基本信息:
- 专利标题： 一种相位差测试电路
- 专利标题（英）：Phase difference testing circuit
- 申请号：CN201310618831.0 申请日：2013-11-26
- 公开(公告)号：CN104678171A 公开(公告)日：2015-06-03
- 发明人： 张超
- 申请人： 西安大昱光电科技有限公司
- 申请人地址： 陕西省西安市高新区唐延旺座现代城G座12505号
- 专利权人： 西安大昱光电科技有限公司
- 当前专利权人： 西安大昱光电科技有限公司
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市高新区唐延旺座现代城G座12505号
- 代理机构： 西安智大知识产权代理事务所
- 代理人： 刘国智
- 主分类号： G01R25/00
- IPC分类号： G01R25/00
The invention provides a phase difference testing circuit. The phase difference testing circuit is mainly composed of a phase voltage and phase current input circuit, a phase difference detection circuit and a phase difference calculation circuit, wherein the phase voltage and phase current input circuit takes an electromagnetic induction type voltage transformer circuit as a circuit for processing phase voltage and phase current; the phase difference detection circuit is composed of a voltage comparator circuit and a D trigger phase discrimination circuit; the phase difference calculation circuit is a programmable counting device 8253 chip. The phase difference testing circuit provided by the invention has rapid response and high detection signal precision.
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R25/00 | 测量一个电压与一个电流之间的相位角或者电压之间或电流之间的相位角的装置 |