代理专利文献:42922,涉及专利:10000件
覆盖主要的IPC大类包括:H01(8683)、G01(2768)、G06(2219)、H04(1601)、G03(1463)、H02(1223)、A61(943)、E04(894)、F16(777)、B60(627)
专利类型分布状况:发明公开(19899)、实用新型(9614)、外观设计(3232)
专利不同法律状态数据分布状况:有效专利(12662)、失效专利(10406)、无效专利(7419)、实质审查(2168)、公开(79)
涉及到的主要客户:上海华力微电子有限公司(3165)、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司(2744)、上海华虹宏力半导体制造有限公司(2375)、上海电机学院(2094)、上海微电子装备有限公司(1617)、联合汽车电子有限公司(1490)、武汉新芯集成电路制造有限公司(971)、上海宏力半导体制造有限公司(957)、上海微电子装备(集团)股份有限公司(922)、昆山市周市惠宏服装厂(889)
涉及到的主要发明人:解吉平(889)、严卫忠(349)、不公告发明人(231)、施晓旦(213)、倪雪明(199)、姚建平(199)、梁菊明(199)、蒋建业(199)、龚菊明(194)、杨光军(144)
发明专利授权成功率:100%
专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
---|---|---|
发明公开 | 一种半导体器件的制备方法 | CN120127002A |
发明授权 | 分栅快闪存储单元及其制备方法 | CN114388628B |
发明授权 | 分栅式闪存存储器的制造方法 | CN113990876B |
发明公开 | 传感器固定装置 | CN120096731A |
发明公开 | 半导体器件及其制备方法 | CN120091578A |
发明公开 | 超级结器件的形成方法 | CN120076383A |
发明公开 | 嵌入式存储器及其制造方法 | CN120076337A |
发明公开 | 晶圆颗粒预测方法及预测系统、炉管颗粒风险控制方法 | CN120072673A |
发明公开 | 扫描透射电子显微镜样品的分析方法 | CN120064331A |
发明授权 | 一种半导体器件的制备方法 | CN114420634B |
排名 | 企业名称 | 专利 |
---|---|---|
1 | 上海华力微电子有限公司 | 3165 |
2 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 2744 |
3 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 2375 |
4 | 上海电机学院 | 2094 |
5 | 上海微电子装备有限公司 | 1617 |
6 | 联合汽车电子有限公司 | 1490 |
7 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 971 |
8 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 957 |
9 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 922 |
10 | 昆山市周市惠宏服装厂 | 889 |
排名 | 发明人 | 专利 |
---|---|---|
1 | 解吉平 | 889 |
2 | 严卫忠 | 349 |
3 | 不公告发明人 | 231 |
4 | 施晓旦 | 213 |
5 | 倪雪明 | 199 |
6 | 姚建平 | 199 |
7 | 梁菊明 | 199 |
8 | 蒋建业 | 199 |
9 | 龚菊明 | 194 |
10 | 杨光军 | 144 |