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91. 发明公开

CN104066375A 多方向相衬X射线成像失效
公开(公告)号：CN104066375A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201380006588.5
申请日：2013-01-22
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： E·勒斯尔 , T·克勒
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： A61B6/484 , A61B6/06 , A61B6/4035 , A61B6/4233 , A61B6/502 , F04C2270/041 , G21K1/02 , G21K2207/005
摘要：本发明涉及对象的相衬X射线成像。为了提供在多于一个方向的相衬信息，提供一种X射线成像系统，所述X射线成像系统包括X射线源(12)、X射线探测器装置(16)、以及具有相位-光栅结构(46)和分析器-光栅结构(48)的光栅装置(18)。所述X射线探测器装置包括在第一方向平行于彼此的至少八个线探测器单元(40)，所述至少八个线探测器单元在垂直于所述第一方向的方向(44)线性延伸。所述X射线源、所述X射线探测器装置和所述光栅装置适于在平行于所述第一方向的扫描方向执行相对于对象的采集移动。所述相位-光栅结构具有若干线性相位-光栅，它们中的每个被布置为与所述至少八个线探测器单元中指定的线固定关联；第一部分作为在所述第一方向具有狭缝的第一相位-光栅，并且第二部分作为在不同于所述第一方向的第二方向具有狭缝的第二相位-光栅。所述分析器-光栅结构具有若干线性分析器-光栅，它们中的每个被布置为与所述至少八个线探测器单元中指定的线固定关联；第一部分作为在所述第一方向具有狭缝的第一分析器-光栅，并且第二部分作为在所述第二方向具有狭缝的第二分析器-光栅。所述线探测器单元中的至少四个毗邻的线与所述第一相位-光栅和所述第一分析器-光栅关联，并且所述线探测器单元中的至少四个毗邻的线与所述第二相位-光栅和所述第二分析器-光栅关联。所述光栅装置可以包括被布置在所述X射线源与所述相位-光栅结构之间的源-光栅结构，用于为经过所述源-光栅结构的所述X射线束提供足够的相干性，使得在经过所述相位-光栅结构之后，可以在所述分析器-光栅结构的位置处观察到干涉。

92. 发明公开

CN103620393A 成像装置失效
公开(公告)号：CN103620393A
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：CN201280030185.X
申请日：2012-06-07
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： E·勒斯尔 , A·特伦 , R·普罗克绍
IPC分类号： G01N23/04 , A61B6/03
CPC分类号： G06T11/005 , A61B6/032 , A61B6/482 , A61B6/583 , G01N23/046 , G01N2223/401 , G01N2223/419 , G06T2211/408
摘要：本发明涉及一种用于对对象成像的成像装置（31）。重建单元（12）确定对应例如对象的基础材料的成分投影数据值，并且基于确定的成分投影数据值来重建对象的图像。对应射线的成分投影数据值被确定为加权基函数的组合，所述加权基函数取决于相同射线的能量投影数据值和相同射线的取向。这允许认为相应的分解可能取决于射线的取向，从而允许所述成像装置改善将提供的能量投影数据值分解为成分投影数据值的质量以及由此改善基于成分投影数据值而重建的对象的最终重建图像的质量。

93. 发明授权

CN107072620B 用于光子计数探测器的X射线通量降低器有权
公开(公告)号：CN107072620B
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN201580062900.1
申请日：2015-11-11
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： B·J·布伦德尔 , R·普罗克绍 , T·克勒 , E·勒斯尔 , H·德尔 , M·格拉斯 , A·特伦
IPC分类号： A61B6/00 , A61B6/03 , A61B6/06
摘要：一种成像系统包括辐射源(108)，所述辐射源被配置为关于检查区域(106)旋转并且发射穿过所述检查区域的辐射。所述成像系统还包括辐射敏感像素(112)的阵列，其被配置为探测穿过所述检查区域的辐射并输出指示探测到的辐射的信号。辐射敏感像素的阵列被设置为跨检查区域与辐射源相对。所述成像系统还包括刚性通量滤波器设备(130)，所述刚性通量滤波器设备被设置在所述辐射源与光子计数像素的辐射敏感探测器阵列之间的检查区域中。所述刚性通量滤波器设备被配置为对穿过所述检查区域并且入射在所述刚性通量滤波器设备上的辐射进行滤波。离开所述刚性通量滤波器设备的辐射具有预定通量。

94. 发明授权

CN108291976B 探测值确定系统有权
公开(公告)号：CN108291976B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN201680067555.5
申请日：2016-11-20
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： E·勒斯尔 , B·R·斯特德曼
IPC分类号： G01T1/29
摘要：本发明涉及一种探测值确定系统，特别是用于光子计数CT扫描仪的探测值确定系统，其包括探测脉冲提供单元，所述探测脉冲提供单元用于提供针对探测像素17的阵列的探测脉冲，所述探测像素的阵列被提供有抗电荷共享网格15，所述抗电荷共享网格用于抑制所述探测像素的不同团簇14之间的电荷共享，其中，所述探测脉冲指示入射在所述探测像素上的光子的能量。基于所提供的探测脉冲来确定经电荷共享校正的探测值，其中，为了确定针对团簇的探测像素的经电荷共享校正的探测值，仅考虑同一团簇的探测像素。这允许相对高的探测量子效率，其中，用于提供电荷共享校正的技术努力可以相对较低。

95. 发明公开

CN112543878A 光子计数探测器审中-实审
公开(公告)号：CN112543878A
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN201980051358.8
申请日：2019-08-01
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： R·斯特德曼布克 , E·勒斯尔
IPC分类号： G01T1/24
摘要：本发明涉及一种光子计数探测器，所述光子计数探测器包括：第一直接转换层(10)，其包括低吸收性直接转换材料(11)和第一电触点(12)，所述低吸收性直接转换材料用于将撞击的高能电磁辐射(100)转换成第一计数信号；第二直接转换层(20)，其包括高吸收性直接转换材料(21)和第二电触点(22)，所述高吸收性直接转换材料用于将撞击的高能电磁辐射(100)转换成第二计数信号，所述高吸收性直接转换材料的吸收性比所述低吸收性直接转换材料的吸收性更高；以及载体层(30、30a、30b)，其包括与所述第一电触点和所述第二电触点接触的第一端子(31)和第二端子(32)以及被配置为基于所述第一计数信号对所述第二计数信号校正误差的处理电路(35)，其中，所述第一直接转换层和所述第二直接转换层被布置为使得所述高能电磁辐射在击中所述第二直接转换层之前透射所述第一直接转换层。

96. 发明授权

CN107111888B 用于校正能量依赖投影值的校正装置有权
公开(公告)号：CN107111888B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201580072744.7
申请日：2015-12-24
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： E·勒斯尔 , I·M·布勒维 , D·鲁宾 , O·扎尔钦
IPC分类号： G06T11/00
摘要：本发明涉及一种用于校正能量依赖投影值的校正装置。投影值提供单元(13)提供已在校准操作期间基于已穿过材料并且撞击在能量分辨检测器(6)上的辐射，针对a)所述辐射的强度已在所述校准操作中改变之后的不同时间、b)不同强度变化和c)不同材料和/或不同材料厚度生成的能量依赖校准投影值。瞬态行为确定和校正单元(12)基于所述能量依赖校准投影值来确定所述能量分辨检测器的瞬态行为，并且基于确定的所述瞬态行为来校正能量依赖实际投影值。校正后的所述能量依赖实际投影值较少受所述能量分辨检测器的瞬态行为的影响或完全不受所述能量分辨检测器的瞬态行为影响，由此改进所述能量依赖实际投影值的品质。

97. 发明授权

CN104853679B 辐射射束强度分布整形器有权
公开(公告)号：CN104853679B
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN201380063535.7
申请日：2013-11-28
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： T·卡塔尔斯基 , E·勒斯尔 , R·莱文森
IPC分类号： A61B6/03 , A61B6/06 , A61B6/00 , G21K1/02 , G21K1/06
摘要：一种成像系统(500)包括：焦斑(510)，其沿着围绕检查区域(506)的路径旋转并发出辐射；准直器(512)，其对所述辐射进行准直，产生贯穿所述检查区域的视场(520)和其中的对象或目标的辐射射束(516)；探测器阵列(522)，其被定位为跨越所述检查区域与辐射源相对，所述探测器阵列探测贯穿所述视场的辐射并产生指示探测到的辐射的信号；以及射束整形器(524)，其被定位在所述辐射源与所述准直器之间，所述射束整形器与所述焦斑协同地旋转并定义所述辐射射束的强度分布。所述射束整形器包括多个细长的X射线吸收元件(606)，所述多个细长的X射线吸收元件被布置为沿着相对于射束的方向的贯穿方向平行于彼此，通过多个无材料区域(604)被彼此分开。

98. 发明授权

CN109414237B X射线成像数据处理设备和方法失效
公开(公告)号：CN109414237B
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：CN201880002656.3
申请日：2018-03-23
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： M·巴特尔斯 , T·克勒 , E·勒斯尔
IPC分类号： A61B6/00
摘要：本发明涉及处理X射线成像数据，特别是相衬X射线成像数据，并且通过利用光谱信息解决与例如基于光栅的差分相衬成像中的振动相关联的问题。已经认识到可以利用光谱信息来基于多能量分箱X射线探测器、振动引起的莫尔图案相移的能量独立性、物体引起的莫尔图案相移的能量依赖性以及被设计为允许测量物体根据能量分箱引起的相移的依赖性的体模来确定莫尔图案的振动状态。特别地，发现通过适当的数据处理，能够从物体属性中解脱出振动引起的移位等，因此减少了图像中的振动伪影，同时并不特别需要改变成像设备的基本物理结构。

99. 发明授权

CN107003421B 用于光子探测器的基线偏移确定有权
公开(公告)号：CN107003421B
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201580068812.2
申请日：2015-12-10
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： E·勒斯尔
IPC分类号： G01T1/40
摘要：本发明涉及确定由X射线检查设备(101)的光子探测器(102)所生成的电信号的基线偏移。为此目的，所述光子探测器包括处理单元(103)，所述处理单元被配置为确定光子探测器所生成的电信号的第一脉冲高度阈值的第一越过频率。所述第一脉冲高度阈值定位于所述电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第一边缘处。

100. 发明授权

CN105074774B 用于对X射线图像中的结构进行计算机辅助探测的方法和X射线系统失效
公开(公告)号：CN105074774B
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201480017074.4
申请日：2014-02-20
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： J·E·弗雷登贝里 , M·V·伦德奎斯特 , E·勒斯尔 , K·埃哈德 , T·克勒 , B·塞德斯特伦 , H-I·马克
IPC分类号： G06T5/50 , A61B6/00
摘要：本发明涉及X射线成像技术以及图像后处理。具体而言，本发明涉及一种用于对X射线图像中的结构进行计算机辅助探测的方法以及X射线系统。计算机辅助探测算法视觉上确定X射线图像信息中的组织结构，并且随后将经确定的组织结构的形状与已知组织结构的库匹配，以表征经确定的组织结构的类型。当还采用谱信息(尤其是采集的X射线图像的能量信息)时，组织结构的确定并且因此组织结构的类型的表征可以被增强。相应地，提出了一种用于对结构和X射线图像进行计算机辅助探测的方法(70、80、90)，包括以下步骤：获得(72)对象的谱X射线图像信息，其中，所述谱X射线图像信息构成至少一幅X射线图像，通过采用计算机辅助探测算法来探测(74)所述X射线图像中的感兴趣组织结构，其中，探测所述X射线图像中的感兴趣组织结构包括使所述计算机辅助探测算法适于针对组织结构形状来对所述X射线图像进行评估，并且将所述组织结构形状与多个预定的组织结构形状进行比较，并且其中，所述计算机辅助探测算法适于评估所述X射线图像的谱信息以探测所述感兴趣组织结构。

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