基本信息:
- 专利标题： 一种提高光谱分析试样制样效率的装置
- 申请号：CN202410042912.9 申请日：2024-01-11
- 公开(公告)号：CN117825128A 公开(公告)日：2024-04-05
- 发明人： 胡学文 , 王坤 , 叶登权 , 窦文哲 , 丁植 , 胡道明 , 孙义玲
- 申请人： 安徽应流集团霍山铸造有限公司
- 申请人地址： 安徽省六安市霍山县衡山镇淠河西路96号
- 专利权人： 安徽应流集团霍山铸造有限公司
- 当前专利权人： 安徽应流集团霍山铸造有限公司
- 当前专利权人地址： 安徽省六安市霍山县衡山镇淠河西路96号
- 代理机构： 合肥云道尔知识产权代理事务所
- 代理人： 司楠
- 主分类号： G01N1/28
- IPC分类号： G01N1/28 ; B25B11/00
摘要：
本发明属于新材料技术领域，尤其是涉及一种提高光谱分析试样制样效率的装置，包括支撑底盘，所述支撑底盘上设置有保护外壳抬升机构，所述支撑底盘上固定连接有主连接柱，所述主连接柱上固定连接有驱动外壳，所述驱动外壳内设置有驱动电机。本发明通过设置试样固定机构，可以对不同尺寸的试样进行稳定夹持，同时设置有试样移动机构，可以对试样底部进行同步的稳定支撑，通过设置保护外壳提升机构，可以在装置对试样进行切割的同时，升起保护外壳对试样切割位置进行简单阻隔，避免切割时产生的飞屑对现场操作人员造成伤害，还设置有配套切割机构，可以同时对六个试样进行同步切割。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N1/00 | 取样；制备测试用的样品 |
| --------G01N1/28 | .测试用样品的制备 |