基本信息:
- 专利标题： 一种工件位置的调整方法、控制处理装置及调整系统
- 申请号：CN202111198383.4 申请日：2021-10-14
- 公开(公告)号：CN113902721B 公开(公告)日：2025-03-25
- 发明人： 张博 , 赵永进 , 潘峰 , 王文丽 , 薛书亮 , 袁丽娟
- 申请人： 北京半导体专用设备研究所（中国电子科技集团公司第四十五研究所）
- 申请人地址： 北京市北京经济技术开发区泰河三街1号
- 专利权人： 北京半导体专用设备研究所（中国电子科技集团公司第四十五研究所）
- 当前专利权人： 北京半导体专用设备研究所（中国电子科技集团公司第四十五研究所）
- 当前专利权人地址： 北京市北京经济技术开发区泰河三街1号
- 代理机构： 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司
- 代理人： 刘凤
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06T7/13 ; G06T7/73 ; G06V10/44 ; G06V10/75
摘要：
本申请提供了一种工件位置的调整方法、控制处理装置及调整系统，所述调整方法包括：获取待检测工件的特征信息，并基于所述待检测工件的特征信息确定出所述待检测工件的参考移动轨迹；在所述待检测工件移动过程中，获取所述待检测工件的多张移动图像，并基于所述多张移动图像确定出所述待检测工件的实际移动轨迹，其中，所述多张移动图像是通过跟随所述待检测工件的移动主动获取的；若所述实际移动轨迹与所述参考移动轨迹不一致，基于所述参考移动轨迹调整所述待检测工件的位置。实现了实时、准确的比对待检测工件动态轨迹和实际轨迹的误差，并提供补偿运动轨迹的参数，实现了自动校准的功能。
公开/授权文献:
- CN113902721A 一种工件位置的调整方法、控制处理装置及调整系统 公开/授权日：2022-01-07
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T7/00 | 图像分析，例如从位像到非位像 |