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    • 22. 发明公开
    • 测试端子块
    • CN104137342A
    • 2014-11-05
    • CN201380011739.6
    • 2013-09-04
    • 菲尼克斯电气公司
    • C.克洛彭堡
    • H01R9/26H01R31/08
    • G01R1/0416H01R9/26H01R9/2666H01R31/08
    • 示出和说明了一种测试端子块(1),包括串联端子块(2)和可插到串联端子块(2)上的测试插头块(3),其中,串联端子块(2)具有多个并排布置的串联端子(4)且在多个串联端子(4)的两侧上相应具有固定端子(5),其中,测试插头块(3)具有多个相互连接的测试插头(6)且在多个测试插头(6)的两侧上相应具有固定件(7),其中,两个固定件(7)通过把柄件(8)相互连接,其中,每个串联端子(4)具有两个电流条(9),其一起形成分离部位,并且其中,每个测试插头(6)具有可插入到分离部位中的接触插头(10),并且其中,两个固定端子(5)相应具有带有容纳区段(12)的端子壳体(11),且两个固定件(7)相应具有带有可插入到容纳区段(12)中的相对应的插入区段(15)的壳体(14)。在测试端子块中,由此在从串联端子块(2)中拉出测试插头块(3)时确保可靠且受限定的接触状态,即,两个固定端子(5)的端子壳体(11)相应具有至少两个卡锁元件(16,17),且两个固定件(7)的壳体(14)相应具有至少两个相对应的配合卡锁元件(18,19),其中,卡锁元件(16,17)和配合卡锁元件(18,19)一起确定固定件(7)在固定端子(5)中的在固定件(7)的插装方向上相继布置的两个卡锁位置,且在两个固定件(7)的壳体(14)中相应可移动地布置有去锁元件(20),其可带到第一去锁位置和第二去锁位置中,其中,通过去锁元件(20)在第一去锁位置中松开第一卡锁位置的锁定且在第二去锁位置中松开第二卡锁位置的锁定。