基本信息:
- 专利标题： 具有多个马赫-增德尔干涉仪的光调制器的特性测评方法
- 专利标题（英）：Method for evaluating characteristic of optical modulator having mach-zehnder interferometer
- 申请号：CN200980161303.9 申请日：2009-09-07
- 公开(公告)号：CN102575971B 公开(公告)日：2015-05-27
- 发明人： 川西哲也 , 千叶明人 , 市川润一郎 , 须藤正明
- 申请人： 独立行政法人情报通信研究机构 , 住友大阪水泥股份有限公司
- 申请人地址： 日本东京都
- 专利权人： 独立行政法人情报通信研究机构,住友大阪水泥股份有限公司
- 当前专利权人： 住友大阪水泥股份有限公司
- 当前专利权人地址： 日本东京都
- 代理机构： 北京华夏正合知识产权代理事务所
- 代理人： 韩登营
- 国际申请： PCT/JP2009/004406 2009.09.07
- 国际公布： WO2011/027409 JA 2011.03.10
- 进入国家日期： 2012-03-06
- 主分类号： G01M11/00
- IPC分类号： G01M11/00 ; G02F1/035
摘要：
本发明提供一种包含多个马赫-增德尔干涉仪(MZI)的光调制器的特性的测评方法。该方法包括测定输出光强度的步骤与测评马赫-增德尔干涉仪的特性的步骤。所述测定输出光强度的步骤为求得所述光调制器所输出的输出光中所包含的边频信号的强度(Sn，k)的步骤。所述测评马赫-增德尔干涉仪的特性的步骤为用所述边频信号的强度(Sn，k)测评第K个马赫-增德尔干涉仪(MZIK)的特性的步骤。
公开/授权文献:
- CN102575971A 具有多个马赫-增德尔干涉仪的光调制器的特性测评方法 公开/授权日：2012-07-11
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01M | 机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试 |
| ------G01M11/00 | 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 |