基本信息:
- 专利标题： 一种基于光路解耦的光谱仪的设计方法以及光谱仪
- 申请号：CN202410058031.6 申请日：2024-01-16
- 公开(公告)号：CN117949090B 公开(公告)日：2025-04-15
- 发明人： 李帅辉 , 陈豪
- 申请人： 中国科学院力学研究所
- 申请人地址： 北京市海淀区北四环西路15号
- 专利权人： 中国科学院力学研究所
- 当前专利权人： 中国科学院力学研究所
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区北四环西路15号
- 代理机构： 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 席卷
- 主分类号： G01J3/28
- IPC分类号： G01J3/28 ; G02B27/00 ; G06F30/39
摘要：
本发明公开了一种基于光路解耦的光谱仪设计方法，包括：光谱仪构建；光学系统构建；电子学系统构建；耦合装调；还公开了一种光谱仪，包括光学系统，以及设置在光学系统上的框架结构，在框架结构上可拆装地安装有电子学系统，且电子学系统与光学系统耦合；在框架结构和电子学系统之间设置有垫片，垫片根据设计调整厚度，固定光学系统和电子学系统之间的连接间距，确保光学系统的焦平面与电子学系统的感光平面重合。本发明将光谱仪的光学系统和电子学系统解耦并独立设计，以光电耦合的方式进行装配，使光学系统和电子学系统能够独立开发调试生产，并将调试生产的光学系统和电子学系统耦合装调，简化了开发步骤，提高了生产效率。
公开/授权文献:
- CN117949090A 一种基于光路解耦的光谱仪的设计方法以及光谱仪 公开/授权日：2024-04-30
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J3/00 | 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色 |
| --------G01J3/28 | .光谱测试 |