[0090] 步骤303，对候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0091] 需要说明的是，当需要确定目标影响权重时，具体可包括以下步骤：对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权重；对更新后的候选影响权重进行筛选处理，确定目
标影响权重。

[0092] 在本申请的一种实施例中，对候选影响权重进行更新，指的是根据现有的候选影响权重，确定新的候选影响权重；其中，对候选影响权重进行更新的方法可以包括但不限
于：个体交叉更新和个体变异更新；具体的，个体交叉更新指的是按照一定的比例从两个候
选影响权重中选取部分权重，并将两个候选影响权重中被选取的部分权重进行调换，从而
得到两个新的候选影响权重。个体变异更新指的是将候选影响权重中一定比例的部分权重
进行随机变换，从而得到新的候选影响权重，其中，部分权重随机变换的范围需要不超过该
部分权重对应的正常取值范围。

[0093] 举例说明，当对候选影响权重进行个体交叉更新时，如图5所示，图5为本申请实施例提供的一种个体交叉更新结构示意图，选取两个候选影响权重，两个候选影响权重分别
为：候选影响权重1：“1、3、4、2、5、7、6、1、5、3、4、7、2、6”和候选影响权重2：“2、6、7、5、1、3、4、
2、5、7、6、1、3、4”，选取候选影响权重1中的“2、5、7、6”和“3、4”，并且按照相同的比例选取候选影响权重2中的“5、1、3、4”和“7、6”；将两个候选影响权重中被选取的部分权重进行调换，得到新的候选影响权重1：“1、3、4、5、1、3、4、1、5、7、6、7、2、6”和新的候选影响权重2：“2、6、
7、2、5、7、6、2、5、3、4、1、3、4”。

[0094] 举例说明，当对候选影响权重进行个体变异更新时，确定候选影响权重为：“4、5、4、2、5、7、2、1、5、5、4、7、2、6”，其中，已知位于候选影响权重中第一位的权重的正常取值范围为3至6，因此，当对候选影响权重进行个体变异更新时，可到新的候选影响权重“5、5、4、
2、5、7、2、1、5、5、4、7、2、6”或者新的候选影响权重“3.5、5、4、2、5、7、2、1、5、5、4、7、2、6”等等。

[0095] 进一步的，当对候选影响权重进行更新时，还可通过轮盘赌个体筛选的形式确定的该新的候选影响权重，具体的，当对候选影响权重进行更新时，从多个候选影响权重中，
确定出根据该候选影响权重中确定目标产品差分阻抗误差较小的部分候选影响权重；并
且，通过个体交叉更新和/或个体变异更新的方法，对该部分候选影响权重再次进行更新，
当部分候选影响权重的数量达到某一值时，返回执行从多个候选影响权重中，确定出根据
该候选影响权重中确定目标产品差分阻抗误差较小的部分候选影响权重的操作，直至得到
目标影响权重为止。

[0096] 需要说明的是，当对更新后的候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重时，具体可包括以下步骤：根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候
选影响权重对应的适应值；将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈值的候选影响
权重作为目标影响权重。

[0097] 进一步的，若更新后的候选影响权重中，不存在适应值大于适应阈值的候选影响权重，则基于更新后的候选影响权重，返回执行对候选影响权重进行更新，得到更新后的候
选影响权重的操作，直至存在适应值大于适应阈值的候选影响权重为止。

[0098] 其中，适应值用于表示该候选影响权重对应差分阻抗误差的大小，可将候选影响权重确定的目标产品差分阻抗误差绝对值的倒数，作为该候选影响权重对应的适应值。进
一步的，适应值越大表示根据该候选影响权重确定的目标产品差分阻抗误差越小；适应值
越小表示根据该候选影响权重确定的目标产品差分阻抗误差越大。

[0099] 在本申请的一种实施例中，当需要确定各个候选影响权重对应的适应值时，可将各个候选影响权重输入至目标产品对应的生产仿真模型；确定生产仿真模型输出的仿真目
标产品对应的误差，进而根据误差绝对值的倒数确定该候选影响权重对应的适应值。

[0100] 根据本申请的工艺参数确定方法，通过确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构，为后续确定候选影响权重提供的基础条件，保证了后续目标影响权重确
定的准确性，降低了确定目标影响权重的操作难度，并且通过对候选影响权重进行筛选处
理，进一步提高了目标影响权重确定的准确性，为后续确定目标工艺参数提供了数据保障，
使得后续能够根据目标工艺参数实现目标产品的生产工艺优化；并且，通过对候选影响权
重进行更新，保证了候选影响权重能够包含符合实际情况的目标影响权重，保证了目标影
响权重的准确性，保证了后续流程的顺利进行，防止出现目标影响权重与目标生产工艺的
实际权重不符的情况发生。

[0101] 需要说明的是，通过确定候选工艺参数，并对候选工艺参数进行更新，进而根据更新后的候选工艺参数，确定目标工艺参数；如图6所示，图6为本申请实施例提供的一种确定
目标工艺参数的步骤流程图。具体的，确定目标工艺参数可以包括以下步骤：

[0102] 步骤601，确定候选工艺参数。

[0103] 需要说明的是，候选工艺参数指的是在每一工艺参数的正常取值范围内的随机选取的工艺参数。因此，可根据目标生产工艺对应的历史工艺参数以及工作人员的历史经验
确定每一工艺参数对应的正常取值范围，进而根据每一工艺参数对应的正常取值范围，确
定候选工艺参数。

[0104] 作为一种实现方式，当根据历史工艺参数确定候选工艺参数时，可根据历史工艺参数中的每一工艺参数最大值和每一工艺参数最小值，确定每一工艺参数对应的取值范
围，随即在每一工艺参数对应的取值范围内选取任意参数作为该工艺参数的数据值，进而
组合出多个候选工艺参数。

[0105] 作为另一种实现方式，当根据工作人员的历史经验确定候选工艺参数时，可根据工作人员的历史经验确定每一工艺参数最大值和每一工艺参数最小值，进而确定每一工艺
参数对应的取值范围，随即在每一工艺参数对应的取值范围内选取任意参数作为该工艺参
数的数据值，进而组合出多个候选工艺参数。

[0106] 步骤602，对候选工艺参数进行更新，得到更新后的候选工艺参数。

[0107] 在本申请的一种实施例中，对候选工艺参数进行更新，指的是根据现有的候选工艺参数，确定新的候选工艺参数；其中，对候选工艺参数进行更新的方法可以包括但不限
于：个体交叉更新和个体变异更新；具体的，个体交叉更新指的是按照一定的比例从两个候
选工艺参数中选取部分工艺参数，并将两个候选工艺参数中被选取的部分工艺参数进行调
换，从而得到两个新的候选工艺参数。个体变异更新指的是将候选工艺参数中一定比例的
部分工艺参数进行随机变换，从而得到新的候选工艺参数，其中，部分工艺参数随机变换的
范围需要不超过该部分工艺参数对应的正常取值范围。

[0108] 进一步的，当对候选工艺参数进行更新时，还可通过轮盘赌个体筛选的形式确定的该新的候选工艺参数，具体的，当对候选工艺参数进行更新时，从多个候选工艺参数中，
确定出根据该多个候选工艺参数中确定目标产品差分阻抗误差较小的部分候选工艺参数；
并且，通过个体交叉更新和/或个体变异更新的方法，对该部分候选工艺参数再次进行更
新，当部分候选工艺参数的数量达到某一值时，返回执行从多个候选工艺参数中，确定出根
据该多个候选工艺参数中确定目标产品差分阻抗误差较小的部分候选工艺参数的操作，直
至得到目标工艺参数为止。

[0109] 步骤603，基于目标影响权重，对更新后的候选工艺参数进行筛选处理，确定目标工艺参数。

[0110] 需要说明的是，当需要确定目标工艺参数时，具体可包括以下步骤：基于目标影响权重和更新后的候选工艺参数，确定更新后的候选工艺参数对应的函数值；将更新后的候
选工艺参数中，函数值大于函数阈值的候选工艺参数作为目标工艺参数。

[0111] 进一步说明，若更新后的候选工艺参数中，不存在函数值大于函数阈值的候选工艺参数，则基于更新后的候选工艺参数，返回执行对候选工艺参数进行更新，得到更新后的
候选工艺参数的操作，直至存在函数值大于函数阈值的候选工艺参数为止。

[0112] 其中，函数值用于表示该候选工艺参数对应差分阻抗误差的大小，可将候选工艺参数确定的目标产品差分阻抗误差绝对值的倒数，作为该候选工艺参数对应的函数值。进
一步的，函数值越大表示根据该候选工艺参数确定的目标产品差分阻抗误差越小；函数值
越小表示根据该候选工艺参数确定的目标产品差分阻抗误差越大。

[0113] 需要说明的是，当通过模型预测目标产品的差分阻抗误差时，由于，该模型可用于确定多个目标的差分阻抗误差，因此，该模型确定函数值时，该函数值即为多个候选工艺参
数对应的目标产品差分阻抗误差绝对值倒数的和。

[0114] 在本申请的一种实施例中，当需要确定各个候选工艺参数对应的函数值时，可将各个候选工艺参数输入至目标产品对应的生产仿真模型；确定生产仿真模型输出的仿真目
标产品对应的误差，进而根据误差绝对值的倒数确定该候选工艺参数对应的函数值。

[0115] 根据本申请的工艺参数确定方法，通过确定候选工艺参数，为后续确定目标工艺参数提供了数据基础，保证了能够根据候选工艺参数确定目标工艺参数，保证了目标工艺
参数确定的准确性；通过对候选工艺参数进行更新，进一步提升了后续确定目标工艺参数
的准确性，保证了后续流程的顺利进行；通过确定候选工艺参数对应的函数值，实现了对于
目标工艺参数的确定，防止出现目标工艺参数与目标生产工艺的最优工艺参数不符的情况
发生。

[0116] 在本申请的一种实施例中，如图7所示，图7为本申请实施例提供的另一种工艺参数确定方法的流程图，可选地，当需要确定目标产品对应的目标工艺参数时，具体可包括以
下步骤：

[0117] 步骤701，确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺。

[0118] 步骤702，确定目标生产工艺对应的历史工艺数据。

[0119] 步骤703，基于历史工艺参数和历史差分阻抗，构建目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构。

[0120] 步骤704，基于影响关系架构，确定目标生产工艺对应的候选影响权重。

[0121] 步骤705，对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权重。

[0122] 步骤706，根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候选影响权重对应的适应值。

[0123] 步骤707，将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈值的候选影响权重作为目标影响权重。

[0124] 需要说明的是，若更新后的候选影响权重中，不存在适应值大于适应阈值的候选影响权重，则基于更新后的候选影响权重，返回执行对候选影响权重进行更新，得到更新后
的候选影响权重的操作，直至存在适应值大于适应阈值的候选影响权重为止。

[0125] 步骤708，确定候选工艺参数。

[0126] 步骤709，对候选工艺参数进行更新，得到更新后的候选工艺参数。

[0127] 步骤710，基于目标影响权重和更新后的候选工艺参数，确定更新后的候选工艺参数对应的函数值。

[0128] 步骤711，将更新后的候选工艺参数中，函数值大于函数阈值的候选工艺参数作为目标工艺参数。

[0129] 根据本申请的工艺参数确定方法，通过确定目标生产工艺，为后续的确定目标工艺参数提供了判断基础，保证了后续流程的顺利进行，实现了对于非必要生产工艺的去除，
降低了后续确定目标工艺参数所需要的计算量；通过确定目标生产工艺的历史工艺参数，
实现了对于相关信息的获取，保证了后续确定目标影响权重和目标工艺参数的准确性，保
证了后续流程的顺利进行，并且为后续确定目标影响权重和目标工艺参数提供了数据基
础，使得目标影响权重更加符合目标产品的实际情况；通过确定目标影响权重，实现了后续
保证了目标工艺参数确定的准确性，使得能够根据目标工艺参数实现目标产品的生产工艺
优化；通过确定目标工艺参数，实现了对于目标产品生产工艺的优化，辅助工作人员对生产
工艺参数中的问题参数进行排查和调整，帮助工作人员对生产工艺的生产质量进行机理分
析，实现对于目标产品生产工艺的快速调优，实现了高效率的提升目标产品的产品质量。

[0130] 应该理解的是，虽然如上的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确
的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，
如上的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这
些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤
或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或
者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

[0131] 基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的工艺参数确定方法的工艺参数确定装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记
载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个工艺参数确定装置实施例中的具体限定可
以参见上文中对于工艺参数确定方法的限定，在此不再赘述。

[0132] 在一个实施例中，如图8所示，图8为本申请实施例提供的第一种工艺参数确定装置的结构框图，提供了一种工艺参数确定装置，包括：第一确定模块10、第二确定模块20、第三确定模块30和第四确定模块40，其中：

[0133] 第一确定模块10，用于确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺。

[0134] 第二确定模块20，用于确定目标生产工艺对应的历史工艺数据。

[0135] 第三确定模块30，用于基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权重。

[0136] 第四确定模块40，用于基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数。

[0137] 根据本申请的工艺参数确定装置，通过确定目标生产工艺，为后续的确定目标工艺参数提供了判断基础，保证了后续流程的顺利进行，实现了对于非必要生产工艺的去除，
降低了后续确定目标工艺参数所需要的计算量；通过确定目标生产工艺的历史工艺参数，
实现了对于相关信息的获取，保证了后续确定目标影响权重和目标工艺参数的准确性，保
证了后续流程的顺利进行，并且为后续确定目标影响权重和目标工艺参数提供了数据基
础，使得目标影响权重更加符合目标产品的实际情况；通过确定目标影响权重，实现了后续
保证了目标工艺参数确定的准确性，使得能够根据目标工艺参数实现目标产品的生产工艺
优化；通过确定目标工艺参数，实现了对于目标产品生产工艺的优化，辅助工作人员对生产
工艺参数中的问题参数进行排查和调整，帮助工作人员对生产工艺的生产质量进行机理分
析，实现对于目标产品生产工艺的快速调优，实现了高效率的提升目标产品的产品质量。

[0138] 在一个实施例中，如图9所示，图9为本申请实施例提供的第二种工艺参数确定装置的结构框图，提供了一种工艺参数确定装置，并且，历史工艺数据包括历史工艺参数和历
史工艺参数对应的历史差分阻抗，具体的，工艺参数确定装置中第三确定模块30包括：第一
确定模块10、第二确定模块20、第三确定模块30和第四确定模块40，其中：

[0139] 构建单元31，用于基于历史工艺参数和历史差分阻抗，构建目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构。

[0140] 第一确定单元32，用于基于影响关系架构，确定目标生产工艺对应的候选影响权重。

[0141] 第二确定单元33，用于对候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0142] 需要说明的是，对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权重；对更新后的候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0143] 在本申请的一种实施例中，根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候选影响权重对应的适应值；将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈
值的候选影响权重作为目标影响权重。若更新后的候选影响权重中，不存在适应值大于适
应阈值的候选影响权重，则基于更新后的候选影响权重，返回执行对候选影响权重进行更
新，得到更新后的候选影响权重的操作，直至存在适应值大于适应阈值的候选影响权重为
止。

[0144] 根据本申请的工艺参数确定装置，通过确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构，为后续确定候选影响权重提供的基础条件，保证了后续目标影响权重确
定的准确性，降低了确定目标影响权重的操作难度，并且通过对候选影响权重进行筛选处
理，进一步提高了目标影响权重确定的准确性，为后续确定目标工艺参数提供了数据保障，
使得后续能够根据目标工艺参数实现目标产品的生产工艺优化；并且，通过对候选影响权
重进行更新，保证了候选影响权重能够包含符合实际情况的目标影响权重，保证了目标影
响权重的准确性，保证了后续流程的顺利进行，防止出现目标影响权重与目标生产工艺的
实际权重不符的情况发生。

[0145] 在一个实施例中，如图10所示，图10为本申请实施例提供的第三种工艺参数确定装置的结构框图，提供了一种工艺参数确定装置，该工艺参数确定装置中第四确定模块40
包括：第三确定单元41、更新单元42和筛选单元43，其中：

[0146] 第三确定单元41，用于确定候选工艺参数。

[0147] 更新单元42，用于对候选工艺参数进行更新，得到更新后的候选工艺参数。

[0148] 筛选单元43，用于基于目标影响权重，对更新后的候选工艺参数进行筛选处理，确定目标工艺参数。

[0149] 需要说明的是，基于目标影响权重和更新后的候选工艺参数，确定更新后的候选工艺参数对应的函数值；将更新后的候选工艺参数中，函数值大于函数阈值的候选工艺参
数作为目标工艺参数。

[0150] 根据本申请的工艺参数确定装置，通过确定候选工艺参数，为后续确定目标工艺参数提供了数据基础，保证了能够根据候选工艺参数确定目标工艺参数，保证了目标工艺
参数确定的准确性；通过对候选工艺参数进行更新，进一步提升了后续确定目标工艺参数
的准确性，保证了后续流程的顺利进行；通过确定候选工艺参数对应的函数值，实现了对于
目标工艺参数的确定，防止出现目标工艺参数与目标生产工艺的最优工艺参数不符的情况
发生。

[0151] 上述工艺参数确定装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形
式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

[0152] 在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图11所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口、通信接口、显示单元和输入装置。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口、显示单元和输入装置通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提
供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失
性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统
和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之
间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无
线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理
器执行时以实现一种工艺参数确定方法。该计算机设备的显示单元用于形成视觉可见的画
面，可以是显示屏、投影装置或虚拟现实成像装置。显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水
显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外
壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

[0153] 本领域技术人员可以理解，图11中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设
备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

[0154] 在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

[0155] 确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺；

[0156] 确定目标生产工艺对应的历史工艺数据；

[0157] 基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权重；

[0158] 基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数。

[0159] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

[0160] 基于历史工艺参数和历史差分阻抗，构建目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构；

[0161] 基于影响关系架构，确定目标生产工艺对应的候选影响权重；

[0162] 对候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0163] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

[0164] 对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权重；

[0165] 对更新后的候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0166] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

[0167] 根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候选影响权重对应的适应值；

[0168] 将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈值的候选影响权重作为目标影响权重。

[0169] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

[0170] 若更新后的候选影响权重中，不存在适应值大于适应阈值的候选影响权重，则基于更新后的候选影响权重，返回执行对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权
重的操作，直至存在适应值大于适应阈值的候选影响权重为止。

[0171] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

[0172] 确定候选工艺参数；

[0173] 对候选工艺参数进行更新，得到更新后的候选工艺参数；

[0174] 基于目标影响权重，对更新后的候选工艺参数进行筛选处理，确定目标工艺参数。

[0175] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

[0176] 基于目标影响权重和更新后的候选工艺参数，确定更新后的候选工艺参数对应的函数值；

[0177] 将更新后的候选工艺参数中，函数值大于函数阈值的候选工艺参数作为目标工艺参数。

[0178] 在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

[0179] 确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺；

[0180] 确定目标生产工艺对应的历史工艺数据；

[0181] 基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权重；

[0182] 基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数。

[0183] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0184] 基于历史工艺参数和历史差分阻抗，构建目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构；

[0185] 基于影响关系架构，确定目标生产工艺对应的候选影响权重；

[0186] 对候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0187] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0188] 对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权重；

[0189] 对更新后的候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0190] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0191] 根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候选影响权重对应的适应值；

[0192] 将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈值的候选影响权重作为目标影响权重。

[0193] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0194] 若更新后的候选影响权重中，不存在适应值大于适应阈值的候选影响权重，则基于更新后的候选影响权重，返回执行对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权
重的操作，直至存在适应值大于适应阈值的候选影响权重为止。

[0195] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0196] 确定候选工艺参数；

[0197] 对候选工艺参数进行更新，得到更新后的候选工艺参数；

[0198] 基于目标影响权重，对更新后的候选工艺参数进行筛选处理，确定目标工艺参数。

[0199] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0200] 基于目标影响权重和更新后的候选工艺参数，确定更新后的候选工艺参数对应的函数值；

[0201] 将更新后的候选工艺参数中，函数值大于函数阈值的候选工艺参数作为目标工艺参数。

[0202] 在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

[0203] 确定目标产品在生产过程中的目标生产工艺，目标生产工艺为影响目标产品差分阻抗的生产工艺；

[0204] 确定目标生产工艺对应的历史工艺数据；

[0205] 基于历史工艺数据，确定目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的目标影响权重；

[0206] 基于目标影响权重，确定目标产品对应的目标工艺参数。

[0207] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0208] 基于历史工艺参数和历史差分阻抗，构建目标生产工艺针对目标产品差分阻抗的影响关系架构；

[0209] 基于影响关系架构，确定目标生产工艺对应的候选影响权重；

[0210] 对候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0211] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0212] 对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权重；

[0213] 对更新后的候选影响权重进行筛选处理，确定目标影响权重。

[0214] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0215] 根据更新后的候选影响权重对应的差分阻抗误差，确定更新后的候选影响权重对应的适应值；

[0216] 将更新后的候选影响权重中，适应值大于适应阈值的候选影响权重作为目标影响权重。

[0217] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0218] 若更新后的候选影响权重中，不存在适应值大于适应阈值的候选影响权重，则基于更新后的候选影响权重，返回执行对候选影响权重进行更新，得到更新后的候选影响权
重的操作，直至存在适应值大于适应阈值的候选影响权重为止。

[0219] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0220] 确定候选工艺参数；

[0221] 对候选工艺参数进行更新，得到更新后的候选工艺参数；

[0222] 基于目标影响权重，对更新后的候选工艺参数进行筛选处理，确定目标工艺参数。

[0223] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

[0224] 基于目标影响权重和更新后的候选工艺参数，确定更新后的候选工艺参数对应的函数值；

[0225] 将更新后的候选工艺参数中，函数值大于函数阈值的候选工艺参数作为目标工艺参数。

[0226] 需要说明的是，本申请所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等)，均为经用户
授权或者经过各方充分授权的信息和数据，且相关数据的收集、使用和处理需要遵守相关
国家和地区的相关法律法规和标准。

[0227] 本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读
取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申
请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易
失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read‑Only 
Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器
(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器
(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，
PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，
RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存
取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random 
Access Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据
库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，
不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形
处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

[0228] 以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛
盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

[0229] 以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，
在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范
围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。