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41. 发明授权

CN109313130B 用于液体物质的容器的传感器装置有权
公开(公告)号：CN109313130B
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN201780028088.X
申请日：2017-03-01
申请人：埃尔特克有限公司
发明人： M.皮兹 , P.墨兰诺 , F.卡瓦利 , M.佐尔扎托
IPC分类号： G01N21/43 , G01N21/552
摘要：一种用于检测液体物质的至少一个特性的光学传感器装置包括具有内表面和外表面的装置主体(10a)，装置主体(10a)的外表面的至少一个部分设计成与液体物质相接触，以及装置主体(10a)的内表面设计成与液体物质隔离。关联到装置主体(10a)的是至少一个检测布置(15，40)，该检测布置(15，40)包括给定光学辐射(R)(例如可见光或红外光中的辐射)的至少一个发射器(42)和至少一个接收器(44a，44b)。装置主体(10a)的至少一个第一部分(31)由设计用于给定光学辐射的传播的材料来制成，至少一个发射器(42)和至少一个接收器(44a，44b)在所述第一部分(31)中光学耦合到装置主体(10a)的内表面。装置主体(10a)的上述第一部分(31)成形为促成给定光学辐射具体通过折射和/或反射从至少一个发射器(42)到至少一个接收器(44a，44b)的传播，其方式是使得给定光学辐射至少部分经过装置主体(10a)的所述第一部分(31)具体以一定角度和/或以作为液体物质的特性的函数可变的强度朝向所述至少一个接收器(44a，44b)传播。检测布置(15，40)包括光学模块(40)，该光学模块(40)包括用于至少一个发射器(42)和至少一个接收器(44a，44b)的支承和电连接的结构，其配置为与装置主体(10a)分离的部分。支承和电连接结构包括由电绝缘材料所制成的多个主体(45，46，47)，该多个主体(45，46，47)在由导电材料所制成的电连接元件(48，49)上二次模塑。

42. 发明公开

CN114270230A 用于改变滤光器或滤光轮的入射角的装置、系统和方法审中-实审
公开(公告)号：CN114270230A
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202080059266.7
申请日：2020-07-10
申请人：瑞尔赛特股份有限公司
发明人： D·斯图尔特
IPC分类号： G02B5/28 , G01N21/43 , G01N21/78
摘要：本公开涉及一种用于改变滤光器或滤光轮的入射角的系统和方法。

43. 发明公开

CN114184580A 玻璃柱体折射率的高精度测量方法有权
公开(公告)号：CN114184580A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111493885.X
申请日：2021-12-08
申请人：中国人民解放军国防科技大学
发明人：王纪元 , 李金鸿 , 周继先 , 胡益翔 , 方强
IPC分类号： G01N21/43 , G01N21/31
摘要：本发明提供的玻璃柱体折射率的高精度测量方法，在插针法的基础上用分光计读数，保留原来操作简单的优点的基础上，大大增加了测角的精确度，从而提高了玻璃折射率测量的精确度。在此基础上，通过选取不同的背景光，更是可以实现对不同材质及颜色玻璃折射率的测量。

44. 发明公开

CN113916832A 全介质缺陷圆柱高品质因数折射率传感器及其制作方法审中-实审
公开(公告)号：CN113916832A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202111368027.2
申请日：2021-11-18
申请人：巴沃(镇江)光电子科技有限公司
发明人：杜庆国 , 梁坤林 , 于泉 , 毕凯
IPC分类号： G01N21/41 , G01N21/43
摘要：本发明涉及光学器件技术领域，具体涉及一种全介质缺陷圆柱高品质因数折射率传感器及其制作方法。包括二氧化硅衬底和阵列分布于二氧化硅衬底上表面的全介质超表面结构单元，所述全介质超表面结构单元为弧面朝上的半圆柱结构体，所述半圆柱结构体的轴线与x轴平行；其中，x轴沿二氧化硅衬底宽度方向，y轴沿二氧化硅衬底长度方向，z轴沿二氧化硅衬底厚度方向。极大的提高了全介质传感器的品质因数，进一步提高了全介质超表面传感器的分辨率。

45. 发明授权

CN109709070B 利用复合光纤光栅传感器的折射率和温度双参量测量方法有权
公开(公告)号：CN109709070B
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN201811638117.7
申请日：2018-12-29
申请人：天津大学
发明人：江俊峰 , 刘铁根 , 张学智 , 樊晓军 , 刘琨 , 王双 , 李雨晴 , 褚悦 , 徐棒田 , 蒋磊
IPC分类号： G01N21/43 , G01K11/3206
摘要：本发明公开了一种复合光纤光栅传感器及其折射率和温度双参量测量方法，该传感器结构包括单模光纤(1)及单模光纤纤芯(2)，在所述单模光纤纤芯(2)沿水平方向上设置由长周期光栅(3)和倾斜光栅(4)构成混合光栅；入射光(5)入射到混合光栅，之后出射光(6)进入光波测量系统；得到倾斜光栅折射率测量因子的波长偏移量，然后通过灵敏度系数反演得到实际灵敏度值；之后用该实际灵敏度值补偿长周期光栅双参量测量因子中折射率导致的波长偏移，进而得到被测温度，实现了折射率和温度双参量测量。本发明实现了两种参量的同时测量，结构简单、降低了计算量，同时兼具了传统长周期光栅高折射率灵敏度的优点和倾斜光栅高温度灵敏度的优点。

46. 发明公开

CN112763452A 一种复合材料分层损伤的检测方法及系统无效
公开(公告)号：CN112763452A
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN202011590327.0
申请日：2020-12-29
申请人：西北工业大学
发明人：程晖 , 史越 , 张开富 , 刘盈利 , 赵頔 , 冯孟飞
IPC分类号： G01N21/3586 , G01N21/43 , G01B11/06
摘要：本发明公开了一种复合材料分层损伤的检测方法及系统。根据传播时间差和样本厚度计算样本的折射率；对样本进行太赫兹反射模式成像，得到样本时域光谱信号；对样本时域光谱信号进行C扫描水平成像，根据C扫描成像结果确定样品的分层区域，同时确定分层区域的太赫兹反射时域波形；根据分层区域的太赫兹反射时域波形和样本的折射率，采用时延差法计算分层深度位置信息；对分层区域进行边缘轮廓识别，确定分层区域的面积。采用本发明的方法及系统，通过确定样本的折射率计算分层深度位置信息，对样本时域光谱信号进行C扫描水平成像确定样品的分层区域，进而能够确定分层区域的面积，能够改善复合材料样本内部层间结构和缺陷的检测效果。

47. 发明授权

CN107228839B 一种高通量的折射率测量芯片、装置以及方法有权
公开(公告)号：CN107228839B
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN201710395830.2
申请日：2017-05-31
申请人：华中科技大学
发明人：郭文平 , 夏珉 , 杨克成 , 李微
IPC分类号： G01N21/43
摘要：本发明公开了一种高通量的折射率测量芯片、测量装置以及测量方法，属于精密仪器领域，其中，测量芯片包括芯片本体，芯片本体的一个面为光学平面，该光学平面用于与外界的折射率测量设备相面接触，在芯片本体上设置有至少两个用于容置待测量液体的沟槽，沟槽的深度小于或者等于所述芯片本体的厚度，沟槽的两端分别设置有液体输入通道和液体输出通道。本发明还提供一种高通量的折射率测量装置，其包括如上所述的测量芯片。本发明还提供一种高通量的折射率测量方法，能实现同时测量获得多种液体的折射率。本发明装置测量效率高，测量结果一致性好，不易引入随机误差。

48. 发明公开

CN112513614A 用于流体物质的光学传感器装置审中-实审
公开(公告)号：CN112513614A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN201980037432.0
申请日：2019-04-03
申请人：埃尔特克有限公司
发明人： F·卡瓦里 , M·佐尔泽托 , C·嘉蒂尼
IPC分类号： G01N21/03 , G01N21/552 , G01N21/43 , G01N21/05
摘要：一种用于流体物质（LS）的光学传感器装置（1）包括具有检测部分（14）的装置主体（2），敏感光学部分与该检测部分相关联，敏感光学部分包括光学辐射（Re、Rr）的发射器（20）和接收器（21）中的至少一者。检测部分（14）由对光学辐射（Re、Rr）透明的材料制成，并且具有内表面（23a、23b）和外表面（15），外表面（15）被设计成与流体物质（LS）接触，并且内表面（23a、23b）被设计成与流体物质隔离。敏感光学部分的发射器（20）和接收器（21）中的所述至少一者以这样的方式光学地联接到检测部分（14）的内表面（23a、23b），使得光学辐射（Re、Rr）至少部分地传播通过检测部分（14），特别地具有根据流体物质的特性可变的角度和/或强度。光学传感器装置（1）包括保护布置结构，该保护布置结构被构造成用于防止检测部分（14）的由流体物质（LS）的体积增加导致的可能的变形，特别是其内表面（23a、23b）和其外表面（15）中的至少一者的变形。保护布置结构包括至少一个补偿元件（13），所述补偿元件具有能够收缩的可弹性变形的主体，以用于由此补偿流体物质（LS）的可能的体积增加，或者用于实现检测部分（14）在流体物质（LS）的体积的可能增加随后的可逆移位。

49. 发明公开

CN111954804A 具有宽计量工艺窗口的棱镜耦合应力计有权
公开(公告)号：CN111954804A
公开(公告)日：2020-11-17
申请号：CN201980024806.5
申请日：2019-04-01
申请人：康宁股份有限公司
发明人： R·C·安德鲁斯 , 匡载欣 , R·V·罗瑟夫
IPC分类号： G01N21/43 , G01N33/38 , G01N21/23
摘要：棱镜耦合系统和方法包括使用棱镜耦合系统收集化学强化制品的初始TM和TE模式谱，所述化学强化制品具有折射率分布曲线，并且所述折射率分布曲线具有近表面的尖峰区域和深区域。检验初始TM和TE模式谱以观察它们是否落在优选测量窗口内，所述优选测量窗口可在选定容差内精确估算膝应力。如果未落在优选测量窗口内，则改变棱镜耦合系统的测量配置并且收集新的TM和TE模式谱。重复该过程直到新的TM和TE模式谱落在优选测量窗口内。接着使用该新的TM和TE模式谱来确定膝应力。改变测量配置可包括改变以下中的至少一项：测量波长，界面流体厚度和界面流体折射率。

50. 发明公开

CN110646378A 用于表征弯曲的零件的棱镜耦合系统和方法有权
公开(公告)号：CN110646378A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201910958438.3
申请日：2014-08-28
申请人：康宁股份有限公司
发明人： A·刘 , R·V·罗瑟夫 , R·A·施奥特
IPC分类号： G01N21/43 , G01B11/16 , G01L1/24
摘要：公开了用于表征弯曲零件(20)的棱镜耦合系统和方法。耦合棱镜(40)的耦合表面(44)与该弯曲零件的弯曲的外表面对接以限定耦合界面(50)。引导测量光经过该耦合棱镜并到达该界面，其中，该测量光具有3mm或更小的宽度。数字地捕获从该界面反射的TE与TM模谱。这些模谱被处理以确定弯曲零件的至少一个特性，诸如应力分布、压缩应力、层深、折射率分布以及双折射性。

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