基本信息:
- 专利标题： 一种采用超声相控阵检测R角结构缺陷尺寸的方法
- 申请号：CN201610816681.8 申请日：2016-09-12
- 公开(公告)号：CN106501377B 公开(公告)日：2019-06-04
- 发明人： 何方成 , 王铮 , 史丽军 , 王晓 , 郭振伟
- 申请人： 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
- 申请人地址： 北京市海淀区北京81信箱
- 专利权人： 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
- 当前专利权人： 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区北京81信箱
- 代理机构： 中国航空专利中心
- 代理人： 陈宏林
- 主分类号： G01N29/26
- IPC分类号： G01N29/26 ; G01N29/28 ; G01N29/30
The invention relates to a method for detecting a defect size of an R angle structure by adopting an ultrasonic phased array, and is used for solving the problem of inaccurate evaluation of defects detected by an R angle structure ultrasonic phased array. The method adopts the ultrasonic phased array imaging detection on the R angle structure, the defect size is detected and corrected by images, and the acoustic field width is combined to finally obtain relatively accurate defect size. The method has the advantages: 1, the defect measurement step of detection with an R angle structure curved surface line array probe is given; 2, the measurement accuracy of defect detection with the R angle structure curved surface line array probe is improved; and 3, a strong guarantee is provided for quality control of the R angle structure.
公开/授权文献:
- CN106501377A 一种采用超声相控阵检测R角结构缺陷尺寸的方法 公开/授权日：2017-03-15
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N29/00 | 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像 |
| --------G01N29/22 | .零部件 |
| ----------G01N29/26 | ..用于定位或扫描的结构 |