基本信息:
- 专利标题： 针对大型可展开薄膜结构的三维扫描系统及数据处理方法
- 申请号：CN202410335689.7 申请日：2024-03-22
- 公开(公告)号：CN118089544A 公开(公告)日：2024-05-28
- 发明人： 邸高雷 , 王玉凤 , 李志勇 , 李强 , 闫莉佳 , 林秋红
- 申请人： 天津航天机电设备研究所
- 申请人地址： 天津市滨海新区高新园区滨海科技园神舟大道101号
- 专利权人： 天津航天机电设备研究所
- 当前专利权人： 天津航天机电设备研究所
- 当前专利权人地址： 天津市滨海新区高新园区滨海科技园神舟大道101号
- 代理机构： 天津滨海科纬知识产权代理有限公司
- 代理人： 苏冲
- 主分类号： G01B11/00
- IPC分类号： G01B11/00 ; G01B11/03 ; G01B11/02 ; G01B9/00
摘要：
本发明提供了一种针对大型可展开薄膜结构的三维扫描系统及数据处理方法，包括激光扫描仪、光学跟踪系统、数据处理计算机、导轨结构、升降平台和刚性基准体系。本发明有益效果：通过导轨结构、升降平台搭载三维扫描光学跟踪器满足超大面积薄膜测量；通过引入刚性基准提高三维扫描效率和精度；通过建立公共基准，实现超大面积、超大范围分块测量；通过公共坐标转换实现数据拼接。对超大型薄膜形貌实现无损、高精度、快速测量具有重要意义。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |