基本信息:
- 专利标题： 一种基于HTM的远场光束质量β测量仪
- 申请号：CN202411333334.0 申请日：2024-09-24
- 公开(公告)号：CN118857691A 公开(公告)日：2024-10-29
- 发明人： 邓婷 , 魏蔚 , 李光祥 , 彭琛 , 刘斯靓 , 雷德川 , 何均章 , 柳国龙 , 严伟
- 申请人： 中国工程物理研究院应用电子学研究所
- 申请人地址： 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 专利权人： 中国工程物理研究院应用电子学研究所
- 当前专利权人： 中国工程物理研究院应用电子学研究所
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 代理机构： 成都环泰专利代理事务所(特殊普通合伙)
- 代理人： 李斌
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02 ; G01J1/42 ; G01J1/04
摘要：
本发明属于高能激光远场光束质量测量领域，具体涉及一种基于HTM的远场光束质量β测量仪，包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统；所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束，所述缩束器用于将光束转换光斑，所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上，所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息，所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理，并计算出待测光的远场β值，解决了常规光束质量β仪无法区别波前误差及强度起伏对β影响，导致高能激光系统中β因子修正的可能性及有效性难以准确评估的问题。
公开/授权文献:
- CN118857691B 一种基于HTM的远场光束质量β测量仪 公开/授权日：2024-11-26
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01M | 机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试 |
| ------G01M11/00 | 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 |
| --------G01M11/02 | .光学性质的测试 |