基本信息:
- 专利标题： 对称布置的激光位移传感器的光束对准装置及对准方法
- 申请号：CN201811571027.0 申请日：2018-12-21
- 公开(公告)号：CN109668512B 公开(公告)日：2024-06-04
- 发明人： 李星辉 , 李建雄 , 周倩 , 倪凯 , 王晓浩
- 申请人： 清华大学深圳研究生院
- 申请人地址： 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
- 专利权人： 清华大学深圳研究生院
- 当前专利权人： 清华大学深圳研究生院
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
- 代理机构： 广州嘉权专利商标事务所有限公司
- 代理人： 唐致明
- 主分类号： G01B11/02
- IPC分类号： G01B11/02 ; G02B27/30
摘要：
本发明涉及激光位移传感器技术领域，公开了一种对称布置的激光位移传感器的光束对准装置及对准方法。本发明的对称布置的激光位移传感器的光束对准装置包括光屏，以及对称设于所述光屏两侧的一对二级角度放大装置、对称设于所述光屏两侧的一对一级对准小孔，其中，所述一级对准小孔、所述二级角度放大装置、所述光屏沿光束的传输方向依次设置，所述一级对准小孔与所述二级角度放大装置同心设置。本发明的对称布置的激光位移传感器的光束对准装置可以准确、快捷的对准激光位移传感器。
公开/授权文献:
- CN109668512A 对称布置的激光位移传感器的光束对准装置及对准方法 公开/授权日：2019-04-23
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/02 | .用于计量长度、宽度或厚度 |