基本信息:
- 专利标题： 积层陶瓷电容瑕疵检查方法及设备
- 申请号：CN202311112783.8 申请日：2023-08-31
- 公开(公告)号：CN118362944A 公开(公告)日：2024-07-19
- 发明人： 卢昱呈 , 纪建兆 , 林芳旭 , 陆志益
- 申请人： 万润科技股份有限公司
- 申请人地址： 中国台湾高雄市821路竹区路科十路1号
- 专利权人： 万润科技股份有限公司
- 当前专利权人： 万润科技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 中国台湾高雄市821路竹区路科十路1号
- 代理机构： 上海专利商标事务所有限公司
- 代理人： 闻卿
- 优先权： 112102330 2023.01.18 TW
- 主分类号： G01R31/64
- IPC分类号： G01R31/64 ; G01R19/12
摘要：
本发明提供一种积层陶瓷电容瑕疵检查方法及设备，该积层陶瓷电容瑕疵检查方法包括：提供积层陶瓷电容作为待测元件置于一测试板上表面的一座槽，并位于一第一上端子及一第一探针之间形成回路；在对该积层陶瓷电容进行充电的该回路上，检查电压上升或下降的过程，在充电的电压/时间的座标曲线图中，是否有瞬间不在同一斜率的线上的异常讯号，如有，定义其为检知到该积层陶瓷电容内部存在裂痕的瑕疵的讯号；借此以低成本的电子回路检查积层陶瓷电容内部瑕疵。