光盘驱动聚焦装置

摘要

一种系统，它给光学拾取单元内的致动器提供信号。在一个实施例中，SUM信号数据(来自典型的存在于光拾取单元中的四象限探测器的输出)被记录在一SUM表内。误差项产生器对来自SUM表的SUM信号数据进行处理以产生误差项(步骤506)。一致动器控制信号产生器产生用于控制致动器移动的信号，其中所述信号是先前致动器位置、误差项和适应系数的函数，其中所述适应系数对允许误差项修改先前致动器位置的速率产生影响。该方法被用于在光盘的标签面上聚焦以写入图像(步骤510)。

权利要求

1.一种用于给光盘驱动器(100)内的致动器(128)提供信号以将从光学装置(114)发出的光束聚焦在光盘驱动器(100)内的盘(102)上的系统，其中该系统包括：SUM表(212)，其内记录SUM信号数据；

误差项产生器(214)，用于对来自SUM表(212)的SUM信号数据进行处理以产生误差项；和致动器控制信号产生器(216)，用于产生致动器控制信号，其中所述致动器控制信号是先前致动器位置、误差项和适应系数的函数，其中所述适应系数被配置用于调节允许误差项修改先前致动器位置的速率。

2.如权利要求1所述的系统，其中SUM表(212)被配置以在对盘(102)的环形部分涂敷图像之前进行更新。

3.如权利要求1所述的系统，其中所述致动器控制信号产生器(216)另外包括：系数产生器(218)，用于产生作为包括适应系数和误差项在内的输入的函数的系数；

和

傅立叶子程序模块(220)，用于使用所产生的系数来产生致动器控制信号。

4.如权利要求1所述的系统，其中所述致动器控制信号产生器(216)另外包括：系数产生器(218)，其被配置用于产生用于具有5项的傅立叶序列的系数，所述系数包括：A0＝A0+(DC0*Ek*Mu)；

A1＝A1+(QS1*Ek*Mu)；

B1＝B1+(QC1*Ek*Mu)；

A2＝A2+(QS2*Ek*Mu)；和

B2＝B2+(QC2*Ek*Mu)；

其中Ek是误差项，Mu是适应系数，DC0是所述具有5项的傅立叶序列中的非正弦第一项，QS1是该傅立叶序列中第一谐波的正弦值、QC1是该傅立叶序列中第一谐波的余弦值、QS2是该傅立叶序列中第二谐波的正弦值和QC2是该傅立叶序列中第二谐波的余弦值，A0、A1、B1、A2和B2分别是用于DC0、QS1、QC1、QS2和QC2的系数；和傅立叶子程序模块(220)，其被配置以使用所产生的系数产生致动器控制信号。

5.一种用于将从光学装置发出的光束聚焦到光盘驱动器(100)内的盘上的方法，包括：将数据写入(504)到SUM表(212)中，其中所述数据根据盘扇区(302-316)和根据致动器(128)朝向和远离盘(102)的移动进行分组；

使用来自SUM表(212)的数据产生(506)误差项；以及产生(508)作为先前致动器位置、误差项和适应系数的函数的致动器控制信号，所述适应系数用于对致动器控制信号变化的速率产生影响。

6.如权利要求5所述的方法，其中产生(508)致动器控制信号包括根据Wk新＝Wk旧-(Mu*Ek)来计算致动器控制信号(606)，其中Ek是误差项，而Mu是适应系数，Wk新是更新后的致动器控制信号，并且Wk旧是要被更新的致动器控制信号。

7.一种将从光学装置发出的光束聚焦到光盘驱动器内的盘上的方法，包括：将数据写入(504)到SUM表(212)中，其中所述数据根据盘扇区(302-316)进行分组；

使用来自SUM表(212)的数据产生(506)误差项；以及使用误差项和适应系数产生(508)致动器控制信号，所述适应系数被配置用于对致动器控制信号变化的速率产生影响。

8.如权利要求7所述的方法，其中产生致动器控制信号的步骤包括：产生(602)作为包括适应系数和误差项在内的输入的函数的系数；和使用所产生的系数来计算(602)傅立叶序列以产生致动器控制信号。

9.一种聚焦系统，包括：

用于将数据写入(504)到SUM表(212)中的装置，其中所述数据根据盘扇区进行分组；

用于使用来自SUM表(212)的数据产生(506)误差项的装置；和用于使用误差项和适应系数产生(508)致动器控制信号的装置，所述适应系数用于对致动器控制信号变化的速率产生影响。

10.如权利要求9所述的聚焦系统，还包括用于产生(502)基线信号以对致动器(128)进行初始定位的以下装置：用于在焦距的整个范围内步进致动器(128)的装置；

用于记录在整个焦距范围内获得的SUM信号数据的最大值的装置；和用于根据导致接近SUM信号数据的最大值的对致动器的输入设置基线信号的装置。

说明书

光盘驱动聚焦装置

背景技术

[0001] 当对CD的数据面读取或写入数据时，传统使用的FES(聚焦误差信号)提供允许操作闭环反馈电路来将光学拾取单元(OPU)保持聚焦在数据凹坑上，所述数据凹坑被限定在塑料层的上表面上。

[0002] 然而，浮雕技术使得能够对CD的标签面进行写入，由此产生一个图像、文本和/或图形。不幸的是，传统使用FES在盘标签面进行聚焦是效率低下的。

[0003] 在盘的标签面上进行聚焦的首要难题是FES信号提供低信噪比，这部分是由于覆盖盘标签面所使用的介质的性质引起的。由于低信噪比，在闭环反馈电路中设定的FES信号的传统使用将不会给用于会聚焦点的致动器线圈有效的提供信号。

[0004] 以传统的方式使用FES信号的第二个难题是OPU在静止时的聚焦被偏置在比盘标签面的表面远的距离处。这是因为OPU被设计用于聚焦数据凹坑上，其被限定为距离盘的数据面表面大约1.2mm处。因此，当聚焦在盘标签面时，必须要找出DC偏差以将致动器从盘表面移开。

[0005] 另外，盘在光盘驱动器内的倾斜和盘厚度差异会产生聚焦误差，该聚焦误差为在盘的每旋转一圈呈现一次的正弦变化。类似的，盘的扭曲同样会产生聚焦误差，该聚焦误差可以是每转一圈呈现两次的正弦变化。在没有有效闭环反馈电路的情况下，当对盘的标签面标记图像时，这些聚焦误差源可能会导致性能极大降低。

[0006] 因此，需要在标签面聚焦OPU的新的和改进的系统和方法。

发明内容

[0007] 一种系统给光盘驱动器的光学拾取单元内的致动器提供信号。在一个实施例中，SUM信号数据(来自典型的存在于光拾取单元中的四象限探测器的输出)被记录在SUM表内。误差项产生器对来自SUM表的SUM信号数据进行处理以产生误差项。一致动器控制信号产生器产生控制致动器移动的信号，其中所述信号是先前致动器位置、误差项和适应系数的函数，其中适应系数对误差项被允许修改先前致动器位置的速率有影响。

附图说明

[0008] 将参照附图进行下述详细说明。在图中，参考数字最左侧的数字用来指示参考数字首先出现的图。此外，通篇使用相同的参考数字指代相同的特征和部件。

[0009] 图1为光盘驱动器的一典型实施例的示意图；

[0010] 图2为表示包含在图1的光盘驱动器的示意图的固件内的前馈引擎的一典型实施例的方框图；

[0011] 图3为一光盘的示图，其示出了将盘分成多个扇区的典型分割；

[0012] 图4为表示部分前馈引擎的一典型实施例的方框图；

[0013] 图5为表示在一光驱内对光学系统进行聚焦的典型实施例的流程图；

[0014] 图6为更详细的表示图5的部分流程的流程图；

[0015] 图7为示出聚焦条件下的四象限探测器的示意图；

[0016] 图8和9为类似于图7的示图，其中四象限探测器检测非聚焦条件，在该条件中光学系统相对于焦点会聚得太近和太远。

具体实施方式

[0017] 图1表示典型盘驱动器和控制器系统100的大致示意图。具有信息面104的盘102被定向以对用于标记的标签面106进行定位。通过盘或主轴马达108来旋转盘，所述盘或主轴马达由主轴控制器110控制。激光束112在通过光学系统，例如透镜114之后到达盘102的标签面106的涂层表面。激光器116由滑撬118承载，滑撬马达120使滑撬在半径方向上移动。在典型的应用中，滑撬马达120在滑撬控制器122的指引下从标签区域的径向内侧边缘到标签区域的径向外侧边缘以递增的步幅使承载激光器116的滑撬118前进。

[0018] 激光控制器124控制激光器116和相关的跟踪线圈和探测器的操作。在图1的例子中，四象限聚焦探测器126典型的包含四个探测器，并通常被设计成用于方便聚焦，这部分是通过检测激光器和盘之间的距离进行的。可参照图7-9来理解四象限聚焦探测器的操作。在图7中，可看到标记为A-D的四个四象限探测器。可使用四象限探测器的输出来形成FES(聚焦误差信号)和SUM信号。将FES信号定义为：FES＝(VA+VC)-(VB+VD)，其中VA是探测器A的电压，以此类推。将SUM信号定义为：SUM＝VA+VB+VC+VD。可以看出反射光700是通常的圆形结构，这意味着每个探测器受类似的作用。因此，FES信号是近似零(0)伏。图8和9表示其中反射光800、900指示光学系统在焦点前面和后面的情形。四象限探测器的输出被结合以形成SUM信号，如下所述。配置致动器聚焦线圈128以调节光学系统114使激光器116聚焦在更接近盘102和从盘远离的点处。

[0019] 控制器130控制典型盘驱动器和控制器系统100的操作。特别的，控制器130被配置以执行程序语句，例如固件132中包含的那些程序语句。

[0020] 图2表示典型的前馈引擎200，其可由固件132中包含的由处理器或控制器130执行的程序语句来定义。前馈引擎200接收一个或多个输入并提供作为输出的致动器控制信号202，可将所述致动器控制信号馈送给致动器聚焦线圈128(图1)以控制激光器116、光学系统114和相关组件的聚焦。典型的前馈引擎200接收的输入包括来自四象限聚焦探测器126(图1)的SUM信号204和角度θ206的输入，角θ描述了盘102(图1)在光驱100(图1)内的角度取向。在一些实施例中，系数Mu也被提供给前馈引擎。如下面将更详细看到的，系数Mu用于权衡使用SUM信号204来修改施加给致动器聚焦线圈128的电流电压的速率。通过下列描述会更加充分的理解Mu输入208的值，即如果允许SUM信号过渡影响输入给致动器线圈128的当前电压值，则致动器线圈128可能会摆动的太过激烈并且不能会聚，即将激光聚焦在盘的标签表面106上。在最坏的情形下，如果不用Mu来衰减由SUM信号值的疯狂摆动所带来的变化，则聚焦电平可能会留下这样的区域，即在该区域内可能会检测到SUM信号；这可能会使聚焦完全失败。然而，如果过渡抑制SUM信号影响输入给致动器线圈128的当前电压值，则激光器可能不会足够快速的响应变化条件，并且可能会发生聚焦失败。因此，应根据特定条件选择Mu输入值208以进行适当聚焦。

[0021] 基线致动器定位程序210被配置用于确定施加给致动器聚焦线圈128的基线电压电平，以得到相关的基线致动器位置和聚焦光学位置。致动器128具有固有的、初始的或静止的位置，其可反映施加给线圈的固有或缺省电压，或者可以反映线圈被允许以初始电压电平进行“飘浮”。结果，由致动器移动的聚焦光学系统具有固有的、缺省的或静止的焦点。部分因为光学系统114被设计用于聚焦在盘内的一个位置上，所以典型的致动器128和光学系统114的静止位置太靠近盘，以至于在没有给致动器128施加信号的情况下而不能正确聚焦在盘表面106上。结果，有益的建立基线电压，将其施加给致动线圈128导致光学系统114近似的聚焦在盘102的表面106上。因此，基线致动器定位程序210确定基线电压电平。有时会出现基线电压具有AC分量的情况，即基线电压可作为盘角度取向(即，自旋)的函数变化。这种AC分量可根据图3的扇区或作为角度盘取向的函数变化。甚至在盘是扭曲的、契形的或其它不完美的情况下，这种AC分量允许基线电压改变致动器聚焦线圈128以将光学系统114的焦点保持在盘102的表面106上。

[0022] 在第一典型实施例中，基线致动器定位程序210被配置用于对致动器线圈128施加初始电压以移动光学系统114的焦点远离盘102(图1)一个量，该量被计算用于抵消致动器线圈典型内置的初始设计假设。设计假设是焦点应在塑料盘102的内部，以便于数据读取和写入。然而为了标记盘，焦点应在盘表面上。因此，可估计基线电压以导致致动器线圈128移动，和光学系统114的焦点的相关变化，该变化使焦点缩回光盘102以厚度的一个适当分数，由此使焦点(近似)位于盘102的表面106上。

[0023] 基线定位程序210的上述第一典型实施例产生第一假设：光学系统114被聚焦在位于盘102的表面106下面的一个已知深度的点上，和第二假设：可计算电压以将焦点移至盘的表面。基线定位程序的第二实施例是基于客观量度的使用做出的。配置基线致动器定位程序210以在焦距的整个范围上移动光学系统114，即从聚焦太近到聚焦太远。配置基线致动器定位程序210以在该范围内递增的步进致动器线圈128，并记录从SUM获得的值。一旦完成对致动器线圈128施加所述电压范围和聚焦光学系统的移动，记录SUM信号的最大值。可假设该值出现在光学系统近似聚焦时；另外，可以得到光学系统的所述位置的电压可被看作是基线电压。

[0024] 可选择的，为了取消致动器聚焦线圈128操作中的一些错误，可再次将DC电压递增的步进到致动器聚焦线圈中以移动光学系统114，直到SUM信号大约为在对致动器线圈128首次应用递增电压期间记录的最大值的75％(左右)。可将该DC电压电平用作基线电压电平。

[0025] 注意如果需要，可对盘的不同扇区指派不同的基线电压。例如，对于在光盘102上任意定义的每个扇区可单独的执行上述基线定位程序210的第二实施例。因此，基线电压可包括交流分量。

[0026] 前馈引擎200可产生SUM值表212。典型的SUM值表包含用于盘102的每个扇区的SUM信号的值，和用于从基线位置在两个方向上(即，朝向盘和远离盘)移动致动器的SUM信号的值。典型SUM表212的细节参见下面的表1。表1示出了许多细节，这些细节仅仅用于说明的目的；例如，可容易的改变所定义的扇区数和考虑的样本数，同时保持与所示的概念相一致。类似的，列4和5用于阐释概念的目的，并且典型是不被执行的。类似的，可用包含两列差(例如，列2值减列3值)的单一列来代替列2和3。

[0027] 表1

[0028]扇区 朝向 远离 样本 返回
1 X1 Y1 0-24 25-49
2 X2 Y2 50-74 75-99
3 X3 Y3 100-124 125-149
4 X4 Y4 150-174 175-199
5 X5 Y5 200-224 225-249
6 X6 Y6 250-274 275-299
7 X7 Y7 300-324 325-349
8 X8 Y8 350-374 375-399

[0029] 简言之，表1示出了与具有八个扇区的盘相关的数据(注意表中有八个行)。简单的参照图3，能够看出，仅仅为了说明的目的，在盘102中存在八个扇区302-316。列2和3列出了随着四象限聚焦检测器126(图1)经过给定扇区，代表SUM信号和的号码。(应了解，SUM信号是由于下列事实被如此命名的，即四象限探测器的输出被结合以形成SUM信号。)当致动器从基线位置朝向盘移动焦点时会得到列2中的SUM信号的所有值；当致动器移动焦点远离盘时得到列3中的SUM信号的所有值。列4和5指示在每转对盘取样400次时(即，SUM信号每转被读取400次)，实际上仅产生如列4中所示的样本。当列5中所示的样本位置经过四象限探测器时，不进行取样。相反，致动器返回至基线位置。

[0030] 可简单的参照图4来更好的理解四象限聚焦探测器126的操作。四象限探测器126(先前在图1中看到的)典型的是响应激光112反射的光学探测器。SUM信号204是四象限探测器126的输出总和。在图4中的框204的右侧可看到典型的SUM信号400。在光学系统114-116未聚焦时，SUM信号为零。随着光学系统移入焦距，SUM信号变成正值。注意SUM信号400仅仅用于说明目的；实际的SUM信号将是有相当大噪音的。SUM信号最初是模拟信号，但典型的通过A/D(模数)变换器402变换成数字值。如将会看到的，SUM信号的数字值适于插入到SUM值表212的列2和3中。将进一步参照误差项产生过程来说明图4。

[0031] 表1表示SUM表212的典型内容，所述SUM表记录的SUM数据用于产生误差项，并且最终用于产生供致动器聚焦线圈128使用的致动器控制信号202。表1的第一列指示表1中的每行提供关于盘102的八个扇区之一的信息。应了解，图3中所示的八个扇区302-316是被任意形成的，并且可使用其它数目的扇区。

[0032] 表1的列2提供值X1-X8，其代表在所指示的扇区内时(即，在由四象限聚焦探测器126旋转的盘扇区内时)，致动器正在调节光学系统114以朝盘移动焦点时(即，在朝向盘的方向上从基线位置移动焦点时)获取的SUM信号值的和。类似的，表1的列3提供值Y1-Y8，其代表在所指示的扇区内时，致动器128移动光学系统远离盘时获取的SUM信号值的和。列2可以与和盘的第一转相关的SUM信号的量度相关，而列3可以与和盘的第二转相关的SUM信号的量度相关。注意，虽然列2和3包含SUM数据，但实际上并不需要保留这些列。相反，当列3项变成可用时，可直接用列2和3项之间的差代替列2的数据。如后面将会看到的，列2和3之间的差代表SUM曲线(参见图4)的斜率，并因此代表误差项。

[0033] 如下面更详细看到的，列2和3中的值的相对大小指示朝向盘(列2)或远离盘(列3)的移动用于改进光学系统114-116的焦距。因此，在列2中看到的SUM信号样本的和的较高值指示通过朝向盘移动致动器和焦点改进了聚焦点。类似的，在列3中看到的SUM信号样本的和的较高值将指示通过移动致动器和焦点远离盘而改进了聚焦点。

[0034] 列4和5显示出在盘上有400个样本位置(任意选择的数)。只有与每个扇区相关的总共50个样本位置的头25个被取样。与每个扇区相关的总共50个样本位置的后25个样本位置未被取样；相反，当这些样本位置随着盘102旋转而经过四象限聚焦探测器126时，在对下一个扇区上的25个位置中的SUM信号进行取样之前，让致动器128将光学系统114返回至基线位置。因此，列4指出了进行取样的样本位置；列5指出了未使用的样本位置，并且其中允许将致动器128和光学系统114返回至基线位置。注意列4和5中的信息本质上是示范性的和指导性的，并且实际的表212可不具有该信息。

[0035] 再次参考图2，配置误差项产生器214以使用来自SUM值表的值产生误差项406(图4)。如图4所示，在406处从表212除去给定扇区的X和Y值。误差项产生器214包括计算差Xn-Yn的语句、程序或代码，由此产生误差项404。如下所示，误差项可称作Ek。
注意误差项意欲在其各自的扇区内使用，并且通过在盘上任意定义更多的扇区，和在SUM表中定义更多的行，可获得上面通过误差项进行的更大控制。

[0036] 在大多数实施例中，通过对盘上的一系列环带，即圆环形区域涂敷图像来对盘102的表面106进行标记。这是有益的，因为误差可以是盘半径的函数。因此，当完成一个环带时，SUM表214就被更新，由此能够计算误差项Ek的新值。当获得误差项的新值时，可将图像的一个附加部分施加给盘102的表面106的另一个环带。因此，响应于增加的径向距离(即，滑撬118和激光器116距离盘102的中心不断增加的移动)来周期性的更新SUM表212。随着SUM值被获得，将必须调低激光的强度，以避免在收集SUM数据的过程中标记盘。

[0037] 致动器控制信号产生器216产生施加给致动器聚焦线圈128的信号202。在实际的应用中，信号产生器216的输出通常是数字值，其通过DAC(数模转换器)转换成模拟信号，以耦接到致动器聚焦线圈128。

[0038] 可以通过多种方式来配置致动器控制信号产生器216。在第一实施例中，配置系数产生器218以产生用于傅立叶序列的系数，并且配置傅立叶子程序220以利用产生的系数来产生施加给致动器聚焦线圈的信号。例如，当使用具有五项的傅立叶序列时，可根据下式产生五个系数：

[0039] A0(新)＝A0(旧)+(DC0*Ek*Mu)；

[0040] A1(新)＝A1(旧)+(QS1*Ek*Mu)；

[0041] B1(新)＝B1(旧)+(QC1*Ek*Mu)；

[0042] A2(新)＝A2(旧)+(QS2*Ek*Mu)；和

[0043] B2(新)＝B2(旧)+(QC2*Ek*Mu)。

[0044] 上面的等式使用五个先前的旧系数(例如，A0(旧))提供了五个新系数(例如，A0(新))。例如，在一个实施例中，每个系数的新值对于盘102的每转被计算400次。随着盘旋转，误差值Ek将根据激光当前所聚焦的盘扇区变化。另外，由于盘旋转角度变化，正弦项(QS1至SC2)的值也将变化。注意A0的初始值是通过基线致动器定位程序210计算的基线值，而A1-B2的初始值是零。

[0045] 上面的等式使用A0来表示非正弦第一项，即标称DC电压电平(DC0)的系数。项An和Bn分别表示正弦项“n”的系数。QS1或QC2形式的项对应于如所示的第一或第二谐波的正弦或余弦值，其中应用于正弦函数的角度是盘驱动器内的盘的盘旋转角。注意正弦或余弦角被典型的乘以一个标量，例如1、2等，使得所述系数将具有不同的频率。例如，QS1可以是sin(θ)，而QC2可以是cos(2*θ)。适应系数Mu涉及的是允许误差系数Ek以多快的速度改变新系数的值。例如，Mu对在A1(新)和A1(旧)之间能够进行多少变化产生影响。

[0046] 配置傅立叶程序220以使用来自系数产生器218的系数和盘旋转角产生致动器控制信号202。可根据下式来应用新系数：

[0047] 致动器控制信号＝(A0*DC0)+(A1*QS1)+(B1*QC1)+(A2*QS2)+(B2*QC2)[0048] 在该情况中，例如，分别对于第一和第二谐函数的角度θ和两倍的θ的给定值，QS1和QC2分别是正弦和余弦值。

[0049] 在一可选择实施例中，可在没有系数和傅立叶序列的情况下执行致动器控制信号产生器216。可执行这样一种更加一般化的前馈方案，其中对前馈信号定义了非预定的形状。对于每个位时间，在盘旋转中的一个点处开始和当盘再次旋转回到那个点时结束的序列的一位可被存储在存储器中。该序列中的每位将通过最小均方(LMS)运算进行更新，但是此次该运算将是：Wk(新)＝Wk(旧)-Mu*Ek。

[0050] 注意上面的等式趋用于较低频率的旋转速率(例如，盘102每分300转等)和较低的取样速率。较低的盘旋转速率和取样速率区域会导致低于致动器的谐振频率的致动器运动。然而，致动器的谐振频率在较高的盘速度(即，较高的盘转数)和较高的取样速率下可能会导致聚焦失败。也就是说，在较高的盘旋转速率下必须要考虑致动器的谐振频率；否则，对致动器的输入将不会得到期望的输出，即将导致光学系统移动以使其会聚在焦点上的输出。在基于傅立叶序列的实施例中，如果主轴速度增加至使那一圈的第一、第二或第三谐波高于聚焦致动器的第一悬置谐振(约45Hz)亦或将使用更高的谐波，那么与Ek*Mu乘积相乘的正弦或余弦波的值也将需要通过致动器对那个输入的响应值进行相移。致动器控制信号内的这种项的相移将减小致动器谐振。例如：

[0051] A1(新)＝A1(旧)+(QS1(θ)*Ek*Mu)；

[0052] 其中QS1(θ)等于通过致动器在QS1的频率下的相移进行移相的QS1。如在上面的等式中所看到的，致动器控制信号内的项的相位被移动至补偿致动器谐波(例如，致动器谐振频率)所需的程度。如果光盘的盘角速度足够高，或SUM信号的取样速率足够高，或二者的某种组合，则这是必须的。例如，典型盘速度(rpm)和取样速率可能与致动器控制信号进行相移的程度相关。所施加的相移的程度通常将需要通过对可利用的致动器进行试验来确定。因此，一个表能够使盘速度rpm与致动器控制信号的相移相关。

[0053] 对于更加一般的、非傅立叶序列实施例的情况，如果取样速率超过谐振频率，更可能需要对致动器谐振进行补偿。这可通过在调整每个Wk之前用与致动器频率响应反相的数字滤波器模型对Ek值进行滤波来执行。在应用调整运算Wk(新)＝Wk(旧)-Mu*Ek之前，通过使Ek值通过反相滤波函数，致动器谐振效应基本上被抵消。

[0054] 对于处理致动器谐振频率问题的上述方法的其它替代方案也是存在的。例如，可以使用过滤X方案，该方案在涉及自适应LMS(最小均方)过滤的算法中是已知的。

[0055] 图5的流程图表示另一个典型实施例，其中利用方法500来聚焦光盘驱动器100的光学系统。该方法的要素可通过任何期望的手段来执行，例如通过执行处理器可读介质(例如，盘、ROM或其它存储装置)上定义的处理器可读指令或通过专用集成电路(ASIC)或其它硬件装置的操作来执行。在一个实施例中，ROM可包含图1的固件，由此根据一种方法(例如在图5的流程图中所看到的典型方法)来执行图2的前馈引擎200。在一个可选择实施例中，ASIC可包含执行前馈引擎200的逻辑。此外，在任何一个方框中所述的动作可与在其它方框中说明的动作并行的执行，可以按照交替的顺序发生，或者可以通过使彼此框中的动作相关的方式分布。

[0056] 在框502，产生基线致动器控制信号。当施加给致动器聚焦线圈128时，基线致动器控制信号会得到充分的激光聚焦，使从四象限聚焦探测器126获得的SUM信号非零。可以通过多种方式来产生基线致动器控制信号。例如，可使用上述的基线致动器定位程序210的第一典型实施例。应了解，在那个方法中，基线致动器信号是通过关于静止焦点的位置和施加给致动器聚焦线圈128以将焦点移至盘102的表面106所需的信号做出的假设产生的。可选择的，可利用上述的基线致动器定位程序210的第二典型实施例。应了解，在那个方法中，一个范围的电压被施加给了致动器聚焦线圈128并监视SUM信号。通过使用导致记录的较高SUM值的信号或通过步进施加给致动器线圈128的电压和选择SUM信号接近较高SUM时施加给线圈128的电压作为基线电压，来获得施加给聚焦致动器线圈128的、与SUM信号的接近最佳值相关的信号。

[0057] 在框504，将数据写入到SUM表212中。SUM表212的典型细节参见上面的表1。在一个实施例中，可使用前馈引擎200将数据写入到SUM表212中。可将基线致动器控制信号施加给致动器聚焦线圈128，由此移动光学系统114以将激光器112聚焦在靠近盘102的表面106。随着盘的旋转，前馈引擎200或其它控制程序施加一个信号，该信号捎带确认(piggyback)基线致动器控制信号并以离散的步骤递增的朝向盘102的表面106移动焦点。
随着焦点朝向盘移动，产生SUM信号的四象限探测器126正通过所述盘的第一扇区，SUM信号的多个(例如25个)样本被获得并被求和。将该数量插入到表212中，如上所述。然后将基线致动器控制信号重新施加给致动器聚焦线圈128，并允许光学系统返回至基线焦点。
随着盘继续旋转，邻近第一扇区的第二扇区移入邻近四象限聚焦探测器126的位置，并重复获得检测的SUM值的和及允许光学系统返回至基线位置的处理。随后的扇区被类似的取样，并填写SUM值表212的列2。在盘102第二转期间，将一个信号捎带确认到基线致动器控制信号上，并将其施加给致动器聚焦线圈128，所述致动器聚焦线圈递增的移动光学系统远离盘102的表面106。因此，表212的列3可被填写。

[0058] 在框506，使用来自SUM表212的数据产生一误差项。特别的，可通过误差项产生器214来产生误差项。如在上面对误差项产生器214的结构所做的说明看到的，可通过获得表1的列2和3中的SUM值的和之差来产生误差项。例如，可通过从与朝向盘移动焦点相关的SUM信号的和(见诸于表1的列2)减去与移动焦点远离盘102相关的SUM信号的和(见诸于表1的列3)来获得一个误差项或与第一扇区相关的项。可类似的将盘的每个扇区的误差项或值计算为SUM项的差。

[0059] 在框508处，使用误差项和其它项来产生致动器控制信号202。特别的，可通过前馈引擎200的致动器控制信号产生器216来产生致动器控制信号。产生致动器控制信号202的方法的多个典型的、可选择的和/或补充的实施例可参见图6。在框602处的一个实施例中，产生系数并对傅立叶序列求和。如上所述，系数产生器216可产生用于傅立叶序列的系数。使用所述系数和用于盘定向角度206的值的傅立叶子程序220来确定致动器控制信号202。通过系数产生器216已经更新的该致动器控制信号变成用于下一个适应周期的新基线信号。

[0060] 在框604所示的一可选择实施例中，其中盘的旋转速率足够高以与致动器线圈的悬置谐振(suspension resonance)相互作用，可修改系数产生器218来补偿该相互作用。该可选择实施例在上面图2的讨论中已经参照系数产生器218进行了说明。

[0061] 在框606处所示的另一个可选择实施例中，可在没有傅立叶系数和没有傅立叶序列的情况下执行致动器控制信号产生器216。如上所述，可执行这种一般化的前馈方案，其中未对前馈信号定义预定的形状。

[0062] 回到图5，在框510处，对盘的一个环带进行标记。随着盘的旋转，将致动器控制信号202施加给致动器聚焦线圈128。因此，光学系统114保持激光116聚焦在盘102的表面106上。在一个实施例中，对其涂敷图像的环带与盘的32转相关。一旦环带完成，就重复框504-510。重复所述框直到图像被完全涂敷到盘的表面106。

[0063] 虽然已经通过对结构特征和/或方法步骤特定的语言说明了上述公开，但应该理解后附权利要求并不局限于所述的特定特征或步骤。相反，所述特定特征和步骤是实现本公开的典型形式。例如，虽然在流程图的框中所述的动作可与在其它框中所述的动作并行的执行，但所述动作可以通过交替的顺序出现，或者以使彼此的动作相关的方式分布。并且另外，虽然所披露的方法要素趋于以任何期望的方式执行，但应该预料到由典型的位于固件132内的计算机和/或处理器执行的、从计算机或处理器可读介质(例如ROM、盘或CD ROM)读取的计算机或处理器可读指令将是优选的，但特定用途的门电路阵列(ASIC)或类似的硬件结构也可以作为替代。