基本信息:
- 专利标题： 一种用于阵列激光同轴调试方法
- 申请号：CN202211379235.7 申请日：2022-11-04
- 公开(公告)号：CN115657330B 公开(公告)日：2025-04-22
- 发明人： 叶朗 , 倪卫 , 独伟锋 , 张朗 , 裴国庆 , 徐旭
- 申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址： 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 代理机构： 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 蔡冬彦
- 主分类号： G02B27/62
- IPC分类号： G02B27/62 ; G02B27/14
摘要：
本发明公开了一种用于阵列激光同轴调试方法，其过程为：在阵列激光输出装置前方设置主自准直仪，该主自准直仪位于设计的激光合束输出方向上，调节以使该主自准直仪的光轴与阵列激光输出装置的第一台激光器出射光束平行；接着在阵列激光输出装置与主自准直仪之间设置反射镜组，调节两块反射镜以使其相互平行且二者间距为设定值；在反射镜组与主自准直仪之间设置路线观测组件和功率检测组件；首先开启第一台激光器，调节反射镜组以使出射光束与主自准直仪的光轴同轴；然后逐个开启其余激光器，先调节其位置使其光束与第一台激光器光束空间同轴，再调节使光束相干，依次完成合束。本方法能够精确调整各个装置的位置关系，实现高精度合束。
公开/授权文献:
- CN115657330A 一种用于阵列激光同轴调试方法 公开/授权日：2023-01-31
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G02 | 光学 |
| ----G02B | 光学元件、系统或仪器 |
| ------G02B27/00 | 其他光学系统；其他光学仪器 |
| --------G02B27/62 | .组装光学系统过程中专用于调节光学元件的光学仪器 |