本发明公开一种数字发声芯片的测试系统和测试方法，涉及电路测试技术领域，以解决现有扬声器测试方法无法进行数字发声芯片测试的问题。测试系统包括电性能检测电路以及接触检测电路；电性能检测电路包括控制器、多个开关电路以及采样电路；接触检测电路用于检测待检测数字发声芯片与测试系统的连接是否良好；控制器用于将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使对应的开关电路控制数字发声芯片的对应通道，采样电路用于采集测试系统的电流数据并将电流数据发送给控制器；控制器用于完成待检测数字发声芯片各通道的检测。本发明提供的数字发声芯片的测试系统用于对数字发声芯片进行检测。
1.一种数字发声芯片的测试系统，其特征在于，包括：电性能检测电路以及接触检测电路；
所述电性能检测电路包括控制器、多个开关电路以及采样电路；所述接触检测电路与控制器相连；
每个所述开关电路的一侧与待检测数字发声芯片的一个引脚相连，所述开关电路的另一侧与控制器相连；所述采样电路与所述控制器相连；所述待检测数字发声芯片包含m×n个级联成阵列的发声像素单元，每个发声像素单元由电极和振膜组成，振膜和电极之间具有电隔离，所述待检测数字发声芯片内部的电极和振膜的电连接方式有两种，一种是每行的发声像素单元的振膜连接在一起，每行的发声像素单元的电极连接在一起，并与其他行的电极和振膜之间进行电隔离；或每列的发声像素单元的振膜连接在一起，每列的发声像素单元的电极连接在一起，并与其他列的电极和振膜之间进行电隔离，列连接包括n组，行连接包括m组，共有2n或2m个通道；另外一种振膜和电极连接方式为，每个发声像素单元的振膜和电极均单独设置，共有m×n个通道；每个通道对应一个引脚；m和n均为正整数；
所述接触检测电路用于检测待检测数字发声芯片与测试系统的连接是否良好；所述控制器用于将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使对应的开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道，所述采样电路用于采集测试系统的电流数据并将所述电流数据发送给控制器；所述控制器用于完成待检测数字发声芯片各通道的检测。
2.根据权利要求1所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括电源，所述电源包括高压挡、低压挡以及零电位；所述电源与所述开关电路相连，所述控制器用于控制所述开关电路接入电源的挡位。
3.根据权利要求1所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括转接卡；所述待检测数字发声芯片和所述转接卡通过排针或飞线的方式电连接，所述转接卡上包括与所述待检测数字发声芯片一一对应的引脚；所述接触检测电路与所述转接卡的首尾两个引脚相连；所述接触检测电路包括开关、指示灯、第一限流器件、稳压电路以及保护器件；所述开关的一端连接所述转接卡的引脚，所述开关的另一端连接所述第一限流器件的一端，所述第一限流器件的另一端连接所述稳压电路的一端，所述稳压电路的另一端连接所述保护器件的一端，所述保护器件的另一端连接所述控制器，所述指示灯的一端连接开关，所述指示灯的另一端接地。
4.根据权利要求2所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述电性能检测电路还包括信号转换器和第二限流器件，所述第二限流器件的一端连接待检测数字发声芯片的一个引脚，所述第二限流器件的另一端连接所述开关电路的第一端，所述开关电路的第二端连接信号转换器的一端，所述信号转换器的另一端连接控制器，所述开关电路的第三端连接所述电源；所述信号转换器用于将所述控制器发送的检测信号转换成开关电路可识别的信号并将信号发送给所述开关电路。
5.根据权利要求1所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括音频检测模块，所述音频检测模块包括音频信号处理模块、驱动模块以及音质判断模块，所述音频信号处理模块用于对数字音频信号进行处理得到目标音频数据，并将所述目标音频数据发送给所述驱动模块，所述驱动模块将所述目标音频数据发送给所述待检测数字发声芯片以驱动所述待检测数字发声芯片发出声音，音质判断模块根据所述声音确定所述待检测数字发声芯片发声是否正常。
6.根据权利要求1所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述采样电路包括采样器件以及ADC转换器，所述ADC转换器的一端连接所述控制器，所述ADC转换器的另一端与所述采样器件的一端相连，所述采样器件的另一端接地。
7.一种数字发声芯片的测试方法，其特征在于，所述数字发声芯片的测试方法应用于权利要求1 6任意一项所述数字发声芯片的测试系统，方法包括：~
控制器控制接触检测电路对测试系统和待检测数字发声芯片之间的接触性能进行检测；
将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道；
控制采样电路采集测试系统中的电流数据，并将电流数据发送给所述控制器；
完成待检测数字发声芯片所有通道的检测，得到异常通道。
8.根据权利要求7所述数字发声芯片的测试方法，其特征在于，所述完成待检测数字发声芯片所有通道的检测，得到异常通道之后还包括：针对所述异常通道中任意两个通道的检测，所述控制器发送第一通道的检测信号给开关电路，以使开关电路控制待检测数字发声芯片的第一通道，并控制与第二通道连接的开关电路接入电源的零电位，控制其余通道与对应的开关电路断开连接；
控制所述采样电路采集当前测试系统中的电流数据并发送给所述控制器；
所述控制器根据电流数据判断当前待检测的两个通道是否异常；
9.根据权利要求7所述数字发声芯片的测试方法，其特征在于，采样电路采集的测试系统的电流数据为测试系统总电路上的电流数据或待检测数字发声芯片每个通道输出位置处的电流数据；
当采样电路采集的测试系统的电流数据为所述测试系统总电路上的电流数据时，所述控制器根据电流数据判断当前通道是否异常包括：所述控制器将电流数据与预设电流阈值进行比较，若电流数据大于所述预设电流阈值，则将当前通道确定为异常通道；
当采样电路采集的测试系统的电流数据为所述待检测数字发声芯片的每个通道输出位置处的电流数据时，所述控制器根据电流数据判断当前通道是否异常包括：所述控制器将电流数据与零进行比较，若只有当前通道输出位置处的电流数据大于零，则当前通道正常，若除当前通道外至少有一个通道的电流数据大于零，则将当前通道确定为异常通道。
10.根据权利要求8所述数字发声芯片的测试方法，其特征在于，完成所有异常通道的检测，得到目标异常通道之后还包括：所述控制器控制音频信号处理模块对数字音频信号进行处理，计算得到多路量化数字脉冲信号，并将多路量化数字脉冲信号传输给待检测数字发声芯片，驱动待检测数字发声芯片发声；
根据所述待检测数字发声芯片发出的声音判断所述待检测数字发声芯片的功能是否异常。
一种数字发声芯片的测试系统和测试方法
技术领域
[0001] 本发明涉及电路测试技术领域，尤其涉及一种数字发声芯片的测试系统和测试方法。
背景技术
[0002] 数字发声芯片是由N个像素单元构成的阵列发声器件，与传统扬声器模拟发声原理不同，其发声采用数字声音重构的方式实现，在构成的单个像素扬声器设计中，其很多设计原理与传统扬声器不同，因此现有技术如传统动圈铁圈等扬声器测试方案显然不适用于数字发声芯片；另外虽然数字发声芯片跟其它硅芯片的设计一样，本质上是通过典型光刻、刻蚀等工艺制造的单芯片，在硅晶圆上构建整个扬声器，但由于其像素单元内部及像素单元之间特殊的连接结构，现有芯片级的测试电路也不适用。
[0003] 因此，亟需一种数字发声芯片的测试系统和测试方法。
发明内容
[0004] 本发明的目的在于提供一种数字发声芯片的测试系统和测试方法，用于解决现有测试系统无法对数字发声芯片内部电路进行测试的问题。
[0005] 为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
[0006] 一方面，本发明提供一种数字发声芯片的测试系统，包括：电性能检测电路以及接触检测电路；
[0007] 所述电性能检测电路包括控制器、多个开关电路以及采样电路；所述接触检测电路与控制器相连；
[0008] 每个所述开关电路的一侧与待检测数字发声芯片的一个引脚相连，所述开关电路的另一侧与控制器相连；所述采样电路与所述控制器相连；
[0009] 所述接触检测电路用于检测待检测数字发声芯片与测试系统接触是否良好；所述控制器用于将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使对应的开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道，所述采样电路用于采集测试系统的电流数据并将所述电流数据发送给控制器；所述控制器用于完成待检测数字发声芯片各通道的检测。
[0010] 与现有技术相比，本发明提供的数字发声芯片的测试系统包括：电性能检测电路以及接触检测电路；电性能检测电路包括控制器、多个开关电路以及采样电路；接触检测电路与控制器相连；每个开关电路的一侧与待检测数字发声芯片的一个引脚相连，开关电路的另一侧与控制器相连；采样电路与控制器相连；接触检测电路用于检测待检测数字发声芯片与测试系统接触是否良好，可以确保待检测数字发声芯片各管脚与测试系统进行了良好的电连接；控制器用于将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使对应的开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道工作，可以实现数字发声芯片单一通道的单独检测，采样电路用于采集测试系统的电流数据并将电流数据发送给控制器；本发明的电性能检测电路可以实现数字发声芯片内部电路中各通道的检测，通过检测结果可以精准定位异常位置，有效判断数字发声芯片内部电性能与工艺的优劣，从而提高数字发声芯片的工艺水平以及产品质量。
[0011] 另一方面，本发明还提供一种数字发声芯片的测试方法，所述数字发声芯片的测试方法应用于上述数字发声芯片的测试系统，方法包括：
[0012] 控制器控制接触检测电路对测试系统和待检测数字发声芯片之间的接触性能进行检测；
[0013] 将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道；
[0014] 控制采样电路采集测试系统中的电流数据，并将电流数据发送给所述控制器；
[0015] 所述控制器根据电流数据判断当前通道是否异常；
[0016] 完成待检测数字发声芯片所有通道的检测，得到异常通道。
[0017] 与现有技术相比，本发明提供的数字发声芯片的测试方法的有益效果与上述技术方案所述数字发声芯片的测试系统的有益效果相同，此处不做赘述。
附图说明
[0018] 此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
[0019] 图1为本发明提供的数字发声芯片像素单元阵列结构示意图；
[0020] 图2为本发明提供的一种数字发声芯片的测试系统结构示意图；
[0021] 图3为本发明提供的接触检测电路结构示意图；
[0022] 图4为本发明提供的电性能检测电路结构示意图；
[0023] 图5为本发明提供的音频检测模块结构示意图；
[0024] 图6为本发明提供的一种数字发声芯片的测试方法流程图。
[0025] 附图标记：
[0026] 1‑接触检测电路，11‑开关，12‑指示灯，13‑第一限流器件，14‑稳压电路，15‑保护器件，2‑电性能检测电路，21‑控制器，22‑开关电路，23‑采样电路，231‑采样器件，232‑ADC转换器，24‑信号转换器，25‑第二限流器件，26‑电源，3‑音频检测模块，31‑音频信号处理模块，32‑驱动模块，33‑音质判断模块，4‑转接卡，5‑数字发声芯片。
具体实施方式
[0027] 为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案，在本发明的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。例如，第一阈值和第二阈值仅仅是为了区分不同的阈值，并不对其先后顺序进行限定。本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定，并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同。
[0028] 需要说明的是，本发明中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本发明中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
[0029] 本发明中，“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B的情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项（个）”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项（个）或复数项（个）的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项（个），可以表示：a，b，c，a和b的结合，a和c的结合，b和c的结合，或a、b和c的结合，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
[0030] 现有的扬声器是通过驱动振膜振动实现发声，因此传统的扬声器测试方法[0031] 通常是检测扬声器在工作时的振膜振幅变化来检测扬声器的质量，而数字发生器是由多个发声像素单元构成的阵列发声器件，由于结构的不同，传统的扬声器测试方法不能对数字发声芯片进行测试。
[0032] 为解决上述问题，本发明提供一种数字发声芯片的测试系统和测试方法，能实现数字发声芯片的电性能检测和发声功能检测，接下来结合附图进行说明。
[0033] 参见图1，数字发声芯片包含m×n个级联成阵列的发声像素单元，每个发声像素单元由电极和振膜组成，振膜和电极之间具有电隔离，数字发声芯片内部的电极和振膜的电连接方式有两种，一种是每行的发声像素单元的振膜连接在一起，每行的发声像素单元的电极连接在一起，并与其他行的电极和振膜之间进行电隔离；或每列的发声像素单元的振膜连接在一起，每列的发声像素单元的电极连接在一起，并与其他列的电极和振膜之间进行电隔离；如图2所示，列连接包括A1 An组，行连接包括C1 Cm组，可视为共有2n或2m个通~ ~道，在实际生产中，数字发声芯片的每个通道对应一个引脚。另外一种振膜和电极连接方式为，每个发声像素单元的振膜和电极均单独设置，即与其他发声像素单元的振膜和电极进行电隔离，此时可视为共有m×n个通道，则能精准测试每一个发声像素单元；本发明以每列的发声像素单元的振膜和电极分别连接为例，即数字发声芯片有2m个通道为例进行说明。
[0034] 图2为本发明提供的一种数字发声芯片的测试系统结构示意图，如图2所示，数字发声芯片的测试系统包括：接触检测电路1、电性能检测电路2、音频检测模块3、转接卡4，在测试时，数字发声芯片5是安装在转接卡4上的，数字发声芯片5和转接卡4通过排针或飞线的方式电连接，转接卡4上包括与数字发声芯片5一一对应的引脚；接触检测电路1、电性能检测电路2、音频检测模块3分别与安装了数字发声芯片5的转接卡4相连，接触检测电路1用于检测数字发声芯片5的各引脚与测试系统的电连接是否良好，即接触性能是否良好；电性能检测电路2用于通过遍历驱动所有数字发声芯片的发声像素单元来检测数字发声芯片5内部结构的电连接情况，音频检测模块3用于检测数字发声芯片5的发声功能。
[0035] 电性能检测电路2至少包括控制器、多个开关电路以及采样电路；每个开关电路的一侧与待检测数字发声芯片的一个引脚相连，开关电路的另一侧与控制器相连；采样电路与控制器相连；控制器用于将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使对应的开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道，采样电路用于采集测试系统的电流数据并将电流数据发送给控制器；控制器用于完成待检测数字发声芯片各通道的检测。
[0036] 作为一种可选的方式，参见图3，数字发声芯片有2n个引脚，左右对称封装。转接卡同样设置2n个引脚，需要说明的是，图3仅示出数字发声芯片一侧的引脚L1‑引脚Ln，数字发声芯片另一侧还包括与引脚L1‑引脚Ln对称的n个引脚。上述测试系统中的接触检测电路一侧与控制器21相连，接触检测电路的另一侧与转接卡4的首尾两个引脚相连；接触检测电路包括两个开关11、两个指示灯12、两个第一限流器件13、两个稳压电路14以及两个保护器件15；开关11的一端连接转接卡4的引脚，开关11的另一端连接第一限流器件13的一端，第一限流器件13的另一端连接稳压电路14的一端，稳压电路14的另一端连接保护器件15的一端，保护器件15的另一端连接控制器21，指示灯12并联在电路中，指示灯12的一端连接开关
11，指示灯12的另一端接地。保护器件15用于在接触检测电路和控制器之间进行电气隔离，保护电路；稳压电路14用于为接触检测电路提供稳定电压；第一限流器件用于限制电流，避免电压过高烧坏指示灯；开关11可以为开关或跳线。若与开关11连接的引脚为复用引脚，则在接触检测时闭合开关11，接触检测完成后断开开关11。
[0037] 在进行数字发声芯片和测试系统的接触检测时，首先，确定测试系统各器件完成了连接，系统上电，此时接触检测电路开始工作，并给出检测结果，若接触良好，则指示灯亮，若接触不良则指示灯灭，指示灯可以用显示屏代替，测试系统上电后，显示屏显示连通或断开等字样。
[0038] 作为一种可选的方式，参见图4，数字发声芯片内部电极与振膜的连接共为2m个通道时，则引出引脚也为2m个，即数字发声芯片2n个引脚中有2m个是对应通道引出的引脚，如图4所示，2m个引脚对应通道R1‑R2m；上述测试系统中的电性能检测电路还包括多个信号转换器24、多个第二限流器件25以及电源26，信号转换器24、第二限流器件25以及开关电路22的数量与数字发声芯片的引脚数量相同，第二限流器件25的一端连接安装了数字发声芯片5的转接卡4的一个引脚，每个开关电路连接的引脚对应一个电极通道或振膜通道，第二限流器件25的另一端连接开关电路22的第一端，开关电路22的第二端连接信号转换器24的一端，信号转换器24的另一端连接控制器21，开关电路的第三端连接电源26，开关电路通过为对应通道提供电压驱动通道工作，电源26包括高压档、低压档以及零电位0V，高压档最高提供200V电压，控制器21用于控制开关电路22接入电源26的电压档位，即电压切换，电压档位的切换可采用硬件或软件实现，例如，可以采用电压切换电路实现电压档位的切换；为提高自动化程度，优选软件控制，当开关电路22接入零电位0V时，与开关电路连接的引脚接地。
另外，电源26还分别为信号转换器、控制器、接触检测电路中的各器件以及音频检测模块进行供电。
[0039] 其中，信号转换器24用于将控制器21发送的检测信号转换成开关电路22可识别的信号并发送给开关电路22，实现控制器与开关电路的通信，信号转换器24可以为编码器、译码器、反相器等器件或组合器件；开关电路22为通道工作状态控制开关，如上电、接地、悬空等，可为电子开关器件或能实现开关功能的组合电路；电源26的高压档用于为数字发声芯片提供高压，低压档用于为数字发声芯片提供低压，零电位档用于使开关电路22接地。第二限流器件用于限制电流，避免电压过高损坏器件；采样电路23用于执行电流采样功能，可以包括采样器件231以及ADC转换器232，采样器件231可以为采样电阻，ADC转换器232的一端连接控制器21，ADC转换器232的另一端与采样器件231的一端相连，采样器件231的另一端接地，采样电路采集的测试系统的电流数据可以为测试系统总电路上的电流数据或数字发声芯片每个通道输出位置处的电流数据。需要说明的是，图4仅显示电路工作过程以及关键电路与器件的功能和位置逻辑，实际实现电路的器件远多于图4所示出的。
[0040] 电性能检测电路对数字发声芯片进行电性能检测的检测原理为：通过每次驱动单一通道，在输出端进行电流采样，然后电流数据传送给控制器，由控制器进行计算与处理，若输出小于设定的电流阈值则说明工作正常，若超出电流阈值则说明该通道与其他通道连接异常。第一种检测方式为只给单一通道施加输入条件，采样电路采集电路总输出的电流，若输出的电流在电流阈值内则通过测试，说明正常，若超出则说明该通道与其他通道连接异常，同理，依次检测所有通道，如此便能检测出所有异常的通道，在此基础上可通过两两检测所有通道来进行一步定位相互影响的两个或多个通道。
[0041] 具体的，在对数字发声芯片进行电性能检测时，接触检测电路已经确保数字发声芯片和测试系统之间电路连接良好，给测试系统上电，控制器控制开关电路连接电源的低电压档，给开关电路发送只驱动通道R1的检测信号，以使对应的开关电路驱动通道R1工作，此时采样电路执行采样检测工作，采集测试系统中的电流数据，并将电流数据发送给控制器，控制器对电流数据进行计算和处理，处理完成后与设定的电流阈值进行比较，若电流数据小于电流阈值，则说明该通道工作正常，若电流数据大于电流阈值则说明该通道与其他通道之间连接异常，控制器进行当前状态记录，测试系统还可以包括显示模块，控制器将检测结果传输给显示模块进行显示，显示模块可以是集成在电性能检测电路中的LED显示灯或显示屏，或者位于控制器的显示窗口。重复上述步骤进行下一通道的检测，直到完成所有通道的检测，得到所有异常通道。
[0042] 假设检测出的异常通道为R1、R7、R8、R10，驱动异常通道中的一个通道，依次将其他异常通道中的一个接地，其余通道断开，进行两两检测，示例性的，若首先判断与通道R1连接异常的通道，将R8与R10断开，控制器发出驱动通道R1的检测电路给与通道R1连接的开关电路，与R1通道连接的开关电路驱动通道R1工作，同时控制器控制与通道R7连接的开关电路连接电源的零电位档，使通道R7接地，此时采样电路采集测试系统中的电流数据，若此时的电流数据小于电流阈值，则说明通道R1和通道R7连接正常，若大于电流阈值则说明通道R1与通道R7连接异常。断开R7与R8通道，驱动R1通道，R10接地，若检测的电流数据小于电流阈值，则R1与R10连接正常，反之，R1与R10连接异常，以此类推，两两检测所有异常通道，定位相互连接异常的两个或多个通道。
[0043] 为了检测数字发声芯片电性能的稳定性是否会因为施加高压及正常工作后失效或部分失效，控制器控制开关电路连接电源的高压档，然后采用上述检测步骤进行电性能检测，如此，便可通过检测结果判断数字发声芯片内部电性能与工艺的优劣。
[0044] 第二种检测方式为：控制器发送驱动单一通道的检测信号给对应开关电路，以使对应开关电路控制对应通道工作，采样电路检测各通道输出处的电流数据，若只有驱动的通道有输出电流则该通道正常，若有其他通道也检测到输出电流，则此通道与驱动通道连接异常；同理，依次检测所有通道，此检测逻辑可精准定位相互影响的两通道。
[0045] 参见图5，测试系统还包括音频检测模块，音频检测模块包括音频信号处理模块31、驱动模块32以及音质判断模块33，音频检测模块与电性能检测电路可以共用一个控制器，在进行检测时确保电路连接良好，给系统上电，控制器控制音频检测模块进行声音功能检测，音频信号处理模块31用于对数字音频信号进行处理得到目标音频数据，即主要负责对数字音频信号进行算法处理以及对数字音频信号进行数字声音重构，音频信号处理模块
31生成携带目标音频数据与控制信号的驱动数据，并将携带目标音频数据与控制信号的驱动数据发送给驱动模块32，驱动模块32将携带目标音频数据与控制信号的驱动数据发送给待检测数字发声芯片以驱动待检测数字发声芯片发出声音，音质判断模块33根据数字发声芯片播放的声音确定待检测数字发声芯片发声是否正常。若能够完整的还原音频信号则认为工作正常，若存在超过阈值的噪音或不发声则认为工作异常，发声功能检测后也可通过声学测量方法进一步检测数字发声芯片的声学性能，如通过音频录制设备采集数字发声芯片还原的音频信号，然后由音频分析软件分析其声学性能。
[0046] 图6为本发明提供的一种数字发声芯片的测试方法流程图，数字发声芯片的测试方法应用于上述数字发声芯片的测试系统，如图6所示，方法包括：
[0047] 步骤601：控制器控制接触检测电路对测试系统和待检测数字发声芯片之间的接触性能进行检测；
[0048] 步骤602：将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道；
[0049] 控制器先将开关电路与电源的低压档进行相连，然后发送检测信号给开关电路，进行电性能检测，完成检测后，控制器将开关电路与电源的高压档进行相连，进行二次电性能检测。可以实现对数字发声芯片在不上电的情况下、施加高压以及正常工作情况下的电性能检测。
[0050] 步骤603：控制采样电路采集测试系统中的电流数据，并将电流数据发送给所述控制器；
[0051] 采集电路采集的测试系统的电流数据为测试系统总电路上的电流数据或待检测数字发声芯片每个通道输出位置处的电流数据。
[0052] 步骤604：所述控制器根据电流数据判断当前通道是否异常；
[0053] 作为一种可选的方式，当采样电路采集的测试系统的电流数据为所述测试系统总电路上的电流数据时；所述控制器根据电流数据判断当前通道是否异常包括：
[0054] 所述控制器将电流数据与预设电流阈值进行比较，若电流数据大于所述预设电流阈值，则将当前通道确定为异常通道。
[0055] 当采样电路采集的测试系统的电流数据为所述待检测数字发声芯片的每个通道输出位置处的电流数据时；所述控制器根据电流数据判断当前通道是否异常包括：
[0056] 所述控制器将电流数据与零进行比较，若只有当前通道输出位置处的电流数据大于零，则当前通道正常，若除当前通道外至少有一个通道的电流数据大于零，则将当前通道确定为异常通道。
[0057] 步骤605：完成待检测数字发声芯片所有通道的检测，得到异常通道。
[0058] 作为一种可选的方式，所述完成待检测数字发声芯片所有通道的检测，得到异常通道之后还包括：
[0059] 针对所述异常通道中任意两个通道的检测，所述控制器发送第一通道的检测信号给开关电路，以使开关电路控制待检测数字发声芯片的第一通道，并控制与第二通道连接的开关电路接入电源的零电位档，控制其余通道与对应的开关电路断开连接；
[0060] 控制所述采样电路采集当前测试系统中的电流数据并发送给所述控制器；
[0061] 所述控制器根据电流数据判断当前待检测的两个通道是否异常；
[0062] 完成所有异常通道的检测，得到目标异常通道。
[0063] 作为一种可选的方式，完成所有异常通道的检测，得到目标异常通道之后还包括：
[0064] 所述控制器控制音频信号处理模块对数字音频信号进行处理，计算得到多路量化数字脉冲信号，并将多路量化数字脉冲信号传输给待检测数字发声芯片，驱动待检测数字发声芯片发声；
[0065] 根据所述待检测数字发声芯片发出的声音判断所述待检测数字发声芯片的功能是否异常。
[0066] 通过上述结构和方法可知，本数字发声芯片的测试系统和测试方法通过遍历驱动数字发声芯片的单一通道，在输出端进行检测，将检测结果与设定电流阈值进行比较来判断通道的异常与否，可以精准定位异常位置，并判断数字发声芯片的电连接和电隔离情况，通过驱动相应数量的发声像素单元进行电性能检测，根据数字发声芯片发声结果判断数字发声芯片发声功能是否异常，解决了现有技术中无法实现数字发声芯片电性能和发声功能检测的问题。
[0067] 尽管在此结合各实施例对本发明进行了描述，然而，在实施所要求保护的本发明过程中，本领域技术人员通过查看附图、公开内容、以及所附权利要求书，可理解并实现公开实施例的其他变化。在权利要求中，“包括”（comprising）一词不排除其他组成部分或步骤，“一”或“一个”不排除多个的情况。单个处理器或其他单元可以实现权利要求中列举的若干项功能。相互不同的从属权利要求中记载了某些措施，但这并不表示这些措施不能组合起来产生良好的效果。
[0068] 尽管结合具体特征及其实施例对本发明进行了描述，显而易见的，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可对其进行各种修改和组合。相应地，本说明书和附图仅仅是所附权利要求所界定的本发明的示例性说明，且视为已覆盖本发明范围内的任意和所有修改、变化、组合或等同物。显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包括这些改动和变型在内。
