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111. 发明授权

CN102460067B 用于高原子数材料的自动快速检测的系统和方法失效
公开(公告)号：CN102460067B
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201080031948.3
申请日：2010-05-16
申请人：拉皮斯坎系统股份有限公司
发明人：小罗伯特.A.阿米斯泰德 , J.A.布朗 , W.Z.常 , E.D.弗朗科 , J.本达汉
IPC分类号： G01B15/02
CPC分类号： G01V5/0016 , G01N23/04 , G01V5/0025 , G01V5/0041 , G06K9/00 , G06K9/4671 , G06K2209/09
摘要：本发明贯注于一种检查系统，包括：辐射源、检测器阵列、检查范围和处理单元，其中所述处理单元：a)获得射线照相图像；b)基于辐射衰减或透射分割所述射线照相图像；c)在所述射线照相图像上识别至少一个分割区域；d)使用至少一个几何滤波器对所述至少一个分割区域滤波；e)使用所滤波的分割区域生成特征矢量；以及f)将所述特征矢量与预定值进行比较，以确定是否存在高原子数的对象。

112. 发明公开

CN104350738A 用于在x射线曝光期间评估x射线射束不均匀性的源的存在的方法失效转让
公开(公告)号：CN104350738A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201380030642.X
申请日：2013-06-05
申请人：爱克发医疗保健公司
发明人： M.克雷森斯 , H.范高伯根
IPC分类号： H04N5/32
CPC分类号： G06T5/005 , A61B6/40 , A61B6/582 , G01N23/04 , G01N23/046 , G01T7/005 , G06T5/40 , G06T7/0012 , G06T7/80 , G06T2207/10116 , G06T2207/30004 , G06T2207/30168 , H04N5/32 , H04N5/3651
摘要：对通过x射线检测器的基本上均匀的照射获得的图像中的至少一个关注区域的像素值执行统计分析，并且通过将统计分析的结果与至少一个预定接受准则进行比较来决定x射线射束不均匀性的源的存在。

113. 发明公开

CN104340627A 车辆拖动装置、车辆双模式通过系统和检查系统有权转让
公开(公告)号：CN104340627A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310310974.5
申请日：2013-07-23
申请人：同方威视技术股份有限公司
发明人：吴玉成 , 何远 , 冉占森
IPC分类号： B65G35/00
CPC分类号： B62D65/18 , B60S13/00 , B65G35/06 , G01N23/04 , G01V5/0016
摘要：本发明提供了一种车辆拖动装置、车辆双模式通过系统及车辆辐射扫描的检查系统。车辆拖动装置包括：设置在车辆行驶通道中并能够沿第一方向移动的移动底架；及设置在移动底架上的托梁，托梁设置成在第一位置和第二位置之间可转动。在第一位置托梁大致处于与第一方向大致垂直的第二方向上，车辆的车轮与车辆拖动装置相作用，以拖动车辆通过行驶通道，在第二位置托梁大致处于与第一方向大致平行的位置上，车辆的车轮与车辆拖动装置的托梁不作用，车辆自行行驶以通过行驶通道。由此，当车辆不需要被拖动时，托梁转动到第二位置，车辆可自行驶过通道。当托梁转动到第一位置时，车辆拖动装置可拖动车辆通过通道。

114. 发明公开

CN104335468A 电压倍增器失效
公开(公告)号：CN104335468A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201380027545.5
申请日：2013-05-31
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： P·吕尔肯斯
IPC分类号： H02M3/07 , H05G1/10
CPC分类号： H02M7/103 , G01N23/04 , H02M3/07 , H05G1/10
摘要：一种电压倍增器10包括一系列倍增器级12a、12b、12c、12d。每个倍增器级，例如12b，包括第一输入端16b、第二输入端14b、第一输出端16c以及第二输出端14c。前面的倍增器级的所述第一输出端和所述第二输出端与随后的倍增器级的第一输入端和第二输入端互相连接。另外，每个倍增器级，例如12b，包括具有相同的电流导电方向的两个串联连接的二极管元件D5、D6。两个串联连接的二极管元件D5、D6将第一输入端16b与第一输出端16c互相连接。第二输出端14c被耦合在两个串联连接的二极管元件D5、D6之间。每个倍增器级，例如12b，包括缓冲电容器C6，缓冲电容器C6将各自的第一输入端16b与各自的第一输出端16c互相连接。至少一些倍增器级，例如12b，包括推挽式电容器C4，推挽式电容器C4将各自的第二输入端14b与各自的第二输出端14c互相连接。第一倍增器级12a的第一输入端16a和最末倍增器级12d的第一输出端16e为负载42提供输出。第一倍增器级12a的第二输入端14a为AC电压源提供输入。第一倍增器级12a的缓冲电容器C3包括两个串联连接的缓冲电容器部分C3a、C3b。用于AC电压源34的输入端20被提供在两个缓冲电容器部分C3a、C3b之间。

115. 发明公开

CN104285164A 数字X射线传感器有权转让
公开(公告)号：CN104285164A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201380025271.6
申请日：2013-05-15
申请人： R·贝拉兹尼
发明人： R·贝拉兹尼
IPC分类号： G01T1/24
CPC分类号： G01T1/247 , G01N23/04 , G01T1/17
摘要：一种X射线数字传感器(100)，其中，经配置用于接收光子(2)并将光子(2)转换成电荷(14)的半导体转换层(10)与半导体收集层(20)集成，所述半导体收集层(20)优选是CMOS ASIC，并由优选布置为六边形蜂窝图案的像素(22)形成，所述像素经配置以接收来自转换层(10)的电子(16)，并且其中每个收集像素(22)包括N个鉴别器(24i)，每个鉴别器经配置用于执行输入电荷(14)和自身阈值(25i)之间的比较，并用于在输入电荷(14)超过阈值时，执行0和1之间的瞬时转换，并且如果收集的电荷高于相应鉴别器(24i)中的阈值并低于紧接上部的鉴别器(24i+1)的阈值(25i+1)，则与每个鉴别器(24i)关联的计数器(26i)分别保持不变或其自身计数增加1，而其他计数器经配置用于保持它们自身的计数不变，以使计数器在邻近阈值限定的N个相应的能量带中测量光子(2)。提供一种校准装置，其包括用于针对所有像素(22)同时致动的装置并在每个像素(22)中包括用于每个鉴别器(24i)的数模转换器(DAC,28i)，所述数模转换器经配置用于接收预定数量的位的组合并生成对应于位的组合的电流；供应装置(206)，其用于将电流供应到每个像素(22)的放大装置(203)；逻辑装置(34)，其驻留在每个像素中并经配置用于执行迭代过程(80)以识别偏移校正过程，其中位的组合被生成并被转移到DAC(28i)，其生成对应的试验电流，所述电流通过供应装置(206)供应到放大装置(203)，逻辑装置读取计数器(26i)的计数，并在计数因试验电流增加时，使得该过程重复，或者在计数未因试验电流增加时，将后者作为校正电流存储在像素(22)的存储器单元(35)中。

116. 发明公开

CN104251869A 利用模块化传送链来操作射线照相检查系统的方法有权
公开(公告)号：CN104251869A
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201410302422.4
申请日：2014-06-27
申请人：梅特勒-托利多X-射线安全线有限公司
发明人： X·王 , N·J·金
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G06T7/0004 , G01N23/04 , G01N2223/643 , G01T7/005 , G01V5/0016 , G06T7/194 , G06T2207/10116 , G06T2207/10121 , G06T2207/30128 , G06T2207/30136
摘要：本发明操作一种射线照相检查系统的方法，该射线照相检查系统具体设计成用于其中具有相同模块化链条节段的传送链的射线照相检查系统，该链条传送链输送被检查的物品。该方法包括射线照相检查系统的两种操作模式，即，校准模式和检查模式，在该校准模式中产生表示具有空传送链的射线照相检查系统的特征的校准数据并将其存储为模板图像，在该检查模式中获取具有该传送链背景(41)的被检查物品(3)的原始图像(50)并用运算方法使其与模板图像合并。作为该过程的结果，获得了没有传送链的干涉背景的被检查物品的清晰输出图像(51)。

117. 发明公开

CN104159518A X射线波束整形器有权
公开(公告)号：CN104159518A
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201380012843.7
申请日：2013-02-06
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： E·勒斯尔
IPC分类号： A61B6/03 , A61B6/06 , A61B6/00
CPC分类号： G21K1/02 , A61B6/032 , A61B6/06 , A61B6/4021 , A61B6/4035 , G01N23/04
摘要：一种成像系统(500)，包括焦斑(508)，所述焦斑(508)沿绕着检查区域的路径旋转并发射辐射束，所述辐射束穿过所述检查区域的视场以及其中的受检者或对象。所述系统还包括探测器阵列(520)，所述探测器阵列(520)定位为与所述辐射源相对，处于所述检查区域的对面。所述探测器阵列探测穿过所述视场的辐射，并输出指示探测到的辐射的信号。所述系统还包括波束整形器，所述波束整形器定位于所述辐射源与所述检查区域之间。所述波束整形器与所述焦斑一起，并且相对于所述焦斑在所述焦斑的相反方向，以与所述焦斑的所述旋转相同的角频率旋转，并衰减所述辐射束，这在所述焦斑的每个旋转角度减小跨所述探测器阵列的通量密度。

118. 发明公开

CN104053986A X射线检查装置有权
公开(公告)号：CN104053986A
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201280067009.3
申请日：2012-06-27
申请人：雅马哈发动机株式会社
发明人：大川直尚
IPC分类号： G01N23/04 , H05K3/34
CPC分类号： G01N23/04 , G01N23/043 , G01N2223/6113 , G01T7/08 , H05K3/341 , H05K13/08 , H05K13/082 , H05K2203/163
摘要：本发明包括：一对输送机框架(71、72)，以沿着基板输送方向的中心线(120a)为轴的对称形设置而成对，且沿着基板宽度方向夹持印刷基板(W)；基板输送机构，沿着X轴方向输送支撑于各所述输送机框架(71、72)的印刷基板(W)；以及间隔调整机构(90)，以使两输送机框架(71、72)分别沿着Y轴方向彼此靠近或离开的方式驱动两输送机框架(71、72)，由此，调整设置于各输送机框架(71、72)的基板输送机构能够输送印刷基板(W)的宽度尺寸。

119. 发明公开

CN104053400A 多线性X-射线扫描系统以及X-射线扫描方法无效
公开(公告)号：CN104053400A
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201280060460.2
申请日：2012-11-19
申请人：威逊有限责任公司
发明人：约翰·D·考克斯 , 詹姆士·吉姆利特 , 肖恩·乔治斯 , 戴维·克里夫斯
IPC分类号： A61B6/03
CPC分类号： A61B6/542 , A61B6/06 , G01N23/04 , G01V5/0016 , G21K1/02
摘要：一种x射线扫描仪，其包括产生扇形x射线的x射线源、x射线检测器阵列、安置在所述源与所述阵列之间的准直器，其固定到所述源，且界定将所述扇形x射线准直成线性x射线束的狭缝。所述阵列从所述源间隔开使得所述线性x射线束的线性程度不大于所述阵列的检测器维度。x射线处理单元处理由所述阵列对所述线性x射线束的检测。处理器控制的电动机将所述x射线源绕源运动轴移动以摇摄所述线性x射线束且建立x射线发射锥且与所述源相应地移动所述阵列。当所述线性x射线束跨所述对象摇摄时，所述x射线处理单元对安置在所述准直器与在所述x射线发射锥内的所述阵列之间的对象形成x射线扫描图像。

120. 发明公开

CN103975232A 装置、X射线照射方法及结构的制造方法有权
公开(公告)号：CN103975232A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201280054993.X
申请日：2012-10-03
申请人：株式会社尼康
发明人：渡部贵志
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/04 , H01J35/14 , H01J2235/087 , H01J2235/1204 , H01J2235/1216 , H01J2235/1262 , H05G1/025
摘要：本发明是有关于一种可以抑制检测精度降低的装置。该装置对物体照射X射线，并对穿透物体的透射X射线进行检测。该装置设有形成第一空间的腔室部件；设有第一供给口，配置于第一空间，用以向对物体照射X射线的X射线源其至少一部分供给温度调整后的气体。

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