基本信息:
- 专利标题： 一种太赫兹全息荧光成像系统及方法
- 申请号：CN202411312172.2 申请日：2024-09-20
- 公开(公告)号：CN118858211B 公开(公告)日：2025-02-25
- 发明人： 万钧 , 张开庆 , 李显喆 , 张斌 , 邓海啸
- 申请人： 中国科学院上海高等研究院
- 申请人地址： 上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号
- 专利权人： 中国科学院上海高等研究院
- 当前专利权人： 中国科学院上海高等研究院
- 当前专利权人地址： 上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号
- 代理机构： 上海智信专利代理有限公司
- 代理人： 杨怡清
- 主分类号： G01N21/3581
- IPC分类号： G01N21/3581 ; G01N21/01 ; G01J3/44 ; G01J3/28
摘要：
本发明提供一种太赫兹全息荧光成像系统，包括依次排布的太赫兹源、太赫兹波分束模块、太赫兹波合束模块、其中原子受激跃迁至里德堡态的原子气室、和图像采集模块，图像采集模块与数据处理模块通信连接；太赫兹波分束模块和太赫兹波合束模块之间设有探测光光路和参考光光路、在探测光光路上的样品台和太赫兹波第一衰减器，在参考光光路上的可移除挡光件和太赫兹波第二衰减器、位于探测光光路和参考光光路中的一个上的太赫兹波延迟模块。本发明还提供一种成像方法。本发明的成像系统结合基于原子无线传感的太赫兹成像技术的高速成像、高灵敏度的优势，可以高速提取待成像物体强度及相位信息，从而实现高速、高灵敏度的太赫兹全息成像。
公开/授权文献:
- CN118858211A 一种太赫兹全息荧光成像系统及方法 公开/授权日：2024-10-29
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
| ------------G01N21/31 | ...测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术 |
| --------------G01N21/35 | ....利用红外光 |
| ----------------G01N21/3581 | .....利用远红外光；利用太赫兹辐射 |