基本信息:
- 专利标题： 一种基于计算机视觉的医用口罩缺陷检测装置及方法
- 申请号：CN202211397633.1 申请日：2022-11-09
- 公开(公告)号：CN115753788B 公开(公告)日：2025-01-24
- 发明人： 朱涛 , 朱鸿泰 , 艾亚辉 , 陈锦宝 , 王志伟 , 王小龙 , 路清彦 , 杨一粟 , 殷俊
- 申请人： 中科芯集成电路有限公司
- 申请人地址： 江苏省无锡市滨湖区蠡园开发区04-6地块（滴翠路100号）9幢2层
- 专利权人： 中科芯集成电路有限公司
- 当前专利权人： 中科芯集成电路有限公司
- 当前专利权人地址： 江苏省无锡市滨湖区蠡园开发区04-6地块（滴翠路100号）9幢2层
- 代理机构： 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 杨强
- 主分类号： G01N21/88
- IPC分类号： G01N21/88 ; G01N21/01 ; B07C5/02 ; B07C5/34 ; B07C5/38 ; G06T7/00
摘要：
本发明涉及一种基于计算机视觉的医用口罩缺陷检测装置及方法，检测装置包括：外观部件、口罩移动搬运部件、无缺陷口罩收集部件、有缺陷口罩排料部件、图像采集部件、工业计算机、电气控制单元、光源控制单元、显示部件；检测方法基于装置和AI计算机视觉为基础，用语义分割模型检出口罩各个部件，然后将各个部件分别送入各自的AI分类器，识别每个部件是否为缺陷部件，然后汇总各个分类器的结果得出结论：目标口罩是否含有缺陷，及哪个部分的哪种缺陷。本发明所述的医用口罩缺陷检测装置及方法，提高口罩检测的效率和准确率的目的，满足现有工厂口罩缺陷检测的需求。本装置模块化设计可与口罩机快速对接，检测效率高。
公开/授权文献:
- CN115753788A 一种基于计算机视觉的医用口罩缺陷检测装置及方法 公开/授权日：2023-03-07
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |