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    • 23. 发明公开
    • 使用荧光显微镜利用受激发射损耗对样本成像的方法
    • CN111512207A
    • 2020-08-07
    • CN201880083161.8
    • 2018-12-20
    • 莱卡微系统CMS有限责任公司
    • 约纳斯·弗林
    • G02B21/00G01N21/64
    • 介绍一种使用荧光显微镜(10)利用受激发射损耗对样本(18)进行成像的方法,包括图像产生过程,在该图像产生过程中借助显微镜控制器(42)来控制所述荧光显微镜(10),从而产生照明焦点,其方式为,给聚焦的激发光分布叠加聚焦的去激发光分布,用于受激发射损耗,由此在用所述照明焦点照明时仅在有效的激发焦点内部对所述样本(18)予以激发,以便发出产生图像的荧光,所述激发焦点的延展范围小于所述激发光分布的延展范围,且在所述样本(18)的目标区域内部连续地借助所述照明焦点以第一位置分辨率对多个样本片段予以扫描,并且成像到相应数量的图像片段中,由这些图像片段产生光栅图像(58),该第一位置分辨率与有效的激发焦点的减小的延展范围相适配。借助所述显微镜控制器(42)还适当地控制所述荧光显微镜(10),从而在所述图像产生过程之前以第二位置分辨率产生所述目标区域的概览图像(48),该第二位置分辨率小于所述第一位置分辨率且高于与所述激发光分布的延展范围相适配的第三位置分辨率,并且分析所述概览图像(48),以便识别出无相关图像信息的图像区域,且在所述图像产生过程期间在扫描样本片段时至少减小所述去激发光分布的辐射功率,这些样本片段指配于在所述概览图像(48)中识别出来的无相关图像信息的图像区域。