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热词
    • 1. 发明专利
    • Método de transferencia de dispositivos semiconductores
    • ES2837254T3
    • 2021-06-29
    • ES16769455
    • 2016-03-18
    • ROHINNI LLC
    • HUSKA ANDREWPETERSON CODYADAMS CLINTONKUPCOW SEAN
    • H01L21/56H01L21/50H01L21/60H01L21/67H01L21/683H01L23/31H01L23/544H01L25/03
    • Un aparato (200) que comprende: un primer marco (224) configurado para sujetar una cinta de oblea (218) que tiene un primer lado y un segundo lado, donde se dispone una pluralidad de dados de dispositivos semiconductores (220) en el primer lado de la cinta de oblea (218); un segundo marco (216) configurado para contener un sustrato de producto (210) que tiene un trazo del circuito en él, de manera que el trazo del circuito (212) se dispone frente a la pluralidad de dados de dispositivos semiconductores (220) en la cinta de oblea (218) cuando se sujeta por el primer marco (224); una aguja (226) dispuesta de modo de ser adyacente al segundo lado de la cinta de oblea (218) cuando se sujeta por el primer marco (224), una longitud de la aguja (226) que se extiende en una dirección hacia la cinta de oblea (218); un accionador de aguja (228) conectado a la aguja (226) para mover la aguja (226) a una posición de transferencia de dado en la que la aguja (226) presiona en el segundo lado de la cinta de oblea, cuando se sujeta por el primer marco (224) para poner en contacto un dado de dispositivo semiconductor de la pluralidad de dados de dispositivos semiconductores (220) con el trazo del circuito (212) sobre el sustrato de producto (210), sostenido por el segundo marco (216), caracterizado porque: el segundo marco (216) incluye un primer miembro de sujeción (216a) y un segundo miembro de sujeción (216b) configurados para sujetar entre ellos un sustrato de producto que tiene un trazo de circuito (212); y un láser (236) que se proporciona apuntando hacia una parte del sustrato de producto (210) cuando lo sostiene el segundo marco (216), que corresponde a la posición de transferencia en la que el dado de dispositivo semiconductor se pone en contacto con el trazo del circuito (212) para aplicar energía al trazo del circuito (212) para fijar el dado de dispositivo semiconductor al trazo del circuito (212); en donde el láser (236) se coloca dentro del aparato (200) de modo que la energía del láser (236) puede ser aplicada directamente sobre el sustrato de producto (210) durante una operación de transferencia.
    • 3. 发明专利
    • 用於半導體裝置之多次直接轉移的方法及設備
    • 用于半导体设备之多次直接转移的方法及设备
    • TW201947696A
    • 2019-12-16
    • TW108115983
    • 2019-05-09
    • 美商羅茵尼公司ROHINNI, LLC
    • 皮特森 可迪PETERSON, CODY賀斯卡 安德魯HUSKA, ANDREW
    • H01L21/677B23K26/351
    • 一種用於將一半導體裝置晶粒自一晶圓帶直接轉移至一基板之設備。一第一框架固持該晶圓帶,且一第二框架緊固該基板。該第二框架固持該基板,使得一轉移表面安置為面向該晶圓帶之一第一側上的該半導體裝置晶粒。兩個或更多個針鄰近於該晶圓帶之與該第一側相對之一第二側而安置。該兩個或更多個針之一長度在朝向該晶圓帶之一方向上延伸。一針致動器將該兩個或更多個針致動至一晶粒轉移位置,在該晶粒轉移位置,該兩個或更多個針中之至少一個針按壓在該晶圓帶之該第二側上,以按壓該一或多個半導體裝置晶粒中之一半導體裝置晶粒使之與該基板之該轉移表面接觸。
    • 一种用于将一半导体设备晶粒自一晶圆带直接转移至一基板之设备。一第一框架固持该晶圆带,且一第二框架紧固该基板。该第二框架固持该基板,使得一转移表面安置为面向该晶圆带之一第一侧上的该半导体设备晶粒。两个或更多个针邻近于该晶圆带之与该第一侧相对之一第二侧而安置。该两个或更多个针之一长度在朝向该晶圆带之一方向上延伸。一针致动器将该两个或更多个针致动至一晶粒转移位置,在该晶粒转移位置,该两个或更多个针中之至少一个针按压在该晶圆带之该第二侧上,以按压该一或多个半导体设备晶粒中之一半导体设备晶粒使之与该基板之该转移表面接触。
    • 8. 发明专利
    • Método para transferencia directa simultánea de la matriz de dispositivo semiconductor
    • ES2906964T3
    • 2022-04-21
    • ES17873931
    • 2017-11-22
    • ROHINNI LLC
    • PETERSON CODYHUSKA ANDY
    • H01L21/687H01L21/67H01L21/683H01L23/544
    • Un método para transferir simultáneamente una pluralidad de la matriz (1410) de dispositivo semiconductor desde una cinta (1406) de oblea que tiene un primer lado y un segundo lado a un sustrato (210) del producto que tiene una traza (1412) de circuito sobre el mismo, estando dispuesta la pluralidad de matrices de dispositivos semiconductores en el primer lado de la cinta de oblea, comprendiendo el método: asegurar la cinta de oblea a través de un primer marco (224); sujetar el sustrato del producto a través de un segundo marco (216) de manera que la traza del circuito esté dispuesta frente a la pluralidad de matrices de dispositivos semiconductores en la cinta de oblea; disponiendo un elemento (1404) de transferencia adyacente al segundo lado de la cinta de oblea, teniendo un único extremo (T) de punta del elemento de transferencia un tamaño de huella para abarcar un grupo de la matriz (1408) de dispositivo semiconductor de la pluralidad de la matriz de dispositivo semiconductor, siendo el extremo de la punta el extremo distal más lejano del elemento de transferencia y el grupo de matrices de dispositivos semiconductores incluye más de una matriz de dispositivo semiconductor; y accionar el elemento de transferencia para mover el elemento de transferencia a una posición de transferencia de la matriz en la que el elemento de transferencia presiona el segundo lado de la cinta de oblea para presionar cada matriz de dispositivo semiconductor del grupo de matrices de dispositivos semiconductores en la cinta de oblea para que entre en contacto con la traza de circuito en el sustrato del producto, transfiriendo así el grupo de matrices de dispositivos semiconductores simultáneamente sobre el sustrato del producto.