该申请人涉及专利文献：13255，涉及专利：9829件
覆盖主要的IPC大类包括：H01(5227)、G01(1021)、G06(991)、H03(741)、G11(517)、G03(411)、G02(323)、H04(323)、C23(270)、H10(215)
专利类型分布状况：发明公开(8738)、发明申请(801)、实用新型(277)、外观设计(13)
专利不同法律状态数据分布状况：有效专利(4082)、实质审查(2273)、无效专利(2045)、公开(911)、失效专利(506)
该领域主要的发明人有：朱慧珑(827)、尹海洲(343)、殷华湘(330)、钟汇才(183)、吴玉平(166)、李永亮(156)、刘明(147)、梁擎擎(121)、王桂磊(95)、陈岚(88)
详细地址：中国 北京市 朝阳区 北京市朝阳区北土城西路3号 100029
| 专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
|---|---|---|
| 发明公开 | 一种半导体器件及其制造方法 | CN120239326A |
| 发明公开 | 用于对忆阻器阵列进行测试的电路及测试方法 | CN120236650A |
| 发明公开 | 一种低延时低功耗电平移位电路 | CN120223049A |
| 发明授权 | 混合存储级内存及其磨损均衡方法 | CN112363957B |
| 发明公开 | 一种半导体器件及其制造方法 | CN120201779A |
| 发明公开 | 图像处理方法、装置、设备、介质和程序产品 | CN120201134A |
| 发明公开 | 一种芯片研磨后缺陷预测方法、装置、系统和介质 | CN120197584A |
| 发明公开 | 一种用于相位插值电路的相位校准系统 | CN120185608A |
| 发明公开 | 一种基于波带片阵列成像的缺陷检测系统 | CN120177353A |
| 发明公开 | 一种半导体器件及其制造方法 | CN120166766A |
| 排名 | 发明人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 朱慧珑 | 827 |
| 2 | 尹海洲 | 343 |
| 3 | 殷华湘 | 330 |
| 4 | 钟汇才 | 183 |
| 5 | 吴玉平 | 166 |
| 6 | 李永亮 | 156 |
| 7 | 刘明 | 147 |
| 8 | 梁擎擎 | 121 |
| 9 | 王桂磊 | 95 |
| 10 | 陈岚 | 88 |
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 4207 |
| 2 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 1815 |
| 3 | 北京华沛德权律师事务所 | 1708 |
| 4 | 北京辰权知识产权代理有限公司 | 971 |
| 5 | 北京知迪知识产权代理有限公司 | 918 |
| 6 | 北京市德权律师事务所 | 768 |
| 7 | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所 | 691 |
| 8 | 北京汉昊知识产权代理事务所 | 466 |
| 9 | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 | 324 |
| 10 | 北京维澳专利代理有限公司 | 313 |
| 排名 | 代理人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 周国城 | 1217 |
| 2 | 房德权 | 986 |
| 3 | 王宝筠 | 961 |
| 4 | 任岩 | 755 |
| 5 | 陈红 | 690 |
| 6 | 王胜利 | 661 |
| 7 | 王建国 | 564 |
| 8 | 倪斌 | 545 |
| 9 | 刘丽君 | 537 |
| 10 | 朱海波 | 464 |