1.一种温度控制方法，其特征在于，应用于极片干燥设备，所述方法包括：
获取极片样片的面密度测量结果，所述面密度测量结果为所述极片样片在干燥温度为干燥温度上限值且干燥时长达预设时长下干燥后所测得的面密度，所述干燥温度上限值为干燥时使得所述极片样片不发生干裂的临界温度；
获取面密度测量补偿值；
根据所述面密度测量结果、所述面密度测量补偿值及预设的最大溶剂含量，确定极片面密度上限值；
根据所述极片面密度上限值，确定干燥温度下限值；
将所述干燥温度设定在所述干燥温度上限值与所述干燥温度下限值之间。
2.根据权利要求1所述的温度控制方法，其特征在于，在所述获取极片样片的面密度测量结果之前，所述方法还包括：
获取初始干燥温度；
以第一干燥条件对所述极片样片进行干燥，所述第一干燥条件包括：干燥温度为所述初始干燥温度，干燥时长为所述预设时长；在确定经干燥后的所述极片样片未发生干裂时，测量所述极片样片的溶剂含量；
以第二干燥条件对所述极片样片进行干燥，所述第二干燥条件包括：干燥温度为所述初始干燥温度+t1，干燥时长为所述预设时长；在确定经干燥后的所述极片样片未发生干裂时，测量所述极片样片的溶剂含量；
以第三干燥条件对所述极片样片进行干燥，所述第三干燥条件包括：干燥温度为所述初始干燥温度+t1+t2，干燥时长为所述预设时长；在确定经干燥后的所述极片样片未发生干裂时，测量所述极片样片的溶剂含量；
以此类推，直到所述溶剂含量小于预设值，并将该次干燥的干燥温度确定为干燥温度上限值，其中，t1、t2大于0；
所述获取极片样片的面密度测量结果，包括：
获取在所述干燥温度上限值、所述预设时长下干燥之后的所述极片样片的面密度测量结果。
3.根据权利要求2所述的温度控制方法，其特征在于，相邻两次所述干燥条件的干燥温度之差相同或逐渐减小。
4.根据权利要求2或3所述的温度控制方法，其特征在于，所述获取在所述干燥温度上限值、所述预设时长下干燥之后的所述极片样片的面密度测量结果，包括：
获取在所述干燥温度上限值、所述预设时长下干燥之后的所述极片样片不同区域的面密度测量结果；
将所述极片样片不同区域的面密度测量结果的均值确定为所述极片样片的面密度测量结果。
5.根据权利要求4所述的温度控制方法，其特征在于，所述获取面密度测量补偿值，包括：
获取所述极片样片在干燥温度为所述干燥温度上限值且干燥时长达预设时长下干燥后的称重及尺寸；
根据所述称重及尺寸，确定所述极片样片的标准面密度；
根据所述标准面密度及所述面密度测量结果，确定所述面密度测量补偿值。
6.根据权利要求1所述的温度控制方法，其特征在于，
所述根据所述面密度测量结果、所述面密度测量补偿值及预设的最大溶剂含量，确定极片面密度上限值，包括：
基于式一计算所述极片面密度上限值，
式一： 其中，c.w.箔材为极片的箔材面密度，c.w.为所述
面密度测量结果，a为所述面密度测量补偿值，％MC为预设的最大溶剂含量。
7.根据权利要求1所述的温度控制方法，其特征在于，所述根据所述极片面密度上限值，确定干燥温度下限值，包括：
将所述极片样片于低于所述干燥温度上限值的干燥温度T1、设定干燥时长下进行干燥，并获取干燥后的所述极片样片的面密度；
若所述干燥温度T1下所得所述极片样片的面密度小于所述极片面密度上限值，取极片样片于低于所述干燥温度T1的干燥温度T2、所述设定干燥时长下进行干燥，并获取干燥后的所述极片样片的面密度；
以此类推，直到所述极片样片的面密度等于或大于所述极片面密度上限值，并将所述极片样片的面密度不超过并最接近所述极片面密度上限值的该次干燥的干燥温度确定为干燥温度下限值。
8.根据权利要求7所述的温度控制方法，其特征在于，相邻两次所述低于所述干燥温度上限值的干燥温度之差相同或逐渐减小。
9.一种干燥机，其特征在于，包括处理器及存储器，所述存储器中存储有计算机可读指令，所述处理器用于调用所述计算机可读指令，以执行如权利要求1～8中任意一项所述的温度控制方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时由处理器执行权利要求1至8中任意一项所述的温度控制方法。