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    • 84. 发明公开
    • 用于轧件的影响装置的控制方法
    • CN102473003A
    • 2012-05-23
    • CN201080030875.6
    • 2010-06-28
    • 西门子公司
    • K.魏因齐尔H-U.勒夫勒
    • G05B13/04B21B37/00
    • G05B13/04B21B37/00B21B37/74B21B38/006B21B38/08B21B2261/20B21B2265/12B21B2275/12
    • 控制装置(3)如此控制影响装置(1),使得该影响装置(1)相应地影响轧件(2)。所述控制装置(3)结合对轧件(2)的影响实时检测至少一个测量参量(F、M、T),所述测量参量(F、M、T)依赖于所述轧件(2)的第一特性的在检测所述测量参量(F、M、T)的时刻的数值。所述控制装置(3)借助于轧件(2)的对所述影响装置(1)中的过程进行描绘的模型(11)来求得相应的模型参量(F’、M’、T’)。所述模型(11)包括基于数学物理的方程式的第一子模型(12),在使用该第一子模型(12)的情况下能够求得所述第一特性的数值。所述模型(11)包括基于数学物理的方程式的第二子模型(13),借助于该第二子模型(13)能够求得所述轧件(2)的第二特性的在施加影响期间的时间上的演变。所述轧件(2)的第一特性的在检测所述测量参量(F、M、T)的时刻的数值依赖于所述轧件(2)的第二特性的时间曲线或者说依赖于该轧件(2)的第二特性的在检测所述测量参量(F、M、T)的时刻的数值并且/或者所述测量参量(F、M、T)除了依赖于所述第一特性的数值的依赖关系,也依赖于所述轧件(2)的第二特性的在检测所述测量参量(F、M、T)的时刻的数值。所述控制装置(3)借助于所述模型(11)来求得所述轧件(2)的第二特性的时间曲线、所述轧件(2)的第一特性的在检测所述测量参量(F、M、T)的时刻的数值并且在使用所述轧件(2)的第二特性的所求得的时间曲线以及所述轧件(2)的第一特性的在检测所述测量参量(F、M、T)的时刻的数值的情况下来求得模型参量(F’、M’、T’)。所述控制装置(3)根据所检测到的测量参量(F、M、T)的偏离所述模型参量(F’、M’、T’)的偏差虽然对所述第二子模型(13)进行适配,但是不对所述第一子模型(12)进行适配或者通过成本函数(K1)的优化不仅对所述第一子模型(12)而且对所述第二子模型(13)进行适配,但是其中除了所述测量参量(F、M、T)的偏离所述模型参量(F’、M’、T’)的偏差,依赖于这种第一子模型(12)的适配的处罚项(K2)也输入到所述成本函数(K)中。