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终端缺陷检验的方法

阅读：789发布：2021-02-25

IPRDB可以提供终端缺陷检验的方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本发明提供一种终端缺陷检验的方法，包含：准备检验设备步骤、原点补正步骤、扫描条形码步骤、缺陷检查步骤、缺陷区域划记步骤以及产生出货档案步骤，终端检验设备包含主机、显微镜、条形码扫描仪、承载治具、信号接收传送装置，在原点补正后观察到缺陷时，以电磁笔在发现缺陷的检验区上划记，信号接收传送接收划记位置，并传送至主机，主机根据原点补正时所产生的主机板轮廓中的原点及划记位置的相对位置计算出报废区的坐标，并产生出货档案，而能避免数据输入错误、划记与输入数据不合的问题，同时取代以黑笔与白漆标记来减低工作板件污染的风险。，下面是终端缺陷检验的方法专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种终端缺陷检验的方法，其特征在于，包含：

一准备检验设备步骤，准备一终端检验设备，该终端检验设备包含一主机、一显微镜、一条形码扫描仪、一承载治具、一信号接收传送装置及一电磁笔，该主机具有一数据库，该条形码扫描仪与该主机电气连接，该承载治具用以装设欲检验的一电路板，该信号接收传送装置设置于该承载治具上，并与该主机及该电磁笔电气连接；

一扫描条形码步骤，以该条形码扫描仪扫描在该电路板上的一条形码，该主机根据该条形码从该数据库选出对应于该电路板的一数据及一线路布局图案；

一原点补正步骤，以该电磁笔在该电路板的对角线位置进行划记，而产生多个初始标记位置，该信号接收传送装置接收所述初始标记位置并传送至该主机，该主机依照所述初始标记位置及该线路布局图案定义出该电路板的轮廓，并以该电路板中的一点作为一原点；

一缺陷检查步骤，是将装设有该电路板及该信号接收传送装置的该承载治具放到该显微镜的一载台上，移动该载台并透过该显微镜的一目镜及至少一物镜该电路板的多个检验区中是否存在多个缺陷；

一缺陷区域划记步骤，在观察到所述缺陷时，以该电磁笔在发现所述缺陷的所述检验区上进行划记，该信号接收传送装置接收到多个划记位置，并传送至主机；以及一产生出货档案步骤，该主机根据该原点与所述划记位置的相对位置计算出报废区的坐标，并产生包含有该报废区的坐标的一出货档案。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该目镜的放大倍率为10X～100X，而该至少一物镜的放大倍率为1X～10X。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该主机与该条形码扫描仪，以及该主机与信号接收传送装置以有线或无线电气连接。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，该无线电气连接藉由蓝牙或无线网络的方式来进行信号传输/接收。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该信号接收传送装置与该电磁笔之间以有线或无线电气连接，无线电气连接藉由超音波、蓝牙、红外线的方式来进行信号传输/接收。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该承载治具包含一基座以及一基板载台，该基座具有一凹槽以容置该基板载台，该基板载台具有一另一凹槽以承载该电路板。

7.一种终端缺陷检验的方法，其特征在于，包含：

准备检验设备步骤，该终端检验设备包含一主机、一显微镜、一条形码扫描仪、一承载治具、一信号接收传送装置、一信号发射器以及一脚踏板，该主机具有一数据库，该条形码扫描仪与该主机电气连接，该承载治具用以装设欲检验的一电路板，该信号接收传送装置设置于该承载治具上，并与该主机电气连接，该信号发射器设置在该显微镜的一载台上，并与该信号接收传送装置及该主机电气连接，该脚踏板与该信号发射器电气连接；

一设备校准步骤，将从该显微镜中所看到的一十字区域与该信号发射器对准，并踩踏该脚踏板而使得该显微镜与该信号发射器的位置相对应，该信号发射器发射一定位主机完成校准定位；

一原点补正步骤，移动该显微镜的该载台，将从该显微镜中所看到的该十字区对准到装设在该承载治具中的该电路板的对角线两点，并在对准时踩踏该脚踏板，而产生多个初始对准位置，该信号接收传送装置接收所述初始对准位置并传送至主机，该主机根据该线路布局图案及所述初始对准位置定义出电路板的轮廓，并以该电路板上的一点作为一原点；

一缺陷检查步骤，移动该载台并透过该显微镜的一目镜及至少一物镜该电路板的多个检验区中是否存在多个缺陷；

一缺陷位置确认步骤，当观察到所述检验区中存在所述缺陷时，将该显微镜中所看到的该十字区域对准所述缺陷的位置，并踩踏该脚踏板，以产生出多个缺陷对准位置；以及一产生出货档案步骤，该主机根据该原点与所述缺陷对准位置的相对位置计算出报废区的坐标，并产生包含有报废区的坐标的一出货档案。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该承载治具包含一基座以及一基板载台，该基座具有一凹槽以容置该基板载台，该基板载台具有一另一凹槽以承载该电路板。

9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该终端检验设备进一步包含一雷射笔，该雷射笔安装于该显微镜的支架上提供光源来提升亮度，在设备校准时，同时将该雷射笔所产生的光点与该十字区域及该信号产生器对准，再踩下该脚踏板，以完成校准定位。

10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该目镜的放大倍率为10X～100X，而该至少一物镜的放大倍率为1X～10X。

11.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该主机与该条形码扫描仪、该主机与信号接收传送装置，以及该主机与该信号发射器以有线或无线电气连接。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，该无线电气连接藉由蓝牙或无线网络的方式来进行信号传输/接收。

13.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该终端检验设备进一步包含一电池，该电池设置在显微镜的载台上，提供电力给该信号发射器。

14.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该信号接收传送装置与该信号发射器之间以有线或无线电气连接，无线电气连接藉由超音波、蓝牙、红外线的方式来进行信号传输/接收。

说明书全文

终端缺陷检验的方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种终端检验的方法，尤其是信号接收传送装置而能更直觉地进行检验标记，而避免标示错误。

背景技术

[0002] 终端检验是在光学检验后，以人工的方式逐步地进行将电路板放到显微镜或是放大镜下检测电路板上的检验区，作为出货时的最终检验。传统的人工操作检查，当发现缺陷时再以黑笔或白漆笔划记为报废区，在完成干燥等作业程序后，其可作为后续雷射标示报废与产出电子缺陷文件的依据。然而，在缺陷纪录电子化同时，这样的作业模式有几项的缺点：第一，通过人工检验时，由于作业员必须在输入计算机时，开启与电路板相关的布局图案文件，在将报废区的位置输入，在作业程序上不够自动化，且可能有开启档案错误的潜在问题；第二，随着电路板微小精密化的趋势，单一区块排布的检验区也越来越多，人工必须通过数行、列来判定检验区，这也可能使得人工划记时与计算机输入的位置不一致的问题产生；第三，传统黑笔与白漆笔标示，其表面容易脱落，造成板面污染等问题。

[0003] 由于终端检验后，产品将直接送至客户端，若发生不良品、报废区分辨错误与标记脱落造成板件污染等问题，会导致后续客户端产品的报废，衍生的成本提高，公司的商誉也可能受损，因此，需要一种更直觉性并改善现有检验时间较长、容易发生错误的检验系统及方法。

发明内容

[0004] 本发明的主要目的是提供一种终端缺陷检验的方法，该方法包含：准备检验设备步骤、扫描条形码步骤、原点补正步骤、缺陷检查步骤、缺陷区域划记步骤，以及产生出货档案步骤。准备检验设备步骤，准备一终端检验设备，该终端检验设备包含一主机、一显微镜、一条形码扫描仪、一承载治具、一信号接收传送装置及一电磁笔，该主机具有一数据库以储存数据及线路布局图案，该条形码扫描仪与该主机电气连接，该承载治具用以装设欲检验的一电路板，该显微镜用以检查该电路板上的检验区，该信号接收传送装置设置于该承载治具上，并与该主机及该电磁笔电气连接。

[0005] 扫描条形码步骤，以该条形码扫描仪扫描在该电路板上的一条形码，该主机根据该条形码从数据库选出对应于该电路板的数据及一线路布局图案；原点补正步骤，是将该电磁笔在该电路板的对角线位置进行划记，而产生多个初始标记位置，该信号接收传送装置接收所述初始标记位置并传送至该主机，该主机依照所述初始标记位置及该线路布局图案定义出该电路板的轮廓，并以该电路板中的一点作为原点。

[0006] 缺陷检查步骤，是将装设有该电路板及该信号接收传送装置的该承载治具放到该显微镜的一载台上，移动该载台并通过该显微镜的一目镜及至少一物镜该电路板的多个检验区中是否存在缺陷；缺陷区域划记步骤，在观察到缺陷时，以该电磁笔在发现缺陷的所述检验区上进行划记，该信号接收传送装置接收到多个划记位置，并传送至主机；以及产生出货档案步骤，是在缺陷检查完毕后，该主机根据该原点与所述划记位置的相对位置计算出报废区的坐标，并产生包含有该报废区的坐标的一出货档案。

[0007] 进一步地，更可以将电磁笔改为信号发射器及脚踏板的结合，当改为此方式时，需在扫描条形码步骤前先进行一设备校准步骤，将从该显微镜中所看到的十字区域与该信号发射器对准，并踩踏该脚踏板而使得该显微镜与该信号发射器的位置相对应，该信号发射器发射一定位主机完成校准定位。藉此，可以利用从该显微镜中所看到的十字区域及脚踏板的踩踏动作取代划记动作。

[0008] 本发明的特点在于，通过主机、条形码读取器、信号接收传送装置，以及电磁笔，或信号发射器及脚踏板的组合，能够自动地读取电路板的数据、并运算出划记位置，而能避免数据输入错误、划记与输入数据不合的问题，同时取代传统以黑笔与白漆标记，而减低工作板件污染的风险。

附图说明

[0009] 图1为本发明终端缺陷检验的方法第一实施例的流程图；

[0010] 图2为本发明终端检验设备第一实施例的单元示意图；

[0011] 图3为图1中承载治具的剖面示意图；

[0012] 图4是以电磁笔在电路板对角线的位置进行划记的示意图；

[0013] 图5为本发明终端缺陷检验的方法第二实施例的流程图；

[0014] 图6为本发明终端检验设备第二实施例的单元示意图；以及

[0015] 图7为中终端检验设备的设备校准的示意图。

[0016] 其中，附图标记说明如下：

[0017] 1 终端检验系统

[0018] 2 终端检验系统

[0019] 10 主机

[0020] 20 显微镜

[0021] 21 目镜

[0022] 23 物镜

[0023] 25 支架

[0024] 27 载台

[0025] 30 条形码扫描仪

[0026] 40 承载治具

[0027] 51 信号接收传送装置

[0028] 53 电磁笔

[0029] 55 信号发射器

[0030] 57 脚踏板

[0031] 59 电池

[0032] 60 雷射笔

[0033] 100 电路板

[0034] 110 检验区

[0035] 120 条形码

[0036] S1 终端缺陷检验的方法

[0037] S2 终端缺陷检验的方法

[0038] S10 准备检验设备步骤

[0039] S12 准备检验设备步骤

[0040] S15 设备校准步骤

[0041] S20 扫描条形码步骤

[0042] S30 原点补正步骤

[0043] S35 原点补正步骤

[0044] S40 缺陷检查步骤

[0045] S50 缺陷区域划记步骤

[0046] S55 缺陷位置确认步骤

[0047] S60 产生出货档案步骤

具体实施方式

[0048] 以下配合图式及组件符号对本创作的实施方式做更详细的说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。

[0049] 参见图1，图1为本发明终端缺陷检验的方法第一实施例的流程图。如图1所示，第一实施例的终端缺陷检验的方法S1包含准备检验设备步骤S10、扫描条形码步骤S20、原点补正步骤S30、缺陷检查步骤S40、缺陷区域划记步骤S50以及产生出货档案步骤S60。

[0050] 同时参见图2，图2为本发明终端检验设备第一实施例的单元示意图。准备检验设备步骤S10准备如图2所示的终端检验设备1，终端检验设备1包含主机10、显微镜20、条形码扫描仪30、承载治具40、信号接收传送装置51及电磁笔53。主机10具有一数据库以储存数据(如编号ID、出货厂商等)，及线路布局图案(layout)，条形码扫描仪30与主机10电气连接，承载治具40用以装设欲检验的电路板100，显微镜20用以检查电路板100上的检验区110，信号接收传送装置51设置于承载治具40上，与主机10及电磁笔53电气连接。

[0051] 另外，进一步参考图3，承载治具40的剖面示意图。如图3所示，承载治具40包含一基座41、一基板载台43，基板41具有凹槽以容置基板载台43，基座载台43也同样地具有凹槽以容置电路板100，基板载台43可依据电路板100的大小、形状可以更换。而信号接收传送装置51是设置在基座41上。

[0052] 扫描条形码步骤S20是以条形码扫描仪20扫描在电路板100上的条形码120，从而主机10根据该条形码120从数据库选出对应于电路板100的数据及线路布局图案。

[0053] 原点补正步骤S30，同时参照图4，是将电磁笔53在电路板对角线的位置进行划记，而产生初始标记位置，信号接收传送装置51接收初始标记位置并传送至主机10，主机10依照初始标记位置及对应于电路板100的线路布局图案定义出电路板100的轮廓，并以电路板100中的一点作为原点。

[0054] 缺陷检查步骤S40是将装设有电路板100及信号接收传送装置51的承载治具40放到显微镜20的载台27上，通过显微镜20的目镜21及至少一物镜23，并移动载台27观察电路板100的检验区110中是否存在缺陷。显微镜20的目镜21及至少一物镜23与载台27是通过支架25而连接，载台27可以移动来观察。目镜21的放大倍率为10X～100X，物镜23的放大倍率为1X～10X。

[0055] 缺陷区域划记步骤S50是在观察到缺陷时，以电磁笔53在发现缺陷的检验区110上进行划记，信号接收传送装置51接收到划记位置，并将划记位置传送至主机10。产生出货档案步骤S60是在缺陷检查完毕后，主机10根据原点与划记位置的相对位置计算出报废区的坐标，并产生包含有报废区的坐标的一出货档案。

[0056] 其中主机10与条形码扫描仪30、主机10与信号接收传送装置51以有线或无线方式电气连接，无线电气连接可以藉由蓝牙或无线网络的方式来进行信号传输/接收，而信号接收传送装置51与电磁笔53之间以有线或无线方式电气连接，无线电气连接，可以藉由超音波、蓝牙、红外线的方式来进行。

[0057] 参见图5，图5为本发明终端缺陷检验的方法第二实施例的流程图。如图5所示，第一实施例的终端缺陷检验的方法S2包含准备检验设备步骤S12、设备校准步骤S15、扫描条形码步骤S20、原点补正步骤S35、缺陷检查步骤S40、缺陷位置确认步骤S55以及产生出货档案步骤S60。

[0058] 同时参见图6，图6为本发明终端检验设备第二实施例的单元示意图。准备检验设备步骤S12准备如图2所示的终端检验设备2，如图6所示，终端检验系统2是第一实施例终端检验系统1的变化形式，终端检验系统2包含主机10、显微镜20、条形码扫描仪30、承载治具40、信号接收传送装置51、信号发射器55、脚踏板57以及电池59，主机10、显微镜20、条形码扫描仪30、承载治具40，与第一实施例相同，在此不在赘述。信号发射器55设置在显微镜20的载台27上，与信号接收传送装置51及主机10电气连接，脚踏板57与信号发射器55电气连接。电池59提供电力给信号发射器55，可设置在显微镜的载台27上。

[0059] 并同时参照图7，设备校准步骤S15是将显微镜20中所看到的十字区域与信号发射器55对准，并踩踏脚踏板57而使得显微镜20与信号发射器55的的位置相对应，信号发射器55发送一定位信号给主机10以完成校准定位，进一步地，还可以在显微镜20的支架上装设一雷射笔以提升亮度，而在设备校准步骤S15，除了将显微镜20中所看到的十字区域与信号发射器55对准，还需要将雷射笔60所产生的光点与十字区域对准，再踩下脚踏板57，以完成校准定位。

[0060] 扫描条形码步骤S20如同第一实施例，以条形码扫描仪20扫描在电路板100上的条形码120，从而主机10根据该条形码120从数据库选出对应于电路板100的数据及线路布局图案。

[0061] 原点补正步骤S35，是移动显微镜的载台，将显微镜20中所看到的十字区对准到装设在承载治具40中电路板100的对角线两点(例如左上、右下)，并在对准时踩踏脚踏板57，而产生初始对准位置，信号接收传送装置51接收初始对准位置并传送至主机10，主机10根据线路布局图案及初始对准位置定义出电路板100的轮廓，并以电路板上的一点作为原点。

[0062] 缺陷检查步骤S40如同第一实施例，通过显微镜20的目镜21及至少一物镜23并移动载台27观察电路板100的检验区110中是否存在缺陷。缺陷位置确认步骤S55是在观察到检验区110中存在缺陷时，将显微镜20中所看到的十字区域对准缺陷位置，并踩踏脚踏板57，以产生出缺陷对准位置。产生出货档案步骤S60是在缺陷检查完毕后，主机10根据原点与缺陷对准位置的相对位置计算出报废区的坐标，并产生包含有报废区的坐标的一出货档案。

[0063] 其中信号发射器55与信号接收传送装置51及主机10电气连接，是以有线或无线的连接，信号发射器55与信号接收传送装置51无线连接的方式可以为超音波、蓝牙或红外线，而与主机无线连接的方式可以为蓝牙或无线网络。

[0064] 本发明的特点在于，通过主机、条形码读取器、信号接收传送装置，以及电磁笔，或信号发射器及脚踏板的组合，能够自动地读取电路板的数据、并运算出划记位置，而能避免数据输入错误、划记与输入数据不合的问题，同时取代传统以黑笔与白漆标记，而减低工作板件污染的风险。

[0065] 以上所述者仅为用以解释本发明的较佳实施例，并非企图据以对本发明做任何形式上的限制，因此，凡有在相同的发明精神下所作有关本发明的任何修饰或变更，皆仍应包括在本发明意图保护的范畴。

标题	发布/更新时间	阅读量
缺陷平面化-专利编号CN107408494A	2020-05-13	322
缺陷知识库-专利编号CN1392954A	2020-05-12	630
缺陷预测-专利编号CN110869854A	2020-05-11	85
出生缺陷细胞库及其构建方法-专利编号CN101942413A	2020-05-11	280
缺陷检测机-专利编号CN105203553A	2020-05-13	701
缺陷分析法-专利编号CN104465434A	2020-05-13	181
出生缺陷细胞库及其构建方法-专利编号CN101942413B	2020-05-11	185
出生缺陷高危因子库及其构建方法-专利编号CN103383692A	2020-05-11	237
探测缺陷-专利编号CN110121654A	2020-05-12	951
缺陷分析-专利编号CN108231617A	2020-05-12	228

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