基本信息:
- 专利标题： 自动测试系统和自动测试方法
- 申请号：CN202110511780.6 申请日：2021-05-11
- 公开(公告)号：CN113391143B 公开(公告)日：2022-12-13
- 发明人： 魏文浩 , 吕宇轩 , 赖永康 , 梅健 , 冯慈铵 , 黄嘉荣 , 陈炳红 , 王伟
- 申请人： TCL王牌电器(惠州)有限公司
- 申请人地址： 广东省惠州市仲恺高新技术产业开发区惠风四路78号
- 专利权人： TCL王牌电器(惠州)有限公司
- 当前专利权人： TCL王牌电器(惠州)有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省惠州市仲恺高新技术产业开发区惠风四路78号
- 代理机构： 深圳紫藤知识产权代理有限公司
- 代理人： 徐世俊
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00
摘要：
本申请公开了一种自动测试系统和自动测试方法，该自动测试系统包括：采集板、处理芯片、电源模块和目标芯片，通过采集板采集待测试控制信号，并对待测试控制信号进行预处理，以得到中间信号，通过处理芯片从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并进行测试处理，其中，目标芯片是目标测试对象对应的芯片，通过电源模块，为采集板、处理芯片和目标芯片进行供电，使得目标芯片在接收到电源后，通过标准接口输出对应的待测试控制信号。本申请实施例通过简单的几个装置实现了对目标测试对象的待测试控制信号的采集和处理，进而提高对待测试控制信号的测试效率，以及提高对待测试控制信号的测试准确性。
公开/授权文献:
- CN113391143A 自动测试系统和自动测试方法 公开/授权日：2021-09-14
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |