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    • 63. 发明专利
    • 多級射頻放大器之功率增益及損耗的分析裝置及方法
    • 多级射频放大器之功率增益及损耗的分析设备及方法
    • TWI232942B
    • 2005-05-21
    • TW092127461
    • 2003-10-03
    • 立積電子股份有限公司 RICH WAVE TECHNOLOGY CORP.
    • 朱浚 CHU, CHUN HSUEH
    • G01R
    • H03F3/195
    • 本發明係一種多級射頻放大器之功率增益及損耗的分析裝置及方法,因應過去之多級微波射頻電路分析之不易,故提出新的施行方式。係將一多級射頻放大器先簡化其架構,並將待分析設定的電路部分提出,而尚未分析設定之其他電路部分,則將其視為一個單一中間級架構。在行此簡化步驟後,可專心分析該待設定調整的電路部分,並調整之使其達到最佳增益狀態。如此層層剝離分析,不但可有系統的簡化分析步驟,並且可得知各級電路對於整個電路的貢獻及其反應,而能對其有更深入的了解,可更快速地找出問題關鍵並加以改進。
    • 本发明系一种多级射频放大器之功率增益及损耗的分析设备及方法,因应过去之多级微波射频电路分析之不易,故提出新的施行方式。系将一多级射频放大器先简化其架构,并将待分析设置的电路部分提出,而尚未分析设置之其他电路部分,则将其视为一个单一中间级架构。在行此简化步骤后,可专心分析该待设置调整的电路部分,并调整之使其达到最佳增益状态。如此层层剥离分析,不但可有系统的简化分析步骤,并且可得知各级电路对于整个电路的贡献及其反应,而能对其有更深入的了解,可更快速地找出问题关键并加以改进。
    • 64. 发明专利
    • 多級射頻放大器之功率增益及損耗的分析裝置及方法
    • 多级射频放大器之功率增益及损耗的分析设备及方法
    • TW200513653A
    • 2005-04-16
    • TW092127461
    • 2003-10-03
    • 立積電子股份有限公司 RICH WAVE TECHNOLOGY CORP
    • 朱浚 CHU, CHUN HSUEH
    • G01R
    • H03F3/195
    • 本發明係一種多級射頻放大器之功率增益及損耗的分析裝置及方法,因應過去之多級微波射頻電路分析之不易,故提出新的施行方式。係將一多級射頻放大器先簡化其架構,並將待分析設定的電路部分提出,而尚未分析設定之其他電路部分,則將其視為一個單一中間級架構。在行此簡化步驟後,可專心分析該待設定調整的電路部分,並調整之使其達到最佳增益狀態。如此層層剝離分析,不但可有系統的簡化分析步驟,並且可得知各級電路對於整個電路的貢獻及其反應,而能對其有更深入的了解,可更快速地找出問題關鍵並加以改進。
    • 本发明系一种多级射频放大器之功率增益及损耗的分析设备及方法,因应过去之多级微波射频电路分析之不易,故提出新的施行方式。系将一多级射频放大器先简化其架构,并将待分析设置的电路部分提出,而尚未分析设置之其他电路部分,则将其视为一个单一中间级架构。在行此简化步骤后,可专心分析该待设置调整的电路部分,并调整之使其达到最佳增益状态。如此层层剥离分析,不但可有系统的简化分析步骤,并且可得知各级电路对于整个电路的贡献及其反应,而能对其有更深入的了解,可更快速地找出问题关键并加以改进。
    • 65. 发明专利
    • 可變增益放大器之測試電路 TEST CIRCUIT FOR PROGRAMMABLE GAIN AMPLIFIER
    • 可变增益放大器之测试电路 TEST CIRCUIT FOR PROGRAMMABLE GAIN AMPLIFIER
    • TWI356911B
    • 2012-01-21
    • TW097117604
    • 2008-05-13
    • 瑞昱半導體股份有限公司
    • 吳柏強江嘉良邱升南楊中鼎彭瀛全
    • G01R
    • G01R31/3167
    • 本發明提供一種檢查至少一可變增益放大器是否正常運作之測試電路,包含一訊號產生器、一增益控制器、一待測準位輸出電路、一比較電路以及一判斷電路。該訊號產生器用來輸入一測試輸入訊號至一可變增益放大器以產生一測試輸出訊號;該增益控制器用來輸入一增益控制訊號至該可變增益放大器來調整該可變增益放大器之增益;該待測準位輸出電路用來依據該測試輸出訊號輸出一第一待測準位與一第二待測準位;該比較電路用來比較該第一、第二待測準位以產生一比較結果訊號;該判斷電路用來根據該比較結果訊號判斷該可變增益放大器是否正常運作。
    • 本发明提供一种检查至少一可变增益放大器是否正常运作之测试电路,包含一信号产生器、一增益控制器、一待测准位输出电路、一比较电路以及一判断电路。该信号产生器用来输入一测试输入信号至一可变增益放大器以产生一测试输出信号;该增益控制器用来输入一增益控制信号至该可变增益放大器来调整该可变增益放大器之增益;该待测准位输出电路用来依据该测试输出信号输出一第一待测准位与一第二待测准位;该比较电路用来比较该第一、第二待测准位以产生一比较结果信号;该判断电路用来根据该比较结果信号判断该可变增益放大器是否正常运作。
    • 66. 发明专利
    • 可變增益放大器之測試電路 TEST CIRCUIT FOR PROGRAMMABLE GAIN AMPLIFIER
    • 可变增益放大器之测试电路 TEST CIRCUIT FOR PROGRAMMABLE GAIN AMPLIFIER
    • TW200946936A
    • 2009-11-16
    • TW097117604
    • 2008-05-13
    • 瑞昱半導體股份有限公司
    • 吳柏強江嘉良邱升南楊中鼎彭瀛全
    • G01R
    • G01R31/3167
    • 本發明提供一種檢查至少一可變增益放大器是否正常運作之測試電路,包含一訊號產生器、一增益控制器、一待測準位輸出電路、一比較電路以及一判斷電路。該訊號產生器用來輸入一測試輸入訊號至一可變增益放大器以產生一測試輸出訊號;該增益控制器用來輸入一增益控制訊號至該可變增益放大器來調整該可變增益放大器之增益;該待測準位輸出電路用來依據該測試輸出訊號輸出一第一待測準位與一第二待測準位;該比較電路用來比較該第一、第二待測準位以產生一比較結果訊號;該判斷電路用來根據該比較結果訊號判斷該可變增益放大器是否正常運作。
    • 本发明提供一种检查至少一可变增益放大器是否正常运作之测试电路,包含一信号产生器、一增益控制器、一待测准位输出电路、一比较电路以及一判断电路。该信号产生器用来输入一测试输入信号至一可变增益放大器以产生一测试输出信号;该增益控制器用来输入一增益控制信号至该可变增益放大器来调整该可变增益放大器之增益;该待测准位输出电路用来依据该测试输出信号输出一第一待测准位与一第二待测准位;该比较电路用来比较该第一、第二待测准位以产生一比较结果信号;该判断电路用来根据该比较结果信号判断该可变增益放大器是否正常运作。
    • 68. 发明专利
    • 利用數位激發訊號來準確測量放大器開路增益之裝置 DEVICE FOR ACCURATELY MEASURING AMPLIFIER'S OPEN-LOOP GAIN WITH DIGITAL STIMULI
    • 利用数码激发信号来准确测量放大器开路增益之设备 DEVICE FOR ACCURATELY MEASURING AMPLIFIER'S OPEN-LOOP GAIN WITH DIGITAL STIMULI
    • TWI361900B
    • 2012-04-11
    • TW096150435
    • 2007-12-27
    • 國立交通大學
    • 洪浩喬
    • G01R
    • G01R31/2837
    • 本發明提供一種可接收數位激發訊號並可準確量測放大器開路增益之裝置,其包含:數位電荷轉換器(DCC)、電荷積分器、類比/數位轉換器(ADC)、控制邏輯電路、以及算術邏輯單元(ALU)。其中該數位電荷轉換器(DCC)與該電荷積分器係由複數個開關、一個以上的取樣電容器、一個以上的積分電容器與一個單端(single-ended)或差動(differential)輸出之待測試運算放大器(OPAUT)等元件所構成。該數位電荷轉換器(DCC)、該電荷積分器、該類比/數位轉換器(ADC)受該控制邏輯電路所產生之控制訊號所控制,構成一個可接收一個以上數位激發訊號之一階三角積分調變器。該算術邏輯單元(ALU)根據該(等)數位激發訊號與該一階三角積分調變器的數位輸出計算出該單端或差動輸出之待測試運算放大器的開路增益。或者,該控制邏輯電路更可接收一數位模式訊號,且當該控制邏輯電路接收之數位模式訊號為測試模式時,該(等)取樣電容器、該(等)積分電容器、該待測試運算放大器、該類比/數位轉換器(ADC)、以及複數個開關受該控制邏輯電路所產生之複數個控制訊號所控制,重構成該可接收數位輸入激發訊號之一階三角積分調變器,並利用該算術邏輯單元計算出該單端或差動輸出之待測試運算放大器之開路增益。
    • 本发明提供一种可接收数码激发信号并可准确量测放大器开路增益之设备,其包含:数码电荷转换器(DCC)、电荷积分器、模拟/数码转换器(ADC)、控制逻辑电路、以及算术逻辑单元(ALU)。其中该数码电荷转换器(DCC)与该电荷积分器系由复数个开关、一个以上的采样电容器、一个以上的积分电容器与一个单端(single-ended)或差动(differential)输出之待测试运算放大器(OPAUT)等组件所构成。该数码电荷转换器(DCC)、该电荷积分器、该模拟/数码转换器(ADC)受该控制逻辑电路所产生之控制信号所控制,构成一个可接收一个以上数码激发信号之一阶三角积分调制器。该算术逻辑单元(ALU)根据该(等)数码激发信号与该一阶三角积分调制器的数码输出计算出该单端或差动输出之待测试运算放大器的开路增益。或者,该控制逻辑电路更可接收一数码模式信号,且当该控制逻辑电路接收之数码模式信号为测试模式时,该(等)采样电容器、该(等)积分电容器、该待测试运算放大器、该模拟/数码转换器(ADC)、以及复数个开关受该控制逻辑电路所产生之复数个控制信号所控制,重构成该可接收数码输入激发信号之一阶三角积分调制器,并利用该算术逻辑单元计算出该单端或差动输出之待测试运算放大器之开路增益。
    • 69. 发明专利
    • 利用數位激發訊號來準確測量放大器開路增益之裝置 DEVICE FOR ACCURATELY MEASURING AMPLIFIER'S OPEN-LOOP GAIN WITH DIGITAL STIMULI
    • 利用数码激发信号来准确测量放大器开路增益之设备 DEVICE FOR ACCURATELY MEASURING AMPLIFIER'S OPEN-LOOP GAIN WITH DIGITAL STIMULI
    • TW200928399A
    • 2009-07-01
    • TW096150435
    • 2007-12-27
    • 國立交通大學 NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
    • 洪浩喬 HONG, HAO CHIAO
    • G01R
    • G01R31/2837
    • 本發明提供一種可接收數位激發訊號並可準確量測放大器開路增益之裝置,其包含:數位電荷轉換器(DCC)、電荷積分器、類比/數位轉換器(ADC)、控制邏輯電路、以及算術邏輯單元(ALU)。其中該數位電荷轉換器(DCC)與該電荷積分器係由複數個開關、一個以上的取樣電容器、一個以上的積分電容器與一個單端(single-ended)或差動(differential)輸出之待測試運算放大器(OPAUT)等元件所構成。該數位電荷轉換器(DCC)、該電荷積分器、該類比/數位轉換器(ADC)受該控制邏輯電路所產生之控制訊號所控制,構成一個可接收一個以上數位激發訊號之一階三角積分調變器。該算術邏輯單元(ALU)根據該(等)數位激發訊號與該一階三角積分調變器的數位輸出計算出該單端或差動輸出之待測試運算放大器的開路增益。或者,該控制邏輯電路更可接收一數位模式訊號,且當該控制邏輯電路接收之數位模式訊號為測試模式時,該(等)取樣電容器、該(等)積分電容器、該待測試運算放大器、該類比/數位轉換器(ADC)、以及複數個開關受該控制邏輯電路所產生之複數個控制訊號所控制,重構成該可接收數位輸入激發訊號之一階三角積分調變器,並利用該算術邏輯單元
      計算出該單端或差動輸出之待測試運算放大器之開路增益。
    • 本发明提供一种可接收数码激发信号并可准确量测放大器开路增益之设备,其包含:数码电荷转换器(DCC)、电荷积分器、模拟/数码转换器(ADC)、控制逻辑电路、以及算术逻辑单元(ALU)。其中该数码电荷转换器(DCC)与该电荷积分器系由复数个开关、一个以上的采样电容器、一个以上的积分电容器与一个单端(single-ended)或差动(differential)输出之待测试运算放大器(OPAUT)等组件所构成。该数码电荷转换器(DCC)、该电荷积分器、该模拟/数码转换器(ADC)受该控制逻辑电路所产生之控制信号所控制,构成一个可接收一个以上数码激发信号之一阶三角积分调制器。该算术逻辑单元(ALU)根据该(等)数码激发信号与该一阶三角积分调制器的数码输出计算出该单端或差动输出之待测试运算放大器的开路增益。或者,该控制逻辑电路更可接收一数码模式信号,且当该控制逻辑电路接收之数码模式信号为测试模式时,该(等)采样电容器、该(等)积分电容器、该待测试运算放大器、该模拟/数码转换器(ADC)、以及复数个开关受该控制逻辑电路所产生之复数个控制信号所控制,重构成该可接收数码输入激发信号之一阶三角积分调制器,并利用该算术逻辑单元 计算出该单端或差动输出之待测试运算放大器之开路增益。