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    • 82. 发明专利
    • 探針單元 PROBE UNIT
    • 探针单元 PROBE UNIT
    • TW200938847A
    • 2009-09-16
    • TW098102774
    • 2009-01-23
    • 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.
    • 風間俊男 KAZAMA, TOSHIO廣中浩平 HIRONAKA, KOHEI石川重樹 ISHIKAWA, SHIGEKI
    • G01R
    • G01R1/07371G01R1/06722G01R1/06738
    • 本發明提供一種用以抑制起因於探針之細徑化所造成之容許電流之降低的探針單元,係具備:複數個大徑探針:複數個小徑探針,其直徑比大徑探針之直徑小;大徑探針固持具,具有:複數個大孔部,個別地保持複數個大徑探針;及複數個收容孔部,其直徑比大孔部之直徑小,且與複數個大孔部之任一個連通,並在與大徑探針接觸之狀態下收容小徑探針之端部;同時互相連通之大孔部及收容孔部之組合係在厚度方向貫穿該大徑探針固持具;及小徑探針固持具,以朝厚度方向貫穿該小徑探針固持具之方式設有以防脫狀態個別地保持上述複數個小徑探針之複數個小孔部,上述小徑探針固持具疊層在上述大徑探針持具上,以使各小孔部與上述複數個收容孔部之任一個連通,而互相連通之上述大孔部與上述小孔部之長度方向之中心軸互異,且在上述複數個小孔部,包含有鄰接之二個小孔部之中心軸間距離比分別對應該二個小孔部之二個大孔部之中心軸間距離小者。
    • 本发明提供一种用以抑制起因于探针之细径化所造成之容许电流之降低的探针单元,系具备:复数个大径探针:复数个小径探针,其直径比大径探针之直径小;大径探针固持具,具有:复数个大孔部,个别地保持复数个大径探针;及复数个收容孔部,其直径比大孔部之直径小,且与复数个大孔部之任一个连通,并在与大径探针接触之状态下收容小径探针之端部;同时互相连通之大孔部及收容孔部之组合系在厚度方向贯穿该大径探针固持具;及小径探针固持具,以朝厚度方向贯穿该小径探针固持具之方式设有以防脱状态个别地保持上述复数个小径探针之复数个小孔部,上述小径探针固持具叠层在上述大径探针持具上,以使各小孔部与上述复数个收容孔部之任一个连通,而互相连通之上述大孔部与上述小孔部之长度方向之中心轴互异,且在上述复数个小孔部,包含有邻接之二个小孔部之中心轴间距离比分别对应该二个小孔部之二个大孔部之中心轴间距离小者。
    • 86. 发明专利
    • 導電性接觸子單元 ELECTRICALLY CONDUCTIVE CONTACTOR UNIT
    • 导电性接触子单元 ELECTRICALLY CONDUCTIVE CONTACTOR UNIT
    • TW200848743A
    • 2008-12-16
    • TW097114080
    • 2008-04-18
    • 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.
    • 石川浩嗣 ISHIKAWA, KOJI相馬一也 SOMA, KAZUYA永潤 TOMINAGA, JUN
    • G01R
    • G01R1/06722
    • 本發明之目的在提供一種藉由簡單之構成即可確實地因應檢查對象之電極或端子之排列間隔之狹小化,而可實現與電極或端子之確實接觸之導電性觸頭單元。為了達成此目的,該導電性觸頭單元係具備:複數個導電性觸頭,分別作成板狀,且將不同之電路結構間電性連接,藉以在各電路結構之間進行電信號之輸出入;及導電性觸頭保持器,用以收容並保持複數個導電性觸頭;導電性觸頭保持器係具有複數個保持部,用以將複數個導電性觸頭之一部分,在彼此板厚方向一致之狀態下排成一列而加以保持;複數個保持部將導電性觸頭排成一列加以保持之方向係彼此平行。
    • 本发明之目的在提供一种借由简单之构成即可确实地因应检查对象之电极或端子之排列间隔之狭小化,而可实现与电极或端子之确实接触之导电性触头单元。为了达成此目的,该导电性触头单元系具备:复数个导电性触头,分别作成板状,且将不同之电路结构间电性连接,借以在各电路结构之间进行电信号之输出入;及导电性触头保持器,用以收容并保持复数个导电性触头;导电性触头保持器系具有复数个保持部,用以将复数个导电性触头之一部分,在彼此板厚方向一致之状态下排成一列而加以保持;复数个保持部将导电性触头排成一列加以保持之方向系彼此平行。
    • 87. 发明专利
    • 導電性接觸子
    • 导电性接触子
    • TW200844459A
    • 2008-11-16
    • TW097115630
    • 2008-04-25
    • 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.
    • 風間俊男 KAZAMA, TOSHIO石川重樹 ISHIKAWA, SHIGEKI
    • G01RH01L
    • G01R1/06722G01R1/06772
    • 本發明提供一種可進行1GHz以上之高頻訊號之傳送/接收,且可容易加工的導電性觸頭。為此目的,本發明之導電性觸頭是具備:第1柱塞11,由大致針狀的導電性材料所構成,且前端部形成軸對稱形狀;第2柱塞12,由大致針狀的導電性材料所構成,且前端部12a是指向與第1柱塞11之前端部11a相反的方向,而且該前端部12a是相對於與第1柱塞11之前端部11a相同的軸線形成軸對稱形狀;以及彈簧構件13,由導電性材料所構成,且一端與第1柱塞11接觸,同時另一端與第2柱塞12接觸,並且朝長度方向自由伸縮;並且使第1柱塞11的基端部11d與第2柱塞12的基端部12d可滑動地接觸。
    • 本发明提供一种可进行1GHz以上之高频信号之发送/接收,且可容易加工的导电性触头。为此目的,本发明之导电性触头是具备:第1柱塞11,由大致针状的导电性材料所构成,且前端部形成轴对称形状;第2柱塞12,由大致针状的导电性材料所构成,且前端部12a是指向与第1柱塞11之前端部11a相反的方向,而且该前端部12a是相对于与第1柱塞11之前端部11a相同的轴线形成轴对称形状;以及弹簧构件13,由导电性材料所构成,且一端与第1柱塞11接触,同时另一端与第2柱塞12接触,并且朝长度方向自由伸缩;并且使第1柱塞11的基端部11d与第2柱塞12的基端部12d可滑动地接触。
    • 88. 发明专利
    • 中繼構件及檢查探針治具 RELAY MEMBER AND INSPECTION PROBE JIG
    • 中继构件及检查探针治具 RELAY MEMBER AND INSPECTION PROBE JIG
    • TWI287092B
    • 2007-09-21
    • TW094141841
    • 2005-11-29
    • 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.
    • 石川重樹 ISHIKAWA, SHIGEKI中山浩志 NAKAYAMA, HIROSHI仁平崇 NIDAIRA, TAKASHI
    • G01RH01L
    • G01R31/2889
    • 本發明係提供一種可抑制檢查信號等電氣信號之傳送特性的惡化,並且容易製造之中繼構件及檢查探針治具。
      本發明之檢查探針治具係具備:具有與檢查對象所具備的端子接觸的探針之探針單元(1);一端為電性連接於探針單元(1)所具備的探針之複數條導電單股線(2);一端為連接於導電單股線(2)的另一端之複數條同軸電纜(3);將與導電單股線(2)連接之同軸電(3)的一端近旁的部分,保持在預定的位置之中繼構件(4);及將同軸電纜(3)的另一端加以固定之檢查基板(5)。此外,中繼構件(4)係具備保持部(7),對於複數條同軸電纜(3),該保持部(7)係以,與各自連接於形成在檢查基板(5)之複數個連接端子(20)之一端的配列順序為相同之順序之方式,將另一端加以保持。
    • 本发明系提供一种可抑制检查信号等电气信号之发送特性的恶化,并且容易制造之中继构件及检查探针治具。 本发明之检查探针治具系具备:具有与检查对象所具备的端子接触的探针之探针单元(1);一端为电性连接于探针单元(1)所具备的探针之复数条导电单股线(2);一端为连接于导电单股线(2)的另一端之复数条同轴电缆(3);将与导电单股线(2)连接之同轴电(3)的一端近旁的部分,保持在预定的位置之中继构件(4);及将同轴电缆(3)的另一端加以固定之检查基板(5)。此外,中继构件(4)系具备保持部(7),对于复数条同轴电缆(3),该保持部(7)系以,与各自连接于形成在检查基板(5)之复数个连接端子(20)之一端的配列顺序为相同之顺序之方式,将另一端加以保持。
    • 89. 发明专利
    • 測試卡
    • 测试卡
    • TW200734650A
    • 2007-09-16
    • TW095149164
    • 2006-12-27
    • 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.
    • 石川重樹 ISHIKAWA, SHIGEKI仁平崇 NIDAIRA, TAKASHI
    • G01R
    • G01R1/07342
    • 本發明提供一種測試卡。其目的在於抑制相鄰的檢查對象間之串擾(cross talk)的影響。為了達成此目的,本發明之測試卡係具備:與檢查對象接觸以進行電氣訊號之輸入或輸出之至少任一方的複數個探針;具有對應於產生檢查用訊號的電路構造之配線圖案的基板;有一端電性連接於前述複數個探針的任一個,並且對於前述檢查對象傳送輸入訊號的複數個輸入用導線;有一端電性連接於前述基板,另一端與前述複數個輸入用導線的任一個或前述複數個探針的任一個電性連接的複數個同軸電纜;有一端電性連接於前述複數個探針的任一個,並且傳送來自前述檢查對象之輸出訊號的複數個輸出用導線;以及設在連接於相鄰的兩個前述檢查對象中之一個檢查對象的前述輸出用導線與連接於另一個檢查對象的前述輸入用導線交叉的區域附近的屏蔽板。
    • 本发明提供一种测试卡。其目的在于抑制相邻的检查对象间之串扰(cross talk)的影响。为了达成此目的,本发明之测试卡系具备:与检查对象接触以进行电气信号之输入或输出之至少任一方的复数个探针;具有对应于产生检查用信号的电路构造之配线图案的基板;有一端电性连接于前述复数个探针的任一个,并且对于前述检查对象发送输入信号的复数个输入用导线;有一端电性连接于前述基板,另一端与前述复数个输入用导线的任一个或前述复数个探针的任一个电性连接的复数个同轴电缆;有一端电性连接于前述复数个探针的任一个,并且发送来自前述检查对象之输出信号的复数个输出用导线;以及设在连接于相邻的两个前述检查对象中之一个检查对象的前述输出用导线与连接于另一个检查对象的前述输入用导线交叉的区域附近的屏蔽板。
    • 90. 发明专利
    • 導電性接觸子支持具之製造方法及導電性接觸子支持具 METHOD FOR MANUFACTURING A CONDUTIVE CONTACTER HOLDER, AND THE CONDUCTIVE CONTACTER HOLDER
    • 导电性接触子支持具之制造方法及导电性接触子支持具 METHOD FOR MANUFACTURING A CONDUTIVE CONTACTER HOLDER, AND THE CONDUCTIVE CONTACTER HOLDER
    • TW200728725A
    • 2007-08-01
    • TW095140140
    • 2006-10-31
    • 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.
    • 風間俊男 KAZAMA, TOSHIO石川重樹 ISHIKAWA, SHIGEKI
    • G01R
    • G01R1/07371G01R3/00G01R31/2874H01R12/52H01R13/2421Y10T29/49117
    • 本發明提供一種可一面保持强度一面實現薄型化,且可達成製造時間之縮短及製造成本之降低的導電性接觸子支持具之製造方法及導電性接觸子支持具。本發明之導電性接觸子支持具之製造方法係包括:藉由使用導電性材料來形成用來保持複數個導電性接觸子(2)的支持構件的支持構件形成步驟;藉由使用導電性材料來形成本身具有可供支持構件嵌入之中空部的基板(4)的基板形成步驟;以及將前述支持構件形成步驟所形成的支持構件嵌入並固接在前述基板形成步驟所形成的前述基板(4)所具備之中空部的固接步驟。在此固接步驟中,亦可藉由螺絲(5)來連結支持構件及基板(4)。此外,亦可在該導電性接觸子支持具的內部形成貫穿支持構件及基板(4)並且使複數個支持孔(33、34)彼此相互連通而使氣體流動的流路。
    • 本发明提供一种可一面保持强度一面实现薄型化,且可达成制造时间之缩短及制造成本之降低的导电性接触子支持具之制造方法及导电性接触子支持具。本发明之导电性接触子支持具之制造方法系包括:借由使用导电性材料来形成用来保持复数个导电性接触子(2)的支持构件的支持构件形成步骤;借由使用导电性材料来形成本身具有可供支持构件嵌入之中空部的基板(4)的基板形成步骤;以及将前述支持构件形成步骤所形成的支持构件嵌入并固接在前述基板形成步骤所形成的前述基板(4)所具备之中空部的固接步骤。在此固接步骤中,亦可借由螺丝(5)来链接支持构件及基板(4)。此外,亦可在该导电性接触子支持具的内部形成贯穿支持构件及基板(4)并且使复数个支持孔(33、34)彼此相互连通而使气体流动的流路。