基本信息:
- 专利标题： 脉冲红外热波技术定量测量方法
- 专利标题（英）：Quantitative measurement method for pulse infrared thermal wave technology
- 申请号：CN201110424379.5 申请日：2011-12-16
- 公开(公告)号：CN102565124B 公开(公告)日：2013-11-13
- 发明人： 曾智 , 王迅 , 陶宁 , 冯立春 , 张存林
- 申请人： 首都师范大学 , 北京维泰凯信新技术有限公司 , 重庆师范大学
- 申请人地址： 北京市海淀区西三环北路105号
- 专利权人： 首都师范大学,北京维泰凯信新技术有限公司,重庆师范大学
- 当前专利权人： 首都师范大学,北京维泰凯信新技术有限公司,重庆师范大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区西三环北路105号
- 代理机构： 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司
- 代理人： 孙皓晨; 雷电
- 主分类号： G01N25/20
- IPC分类号： G01N25/20 ; G01N25/72 ; G01B11/22
摘要：
脉冲红外热波技术定量测量方法，包括如下步骤：步骤1：使用脉冲加热装置对被测物体表面进行加热，同时使用红外热像装置连续观测和记录被测物体表面的温场变化，通过计算机控制和采集系统进行时序热波信号的采集处理得到被测物体表面的热图序列；步骤2：根据获得的热图序列提取缺陷区域及无缺陷区域降温数据，并比较其对数温度-对数时间曲线；步骤3：以对数温度-对数时间曲线中缺陷与无缺陷区域曲线的分离时刻点或其前面时刻选定为t1，两曲线最大温差时刻作为t2，并提取这两个时刻对应温度值或辐射能量值ΔT(0，t1)和ΔT(0，t2)；步骤4：利用公式(4) 当缺陷区域界面热反射系数R、被测物体热扩散系数α和缺陷深度L三个参数已知其中两个时，能够求解出第三个。
公开/授权文献:
- CN102565124A 脉冲红外热波技术定量测量方法 公开/授权日：2012-07-11
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料（除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） |
| ------G01N25/00 | 应用热方法测试或分析材料（G01N3/00至G01N23/00优先） |
| --------G01N25/20 | .通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率 |