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21. 发明公开

CN108225151A 坐标测量机的旋转/枢转传感器系统有权
公开(公告)号：CN108225151A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711390141.9
申请日：2017-12-21
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： K.布伦纳 , T.沃勒茨 , A.富克斯
IPC分类号： G01B5/012
摘要：坐标测量机的旋转/枢转传感器系统(1)，具有：联接机构(2)，该旋转/枢转传感器系统(1)能够通过该联接机构联接到坐标测量机的测量头(32)，传感器保持部件(5)，该传感器保持部件被直接地或间接地连接到该联接机构(2)，传感器(10)，该传感器围绕第一旋转轴线(D1)可旋转地安装在该传感器保持部件(5)上，并且在连续的角度范围内围绕此第一旋转轴线(D1)可枢转，角度测量系统(17)，通过该角度测量系统能够确定该传感器(10)的枢转角度，固定装置(18)，通过该固定装置能够将该传感器(10)固定在枢转位置中，以及调节坐标测量机中的旋转/枢转传感器系统(1)的方法。

22. 发明公开

CN107883867A 测量系统有权
公开(公告)号：CN107883867A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201710902842.X
申请日：2017-09-28
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： T.赫尔德
IPC分类号： G01B11/00
摘要：本发明涉及一种测量系统，该测量系统具有测量工具，该测量工具具有探针本体和光学标记；具有相机，该相机用于记录与该测量工具相关的图像数据；并且具有评估与控制单元，该评估与控制单元被设置用于评估该相机所记录的图像数据并且使用所述数据借助于该光学标记确定与该探针本体相关的位置数据，所述位置数据包含该探针本体的空间位置坐标；该评估与控制单元还被设置用于由与该探针本体相关的所述位置数据计算与该探针本体相关的速度数据和/或加速度数据并且基于与该探针本体相关的所述速度数据和/或加速度数据来出于捕捉测量点的目的而确定在测量测量对象的过程中是否存在其中该探针本体与该测量对象发生接触的探针探测。

23. 发明公开

CN107110645A 用于确定作用在旋转设备上的转矩或作用于旋转设备上的力的方法有权
公开(公告)号：CN107110645A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201680004707.7
申请日：2016-01-28
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： R.塞奇米勒 , D.塞茨
IPC分类号： G01B21/04
摘要：本发明涉及用于确定作用在旋转设备(1；50)上并且横向于该旋转设备的转子(2；51)的旋转轴线(D)的转矩和/或力的方法，其中，该旋转设备具有测量系统(3，4a，4b，4c，4d；95，64a，94a，94b；110，LK1，LK2，LKn)，该测量系统包括：测量体(3；95；110)以及至少三个检测装置(4a，4b，4c，4d；64a，94a，94b；LK1，LK2，LKn)，这些检测装置用于检测检测装置(4a，4b，4c，4d；64a，94a，94b；LK1，LK2，LKn)和测量体(3；65；110)的相对位置和/或用于检测检测装置和测量体的相对位置的变化，并且其中，该方法包括以下步骤：在设定的旋转位置上产生(S1)转矩(M)和/或力，该转矩和/或力作用在该旋转设备(1；50)上并且与该旋转设备(1；51)的转子(2；51)的旋转轴线(D)相交叉指向，其中，该转矩和/或力引起该转子偏斜，由这至少三个检测装置(4a，4b，4c，4d；64a，94a，94b；LK1，LK2，LKn)的和该测量体(3；95；110)的相对位置确定(S2)在该转子的该设定的一个旋转位置上该转子(2；51)的偏斜量和/或该转子的位置误差，通过使用该转矩(M)和/或力、与该偏斜量和/或位置误差之间的关系确定(S3)在该转子(2；51)的该设定的一个旋转位置上的转矩和/或力，该关系是已知的针对该旋转设备确定的。

24. 发明公开

CN107076552A 用于工件的单点扫描的方法和坐标测量机有权
公开(公告)号：CN107076552A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201580052491.7
申请日：2015-08-20
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： G.格鲁普 , O.拉克 , E.奥伯尔
IPC分类号： G01B21/04
CPC分类号： G01B5/008 , G01B21/04
摘要：本发明涉及一种通过坐标测量机(10)的传感器(16)进行工件(12)的单点扫描的方法，所述传感器特别是触觉传感器，所述方法包括以下步骤：提供至少间接表示单点扫描的所需精确度的变量；提供参数数据集(48)，其中参数数据集(48)具有用于以所需精确度来调节和/或评估单点扫描的方案；以及执行工件(12)的单点扫描，其中基于所提供的参数数据集(48)来调节坐标测量机(10)和/或基于所提供的参数数据集(48)来执行评估(10)。此外，提出了一种用于工件(12)的单点扫描的坐标测量机(10)。

25. 发明授权

CN104520668B 具有白光传感器的坐标测量机有权
公开(公告)号：CN104520668B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201280075127.9
申请日：2012-08-07
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： T.恩格尔
IPC分类号： G01B11/00 , G01B11/03 , G01B11/245
CPC分类号： G01B11/005 , G01B11/03 , G01B11/245
摘要：本发明涉及一种测量测量对象的坐标测量装置，所述装置具有接收测量对象的工件容座和支承光学传感器的测量头，测量头和工件容座可相对彼此移动，光学传感器具有物镜和相机，相机设计成通过物镜记录测量对象的像，物镜具有入光孔径)和出光孔径，物镜还具有多个透镜组，多个透镜组在入光孔径和出光孔径之间沿物镜的纵轴接连着布置在物镜中。多个透镜组的第一透镜组固定地布置在入光孔径的区域中，自由空间存在于物镜中，位于第一和第二透镜组之间，以及坐标测量装置还具有白光传感器和至少部分反射的耦合元件，耦合元件可选择性地移入自由空间中，以将白光传感器耦合到物镜中。

26. 发明授权

CN103782130B 在测量工件的坐标时的误差修正和/或避免有权
公开(公告)号：CN103782130B
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201180073361.3
申请日：2011-07-08
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： T·黑尔德 , D·塞茨 , R·萨格米勒 , T·沃勒茨
IPC分类号： G01B21/04
CPC分类号： G01B21/045 , G01B7/004 , G01B7/012 , G01D18/00
摘要：本发明涉及一种用于测量工件坐标和/或用于加工工件的组件，其中，所述组件具有第一部分（1）和可相对于所述第一部分（1）运动的第二部分（3），其中，这些部分（1，3）的可相对运动性除了可选地附加固定在所述组件上的探测器的可能发生的可运动性之外附加地给出，所述可能发生的可运动性在出于测量所述坐标的目的而机械地探测工件时通过所述探测器从中间位置偏转出来产生，其中，在所述第一或第二（3）部分上布置有一测量体（K1，K2）并且在另一部分上、即在所述第二或第一（1）部分上布置有至少一个传感器（s1…s5），其中，所述传感器（s1…s5）构造得用于相应于所述测量体（K1，K2）的位置、从而相应于所述第一（1）和第二（3）部分的相对位置产生测量信号。

27. 发明授权

CN104272061B 用于确定坐标测量装置中转台轴线的方法有权
公开(公告)号：CN104272061B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201380023343.3
申请日：2013-04-30
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： M·维默尔
IPC分类号： G01B21/04
CPC分类号： G01B5/008 , G01B21/042 , G01B21/22
摘要：用于重复地确定转台轴线(D)在坐标测量装置的装置坐标系统中的位态的方法，包括：a)在多个转台位置中通过KMG的测量系统来探触处于转台(3)上的检验体(9)并且由探触点确定所述转台轴线(D)在所述装置坐标系统(XKMG,YKMG,ZKMG,Z′KMG)中的X坐标和Y坐标，其中，所述方法还包括：b)通过KMG的所述测量系统来探触第一探触体(20)，该第一探触体安装在所述转台(3)的旁边并且该第一探触体具有相对于所述转台轴线(D)的X坐标位置固定地定位的第一探触体参考点(R1)，并且，确定所述第一探触体参考点(R1)的X坐标；c)通过KMG的测量系统来探触第二探触体(21)，该第二探触体安装在所述转台(3)的旁边并且该第二探触体具有相对于所述转台轴线(D)的Y坐标位置固定地定位的第二探触体参考点(R2)，并且，确定所述第二探触体参考点(R2)的Y坐标；d)在一个或多个之后的时间点上重复步骤b)和c)并且在一个所述之后的时间点或在多个所述随后的时间点上由所述第一探触体参考点(R1)的所述X坐标和所述第二探触体参考点(R2)的所述Y坐标来确定所述转台轴线的X坐标和Y坐标；以及一种坐标测量装置，通过该坐标测量装置可执行所述方法。

28. 发明公开

CN106403839A 用于确定测量物体的空间性质的方法和测量机有权
公开(公告)号：CN106403839A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610622239.1
申请日：2016-08-01
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： A.戈纳迈耶 , P.杰斯特 , F.威杜勒
IPC分类号： G01B11/24
CPC分类号： H04N7/183 , G01B11/24
摘要：一种确定测量物体(14)的空间性质的方法和测量机，其均使用工件台(12)以及具有图像传感器(20)和成像光学器件(22)的摄像机(18)。成像光学器件(22)展示像差并且被配置为相对于工件台(12)对焦在多个不同的工作位置(46a，46b)上。通过使用对限定工作位置提供的第一校准值将像差最小化。确定摄像机(18)相对于相关区域(16)的第一工作距离。接下来，使用第一工作距离以及使用表现摄像机(18)的像场曲率得相关区域(16)被带到限定的工作位置。接下来，进行像记录和像评价，以确定表现相关区域(16)中的测量物体(14)的空间性质的测量值。(44)的第二校准值，对焦成像光学器件(22)，使

29. 发明公开

CN105556253A 减小尤其用于确定工件坐标或加工工件的旋转设备的误差有权
公开(公告)号：CN105556253A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201480051235.1
申请日：2014-08-14
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： R.塞奇米勒 , D.塞茨
IPC分类号： G01D5/244 , G01B21/04
CPC分类号： G05B19/402 , G01B21/045 , G01D5/24428 , G05B2219/50047
摘要：本发明涉及一种用于减小旋转设备(11、12)的误差的方法，所述旋转设备具有第一部分(12)和能相对于第一部分(12)围绕旋转设备(11、12)的旋转轴线(A1)旋转的第二部分(11)以及用于测量第一部分(12)和第二部分(11)相对彼此的旋转位置的旋转位置测量装置(74、75)，其中，所述旋转位置测量装置(74、75)具有旋转位置传感器(74)和为了测量旋转位置与旋转位置传感器(74)共同作用的测量体(75)，其中，所述旋转位置传感器(74)与第一部分(12)相连并且测量体(75)与第二部分(11)相连或者旋转位置传感器(74)与第二部分(11)相连并且测量体(75)与第一部分(12)相连，其中，所述方法具有以下步骤：-(21)：在一定的旋转角范围内，也就是在第一部分(12)和第二部分(11)相对彼此的不同旋转位置下测量由于旋转设备(11、12)的理想旋转轴线(A2)的相应的理想位置和理想定向与旋转轴线(A1)的实际位置和实际定向之间的偏差产生的旋转设备(11、12)的误差并且得到相应的误差测量值，-(23)：由所述误差测量值针对旋转位置传感器(74)的多个旋转位置测量地点确定旋转设备的第一部分(12)或第二部分(11)的径向位置的预期波动和/或第一部分(12)或第二部分(11)关于相对旋转设备的旋转方向的切向的位置的波动，所述波动由于旋转设备(11、12)的旋转运动与围绕理想旋转轴线(A2)的理想旋转运动的偏差而产生，所述旋转位置传感器(74)能够在所述旋转位置测量地点处测量旋转设备的旋转位置，-(25)：在考虑预期波动的情况下，确定旋转位置传感器(74)的至少一个旋转位置测量地点，针对该旋转位置测量地点，关于相对旋转方向的切向的位置的预期波动ο小于针对其它可能的旋转位置测量地点的预期波动和/或ο满足预设的条件。

30. 发明公开

CN105247595A 用于产生测量对象的至少一个虚拟图像的方法和设备无效复审申请
公开(公告)号：CN105247595A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201480030898.5
申请日：2014-05-26
申请人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
发明人： T·恩格尔 , S·里格尔
IPC分类号： G09B9/00 , G09B23/06
CPC分类号： G06T7/30 , G06T5/002 , G06T15/04 , G06T15/205 , G06T15/50 , G06T19/00 , G09B19/24 , G09B23/06
摘要：本发明涉及一种用于产生测量对象的至少一个虚拟图像(vA)的方法和设备，其中，确定所述测量对象的虚拟位置和/或虚拟定向，其中，确定坐标测量装置的至少一个图像检测装置的虚拟位置和/或虚拟定向，其中，根据所述测量对象的几何数据并且根据所述测量对象的光学特性产生所述虚拟图像(vA)，其中，附加地根据所述图像检测装置的成像参数(uAE，vAE)产生所述虚拟图像(vA)。

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